CN103943008A - 一种光电检测与信息处理实验系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统，光、机、电、算相结合，其体现了既是光电实验教学仪器又是光电测试仪器的设计理念。在无辅助测试设备情况下完成光电传感器模块的光电特性测量，实现了零配置设计；作为光电测试仪器能测量电压、电流、光照度等；无需个人计算机，单片机模块中的软件实现了整机的控制和管理；采用了嵌入式结构，电源模块、面包板模块、总线模块、系统资源模块的设计提供了系统灵活扩展性，克服了现有光电信息检测与处理实验仪器功能单一的缺点，为用户提供全新的实验资源，可完成光电检测、单片机技术、专用集成电路技术、数字电路技术等多门光电类、电子信息类专业实验。实现了一机多用，节约了实验室的设备资源。

Description

一种光电检测与信息处理实验系统

技术领域

本发明属于光电检测与信息处理实验教学技术领域，涉及光、机、电、算相结合的光电检测与信息处理实验系统。 

背景技术

纵观理工科高等院校现有的实验教学仪器，大多属于单一模式的仪器，比如光学工程类、模电类、数电类、传感器类等单一功能的实验仪器。这些实验教学仪器虽然能够保证单科教学实验的开展，但无法进行多学科综合性实验教学，更无法培养学生的综合实验技能。同时，该类实验教学仪器的使用须配备计算机、万用表、示波器、信号源等辅助设备，因此，在建设光电类专业精品实验室时需要投入更多的财力、人力、物力及固定的实验空间，严重限制了理工科高等院校现有的实验教学。 

发明内容

本发明的目的是提供一种光电检测与信息处理实验系统，保证在不增加辅助实验仪器设备的情况下，采用模块化、总线插板式和背板式结构。以本发明的提供的一种光电检测与信息处理实验系统该实验系统为“母体”，只需增加实验插板和实验背板即可容易“孵化”出尽可能多的实验项目，达到一机多用，提升理工科高等院校的实验教学，节省成本的目的。 

本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统包括单片机模块、CPLD模块、电源模块、总线模块、面包板模块、液晶显示模块、系统资源模块、可调电位器模块、电压电流测量模块、照度测量模块、激光电源模块、光电传感器模块、光源模块、光电实验插板模块； 

单片机模块与总线模块、液晶显示模块、系统资源模块、电压电流测量模块、照度测量模块分别连接；总线模块与光电传感器模块、光电实验插板模块分别连接；CPLD模块与光电传感器模块连接；

可调电位器模块与光源模块连接；所述的单片机模块是光电检测与信息处理实验系统的控制和信息处理中心，该仪器的程序存储在单片机模块中，其程序流程图如附图2所示；

单片机模块能够根据照度测量模块提供的照度值和电压电流测量模块测量得到的光生电流值，在液晶显示模块上直接绘制光电传感器的光电特性曲线；同时，单片机模块能够通过总线模块、光电实验插板模块，应用光电传感器的开关特性进行电机转速测量和工件尺寸测量；

所述的CPLD模块，在光电检测与信息处理实验课程中为电荷耦合器件CCD应用提供四路工作脉冲；也可独立使用CPLD模块开展现代数字电路实验课程，实现仪器功能上的扩展；

所述的电源模块包括五路电源，为实验系统提供数字5V、模拟±5V、模拟±12V的电源，为整个系统供电，确保在开设实验时无须辅助的稳压电源设备；

所述的总线模块用做系统的功能扩展，采用标准VME64总线插座，光电实验插板模块中包括的所有扩展功能实验插板都具有配套的标准VME64芯插针，可插在总线模块上，实现系统实验功能的扩展，使用者可以利用实验系统上提供的资源，自行设计多种功能实验插板，可以开展多种实验项目；

所述的面包板模块完成实验电路功能的验证，如开展电工电子的模拟电路实验、数字电路实验，借助实验系统的系统资源模块，能够完成基本的验证性实验，使用者也可以利用面包板模块设计新器件的外围电路，完成新器件功能测试和设计性实验；

