CN103546905A - 一种测量过程优化的方法、终端和基站 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测量过程优化方法，包括：基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。本发明实施例还提供一种基站和终端。
Description
技术领域
本发明涉及LTE(Long Term Evolution，长期演进)系统，尤其涉及一种测量过程优化的方法、终端和基站。
背景技术
UE(User Equipment，终端)在LTE网络中移动时，如果服务小区(ServingCell)的信号质量越来越差(干扰很严重)，或者服务小区的信号强度越来越差(如向小区边缘移动)，为了满足用户业务的需求和服务质量，UE需要切换到其它有效可用的LTE小区。如果无法切换到其它有效可用的LTE小区，UE就需要从LTE切换到可用有效的异系统小区。
对于LTE系统内的异频切换，eNB(E-UTRAN NodeB，演进型基站)需要通过异频相关测量来进行切换判决。根据协议异频切换相关测量流程如下：eNB先下发A2测量用于测量服务小区信号(即异频A2)，UE根据eNB下发的A2测量门限测量服务小区信号并上报测量报告，eNB收到A2测量报告后再下发A3/A5测量通知UE测量相应的异频邻区的信号并上报测量的异频邻区信息，eNB根据上报的异频邻区信息通知UE进行相应的切换。
对于带测量的异系统切换，eNB需要通过异系统相关测量来进行切换判决。根据协议在UE支持异系统测量的情况下，异系统切换相关测量流程如下：eNB先下发A2测量用于测量服务小区信号(即异系统A2)，UE根据eNB下发的A2测量门限测量服务小区信号并上报测量报告，eNB收到A2测量报告后再下发B1/B2测量通知UE测量相应的异系统邻区的信号并上报测量的异系统邻区信息，eNB根据上报的异系统邻区信息通知UE进行相应的切换。
现有技术亟待改进。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种测量过程优化方法、终端和基站，优化现有测量过程，提高测量效率，降低测量时延。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种测量过程优化方法，包括：基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述方法还包括：
所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述基站下发所述A2测量后，接收到所述终端上报的A2测量报告后：
如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则所述基站同时下发异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
本发明实施例还提供一种测量过程优化方法，包括：
终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述测量配置中还A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述终端根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述方法还可具有以下特点，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
本发明实施例还提供一种基站，所述基站包括生成单元和配置单元，其中：
所述生成单元用于：生成测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述配置单元用于：下发所述生成单元生成的测量配置至终端。
进一步的，上述基站还可具有以下特点，所述生成单元生成的所述测量配置中，还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述基站还可具有以下特点，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
进一步的，上述基站还可具有以下特点，所述生成单元还用于：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述基站还可具有以下特点，所述生成单元还用于：当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，接收到终端上报的所述A2测量的测量报告后，如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则生成新的测量配置，包括异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
本发明实施例还提供一种终端，包括：
接收单元，用于接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
测量单元，用于根据所述A2测量的类型执行测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
进一步的，上述终端还可具有以下特点，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
本发明实施例提供的测量过程优化方法，一方面减少了空口信令的交互，节省了空口资源；另一方面就是有效地减少了切换相关的测量时延，能明显提升系统的性能。
附图说明
图1是修改后的测量配置消息结构(A2测量配置中增加ReportType字段，该字段默认取值为0)；
图2是量报告配置中当event类型不为A2时，ReportType默认值为0；
图3是在下发异频A2测量时，A2测量配置中的ReportType字段值为1；
图4是在下发异系统A2测量时(UE支持异系统的测量)，A2测量配置中的ReportType字段值为2；
图5是在异频、异系统测量同时下发配置下，UE同时支持异频和异系统测量时，下发A2测量时(异频A2或异系统A2)，A2测量配置中的ReportType字段值为3；
图6是在异频、异系统测量先后下发配置下，UE同时支持异频和异系统测量时，下发A2测量时(异频A2)，A2测量配置中的ReportType字段值为4；
图7是重定向A2测量下发(ReportType＝0)时的流程图；
图8是异频A2测量和异频A3/A5测量同时下发(ReportType＝1)时的流程图；
图9是异系统A2测量和异系统B1/B2测量同时下发(ReportType＝2)时的流程图；
图10是异频测量和异系统测量同时下发(ReportType＝3)时的流程图；
图11是异频测量和异系统测量先后下发(ReportType＝4)时的流程图；
图12是本发明实施例基站框图；
图13是本发明实施例终端框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
本发明实施例中，为了省去A2测量报告上报后再单独下发A3/A5或B1/B2测量的过程，eNB需要将A2测量和A3/A5或B1/B2测量同时下发给UE，UE根据下发的A2测量先测量服务小区信号，当满足A2门限时，直接进行A3/A5或B1/B2的测量，上报相应的测量结果后由eNB通知UE进行切换操作。
