CN103983429B - 发光面亮度均匀性分析方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，其包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据发光面的形状，对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基础，能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差；此外，本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析，能够提高亮度均匀性分析结果的准确度。

Description

发光面亮度均匀性分析方法

技术领域

本发明涉及照明领域，具体地，涉及一种发光面亮度均匀性分析方法。

背景技术

目前，大多数的亮度均匀性分析方法，主要用于对诸如LCD、LED的显示类产品进行亮度均匀性分析。这些亮度均匀性分析方法通常选取发光面的多个点或者区域作为亮度均匀性分析基础。若采用现有的亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀性分析，则存在分析偏差较大的问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题，特别创新地提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，以解决目前亮度均匀分析方法在对照明类产品进行亮度均匀性分析时，偏差较大的问题。

为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种发光面亮度均匀性分析方法，包括：

亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；

形状判断步骤，判断所述发光面的形状；

亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。

在本发明的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括：

固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置；

采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。

在本发明的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括：在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括：

启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。

在本发明的一个实施例中，所述亮度计为成像亮度计。

在本发明的一个实施例中，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括：

第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并将所述环形区划分成多个扇面区；

第一参数计算步骤，计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数；

第一亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。

在本发明的一个实施例中，所述第一参数计算步骤，包括：

亮度旋转对称性参数计算步骤：根据公式S＝min(L_i)/max(L_i)计算出所述亮度旋转对称性参数S，其中，1≤i≤n-1且n表示所述发光面的中心区和扇面区的总数，L₁至L_n-1表示所述发光面的对应扇面区的亮度，L_n表示所述发光面的中心区的亮度，L_i表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min()表示取最小值，max()表示取最大值；

第一亮度中心平衡性参数计算步骤：求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average(L_i)；以及根据公式B＝L_n/average(L_i)计算出所述第一亮度中心平衡性参数B，其中，L_n表示所述发光面的中心区的亮度；

第一亮度均匀性参数计算步骤：根据公式U＝N_bright/N计算出所述第一亮度均匀性参数，其中，N_bright表示所述发光面中亮度大于或等于平均亮度80％的像素点的个数，N表示所述发光面中所有像素点的总数，且所述平均亮度表示所述发光面中所有像素点的亮度平均值。

在本发明的一个实施例中，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为方形，则所述亮度均匀分析步骤包括：

第二发光面划分步骤，将所述发光面等分成2p×2q个方形区，其中，p表示方形区的列数，q表示方形区的行数，且p和q均为正整数；

第二参数计算步骤，计算出所述发光面的水平对称性参数、垂直对称性参数、第二亮度中心平衡性参数和第二亮度均匀性参数中的至少一个参数；

第二亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。

在本发明的一个实施例中，所述第二参数计算步骤，包括：

水平对称性参数计算步骤：利用所述发光面的水平对称轴，将所述发光面划分成上半部和下半部；

分别计算出位于所述发光面的上半部的所有方形区的亮度之和S1，以及位于所述发光面的下半部的所有方形区的亮度之和S2；以及

根据公式计算出所述水平对称性参数Symm_L,h，其中min()表示取最小值，max()表示取最大值；

垂直对称性参数计算步骤：

利用所述发光面的垂直对称轴，将所述发光面划分成左半部和右半部；

分别计算出位于所述发光面的左半部的所有方形区的亮度之和S3，以及位于所述发光区的右半部的所有方形区的亮度之和S4；以及

根据公式计算出所述垂直对称性参数Symm_L,v；

第二亮度中心平衡性参数计算步骤：

分别计算出位于所述发光面的中心位置处的方形区的亮度之和S5，以及除位于中心位置处的方形区之外，所述发光面中其他方形区的亮度之和S6；以及

根据公式计算出所述第二亮度中心平衡性参数Bal_L,cent；

第二亮度均匀性参数计算步骤：

分别计算出所述发光面中所有方形区的亮度平均值L_avg以及亮度均方根L_RMS；

根据公式计算出所述第二亮度均匀性参数U_L。

在本发明的一个实施例中，所述第一亮度均匀性分析步骤，包括若满足以下至少一个条件，则分析出所述发光面的亮度均匀性良好：

所述发光面的亮度旋转对称性参数大于或等于0.5；

所述发光面的第一亮度中心平衡性参数小于4；

所述发光面的第一亮度均匀性参数大于或等于0.3。

在本发明的一个实施例中，所述第二亮度均匀性分析步骤，包括若满足以下至少一个条件，则分析出所述发光面的亮度均匀性良好：

所述发光面的水平对称性参数大于或等于0.85；

所述发光面的垂直对称性参数大于或等于0.85；

所述发光面的第二亮度中心平衡性参数大于或等于0.5；

所述发光面的第二亮度均匀性参数大于或等于0.3。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

1、本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基础，能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差；