所述的液晶显示模块6的液晶显示屏用作仪器的显示界面， 显示所开展的实验项目和显示具体的实验结果；

所述的系统资源模块包括2×8键盘、数码显示模块、蜂鸣器、扬声器、拨码开关和发光二极管模块；能够提供开设不同课程实验时所需的公共资源；其中，在光电检测与信息处理实验课程中，2×8键盘有S0、S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8、S9、S10、S11、S12、S13、S14、S15键；其中，S0键按下代表进行光电传感器光电特性测试实验，S1键按下代表进行光电密码锁实验；S2键按下代表进行光变频率实验；S3键按下代表进行电机转速测量实验；S4键按下代表进行CCD工件尺寸测量实验；S5键按下代表测量当前光源的照度值；S6键按下代表测量当前的电流值；S7键代表修正键，当按下S0键至S6键出现误操作时，按下S7键，然后可重新进行按键选择；S8键按下代表退出所选实验项目；S9，S10，S11，S12，S13，S14，S15为保留按键，为系统实验项目扩展提供资源；

所述的可调电位器模块为光源模块提供可调的驱动电源，可调电位器模块结合光源模块可为系统提供不同照度的光信号；

所述的电压电流测量模块在单片机模块的控制下，测量在一定照度的光信号照射下，光电传感器模块所产生的光生电流值，作为结果光电特性曲线的纵坐标值；

所述的照度测量模块在单片机模块的控制下，测量给定光信号的照度值，作为结果光电特性曲线的横坐标值；

所述的激光电源模块，为激光光源提供可变的驱动电流，为系统提供不同强度的激光信号；

所述的光电传感器模块包括常用的光敏电阻传感器、光电池传感器、光电二极管传感器，系统针对这三种光电传感器开展光电特性测试实验；

所述的光源模块包括可见光光源、红外功率可调光源和激光光源三种，其中，可见光光源为光电传感器光电特性测试实验提供光信号，红外功率可调光源为光变频率实验提供光信号，激光光源为CCD工件尺寸测量实验提供光源；

所述的光电实验插板模块包括光电传感器光电特性测试实验插板、光电密码锁实验插板、光变频率实验插板、电机转速测量实验插板和CCD工件尺寸测量插板。

如附图2所示，下面介绍保存在单片机模块中的光电检测与信息处理实验系统的程序流程。

执行步骤100，开始； 

执行步骤101，进行初始化，设定光电特性曲线测试采样点个数N，然后进行步骤102；

执行步骤102，扫描系统资源模块7的2×8键盘资源，判断是否有键按下，是，执行步骤103；否，重新进行步骤102；

执行步骤103，延时20毫秒，消除按键的抖动过程；

执行步骤104，再次判断是否有按键按下；否，说明按键按下是机械抖动造成的，执行步骤105，退出实验；是，说明按键按下，进行按键功能的散转；

执行步骤106，系统资源模块7的2×8键盘中S0键按下，进行光电传感器光电特性测试实验；

执行步骤107，系统资源模块7的2×8键盘中S1键按下，进行光电密码锁实验；

执行步骤108，系统资源模块7的2×8键盘中S2键按下，进行择光变频率实验；

执行步骤109，系统资源模块7的2×8键盘中S3键按下，进行电机转速测量实验；

执行步骤110，系统资源模块7的2×8键盘中S4键按下，进行CCD工件尺寸测量实验；

执行步骤111，系统资源模块7的2×8键盘中S5键按下，进行测量光照条件下光源的照度值；

执行步骤112，系统资源模块7的2×8键盘中S6键按下，进行测量光照条件下光电传感器感生的光电流值；

执行步骤113，系统资源模块7的2×8键盘中S7键按下，可分别对步骤106、步骤107、步骤108、步骤109、步骤110、步骤111、步骤112出现的误操作进行修正，然后，可重新按下正确的按键；

执行步骤114，系统资源模块7的2×8键盘中S8键按下，实验结束，退出。

有益效果：本发明提供的光电检测与信息处理实验系统是以光电传感器模块12为被测对象，对光电传感器模块12进行光电特性测量，并提供光电传感器的开关特性应用实验资源和线性应用实验资源，通过单片机模块1中的软件在液晶显示模块6上显示测试光电特性二维曲线。本发明提供的光电检测与信息处理实验系统无须辅助的常规万用表、光照度计等实验设备，无须个人计算机，使用方便，可用于教学与产品检测；预留的电子学面包板模块5、总线模块4，实现了光电类实验教学仪器功能的无限扩展性；仪器的电压电流测量模块9、系统资源模块7、光照度测量模块10可以为使用者进行设计性实验提供测量仪表，因此，该实验系统既是实验教学仪器，又是测试仪器；此外，独立的单片机模块1、CPLD模块2还可以分别用于单片机实验教学、现代数字电路实验教学等，真正实现了一机多用，节约了实验室的设备资源。 

