CN103940583B - 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 - Google Patents
光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103940583B CN103940583B CN201310021297.5A CN201310021297A CN103940583B CN 103940583 B CN103940583 B CN 103940583B CN 201310021297 A CN201310021297 A CN 201310021297A CN 103940583 B CN103940583 B CN 103940583B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- coupling part
- photoelectric coupling
- clamping plate
- fixture
- container
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000008878 coupling Effects 0.000 title claims abstract description 50
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005622 photoelectricity Effects 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
Landscapes
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Abstract
一种光电耦合件测试用夹具，其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件。所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板。所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面。所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽。所述收容槽用于收容所述光电耦合件。所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面。所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面。所述斜面布设有一反射层，所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。本发明还涉及一种光电耦合件测试方法。
Description
技术领域
本发明涉及一种光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法。
背景技术
光纤耦合连接器中的透镜单元一般包括两组透镜以及一个反射斜面，两组透镜分别是光纤侧以及基板侧，就光学设计的角度而言，这两组透镜的同心偏差一般大约在数微米之间，所以就成品的角度来说，透镜位置的正位度就十分重要，一般量测透镜的正位度是取其定位孔(柱)的中心为基准，然后再分别于两组透镜成品面以此基准进行透镜正位度的量测。
就以往的量测方式，光纤侧以及基板侧透镜分别于不同的成品面进行正位度的量测，但是以此方法进行量测会有基准面不同的问题，从而使的量测不准确。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种能提高测量精度的光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法。
一种光电耦合件测试用夹具，其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件。所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板。所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面。所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽。所述收容槽用于收容所述光电耦合件。所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面。所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面。所述斜面布设有一反射层，所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。
一种光电耦合件测试方法，其包括以下步骤：
提供一种光电耦合件及上述夹具，所述光电耦合件包括一第一端面及一第一表面，所述述第一表面与所述第一端面垂直相连，所述第一端面上延伸有一对定位凸柱，同时开设有一第一收容槽，所述第一收容槽包括一槽底，所述槽底上设置有多个第一耦合透镜，所述第一表面上开设有一个第二收容槽，所述第二收容槽的底部设置有多个对应于所述第一耦合透镜的第二耦合透镜；
将所述光电耦合件放入所述收容槽内，所述第一端面上的第一耦合透镜裸露于收容槽外，所述第二耦合透镜投影在所述反射层上；
所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行正位度量测。
相对于现有技术，由于所述第二耦合透镜投影在所述反射层上，进而可使所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均可与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行透镜正位度的量测，由于采用同一个基准面，从而使得测量准确。
附图说明
图1是本发明实施方式的光电耦合件测试用夹具的立体组装结构图。
图2是图1中的夹具的分解图。
图3是图2的夹具的另一角度视图。
图4是图1的夹具的使用状态图。
图5是图4中的V部分放大图。
图6是本发明实施方式的光电耦合件测试方法的流程图。
主要元件符号说明
| 光电耦合件测试用夹具 | 100 |
| 光电耦合件 | 200 |
| 第一端面 | 21 |
| 第一表面 | 23 |
| 定位凸柱 | 210 |
| 第一收容槽 | 211 |
| 槽底 | 2110 |
| 第一耦合透镜 | 26 |
| 第二收容槽 | 231 |
| 底部 | 2311 |
| 第二耦合透镜 | 28 |
| 第一夹板 | 110 |
| 第二夹板 | 120 |
| 上表面 | 111 |
| 下表面 | 112 |
| 第一侧面 | 113 |
| 收容槽 | 114 |
| 定位块 | 115 |
| 开口 | 116 |
| 顶面 | 121 |
| 底面 | 122 |
| 第二侧面 | 123 |
| 定位柱 | 124 |
| 斜面 | 125 |
| 反射层 | 126 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作一具体介绍。