根据现有协议，eNB可以同时下发A2测量和A3/A5或B1/B2测量，但有可能这里的A3/A5是同频测量，如果是同频测量的A3/A5测量，则不需要考虑与A2测量下发的先后关系。所以eNB需要通知UE同一重配消息中不同测量的关系，以便UE能区分A3/A5测量的目的(同频还是异频)。
对UE则需要根据eNB下发的测量和测量之间的关系按顺序进行测量和处理：当同一重配消息中的A2测量和A3/A5测量有关联时，则认为该A2测量是异频A2测量，A3/A5测量对应的是异频测量而非同频测量，此时UE不能同时下发A2测量和A3/A5测量。UE需要进行关联处理，即先下发A2测量，当测量结果满足A2测量门限时，再进行A3/A5异频测量；UE将A3/A5测量结果上报，eNB根据测量结果进行相应的切换判决。
虽然根据现有协议，eNB可以同时下发异频A2测量和异频A3/A5测量(或者异系统A2测量和异系统B1/B2测量)，但当A2和A3/A5(或者A2和B1/B2)同时下发时，UE会同时进行两者测量，没有起到先后测量的作用。所以需要UE实现根据实现下发的测量来关联相关测量的目的。
由于A2事件根据其测量用途可以人为地分为异频A2、异系统A2和重定向A2三类，如果是异频A2(A2测量的目的是为了进行异频邻区信号的测量)，在UE测量服务小区信号超过A2门限时，需要进行A3/A5测量；如果是异系统A2(A2测量的目的是为了进行异系统邻区信号的测量)，在UE测量服务小区信号超过A2门限时，需要进行B1/B2测量；如果是重定向A2(A2测量的目的是为了进行从LTE到异系统的重定向)，在UE测量服务小区信号超过A2门限时，需要进行重定向；由分析可知，对于重定向A2，UE直接上报A2测量报告；对于支持测量的异频A2或异系统A2，则不需要上报A2测量。同时需要考虑的一种情况是：在同时存在支持测量的异频A2和异系统A2时，如果异频A2和异系统A2下发的顺序为同时下发，eNB需要同时下发A2(异频或异系统)、A3/A5测量和B1/B2测量。UE在测量服务小区信号超过A2门限时，同时进行A3/A5测量和B1/B2测量。
本发明实施例提供一种测量过程优化方法，基站侧执行：
基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。
其中，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
其中，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述基站下发所述A2测量后，接收到所述终端上报的A2测量报告后：
如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则所述基站同时下发异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
本发明实施例还提供一种测量过程优化方法，终端侧执行：
终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。
其中，所述测量配置中还A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述终端根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
其中，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
其中，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，上报A2测量报告给所述基站，当然，也可以不上报A2测量报告。
其中，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
下面给出具体实施例进一步说明本发明。
在A2测量配置中增加一个类型标志，该类型标志取值为：第一指定值；第二指定值；第三指定值；第四指定值；第五指定值；默认值为第一指定值。其中：
当UE获取到A2测量配置中该标志位为第二指定值时，表示为异频A2测量，在满足A2测量门限时自动下发配置中的A3/A5异频邻区测量；
当UE获取到A2测量配置中该标志位为第三指定值时，表示为异系统A2测量，UE在满足A2测量门限时自动下发配置中的B1/B2异频邻区测量，上报或不上报A2测量报告；
当UE获取到A2测量配置中该标志位为第四指定值时，表示为异频A2和异系统A2测量同时下发，在满足A2测量门限时自动同时下发配置中的A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量，上报或不上报A2测量报告；
当UE获取到A2测量配置中该标志位为第五指定值时，表示为异频A2和异系统A2测量先后下发，在满足A2测量门限时自动同时下发配置中的A3/A5异频邻区测量或异系统B1/B2异系统邻区测量(根据测量配置)，同时上报A2测量报告；
当UE获取到A2测量配置中该标志位为第一指定值或其它值时，UE就将测量的A2结果上报给eNB并等待eNB决策。
其中，所述第一指定值、第二指定值、第三指定值、第四指定值和第五指定值可以分别是0、1、2、3、4，默认值为0。当然，0，1，2，3，4的取值仅为示例，可以根据需要使用其他值进行指示。
本发明实施例以测量配置为例，通过修改3GPP TS 36311协议中ReportConfigEUTRA information消息，使其可通知UE相应的A2测量的类型，同时UE需要根据eNB通知的A2测量的类型对配置中关联的测量进行关联处理，从而达到减少相互间消息交互，缩短切换相关测量时延的目的。
如图1至图6所示，eNB在下发测量配置时，在相应的测量报告中根据网络配置及UE能力，将配置中A2测量的类型通知UE(ReportType＝0～4)。
图1是修改后的测量配置消息结构(A2测量配置中增加ReportType字段，该字段默认取值为0)；当A2测量目的为重定向A2测量时，ReportType值设置为0，如图2所示；当A2测量目的为异频A2测量，且UE支持异频测量时，ReportType值设置为1，如图3所示；当A2测量目的为异系统A2测量，且UE支持异系统测量时，ReportType值设置为2，如图4所示；当A2测量目的为异频和异系统A2测量，测量配置为异频和异系统测量同时下发，且UE支持异频和异系统测量时，ReportType值设置为3，如图5所示；当A2测量目的为异频和异系统A2测量，测量配置为异频和异系统测量先后下发，且UE支持异频和异系统测量时，ReportType值设置为4，如图6所示。
实施例1：
下面结合附图7，对eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息配置下发重定向A2，RSRP(或RSRQ)触发测量上报的EUTRAN系统内切换流程做进一步的详细描述。如图7所示：
执行701步，eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发重定向A2测量配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝0。
执行702步，UE判断ReportType＝0，当测量的RSRP/RSRQ(ReferenceSignal Receiving Power/Reference Signal Receiving Quality，参考信号接收功率/参考信号接收质量)超过门限时UE直接上报测量报告。
执行703步，eNB选择重定向目标，通过RrcConnectionRelease消息通知UE进行重定向。
实施例2：
下面结合附图8，对eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息配置下发异频A2测量，RSRP(或RSRQ)触发测量上报的EUTRAN系统内切换流程做进一步的详细描述。如图8所示：
执行801步，eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发异频A2测量配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝1，同时还下发异频A3/A5测量配置。
执行802步，UE判断ReportType＝1，当测量的RSRP(或RSRQ)超过门限时，直接进行异频A3/A5测量，同时上报A2测量报告(也可以不上报)，这个测量报告上报在这里没有实际用途，只是使得UE可以兼容没有同时下发A3/A5测量的eNB。如果eNB已经下发了异频A3/A5测量，则对该消息不响应。
执行803步，当UE测量的A3/A5满足测量门限时，上报A3/A5测量报告，eNB根据测量报告进行切换判决，并发起切换流程。
实施例3：
下面结合附图9，对eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息配置下发异系统A2测量，RSRP(或RSRQ)触发测量上报的EUTRAN系统内切换流程做进一步的详细描述。如图9所示：
执行901步，eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发异系统A2测量配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝2，同时还下发异系统B1/B2测量配置。
执行902步，UE判断ReportType＝2，当测量的RSRP(或RSRQ)超过门限时，直接进行异系统B1/B2测量，同时上报异系统A2测量报告(也可以不上报)，这个测量报告上报在这里没有实际用途，只是使得UE可以兼容没有同时下发B1/B2测量的eNB。如果eNB已经下发了B1/B2测量，则对该消息不响应。
执行903步，当UE测量的B1/B2满足测量门限时，上报B1/B2测量报告，eNB根据测量报告进行切换判决，并发起异系统切换流程。
实施例4：
下面结合附图10，对eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息配置下发异频A2或异系统A2测量，RSRP(或RSRQ)触发测量上报的EUTRAN系统内切换流程做进一步的详细描述。如图10所示：
执行1001步，eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发异频A2或异系统A2测量(Max(异频A2，异系统A2))配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝3，同时还下发异频A3/A5测量和异系统B1/B2测量配置。
优选的，在异频频测量和异系统测量同时下发的模式下，选择异频A2测量和异系统A2测量中门限较低的A2测量下发。
执行1002步，UE判断ReportType＝3，当测量的RSRP(或RSRQ)超过门限时，直接进行异频A3/A5测量和异系统B1/B2测量，同时上报异频A2(或异系统A2)测量报告(也可以不上报)，这个测量报告上报在这里没有实际用途，只是使得UE可以兼容没有同时下发异频A3/A5测量和异系统B1/B2测量的eNB。如果eNB已经下发了异频A3/A5测量和异系统B1/B2测量，则对该消息不响应。
执行1003步，当UE测量的异频A3/A5(或者异系统B1/B2)满足测量门限时，上报异频A3/A5(或者异系统B1/B2)测量报告，eNB根据测量报告进行切换判决，并发起异频切换(或异系统切换)流程。
实施例5：
下面结合附图11，对eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息配置下发异频A2测量，RSRP(或RSRQ)触发测量上报的EUTRAN系统内切换流程做进一步的详细描述。如图11所示：
执行1101步，eNB通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发异频A2配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝4，同时还下发异频A3/A5测量配置。
在异频测量和异系统测量先后下发的情况下，优选地先下发异频A2测量(同时下发异频A3/A5测量)，后下发异系统A2测量(同时下发异频B1/B2测量)。
执行1102步，UE判断ReportType＝4，当异频A2测量的RSRP(或RSRQ)超过门限时，直接执行异频A3/A5测量，同时上报异频A2测量报告。
执行1103步，eNB收到异频A2测量报告后，通过RrcConnectionReconfiguration消息向UE下发异系统A2测量配置，测量配置中A2测量报告类型为ReportType＝2，同时下发异系统B1/B2测量。
执行1104步，如果此时UE测量的异频A3/A5满足门限，则UE上报异频A3/A5测量报告。eNB根据异频A3/A5测量报告进行异频切换流程，否则执行1105。
执行1105步，UE判断ReportType＝2，当异系统A2测量的RSRP(或RSRQ)超过门限时，直接进行异系统B1/B2测量，同时上报异系统A2测量报告。这个测量报告上报在这里没有实际用途，只是使得UE可以兼容没有同时下发异系统B1/B2测量的eNB。如果eNB已经下发了异系统B1/B2测量，则对该消息不响应。
执行1106步，如果UE测量的异系统B1/B2满足门限，则UE上报异系统B1/B2测量报告。eNB根据异频B1/B2测量报告进行异系统切换流程。
上述流程中，如果异频A3/A5测量报告先上报，则执行异频切换流程(此时没有后面的异系统测量切换流程)；如果异系统B1/B2测量报告先上报，则走异系统切换流程(此时没有之前的异频测量切换流程)。
本发明实施例还提供一种基站，如图12所示，包括：生成单元和配置单元，其中：
所述生成单元用于：生成测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述配置单元用于：下发所述生成单元生成的测量配置至终端。
其中，所述生成单元生成的所述测量配置中，还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
其中，所述生成单元还用于：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述生成单元还用于：当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，接收到终端上报的所述A2测量的测量报告后，如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则生成新的测量配置，包括异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