附图说明

图1是本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统的总体结构框图。 

图2是本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统的程序流程图。 

具体实施方式

实施例1   如附图1所示，本发明提供的一种光电检测与信息处理实验系统包括单片机模块1、CPLD模块2、电源模块3、总线模块4、面包板模块5、液晶显示模块6、系统资源模块7、可调电位器模块8、电压电流测量模块9、照度测量模块10、激光电源模块11、光电传感器模块12、光源模块13、光电实验插板模块14； 

单片机模块1与总线模块4、液晶显示模块6、系统资源模块7、电压电流测量模块9、照度测量模块10分别连接；总线模块4与光电传感器模块12、光电实验插板模块14分别连接；CPLD模块2与光电传感器模块12连接；可调电位器模块8与光源模块13连接；

所述的单片机模块1是光电检测与信息处理实验系统的控制和信息处理中心，该仪器的程序存储在单片机模块1中，其程序流程图如附图2所示；

单片机模块1能够根据照度测量模块10提供的照度值和电压电流测量模块9测量得到的光生电流值，在液晶显示模块6上直接绘制光电传感器的光电特性曲线；同时，单片机模块1能够通过总线模块4、光电实验插板模块14，应用光电传感器的开关特性进行电机转速测量和工件尺寸测量；

所述的CPLD模块2，在光电检测与信息处理实验课程中为电荷耦合器件CCD应用提供四路工作脉冲；也可独立使用CPLD模块2开展现代数字电路实验课程，实现仪器功能上的扩展；

所述的电源模块3包括五路电源，为实验系统提供数字5V、模拟±5V、模拟±12V的电源，为整个系统供电，确保在开设实验时无须辅助的稳压电源设备；

所述的总线模块4用做系统的功能扩展，采用标准VME64总线插座，光电实验插板模块14中包括的所有扩展功能实验插板都具有配套的标准VME64芯插针，可插在总线模块4上，实现系统实验功能的扩展，使用者可以利用实验系统上提供的资源，自行设计多种功能实验插板，可以开展多种实验项目；

所述的面包板模块5完成实验电路功能的验证，如开展电工电子的模拟电路实验、数字电路实验，借助实验系统的系统资源模块7，能够完成基本的验证性实验，使用者也可以利用面包板模块5设计新器件的外围电路，完成新器件功能测试和设计性实验；

所述的液晶显示模块6的液晶显示屏用作仪器的显示界面，显示所开展的实验项目和显示具体的实验结果；

所述的系统资源模块7包括2×8键盘、数码显示模块、蜂鸣器、扬声器、拨码开关和发光二极管模块；能够提供开设不同课程实验时所需的公共资源；其中，在光电检测与信息处理实验课程中，所述的系统资源模块包括2×8键盘、数码显示模块、蜂鸣器、扬声器、拨码开关和发光二极管模块；能够提供开设不同课程实验时所需的公共资源；其中，在光电检测与信息处理实验课程中，2×8键盘有S0、S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8、S9、S10、S11、S12、S13、S14、S15键；其中，S0键按下代表进行光电传感器光电特性测试实验，S1键按下代表进行光电密码锁实验；S2键按下代表进行光变频率实验；S3键按下代表进行电机转速测量实验；S4键按下代表进行CCD工件尺寸测量实验；S5键按下代表测量当前光源的照度值；S6键按下代表测量当前的电流值；S7键代表修正键，当按下S0键至S6键出现误操作时，按下S7键，然后可重新进行按键选择；S8键按下代表退出所选实验项目；S9，S10，S11，S12，S13，S14，S15为保留按键，为系统实验项目扩展提供资源；