请参阅图1-5，本发明实施方式提供的光电耦合件测试用夹具100，其用于在测试一光电耦合件200时夹持该光电耦合件200。所述光电耦合件200所述光电耦合件200包括一第一端面21及一第一表面23。所述述第一表面23与所述第一端面21垂直相连。所述第一端面21上延伸有一对定位凸柱210，同时开设有一第一收容槽211。所述第一收容槽211包括一槽底2110。所述槽底2110上设置有多个第一耦合透镜26。所述第一表面23上开设有一个第二收容槽231，所述第二收容槽231的底部2311设置有多个对应于所述第一耦合透镜26的第二耦合透镜28。
所述夹具100大致为一长方体结构，其包括一第一夹板110及一与所述第一夹板110相配合的第二夹板120。
所述第一夹板110包括一上表面111、一背离所述上表面111的下表面112及一第一侧面113。所述上表面111平行所述下表面112。所述上表面111及所述下表面112均与所述第一侧面113相垂直连接。所述第一夹板110于所述上表面111与所述第一侧面113的交界处向所述下表面112延伸开设有一收容槽114。所述收容槽114用于收容所述光电耦合件200。所述第一夹板110的第一侧面113靠近所述下表面112位置沿垂直所述第一侧面113方向向外延伸有两个定位块115。本实施方式中，所述两个定位块115与所述第一夹板110一体成型。两个所述定位块115相互间隔，因此，在两个定位块115之间形成有一开口116。两个所述定位块115关于所述开口116对称。
所述第二夹板120包括一顶面121及一背离所述顶面121的底面122及一第二侧面123。所述顶面121平行所述底面122。所述顶面121及所述底面122均与所述第二侧面123相垂直连接。所述第二夹板120的底面122沿垂直所述底面122方向向下延伸有一个定位柱124。所述定位柱124的形状及尺寸分别与所述开口116的形状及尺寸相对应。所述顶面121向所述第二侧面123延伸形成有一倾斜的斜面125。所述斜面125布设有一反射层126。所述反射层126的形状及尺寸分别与所述斜面125的形状及尺寸相同。所述反射层126与所述光电耦合件200的第一表面23上的所述第二耦合透镜28相对正。本实施方式中，所述反射层126由不锈钢材料制成。所述顶面121与所述斜面125成一角度，该角度只要能使所述光电耦合件200的第一表面23上的所述第二耦合透镜28投影在所述反射层126上即可。优选地，该角度为45度。
在其他实施方式中，也可不设置定位块115、开口116及定位柱124，而直接将所述第一夹板110的第一侧面113与所述第二夹板120的第二侧面123相贴合。
在其他实施方式中，所述反射层126也可以为一平面镜。
请参阅图6，本发明实施方式的光电耦合件测试方法包括以下步骤：
S101：先将所述定位柱124插入所述第一夹板110的所述开口116内，以使所述第二夹板120的底面122承载在所述定位块115上；
S102：再将所述光电耦合件200放入所述收容槽114内，所述第一端面21上的第一耦合透镜26裸露于收容槽114外，所述第二耦合透镜28投影在所述反射层126上；
S103：所述第一耦合透镜26和所述第二耦合透镜28均与所述光电耦合件200的第一端面21上的所述定位凸柱210为基准进行正位度量测。
由于所述第二耦合透镜28投影在所述反射层126上，进而可使所述第一耦合透镜26和所述第二耦合透镜28均与所述光电耦合件200的第一端面21上的所述定位凸柱210为基准进行透镜正位度的量测，由于采用同一个基准面，从而使得测量准确。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
Claims (9)
1.一种光电耦合件测试用夹具，其用于在测试一光电耦合件时夹持该光电耦合件，其特征在于：所述夹具包括一第一夹板及一与所述第一夹板相配合的第二夹板，所述第一夹板包括一上表面、一背离所述上表面的下表面及一第一侧面，所述第一夹板于所述上表面与所述第一侧面的交界处向所述下表面延伸开设有一收容槽，所述收容槽用于收容所述光电耦合件，所述第二夹板包括一顶面及一第二侧面，所述顶面向所述第二侧面延伸形成有一倾斜的斜面，所述斜面布设有一反射层，所述光电耦合件的一表面上的耦合透镜投影在所述反射层上。
2.如权利要求1所述的夹具，其特征在于：所述第一夹板的第一侧面靠近所述下表面位置沿垂直所述第一侧面方向向外延伸有两个定位块，两个所述定位块相互间隔，在两个定位块之间形成有一开口，所述第二夹板还包括一背离所述顶面的底面，所述第二夹板的底面沿垂直所述底面方向向下延伸有一个定位柱，所述定位柱的形状及尺寸分别与所述开口的形状及尺寸相对应，所述定位柱收容在所述开口内。
3.如权利要求2所述的夹具，其特征在于：所述上表面平行所述下表面，所述上表面及所述下表面均与所述第一侧面相垂直连接，所述顶面平行所述底面，所述顶面及所述底面均与所述第二侧面相垂直连接。
4.如权利要求2所述的夹具，其特征在于：两个定位块与所述第一夹板一体成型。
5.如权利要求2所述的夹具，其特征在于：两个所述定位块关于所述开口对称。
6.如权利要求1所述的夹具，其特征在于：所述反射层由不锈钢材料制成。
7.如权利要求1所述的夹具，其特征在于：所述反射层为一平面镜。
8.如权利要求1所述的夹具，其特征在于：所述顶面与所述斜面成一角度，所述角度为45度。
9.一种光电耦合件测试方法，其包括以下步骤：
提供一种光电耦合件及一如权利要求1-7任一项所述的夹具，所述光电耦合件包括一第一端面及一第一表面，所述第一表面与所述第一端面垂直相连，所述第一端面上延伸有一对定位凸柱，同时开设有一第一收容槽，所述第一收容槽包括一槽底，所述槽底上设置有多个第一耦合透镜，所述第一表面上开设有一个第二收容槽，所述第二收容槽的底部设置有多个对应于所述第一耦合透镜的第二耦合透镜；
将所述光电耦合件放入所述收容槽内，所述第一端面上的第一耦合透镜裸露于收容槽外，所述第二耦合透镜投影在所述反射层上；
所述第一耦合透镜和所述第二耦合透镜均与所述光电耦合件的第一端面上的所述定位凸柱为基准进行正位度量测。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310021297.5A CN103940583B (zh) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310021297.5A CN103940583B (zh) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103940583A CN103940583A (zh) | 2014-07-23 |
| CN103940583B true CN103940583B (zh) | 2018-05-01 |
Family
ID=51188347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201310021297.5A Expired - Fee Related CN103940583B (zh) | 2013-01-21 | 2013-01-21 | 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103940583B (zh) |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20040039599A (ko) * | 2002-11-04 | 2004-05-12 | 삼성전자주식회사 | 검사용 시료 홀더 |
