CN103713774A - 一种导线触控膜的导线非对称布局技术 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示了一种导线触控膜的导线非对称布局技术,该方法包括以下创新:将原来分布于两边走线的布局,改为一边走的布局,该方法改善了边界位置的触控体验。
Description
技术领域
本发明属于电子技术,纳米材料领域。
背景技术
随着触控技术在智能手机端和平板电脑的普及,人类已经养成了触控的习惯,触控技术正逐步向大尺寸方向发展,两种主流大尺寸触控技术已经商用。
以日本为代表的铜导线(或者其他金属导线)印刷技术,另外一种是银粒子(或者其他导通性金属粒子)打印技术。这些技术都有一个共同点,以金属粒子作为原料,极低的阻值,极细的导线,达到纳米级,人眼几乎看不到。当手指接近触控膜的时候,导线上的电容产生微弱变化,测量导线的电容,定位手指的触控位置。触控膜常见的布局采用对称布局,如附图1,检测手指横轴位置的导线,经过上下两侧的边缘,连通到电路板上,这种对称布局有一个优势,使得膜的有效触控位置尽量处于整张膜的中心区域,减小整体面积,但是也存在一个问题,当手指触控角落时,产生的信号不一致,以附图2为例,原因在于:右半区域从上边缘走线,左半区域从下边缘走线,触控点(黑点处)靠近下边缘走线,远离上边缘走线,导致左右两边的信号不一致。
发明内容
针对上面对称布局产生的问题,提出一种改进的非对称布局技术,将走线改为一边走的方式,如附图3所示。
这种方法布局可以有效的防止左右信号不一致的现象,因为触控区域内任何位置的触控点,它们离边缘走线的位置都是一致的。
缺点在于有效触控区域不再处于整张膜的中心位置(膜的整体会变大),但是随着打印(印刷)技术的更新换代,我们可以把边缘做的越来越细,这种一边走的布局技术的缺点将越来越不重要。
附图说明
图1是对称布局的导线触控膜,可以看见检测横轴的导线,左半边通过上边缘走线,右半边通过下边缘走线。
图2是触控点(黑点)在右下角时,由于触控点靠近下边缘走线(即右半边的走线),远离上边缘走线(左半边的走线),导致采集到的信号左右两边不对称。
图3是改为一边走的布局后,此图中左右两侧都从上边缘走线。
在本发明的精神和权利要求的保护范围内,对本发明作出的任何修改和改变,都落入本发明的保护范围。
Claims (2)
1. 一种导线触控膜的导线非对称布局技术,将原来分布于两边走线的布局,改为一边走的布局,该方法改善了边界位置的触控体验。
2. 本发明包含与特定工艺的结合:包括纳米导线,铜导线,银导线等微导线作为传感器,结合打印技术,印刷技术及其他导线铺设技术。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410021929.2A CN103713774A (zh) | 2014-01-18 | 2014-01-18 | 一种导线触控膜的导线非对称布局技术 |
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Publications (1)
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CN103713774A true CN103713774A (zh) | 2014-04-09 |
Family
ID=50406805
Family Applications (1)
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CN201410021929.2A Pending CN103713774A (zh) | 2014-01-18 | 2014-01-18 | 一种导线触控膜的导线非对称布局技术 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Citations (3)
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US20040027342A1 (en) * | 2002-05-29 | 2004-02-12 | Fujitsu Limited | Touch panel device |
CN201773378U (zh) * | 2010-05-04 | 2011-03-23 | 宸鸿科技(厦门)有限公司 | 一种触控面板及触控显示设备 |
CN102236467A (zh) * | 2010-04-21 | 2011-11-09 | 株式会社日立显示器 | 触摸板和显示装置 |
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2014
- 2014-01-18 CN CN201410021929.2A patent/CN103713774A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Legal Events
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20140409 |
|
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |