CN103762966A - 掉电记忆电路及其掉电记忆方法 - Google Patents

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徐中华
谢丽芳
钟惠文
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Abstract

本发明公开一种掉电记忆电路，包括IC芯片、具有电压检测电容的记忆单元以及可擦写存储单元。IC芯片用于控制记忆单元的电压检测电容的充电以及用于在掉电记忆电路掉电后通电时检测电压检测电容的电压。可擦写存储单元用于在掉电记忆电路掉电时保存IC芯片获取的当前工作参数。本发明掉电记忆电路在掉电后通电时通过IC芯片将检测到的电压检测电容的电压与预设的预定电压进行对比，根据电压检测电容的电压是否不小于预定电压的对比结果来判断是否调用可擦写存储单元内保存的当前工作参数来进行工作，因此电压检测电容并未向IC芯片供电来维持当前工作参数，从而降低环境温度和湿度的影响，进而降低工作参数记忆时间的波动。

Description

掉电记忆电路及其掉电记忆方法
技术领域
本发明涉及电路技术领域，具体涉及一种掉电记忆电路及其掉电记忆方法。
背景技术
现有家电产品在掉电时是通过使用电解电容来或专用的记忆芯片来维持工作参数的记忆。由于记忆芯片的成本较高，家电产品更多是采用电解电容来维持工作参数的记忆。然而，由于电解电容的储存能量会受环境温度和湿度的影响，因而在不同的季节下使用电解电容来维持工作参数记忆的时间长短会差别较大，从而给用户的使用带来不便。
发明内容
本发明的目的在于提供一种掉电记忆电路及其掉电记忆方法，旨在降低工作参数记忆时间的波动。
为了实现本发明的目的，本发明提供一种掉电记忆电路，包括：
具有电压检测电容的记忆单元；
IC芯片，用于控制记忆单元的电压检测电容的充电以及用于在掉电记忆电路掉电后通电时检测电压检测电容的电压；
可擦写存储单元，用于在掉电记忆电路掉电时保存IC芯片获取的当前工作参数；
所述IC芯片在掉电记忆电路掉电后通电时将检测到的电压检测电容的电压与预设的预定电压进行对比，根据电压检测电容的电压是否不小于预定电压的对比结果来判断是否调用可擦写存储单元内保存的当前工作参数来进行工作。
优选地，所述记忆单元还具有与IC芯片连接的电阻和与电阻并联的截止二极管，所述电压检测电容与电阻和截止二极管串接并接地。
优选地，所述电阻连接IC芯片的AN端口。
优选地，所述记忆单元还具有分别与IC芯片连接的电阻和截止二极管，所述电压检测电容与电阻和截止二极管串接并接地。
优选地，所述电阻连接IC芯片的AN端口，所述截止二极管的阳极连接IC芯片的VDD端口。
优选地，所电压检测电容为电解电容。
优选地，所述记忆单元还具有与IC芯片连接的电阻以及与IC芯片和电压源VDD连接的开关电路，所述电压检测电容与电阻和开关电路串接并接地，所述IC芯片通过控制开关电路的导通和关断来控制电压检测电容与电压源VDD的导通和关断。
优选地，所述电阻连接IC芯片的一AN端口，所述开关电路连接IC芯片的另一AN端口。
相应地，本发明还提供一种掉电记忆电路的掉电记忆方法，包括：
S10，设置在通电后通过IC芯片控制进行充电的电压检测电容；
S20，在掉电时，通过IC芯片将当前工作参数保存在可擦写存储单元内；
S30，在掉电后通电时，通过IC芯片检测电压检测电容的电压并将检测到的电压检测电容的电压与预设的预定电压进行对比；
S40，在检测到的电压检测电容的电压不小于预定电压时，IC芯片调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数进行工作，否则IC芯片执行新的工作。
优选地，在所述步骤S10中，具体地为，所述IC芯片通过与其AN端口连接的截止二极管向电压检测电容充电；在所述步骤S30中，具体地为，先将IC芯片的AN端口设为输入口，IC芯片通过AN端口检测电压检测电容的电压，然后所述IC芯片将AN端口设为输出口以对电压检测电容进行充电。
优选地，在所述步骤S40中，在检测到的电压检测电容的电压小于预定电压时，IC芯片擦除可擦写存储单元内保存的当前工作参数。
优选地，在所述步骤S10中，在电压检测电容和电压源VDD之间还设置开关电路，所述IC芯片通过控制开关电路的导通和关断来控制电压检测电容与电压源VDD的导通和关断；在所述步骤S30中，所述IC芯片先控制开关电路关断，然后IC芯片再检测电压检测电容的电压，在检测电压检测电容的电压后，所述IC芯片再控制开关电路导通以使用电压源VDD对电压检测电容充电。
由于本发明掉电记忆电路及掉电记忆方法，在掉电记忆电路掉电时，通过可擦写存储单元保存当前工作参数，在掉电记忆电路掉电后通电时，IC芯片通过检测电压检测电容的电压并将其与预定电压进行对比，IC芯片根据电压检测电容的电压是否不小于预定电压的对比结果来判断是否调用可擦写存储单元内保存的当前工作参数来工作，因此电压检测电容并未向IC芯片供电来维持当前工作参数，从而降低环境温度和湿度的影响，进而降低工作参数记忆时间的波动。
附图说明
图1为本发明掉电记忆电路第一实施例的电路图；
图2为图1所示掉电记忆电路的掉电记忆方法的流程图；