2、本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析，能够提高亮度均匀性分析结果的准确度；

3、在测量发光面的亮度数据时，先对亮度计和待测产品的相对位置进行设置，可以保证发光面完全呈现在亮度计中镜头中，由此，能够准确地采集到整个发光面的亮度数据；

4、在测量发光面的亮度数据时，先启动待测产品，直至待测产品工作至稳定状态之后，再由亮度计测量发光面的亮度数据，能够准确地采集到待测产品在正常工作下，发光面的亮度数据，提高了亮度数据采集的准确度；

5、在测量发光面的亮度数据时，选用成像亮度计测量发光面的亮度数据，只需要采集一张图片，便可测量出整个发光面的亮度数据，能够较为准确地测量出发光面的亮度数据，并且测量操作简单，测量时间短；

6、在对圆形发光面进行亮度均匀性分析时，考虑到了照明类产品发光面在旋转过程中的亮度差异，发光面中心与周围的亮度差异以及发光面的整体亮度均匀性，考虑因素全面，提高了圆形照明类产品的亮度均匀性分析的准确度；

7、在对方形发光面进行亮度均匀性分析时，考虑到了照明类产品发光面上半部与下半部的亮度差异，左半部与右半部的亮度差异，发光面中心与周围的亮度差异以及发光面的整体亮度均匀性，考虑因素全面，提高了方形照明类产品的亮度均匀性分析的准确度。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明的实施例1提供的发光面亮度均匀性分析方法的流程图；

图2是本发明的实施例2提供的发光面亮度均匀性分析方法的流程图；

图3是根据本发明的一个实施例，发光面亮度均匀性分析方法的第一发光面划分步骤中圆形发光面划分结果的示意图；

图4是根据本发明的另一实施例，发光面亮度均匀性分析方法的第一发光面划分步骤中圆形发光面划分结果的示意图；

图5是根据本发明的又一实施例，发光面亮度均匀性分析方法的第一发光面划分步骤中方形发光面划分结果的示意图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

在本发明的描述中，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1示出了本发明的实施例1提供的发光面亮度均匀性分析方法的流程图。如图1所示，该方法包括：

S100、亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；

S200、形状判断步骤，判断发光面的形状；

S300、亮度均匀性分析步骤，根据该发光面的形状，对该发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。

目前的亮度均匀性分析方法通常选取发光面的多个点或者区域作为亮度均匀性分析基础。事实上，在进行亮度均匀性分析过程中，照明类产品与显示类产品的主要区别在于，照明类产品需要以整个发光面作为亮度均匀性分析的基础。显然，目前的亮度均匀性分析方法并不适用于对照明类产品进行亮度均匀性分析。

本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基础，能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差。此外，本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析，能够提高亮度均匀性分析结果的准确度。

图2示出了本发明的实施例2提供的发光面亮度均匀性分析方法的流程图。图2中标号与图1中相同的步骤具有相同的功能，为简明起见，省略对这些步骤的详细描述。

如图2所示，图2所示方法与图1所示方法的主要区别在于，上述步骤S100，包括：

S110、固定亮度计和待测产品，以使亮度计的镜头的对称轴线与待测产品的发光面的对称轴线所构成的平面，与该发光面垂直，且亮度计的镜头面与发光面相对平行设置；

S120、启动待测产品，直至该待测产品工作至稳定状态；

S130、采用该亮度计测量该待测产品的发光面的亮度数据。

本发明通过对亮度计和待测产品的相对位置进行设置，可以保证发光面完全呈现在亮度计中镜头中，由此，能够准确地采集到整个发光面的亮度数据；此外，本发明在将待测产品启动，直至待测产品工作至稳定状态之后，再由亮度计测量发光面的亮度数据，能够准确地采集到待测产品在正常工作下，发光面的亮度数据，提高了亮度数据采集的准确度。

