CN103513775A - 键盘装置以及按键状态的检测方法 - Google Patents

键盘装置以及按键状态的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103513775A
CN103513775A CN201210215518.8A CN201210215518A CN103513775A CN 103513775 A CN103513775 A CN 103513775A CN 201210215518 A CN201210215518 A CN 201210215518A CN 103513775 A CN103513775 A CN 103513775A
Authority
CN
China
Prior art keywords
enabled
key
mistiming
scan
input signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201210215518.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103513775B (zh
Inventor
马伯文
胡闵雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Holtek Semiconductor (china) Co Ltd
Original Assignee
Holtek Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Holtek Semiconductor Inc filed Critical Holtek Semiconductor Inc
Publication of CN103513775A publication Critical patent/CN103513775A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103513775B publication Critical patent/CN103513775B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)

Abstract

本发明公开了一种键盘装置以及按键状态的检测方法,其中,键盘装置上的按键分别接收多个扫描输出信号,并分别传送出多个扫描输入信号。按键状态的检测方法的步骤包括:计算各扫描输出信号被致能时,各扫描输出信号被致能的时间点与扫描输入信号被致能的时间点的时间差;接着,再依据比较时间差以及预设值以获得对应各时间差的各按键的被按压状态。

Description

键盘装置以及按键状态的检测方法
技术领域
本发明是有关于一种键盘装置的按键状态的检测方法,且特别是有关于一种可避免鬼键现象的键盘装置的按键状态的检测方法。
背景技术
请参照图1,图1绘示现有的键盘装置100。键盘装置100中包括四个按键SW1~SW4。在进行按键SW1~SW4的被按压状态的检测动作时,扫描输出信号SCO1以及SCO2会依序被致能。按键SW1及SW2则在扫描输出信号SCO1被致能时依据其被按压的状态传送出扫描输入信号SCI1以及SCI2,而按键SW3及SW4则在扫描输出信号SCO2被致能时依据其被按压的状态传送出扫描输入信号SCI1以及SCI2。因此,通过不同的扫描输出信号SCO1、SCO2被致能时来检测扫描输入信号SCI1以及SCI2是否也对应被致能,就可以得知按键SW1~SW4的被按压状态。
由于按键SW1及SW3是通过相同的传输导线来分时传送出扫描输入信号SCI1,且按键SW2及SW4是通过相同的传输导线来分时传送出扫描输入信号SCI2的。因此,由图1的绘示可以清楚得知,在当按键SW1、SW3及SW4被按压且按键SW2未被按压的状态,且扫描输出信号SCO1被致能时,被致能的扫描输出信号SCO1会依序通过被按压的按键SW1、SW3以及SW4来产生扫描输入信号SCI2。也就是说,虽然按键SW2未被按压,但在扫描输出信号SCO1被致能时,扫描输入信号SCI2还是产生被致能的情况,并使得按键SW2会被误判为有被按压的状态。这种误判的现象,就是所谓的鬼键(ghost key)的现象。
发明内容
本发明的目的是提供一种按键状态的检测方法,有效解决所可能产生的鬼键的问题。
本发明提出一种按键状态的检测方法,适用于具有多个按键的键盘,其中,按键分别接收多个扫描输出信号,并分别传送出多个扫描输入信号。按键状态的检测方法的步骤包括:计算各扫描输出信号被致能时,各扫描输出信号被致能的时间点与扫描输入信号被致能的时间点的时间差;接着,再依据比较时间差以及预设值以获得对应各时间差的各按键的被按压状态。
本发明提出一种键盘装置,包括多个按键以及按键状态检测器。按键分别接收多个扫描输出信号,并分别传送出多个扫描输入信号。按键状态检测器耦接按键,按键状态检测器计算各扫描输出信号被致能时,各扫描输出信号被致能的时间点与扫描输入信号被致能的时间点的多个时间差,并依据比较时间差以及预设值以获得接收对应各时间差的各扫描输入信号的各按键的被按压状态。
基于上述,本发明通过传送至按键的检测扫描输出信号与按键所传送出的扫描输入信号的被致能的时间点的时间差,来判别按键是为真的产生被按压的动作或者是所谓的鬼键的误判断。如此一来,键盘装置的按压状态将可以更准确的被检测出来,可使所有的按键都可以有效的产生输出。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附图式作详细说明如下。
附图说明
图1绘示现有的键盘装置100;
图2绘示本发明实施例的按键状态的检测方法的流程图;