图3为本发明掉电记忆电路第二实施例的电路图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明所述技术方案作进一步的详细描述，以使本领域的技术人员可以更好的理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。
请参阅图1，其揭示了本发明掉电记忆电路的第一实施例，在本实施例中，掉电记忆电路包括：IC芯片100以及与IC芯片100连接的记忆单元200。IC芯片100具有可擦写存储单元110。记忆单元200具有连接IC芯片100的电阻210、与电阻210并联的截止二极管220以及与电阻210和截止二极管220串接并接地的电压检测电容230。所述电阻210连接IC芯片100的AN0端口，且该AN0端口具有A/D转换功能。所述电压检测电容230为电解电容。请参阅图2，上述实施例掉电记忆电路的掉电记忆方法包括如下步骤：
S10，在通电后通过IC芯片100控制向电压检测电容210进行充电；
在本实施例中，步骤S10中具体地为，所述IC芯片100通过与其AN0端口连接的截止二极管220向电压检测电容210充电，此时所述IC芯片100将AN0端口设为输出口，从而在掉电时通过电压检测电容210的放电而可对掉电时长进行判断，所述电压检测电容210的放电是通过与IC芯片100的AN0端口连接的电阻210进行放电的。
S20，在掉电时，通过IC芯片100将当前工作参数保存在可擦写存储单元110内；
S30，在掉电后通电时，通过IC芯片100检测电压检测电容210的电压并将检测到的电压检测电容210的电压与预设的预定电压进行对比；
在本实施例中，步骤S30具体地为，先将IC芯片100的AN0端口设为输入口，IC芯片100通过AN0端口采集电压检测电容210的电压数据并进行模数转换，从而来检测电压检测电容210的电压，然后所述IC芯片100将AN0端口设为输出口以对电压检测电容210进行充电；
S40，在检测到的电压检测电容210的电压不小于预定电压时，IC芯片100调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数进行工作，否则IC芯片100执行新的工作而不调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数来进行工作。
在本实施例中，步骤S40具体地为，在检测到的电压检测电容210的电压不小于预定电压时，IC芯片100判断掉电记忆电路为短时间掉电，从而IC芯片100调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数进行工作，否则IC芯片100判断掉电记忆电路为长时间掉电，IC芯片100擦除存储单元110内的当前工作参数并执行新的工作。
可以理解的是，本实施例的方案也可以有如下变型：记忆单元具有电压检测电容、分别与IC芯片连接的电阻和截止二极管，电阻连接IC芯片的AN0端口，且该AN0端口具有A/D转换功能，截止二极管的阳极连接IC芯片的VDD端口，阴极与电阻连接，电压检测电容与电阻、截止二极管串联并接地。
相应的，其掉电记忆方法中，步骤S10、S30中通电时IC芯片通过与VDD端口连接的截止二极管对电压检测电容进行充电。
请参阅图3，其揭示了本发明掉电记忆电路的第二实施例，在本实施例中，掉电记忆电路包括：IC芯片100以及与IC芯片100连接的记忆单元300。IC芯片100具有可擦写存储单元110。记忆单元300具有连接IC芯片100的电阻310、连接IC芯片100并连接电压源VDD的开关电路320以及与电阻310和开关电路320串接并接地的电压检测电容330。所述电阻310连接IC芯片100的AN0端口，且该AN0端口具有A/D转换功能。所述开关电路320连接IC芯片100的AN1端口，以由IC芯片100通过AN1端口控制所述开关电路320的导通和关断。
上述实施例掉电记忆电路的掉电记忆方法与第一实施例掉电记忆电路的掉电记忆方法相似，其不同之处在于：
在步骤S10中具体地为，所述IC芯片100通过AN1端口控制开关电路320导通，从而使电压源VDD通过开关电路320对电压检测电容330进行充电，从而在掉电时通过电压检测电容310的放电而可对掉电时长进行判断；
在步骤S30中具体地为，在掉电后通电时，IC芯片100先通过AN1端口控制开关电路320关断，IC芯片100通过AN0端口采集电压检测电容310的电压数据并进行模数转换，从而来检测电压检测电容310的电压，然后所述IC芯片100再通过AN1端口控制开关电路320导通，从而使电压源VDD通过开关电路320对电压检测电容330进行充电。
由于本发明掉电记忆电路及掉电记忆方法，在掉电记忆电路掉电时，通过可擦写存储单元110保存当前工作参数，在掉电记忆电路通电时，IC芯片100通过检测电压检测电容210的电压并将其与预定电压进行对比，IC芯片100根据电压检测电容210的电压是否不小于预定电压的对比结果来判断是否调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数来工作，因此电压检测电容210并未向IC芯片100供电来维持当前工作参数，从而降低环境温度和湿度的影响，进而可以降低工作参数记忆时间的波动。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (12)