本发明实施例还提供一种终端，包括：
接收单元，用于接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
测量单元，用于根据所述A2测量的类型执行测量。
其中，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
其中，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
其中，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
其中，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。
Claims (24)
1.一种测量过程优化方法，其特征在于，
基站下发测量配置至终端，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述基站下发所述A2测量后，接收到所述终端上报的A2测量报告后：
如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则所述基站同时下发异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
6.一种测量过程优化方法，其特征在于，
终端接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述测量配置中还A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述终端根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
11.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，则所述终端执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，所述终端直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
12.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，所述终端进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
13.一种基站，其特征在于，所述基站包括生成单元和配置单元，其中：
所述生成单元用于：生成测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
所述配置单元用于：下发所述生成单元生成的测量配置至终端。
14.如权利要求13所述的基站，其特征在于，所述生成单元生成的所述测量配置中，还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
15.如权利要求13或14所述的基站，其特征在于，所述A2测量的类型包括如下之一或其组合：
所述A2测量为异频A2测量；
所述A2测量为异系统A2测量；
异频A2测量和异系统A2测量同时下发；
异频A2测量和异系统A2测量先后下发；
所述A2测量为重定向A2测量。
16.如权利要求15所述的基站，其特征在于，所述生成单元还用于：
当所述A2测量的类型为异频A2测量时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量；
当所述A2测量的类型为异系统A2测量时，所述测量配置中还包括B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和B1/B2异系统邻区测量；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量，或者，B1/B2异系统邻区测量。
17.如权利要求15所述的基站，其特征在于，
所述生成单元还用于：当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发时，接收到终端上报的所述A2测量的测量报告后，如果所述A2测量报告是异频A2测量报告，则生成新的测量配置，包括异系统A2测量以及B1/B2异系统邻区测量，并指示当前下发的A2测量的类型为异系统A2测量。
18.一种终端，其特征在于，包括：
接收单元，用于接收基站下发的测量配置，所述测量配置中包括A2测量，以及，一类型标志，指示所述A2测量的类型；
测量单元，用于根据所述A2测量的类型执行测量。
19.如权利要求18所述的终端，其特征在于，所述测量配置中还包括A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量；
所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
根据所述A2测量的类型，执行A2测量，当测量的信号质量满足指定门限时，还执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量和/或B1/B2异系统邻区测量。
20.如权利要求18或19所述的终端，其特征在于，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异频A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
21.如权利要求18或19所述的终端，其特征在于，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为异系统A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
22.如权利要求18或19所述的终端，其特征在于，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量同时下发时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量，以及，与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量。
23.如权利要求18或19所述的终端，其特征在于，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和A3/A5异频邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的A3/A5异频邻区测量，并上报A2测量报告给所述基站；
当所述A2测量的类型为异频A2测量和异系统A2测量先后下发，且所述测量配置中包括A2测量和B1/B2异系统邻区测量，执行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，直接执行与所述A2测量同时下发的B1/B2异系统邻区测量。
24.如权利要求18所述的终端，其特征在于，所述测量单元根据所述A2测量的类型执行测量包括：
所述A2测量的类型为重定向A2测量时，进行A2测量后，当测量的信号质量满足指定门限时，上报A2测量报告。
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