需要注意的是：上述步骤S110和S120也可以交换顺序执行。此外，本发明提供的发光面亮度均匀性分析方法不仅仅适用于照明类产品，同样适用于显示类产品。

优选地，上述亮度计选用成像亮度计。

点式亮度计的单点测量精度较高，若想测量出整个发光面的亮度数据，需要进行多次测量。受到测量时间以及不同时段的环境的影响，各个单点测量的亮度数据之间存在一定的差异，测量得出的发光面亮度数据的准确度不高。

成像亮度计只需要采集一张图片，便可测量出整个发光面的亮度数据，消除了各个单点测量的亮度数据之间的差异，能够较为准确地测量出发光面的亮度数据，并且测量操作简单，测量时间短。

在步骤S200中，若判断发光面的形状为圆形，则步骤S300包括以下步骤。

S310、第一发光面划分步骤，将发光面划分成中心区和环形区，并将该环形区划分成多个扇面区。优选地，在步骤S210中将该环形区等分成多个扇面区。

在本发明的一个实施例中，如图3所示，将发光面划分成中心区A5和环形区，并将该环形区等分成4个扇面区：A1、A2、A3和A4。

在本发明的另一实施例中，如图4所示，将发光面划分成中心区B4和环形区，并将该环形区等分成3个扇面区：B1、B2和B3。

S320、第一参数计算步骤，计算出发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数。

首先，为了满足圆形发光面的亮度均匀性要求，发光面在旋转过程中应没有明显的亮度差异。因此，本发明引入亮度旋转对称性参数。

该亮度旋转对称性参数的计算步骤为：

根据公式S＝min(L_i)/max(L_i)计算出该亮度旋转对称性参数S，其中，1≤i≤n-1且n表示发光面的中心区和扇面区的总数，L₁至L_n-1表示所述发光面的对应扇面区的亮度，L_n表示所述发光面的中心区的亮度，L_i表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min()表示取最小值，max()表示取最大值。

其次，圆形发光面的中心区的亮度往往高于其周围区域的亮度，为了限制发光面中心区的亮度不要过高，本发明引入了第一亮度中心平衡性参数。

该第一亮度中心平衡性参数的计算步骤为：

求取发光面中所有扇面区的亮度的平均值average(L_i)；以及

根据公式B＝L_n/average(L_i)计算出第一亮度中心平衡性参数B，其中，1≤i≤n-1且n表示发光面的中心区和扇面区的总数，L₁至L_n-1表示所述发光面的对应扇面区的亮度，L_n表示发光面的中心区的亮度，L_i表示所述发光面的第i个扇面区的亮度。

最后，为了描述发光面的亮度的总体均匀程度，本发明引入了第一亮度均匀性参数。该第一亮度均匀性参数的计算步骤为：

根据公式U＝N_bright/N计算出所述第一亮度均匀性参数，其中，N_bright表示发光面中亮度大于或等于平均亮度80％的像素点的个数，N表示发光面中所有像素点的总数，且平均亮度表示发光面中所有像素点的亮度平均值。

在本发明的一个实施例中，如图3所示，在计算亮度旋转对称性参数时，首先求取扇面区A1至A4的亮度的最小值和最大值，再计算出该最小值与最大值的比值。

在计算第一亮度中心平衡性参数时，首先求取扇面区A1至A4的亮度平均值，再求取中心区A5的亮度值与该亮度平均值的比值。

在计算第一亮度均匀性参数时，首先计算出发光面中所有像素点的亮度平均值，再统计出发光面中亮度大于或等于该亮度平均值80％的像素点的个数N_bright，最后求取像素点个数N_bright与发光面中所有像素点的总数的比值。

在本发明的另一实施例中，如图4所示，在计算亮度旋转对称性参数时，首先求取扇面区B1至B3的亮度的最小值和最大值，再计算出该最小值与最大值的比值。

在计算第一亮度中心平衡性参数时，首先求取扇面区B1至B3的亮度平均值，再求取中心区B4的亮度值与该亮度平均值的比值。

在计算第一亮度均匀性参数时，首先计算出发光面中所有像素点的亮度平均值，再统计出发光面中亮度大于或等于该亮度平均值80％的像素点的个数N_bright，最后求取像素点个数N_bright与发光面中所有像素点的总数的比值。

S330、第一亮度均匀性分析步骤，将步骤S220中计算出的参数与其阈值进行比较，分析出发光面的亮度均匀性。

需要注意的是：上述阈值为预设满足均匀性的值，该值通过样本抽样方式，预设合格基准(比如采取百分比划分)，以确定合格样本中的代表数值点或范围，并依照不同均匀性的要求而改变取值。