| CN101244540A (zh) * | 2007-02-13 | 2008-08-20 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 研磨夹具 |
| CN101435738B (zh) * | 2007-11-12 | 2011-03-23 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 测试装置 |
| CN101469970B (zh) * | 2008-06-03 | 2011-12-07 | 番禺得意精密电子工业有限公司 | 一种结合件正位度的测量方法 |
| CN102096161A (zh) * | 2010-12-23 | 2011-06-15 | 大连艾科科技开发有限公司 | 微小裸耦合透镜的三维固定方法 |
| CN102798936B (zh) * | 2011-05-23 | 2016-05-04 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 光纤耦合连接器 |
-
2013
- 2013-01-21 CN CN201310021297.5A patent/CN103940583B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103940583A (zh) | 2014-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1304879C (zh) | 基于光程倍增补偿方法的二维光电自准直装置和测量方法 | |
| JP5961264B2 (ja) | 透明部品用運動学的固定具 | |
| CN104280838A (zh) | 光电连接器及其组件 | |
| CN104061895B (zh) | 一种高精度测角仪器的精度检测方法 | |
| CN102538712A (zh) | 垂直度调整方法 | |
| CN102455172A (zh) | 镜头模组测量系统及其测量方法 | |
| CN102798357A (zh) | 双管测角装置及方法 | |
| CN104482884A (zh) | 小角度测量装置及其测量方法 | |
| CN105737759A (zh) | 一种长程面形测量装置 | |
| CN103852831A (zh) | 透镜单元及光纤耦合连接器 | |
| CN109539956A (zh) | 平面检测仪 | |
| CN103940583B (zh) | 光电耦合件测试用夹具及光电耦合件测试方法 | |
| CN207688826U (zh) | 棱镜测量治具及棱镜测量系统 | |
| CN109991712A (zh) | 一种u型折转光路装调装置及方法 | |
| CN104375255A (zh) | 一种薄壁件上非共轴光学系统的装调方法 | |
| CN103256879A (zh) | 高度测量治具 | |
| CN209310679U (zh) | 测量工装 | |
| CN213579176U (zh) | 一种测量芯片爬胶高度及宽度的装置 | |
| CN105783708B (zh) | 光学校正装置与光学校正方法 | |
| CN206223058U (zh) | 用于测量轴孔至侧面距离的量具 | |
| CN2935081Y (zh) | 双镜头三角定位深度测量仪 | |
| CN205580406U (zh) | 一种自准直仪 | |
| TW201217898A (en) | Detecting system and detecting method for lens module | |
| CN102445124B (zh) | 测量掩模板保护膜的工具及方法 | |
| CN205982799U (zh) | 一种大视场折反式测量光学系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20170922 Address after: Guangdong province Shenzhen city Longhua District Dalang street community of Longsheng gold dragon road e-commerce incubator exhibition Tao Commercial Plaza E block 706 Applicant after: Shenzhen Meliao Technology Transfer Center Co.,Ltd. Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two Applicant before: HONG FU JIN PRECISION INDUSTRY (SHENZHEN) Co.,Ltd. Applicant before: HON HAI PRECISION INDUSTRY Co.,Ltd. |
|
| CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Lin Zhichao Inventor before: Guo Zhangwei |
|
| CB03 | Change of inventor or designer information | ||
| TA01 | Transfer of patent application right | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20180404 Address after: 518000 building first, second, BC, building A, No. 121, Siman Road, Longhua District, Longhua District, Shenzhen City Applicant after: Kaylian Technology (Shenzhen) Co.,Ltd. Address before: 518000 Guangdong Province, Shenzhen New District of Longhua City, Dalang street, Longsheng Gold Dragon Road community e-commerce incubator exhibition Tao Commercial Plaza E block 706 Applicant before: Shenzhen Meliao Technology Transfer Center Co.,Ltd. |
|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20180501 Termination date: 20220121 |