所述的可调电位器模块8为光源模块13提供可调的驱动电源，可调电位器模块8结合光源模块13可为系统提供不同照度的光信号；

所述的电压电流测量模块9在单片机模块1的控制下，测量在一定照度的光信号照射下，光电传感器模块12所产生的光生电流值，作为结果光电特性曲线的纵坐标值；

所述的照度测量模块10在单片机模块1的控制下，测量给定光信号的照度值，作为结果光电特性曲线的横坐标值；

所述的激光电源模块11，为激光光源提供可变的驱动电流，为系统提供不同强度的激光信号；

所述的光电传感器模块12包括常用的光敏电阻传感器、光电池传感器、光电二极管传感器，系统针对这三种光电传感器开展光电特性测试实验；

所述的光源模块13包括可见光光源、红外功率可调光源和激光光源三种，其中，可见光光源为光电传感器光电特性测试实验提供光信号，红外功率可调光源为光变频率实验提供光信号，激光光源为CCD工件尺寸测量实验提供光源；

所述的光电实验插板模块14包括光电传感器光电特性测试实验插板、光电密码锁实验插板、光变频率实验插板、电机转速测量实验插板和CCD工件尺寸测量插板。

如附图2所示，下面介绍保存在单片机模块1中的光电检测与信息处理实验系统的程序流程。 

执行步骤100，开始； 

执行步骤101，进行初始化，设定光电特性曲线测试采样点个数N，然后进行步骤102；

执行步骤102，扫描系统资源模块7的2×8键盘资源，判断是否有键按下，是，执行步骤103；否，重新进行步骤102；

执行步骤103，延时20毫秒，消除按键的抖动过程；

执行步骤104，再次判断是否有按键按下；否，说明按键按下是机械抖动造成的，执行步骤105，退出实验；是，说明按键按下，进行按键功能的散转；

执行步骤106，系统资源模块7的2×8键盘中S0键按下，进行光电传感器光电特性测试实验；

执行步骤107，系统资源模块7的2×8键盘中S1键按下，进行光电密码锁实验；

执行步骤108，系统资源模块7的2×8键盘中S2键按下，进行择光变频率实验；

执行步骤109，系统资源模块7的2×8键盘中S3键按下，进行电机转速测量实验；

执行步骤110，系统资源模块7的2×8键盘中S4键按下，进行CCD工件尺寸测量实验；

执行步骤111，系统资源模块7的2×8键盘中S5键按下，进行测量光照条件下光源的照度值；

执行步骤112，系统资源模块7的2×8键盘中S6键按下，进行测量光照条件下光电传感器感生的光电流值；

执行步骤113，系统资源模块7的2×8键盘中S7键按下，可分别对步骤106、步骤107、步骤108、步骤109、步骤110、步骤111、步骤112出现的误操作进行修正，然后，可重新按下正确的按键；

执行步骤114，系统资源模块7的2×8键盘中S8键按下，实验结束，退出。

应用实施例1  光电传感器模块12光电特性测试实验

把光源模块13中的可见光光源用光学支架固定；再用光学支架固定光电传感器模块12中的光电二极管传感器；调整固定可见光光源的光学支架与固定光电二极管传感器的光学支架等高度同轴，用单根信号线连接光电二极管传感器和照度测量模块10；再用单根信号线连接可见光光源和可调电位器8；将光电传感器光电特性测试实验插板插到总线模块4上；用单根信号线将总线模块4分别与电源模块3以及单片机模块1连接；用单根信号线将液晶显示模块6与单片机模块1连接；打开电源开关；通过运行单片机模块1中的软件（如附图2所示），液晶显示模块6滚动显示实验提示信息，按下系统资源模块7 的2×8键盘中的S0键，选择光电传感器光电特性测试实验，执行光电特性测试实验子程序；手动旋转可调电位器8旋钮，改变可见光光源发光强度，按下2×8键盘中的S5键，测量光照条件下的光照度值；光照条件不变的情况下，取下光学支架固定的光电二极管传感器，换上待测的光电传感器元件，将待测的光电传感器元件与总线模块4及电压电流测量模块9相连；按下2×8键盘中的S6按键，测量光照度值下流经光电传感器元件的光生电流值，至此得到了最终光电特性曲线上的一点，暂存到单片机模块1的内部存储单元中；初始化测量点个数为N个，已进行1点的测量；接下来，取下光学支架固定的待测光电传感器元件，换上光电二极管传感器，与照度测量模块10进行相应的连线后，再次手动旋转可调电位器8旋钮，改变可见光光源发光强度，按下2×8键盘中的S5键，测量光照条件后的光照度值；然后取下光学支架固定的光电二极管传感器，换上待测的光电传感器元件，将待测的光电传感器元件与总线模块4及电压电流测量模块9相连；按下2×8键盘中的S6按键，测量光照度值下流经光电传感器元件的光生电流值，至此得到了最终光电特性曲线上的第二点，暂存到单片机模块1的内部存储单元中；以此类推，测量数据点数为初始化值N时，单片机模块1进行必要的数据处理和曲线拟合后，在液晶显示模块6上显示出所测试的光电传感器元件的光电特性曲线，然后按下2×8键盘中的S8键，结束测量退出。

应用实施例2   光电密码锁实验

将光电密码锁实验插板插到总线模块4上；用单根信号线将总线模块4分别与电源模块3以及单片机模块1连接；用单根信号线将液晶显示模块6与单片机模块1连接；打开电源开关；通过运行单片机模块1中的软件（如附图2所示），液晶显示模块6滚动显示实验提示信息，按下系统资源模块7 的2×8键盘中的S1键，选择光电密码锁实验，执行光电密码锁子程序，液晶显示模块6提示输入4位密码，光电密码锁实验插板主要由反射式光电开关检测电路、对射式光电开关检测电路、光电耦合式光电开关检测电路、光敏电阻式光电开关检测电路、光电池式光电开关检测电路组成。用遮光片在反射式光电开关前挡四下，液晶显示模块6显示4；再在对射式光电开关前挡三下，液晶显示模块6显示3；接着在光敏电阻式光电开关前挡二下，液晶显示模块6显示2；在光电池式光电开关前挡一下，液晶显示模块6显示1；最后在光电耦合式光电开关前挡一下，密码置入，与设置密码相同，液晶显示模块6提示密码输入正确，否则液晶显示模块6提示密码错误，重新置入密码。

应用实施例3  光变频率实验

将光变频率实验插板插到总线模块4上；用单根信号线将总线模块4分别与电源模块3以及单片机模块1连接；用单根信号线将液晶显示模块6与单片机模块1连接；打开电源开关；通过运行单片机模块1中的软件（如附图2所示），液晶显示模块6滚动显示实验提示信息，按下系统资源模块7 的2×8键盘中的S2键，选择光变频率实验，执行光变频率实验子程序，液晶显示模块6显示当前光照条件下的对应的频率值，改变光照条件，液晶显示模块6显示的频率值也随之变化。

应用实施例4  转速测量实验

所述的转速测量实验的具体操作如下：将电机转速测量实验插板插到总线模块4上；用单根信号线将总线模块4分别与电源模块3以及单片机模块1连接；用单根信号线将液晶显示模块6与单片机模块1连接；再用单根信号线连接可调电位器8与总线模块4相连。打开电源开关；通过运行单片机模块1中的软件（如附图2所示），液晶显示模块6滚动显示实验提示信息，按下系统资源模块7 的2×8键盘中的S3键，选择光变频率实验，执行电机转速测量实验子程序，旋转可调电位器8旋钮，改变电机的驱动电压，电机的转速将会发生变化，液晶显示模块6实时显示当前电机的转速值，旋转可调电位器8旋钮，电机的驱动电压发生变化，液晶显示模块6显示的转速值也随之变化。

应用实施例5  CCD工件尺寸测量实验

所述的CCD工件尺寸测量实验的具体操作如下：将CCD工件尺寸测量插板插到总线模块4上；用单根信号线将总线模块4分别与电源模块3以及单片机模块1连接；用单根信号线将液晶显示模块6  与单片机模块1连接；再用单根信号线连接可调电位器8与总线模块4相连；将激光电源模块11与光源模块13中的激光光源相连；将CPLD模块2与总线模块4相连。打开电源开关；通过运行单片机模块1中的软件（如附图2所示），液晶显示模块6滚动显示实验提示信息，按下系统资源模块7 的2×8键盘中的S4键，选择CCD工件尺寸测量实验，执行CCD工件尺寸测量实验子程序，放在CCD前的物体外径尺寸发生变化时，液晶显示模块6显示的工件尺寸测量结果随之变化。

Claims (1)

1.一种光电检测与信息处理实验系统包括单片机模块（1）、CPLD模块（2）、电源模块（3）、总线模块（4）、面包板模块（5）、液晶显示屏（6）、系统资源模块（7）、可调电位器模块（8）、电压电流测量模块（9）、照度测量模块（10）、激光电源模块（11）、光电传感器模块（12）、光源模块（13）、光电实验插板模块（14）；单片机模块（1）与总线模块（4）、液晶显示模块（6）、系统资源模块（7）、电压电流测量模块（9）、照度测量模块（10）分别连接；总线模块（4）与光电传感器模块(12)、光电实验插板模块(14)分别连接；CPLD模块(2)与光电传感器模块(12)连接；可调电位器模块(8)与光源模块(13)连接；单片机模块(1)中存储该系统的程序；

单片机模块(1)能够根据照度测量模块(10)提供的照度值和电压电流测量模块(9)测量得到的光生电流值，在液晶显示模块(6)上直接绘制光电传感器的光电特性曲线；同时，单片机模块(1)能够通过总线模块(4)、光电实验插板模块(14)，应用光电传感器的开关特性进行电机转速测量和工件尺寸测量；

所述的CPLD模块(2)，在光电检测与信息处理实验课程中为电荷耦合器件CCD应用提供四路工作脉冲；也可独立使用CPLD模块(2)开展现代数字电路实验课程；

所述的电源模块(3)包括五路电源，为实验系统提供数字5V、模拟±5V、模拟±12V的电源，为整个系统供电；

所述的总线模块(4)用做系统的功能扩展，采用标准VME64总线插座，光电实验插板模块(14)中包括的所有扩展功能实验插板都具有配套的标准VME64芯插针，可插在总线模块(4)上；

所述的面包板模块(5)完成实验电路功能的验证，开展电工电子的模拟电路实验、数字电路实验，借助实验系统的系统资源模块(7)，能够完成基本的验证性实验，利用面包板模块(5)设计新器件的外围电路，完成新器件功能测试和设计性实验；

所述的液晶显示模块(6)的液晶显示屏用作仪器的显示界面，显示所开展的实验项目和显示具体的实验结果；

所述的系统资源模块（7）包括2×8键盘、数码显示模块、蜂鸣器、扬声器、拨码开关和发光二极管模块；能够提供开设不同课程实验时所需的公共资源；其中，在光电检测与信息处理实验课程中，所述的系统资源模块包括2×8键盘、数码显示模块、蜂鸣器、扬声器、拨码开关和发光二极管模块；能够提供开设不同课程实验时所需的公共资源；其中，在光电检测与信息处理实验课程中，2×8键盘有S0、S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8、S9、S10、S11、S12、S13、S14、S15键；其中，S0键按下代表进行光电传感器光电特性测试实验，S1键按下代表进行光电密码锁实验；S2键按下代表进行光变频率实验；S3键按下代表进行电机转速测量实验；S4键按下代表进行CCD工件尺寸测量实验；S5键按下代表测量当前光源的照度值；S6键按下代表测量当前的电流值；S7键代表修正键，当按下S0键至S6键出现误操作时，按下S7键，然后可重新进行按键选择；S8键按下代表退出所选实验项目；S9，S10，S11，S12，S13，S14，S15为保留按键，为系统实验项目扩展提供资源；

所述的可调电位器模块（8）为光源模块（13）提供可调的驱动电源，可调电位器模块（8）结合光源模块（13）可为系统提供不同照度的光信号；

所述的电压电流测量模块（9）在单片机模块（1）的控制下，测量在一定照度的光信号照射下，光电传感器模块(12)所产生的光生电流值，作为结果光电特性曲线的纵坐标值；

所述的照度测量模块(10)在单片机模块(1)的控制下，测量给定光信号的照度值，作为结果光电特性曲线的横坐标值；

所述的激光电源模块(11)，为激光光源提供可变的驱动电流，为系统提供不同强度的激光信号；

所述的光电传感器模块(12)包括常用的光敏电阻传感器、光电池传感器、光电二极管传感器，系统针对这三种光电传感器开展光电特性测试实验；

所述的光源模块(13)包括可见光光源、红外功率可调光源和激光光源三种，其中，可见光光源为光电传感器光电特性测试实验提供光信号，红外功率可调光源为光变频率实验提供光信号，激光光源为CCD工件尺寸测量实验提供光源；

所述的光电实验插板模块(14)包括光电传感器光电特性测试实验插板、光电密码锁实验插板、光变频率实验插板、电机转速测量实验插板和CCD工件尺寸测量插板。