CN103697839A - 一种质量测量仪 - Google Patents

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郭彩芬
董志
张永康
万长东
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Suzhou Vocational University
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Suzhou Vocational University
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Abstract

本发明公开了一种质量测量仪，包括：超声波单元、信号转换单元、中央处理单元和输出单元，所述超声波单元用于向被测物体发射超声波并接受回波，其与所述信号转换单元连接；所述信号转换单元将所述超声波单元接受的回波转化为数字信号，并与所述中央处理单元连接；所述中央处理单元根据所述数字信号计算成物体质量，并与所述输出单元连接；所述输出单元用于显示计算结果。该质量测量仪采用非接触式称量方式，适合称量一些不适合搬运的物品，减少了人力的投入和物品的损坏。

Description

一种质量测量仪
技术领域
本发明涉及一种测量装置，特别涉及一种质量测量仪。
背景技术
目前对于物体质量的计量，多采用称这种直接接触式实现，某些时候计量特定材料的物体时，存在着劳动力投入过大，测量方式危险系数高，过程繁杂等问题。浪费人力搬运的同时，物体的防护能力也被大大降低，与生产，流通的原意严重违背。
为了解决这种问题，市场希望采用一种无接触式的测量设备来获取物体的质量，避免搬运过程中带来的不便。
发明内容
本发明要解决的技术问题是如何提供一种无接触式的测量设备来获取物体的质量。
为解决上述技术问题，本发明提供了一种质量测量仪，包括：超声波单元、信号转换单元、中央处理单元和输出单元，所述超声波单元用于向被测物体发射超声波并接受回波，其与所述信号转换单元连接；所述信号转换单元将所述超声波单元接受的回波转化为数字信号，并与所述中央处理单元连接；所述中央处理单元根据所述数字信号计算成物体质量，并与所述输出单元连接；所述输出单元用于显示计算结果。
优选的，所述超声波单元包括CX20106芯片，且与所述中央处理单元连接, 所述超声波单元由所述中央处理单元控制超声波发射。
优选的，所述超声波单元包括CD4069芯片，且与所述信号转换单元连接。
优选的，所述输出单元为设有ATMEGA16芯片的液晶屏。
该质量测量仪采用非接触式称量方式，适合称量一些不适合搬运的物品，减少了人力的投入和物品的损坏。
附图说明
图1是本发明的质量测量仪的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
如图1所示的本发明的质量测量仪，包括：超声波单元1、信号转换单元2、中央处理单元3和输出单元4，超声波单元1设有超声波发射器101和超声波接收板102，分别用于向被测物体5发射超声波并接受回波，其中超声波发射器101包括CX20106芯片，与所述中央处理单元3连接, 由中央处理单元3控制超声波发射。超声波接收板102包括CD4069芯片，且与信号转换单元2连接。
信号转换单元2将超声波单元1接受的回波转化为数字信号，并与中央处理单元3连接.
中央处理单元3处理接收来的数字信号，并根据波的分布，通过内置软件的合成运算，形成物体的外形。另利用竖直方向的发射的超声波反射回来的时间，计算仪器的离地高度，以此来确定显示物体与实际形体的比例，从而确定它的体积。最后根据设置的物体密度参数，换算得出物体的实际质量，并发送至输出单元4。
输出单元4为设有ATMEGA16芯片的液晶屏，用于显示计算结果。
质量测量仪还设有用于握持的手柄6，以方便使用者使用。
该质量测量仪采用非接触式称量方式，适合称量一些不适合搬运的物品，减少了人力的投入和物品的损坏。
以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (4)

1.一种质量测量仪，其特征在于，包括：超声波单元、信号转换单元、中央处理单元和输出单元，所述超声波单元用于向被测物体发射超声波并接受回波，其与所述信号转换单元连接；所述信号转换单元将所述超声波单元接受的回波转化为数字信号，并与所述中央处理单元连接；所述中央处理单元根据所述数字信号计算成物体质量，并与所述输出单元连接；所述输出单元用于显示计算结果。
2.如权利要求1所述的质量测量仪，其特征在于，所述超声波单元包括CX20106芯片，且与所述中央处理单元连接, 所述超声波单元由所述中央处理单元控制超声波发射。
3.如权利要求1所述的质量测量仪，其特征在于，所述超声波单元包括CD4069芯片，且与所述信号转换单元连接。
4.如权利要求1所述的质量测量仪，其特征在于，所述输出单元为设有ATMEGA16芯片的液晶屏。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

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