步骤S330中，若满足以下至少一个条件，则分析出发光面的亮度均匀性良好：

发光面的亮度旋转对称性参数大于或等于0.5；

发光面的第一亮度中心平衡性参数小于4；

发光面的第一亮度均匀性参数大于或等于0.3。

在本发明的一个实施例中，步骤S320计算出了发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数这三个参数，在步骤S330中，若同时满足以上三个条件，则分析出发光面的亮度均匀性良好。

综上所述，本发明在对圆形发光面进行亮度均匀性分析时，考虑到了照明类产品发光面在旋转过程中的亮度差异，发光面中心与周围的亮度差异以及发光面的整体亮度均匀性，考虑因素全面，提高了圆形照明类产品的亮度均匀性分析的准确度。

在步骤S200中，若判断发光面的形状为方形，则步骤S300包括以下步骤。

S340、第二发光面划分步骤，将发光面等分成2p×2q个方形区，其中，p表示方形区的列数，q表示方形区的行数，且p和q均为正整数。

在本发明的另一实施例中，如图5所示，将发光面等分成4×2个方形区，按照从左到右，从上到下的顺序编号，方形区分别为：C1至C8。

S350、第二参数计算步骤，计算出发光面的水平对称性参数、垂直对称性参数、第二亮度中心平衡性参数和第二亮度均匀性参数中的至少一个参数。

首先，为了满足方形发光面的亮度均匀性要求，发光面的上半部和下半部之间，以及左半部和右半部之间均不应有明显的亮度差异。因此，本发明分别引入水平对称性参数和垂直对称性参数。

该水平对称性参数的计算步骤为：

利用发光面的水平对称轴，将发光面划分成上半部和下半部；

分别计算出位于发光面的上半部的所有方形区的亮度之和S1，以及位于发光面的下半部的所有方形区的亮度之和S2；以及

根据公式计算出该水平对称性参数Symm_L,h，其中min()表示取最小值，max()表示取最大值。

该垂直对称性参数的计算步骤为：

利用发光面的垂直对称轴，将发光面划分成左半部和右半部；

分别计算出位于发光面的左半部的所有方形区的亮度之和S3，以及位于发光面的右半部的所有方形区的亮度之和S4；以及

根据公式计算出该垂直对称性参数Symm_L,v。

其次，方形发光面的中心位置由于受到周围区域的影响，其亮度往往高于其周围区域的亮度，为了限制发光面中心区的亮度不要过高，本发明引入了第二亮度中心平衡性参数。

该第二亮度中心平衡参数的计算步骤为：

分别计算出位于发光面的中心位置处的方形区的亮度之和S5，以及除位于中心位置处的方形区之外，发光面中其他方形区的亮度之和S6；以及

根据公式计算出第二亮度中心平衡参数Bal_L,cent。

最后，为了描述发光面的亮度的总体均匀程度，本发明引入了第二亮度均匀性参数。该第二亮度均匀性参数的计算步骤为：

分别计算出发光面中所有方形区的亮度平均值L_avg以及亮度均方根L_RMS；

根据公式计算出该第二亮度均匀性参数U_L。

在本发明的另一实施例中，如图5所示，在计算水平对称性参数时，先分别计算出位于发光面上半部的方形区C1至C4的亮度之和S1，以及位于发光面下半部的方形区C5至C8的亮度之和S2，再根据公式计算出该水平对称性参数Symm_L,h。

在计算垂直对称参数时，先分别计算出位于发光面左半部的方形区C1、C2、C5和C6的亮度之和S3，以及位于发光面右半部的方形区C3、C4、C7和C8的亮度之和S4，在根据公式计算出该垂直对称参数Symm_L,v。

在计算第二亮度中心平衡性参数时，先分别计算出位于发光面的中心位置处的方形区C2、C3、C6和C7的亮度之和S5，以及发光面中方形区C1、C4、C5和C8的亮度之和S6，再根据公式计算出该第二亮度中心平衡性参数Bal_L,cent。

在计算第二亮度均匀性参数时，先计算出发光面中所有方形区C1至C8的亮度平均值L_avg以及所有方形区C1至C8的亮度均方根L_RMS，再根据公式计算出第二亮度均匀性参数U_L。