1.一种掉电记忆电路，其特征在于，包括：
具有电压检测电容的记忆单元；
IC芯片，用于控制记忆单元的电压检测电容的充电以及用于在掉电记忆电路掉电后通电时检测电压检测电容的电压；
可擦写存储单元，用于在掉电记忆电路掉电时保存IC芯片获取的当前工作参数；
所述IC芯片在掉电记忆电路掉电后通电时将检测到的电压检测电容的电压与预设的预定电压进行对比，根据电压检测电容的电压是否不小于预定电压的对比结果来判断是否调用可擦写存储单元内保存的当前工作参数来进行工作。
2.如权利要求1所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述记忆单元还具有与IC芯片连接的电阻和与电阻并联的截止二极管，所述电压检测电容与电阻和截止二极管串接并接地。
3.如权利要求2所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述电阻连接IC芯片的AN引脚。
4.如权利要求1所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述记忆单元还具有分别与IC芯片连接的电阻和截止二极管，所述电压检测电容与电阻和截止二极管串接并接地。
5.如权利要求4所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述电阻连接IC芯片的AN端口，所述截止二极管的阳极连接IC芯片的VDD端口。
6.如权利要求1所述的掉电记忆电路，其特征在于，所电压检测电容为电解电容。
7.如权利要求1所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述记忆单元还具有与IC芯片连接的电阻以及与IC芯片和电压源VDD连接的开关电路，所述电压检测电容与电阻和开关电路串接并接地，所述IC芯片通过控制开关电路的导通和关断来控制电压检测电容与电压源VDD的导通和关断。
8.如权利要求7所述的掉电记忆电路，其特征在于，所述电阻连接IC芯片的一AN端口，所述开关电路连接IC芯片的另一AN端口。
9.一种掉电记忆电路的掉电记忆方法，其特征在于，包括：
S10，设置在通电后通过IC芯片控制进行充电的电压检测电容；
S20，在掉电时，通过IC芯片将当前工作参数保存在可擦写存储单元内；
S30，在掉电后通电时，通过IC芯片检测电压检测电容的电压并将检测到的电压检测电容的电压与预设的预定电压进行对比；
S40，在检测到的电压检测电容的电压不小于预定电压时，IC芯片调用可擦写存储单元110内保存的当前工作参数进行工作，否则IC芯片执行新的工作。
10.如权利要求9所述的掉电记忆电路的掉电记忆方法，其特征在于，在所述步骤S10中，具体地为，所述IC芯片通过与其AN端口连接的截止二极管向电压检测电容充电；在所述步骤S30中，具体地为，先将IC芯片的AN端口设为输入口，IC芯片通过AN端口检测电压检测电容的电压，然后所述IC芯片将AN端口设为输出口以对电压检测电容进行充电。
11.如权利要求9所述的掉电记忆电路的掉电记忆方法，其特征在于，在所述步骤S40中，在检测到的电压检测电容的电压小于预定电压时，IC芯片擦除可擦写存储单元内保存的当前工作参数。
12.如权利要求9所述的掉电记忆电路的掉电记忆方法，其特征在于，在所述步骤S10中，在电压检测电容和电压源VDD之间还设置开关电路，所述IC芯片通过控制开关电路的导通和关断来控制电压检测电容与电压源VDD的导通和关断；在所述步骤S30中，所述IC芯片先控制开关电路关断，然后IC芯片再检测电压检测电容的电压，在检测电压检测电容的电压后，所述IC芯片再控制开关电路导通以使用电压源VDD对电压检测电容充电。
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