S360、第二亮度均匀性分析步骤，将步骤S350中计算出的参数与其阈值进行比较，分析出发光面的亮度均匀性。

同样地，需要注意的是：上述阈值为预设满足均匀性的值，该值通过样本抽样方式，预设合格基准(比如采取百分比划分)，以确定合格样本中的代表数值点或范围，并依照不同均匀性的要求而改变取值。

步骤S360中，若满足以下至少一个条件，则分析出发光面的亮度均匀性良好：

发光面的水平对称性参数大于或等于0.85；

发光面的垂直对称性参数大于或等于0.85；

发光面的第二亮度中心平衡性参数大于或等于0.5；

发光面的第二亮度均匀性参数大于或等于0.3。

在本发明的一个实施例中，步骤S320计算出了发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数这三个参数，在步骤S330中，若同时满足以上三个条件，则分析出发光面的亮度均匀性良好。

综上所述，本发明在对方形发光面进行亮度均匀性分析时，考虑到了照明类产品发光面上半部与下半部的亮度差异，左半部与右半部的亮度差异，发光面中心与周围的亮度差异以及发光面的整体亮度均匀性，考虑因素全面，提高了方形照明类产品的亮度均匀性分析的准确度。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种发光面亮度均匀性分析方法，其特征在于，包括：

亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；

形状判断步骤，判断所述发光面的形状；

亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析；

在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括：

第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并将所述环形区划分成多个扇面区；

第一参数计算步骤，计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数；其中

第一亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性；

其中，所述第一参数计算步骤，包括：

亮度旋转对称性参数计算步骤：

根据公式S＝min(L_i)/max(L_i)计算出所述亮度旋转对称性参数S，其中，1≤i≤n-1且n表示所述发光面的中心区和扇面区的总数，L₁至L_n-1表示所述发光面的对应扇面区的亮度，L_n表示所述发光面的中心区的亮度，L_i表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min()表示取最小值，max()表示取最大值；

第一亮度中心平衡性参数计算步骤：

求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average(L_i)；以及

根据公式B＝L_n/average(L_i)计算出所述第一亮度中心平衡性参数B，其中，L_n表示所述发光面的中心区的亮度；

第一亮度均匀性参数计算步骤：

根据公式U＝N_bright/N计算出所述第一亮度均匀性参数，其中，N_bright表示所述发光面中亮度大于或等于平均亮度80％的像素点的个数，N表示所述发光面中所有像素点的总数，且所述平均亮度表示所述发光面中所有像素点的亮度平均值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括：

固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置；

采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括：在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括：

启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述亮度计为成像亮度计。

5.一种发光面亮度均匀性分析方法，其特征在于，包括：

亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；

形状判断步骤，判断所述发光面的形状；

亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析；

在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为方形，则所述亮度均匀分析步骤包括：

第二发光面划分步骤，将所述发光面等分成2p×2q个方形区，其中，p表示方形区的列数，q表示方形区的行数，且p和q均为正整数；

第二参数计算步骤，计算出所述发光面的水平对称性参数、垂直对称性参数、第二亮度中心平衡性参数和第二亮度均匀性参数中的至少一个参数；

第二亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性；

其中，所述第二参数计算步骤，包括：

水平对称性参数计算步骤：

利用所述发光面的水平对称轴，将所述发光面划分成上半部和下半部；

分别计算出位于所述发光面的上半部的所有方形区的亮度之和S1，以及位于所述发光面的下半部的所有方形区的亮度之和S2；以及

根据公式计算出所述水平对称性参数Symm_L,h，其中min()表示取最小值，max()表示取最大值；

垂直对称性参数计算步骤：

利用所述发光面的垂直对称轴，将所述发光面划分成左半部和右半部；

分别计算出位于所述发光面的左半部的所有方形区的亮度之和S3，以及位于所述发光区的右半部的所有方形区的亮度之和S4；以及

根据公式计算出所述垂直对称性参数Symm_L,v；

第二亮度中心平衡性参数计算步骤：

分别计算出位于所述发光面的中心位置处的方形区的亮度之和S5，以及除位于中心位置处的方形区之外，所述发光面中其他方形区的亮度之和S6,；以及

根据公式计算出所述第二亮度中心平衡性参数Bal_L,cent；

第二亮度均匀性参数计算步骤：

分别计算出所述发光面中所有方形区的亮度平均值L_avg以及亮度均方根L_RMS；

根据公式计算出所述第二亮度均匀性参数U_L。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括：

固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置；

采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括：在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括：

启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述亮度计为成像亮度计。