图3绘示本发明实施例的按键状态的检测方法的波形图;
图4绘示本发明的按键状态的检测方法的另一实施例的流程图;
图5绘示本发明实施例的键盘装置500的示意图。
其中,附图标记说明如下:
100、500:键盘装置;
510:键盘阵列;
520:按键状态检测器;
SW1~SW4:按键;
SCO 1~SCON:扫描输出信号;
SCI1~SCIM:扫描输入信号;
S210~S220、S410~S460:按键状态的检测方法的步骤;
T1~T3:时间点;
CNT1:计时结果。
具体实施方式
请参照图2绘示本发明实施例的按键状态的检测方法的流程图。本实施例的按键状态的检测方法是用于具有多个按键的键盘。其中,按键排列方式可以参照图1的绘示,而排列在相同行的按键(例如按键SW1及SW3)通过相同的传输导线传送出扫描输入信号(例如扫描输入信号SCI1),而排列在相同列的按键(例如按键SW2及SW4)则通过相同的传输导线来接收个扫描输出信号(例如扫描输出信号SCO2)。
关于按键状态的检测方法的步骤中,首先,在进行按键SW1~SW4的按压状态检测动作时,会依序使扫描输出信号SCO1~SCO2在不同的时间区间中被致能,并藉以检测接收被致能的扫描输出信号的按键的被按压状态。举例来说,先在第一个时间区间使扫描输出信号SCO1被致能,并通过量测扫描输入信号SCI1及SCI2来得知接收扫描输出信号SCO1的按键SW1及SW2的被按压状态。并且,在扫描输出信号SCO1转换为被禁能后的时间区间中,使扫描输出信号SCO2被致能,并通过量测扫描输入信号SCI1及SCI2来得知接收扫描输出信号SCO2的按键SW2及SW4的被按压状态。
上述关于扫描输出信号SCO1及SCO2的被致能动作,例如是使扫描输出信号SCO1及SCO2由逻辑低电平转换成逻辑高电平,相对的,扫描输出信号SCO1及SCO2的被禁能动作,则可以是使扫描输出信号SCO1及SCO2由逻辑高电平转换成逻辑低电平。当然,扫描输出信号SCO1及SCO2的被致能动作也可以被定义为由逻辑高电平转换成逻辑低电平,扫描输出信号SCO1及SCO2的被禁能动作,则可以是使扫描输出信号SCO1及SCO2由逻辑低电平转换成逻辑高电平。
其中,在本实施例的步骤S210中,计算各扫描输出信号被致能时,各扫描输出信号被致能的时间点以及扫描输入信号被致能的时间点的时间差。具体来说明,请参照图3,图3绘示本发明实施例的按键状态的检测方法的波形图。其中,以按键SW2、SW3以及SW4被按压而按键SW1未被按压为范例,扫描输出信号SCO1在时间点T1被致能,而在扫描输出信号SCO 1被致能的期间TEN中,扫描输入信号SCI2及SCI1依序在时间点T3及T2转换成被致能的状态(由逻辑低电平转态至逻辑高电平)。
关于时间点T1与时间点T3,以及时间点T1与时间点T2的时间差的计算方法,可以通过计时动作所产生的计时结果CNT1来获得。计时动作可在扫描输出信号SCO 1被致能的时间点启动,并使计时结果CNT1由0开始进行计时,并分别在时间点T3以及时间点T2来撷取计时结果CNT1的数值,就可以获得时间点T1与时间点T3,以及时间点T1与时间点T2的时间差。
值得注意的,由图1的绘示可以发现,当按键SW2、SW3以及SW4被按压而按键SW1未被按压时,扫描输入信号SCI1是依据扫描输出信号SCO1依序经过按键SW2、SW4以及SW3来传送至按键SW1产生扫描输入信号SCI 1的传输导线而产生的。也就是说,扫描输入信号SCI1等同于扫描输出信号SCO 1经过一个较长的时间延迟而产生的。
由上述的说明可以得知,有发生鬼键现象的按键SW1所传送的扫描输入信号SCI1的被致能时间点T2显然会比未发生鬼键现象的按键SW3所传送的扫描输入信号SCI2的被致能时间点T3来得晚。据此,在步骤S220中,则依据比较步骤S210所计算出来的时间差以及预设值,就可以获得对应各时间差的各按键的被按压状态。
具体来说,同样以图3为范例,在扫描输出信号SCO 1被致能的期间TEN中,通过检测出扫描输入信号SCI1及SCI2被致能的时间点T2以及T3,并通过在时间点T3以及时间点T2来撷取计时动作所产生的计时结果CNT 1以分别获得扫描输出信号SCO 1被致能的时间点T1以及扫描输入信号SCI 1以及SCI2被致能的时间点T2及T3的时间差。通过比较时间点T1与时间点T2间的时间差大于预设值就可以判断出在扫描输出信号SCO1被致能的期间TEN中,产生扫描输入信号SCI1的按键SW1发生所谓的鬼键的现象,实际上并未被按压。相对的,通过比较时间点T1与时间点T3间的时间差小于预设值就可以判断出在扫描输出信号SCO1被致能的期间TEN中,产生扫描输入信号SCI2的按键SW2实际上是有被按压的。
附带一提的,当扫描输出信号SCO1由致能状态转换为禁能状态的瞬间,计时动作会被重置而计时结果CNT1则被归零。
以下请参照图4,图4绘示本发明的按键状态的检测方法的另一实施例的流程图。首先,在步骤S410中,致能扫描输出信号,并在步骤S420中同步启动计时动作。接着,检测扫描输入信号的被致能时间点,并藉此换算出扫描输入信号的被致能时间点与扫描输出信号的被致能时间点的时间差。在步骤S430中,则针对时间差与预先设定的预设值进行比较,若时间差大于或等于预设值,则表示这个按键有发生鬼键的现象,并在步骤S440中记录这个键为鬼键,并执行步骤S450。若步骤S430的判断结果为时间差小预设值时,同样执行步骤S450。
步骤S450则执行扫描输出信号是否转为禁能的动作,若扫描输出信号转为禁能时,则在执行步骤S460的计时动作的重置动作。若扫描输出信号持续维持为致能状态时,则持续执行步骤S450。
以下请参照图5,图5绘示本发明实施例的键盘装置500的示意图。键盘装置500包括键盘阵列510以及按键状态检测器520。键盘阵列510中具有多个按键,用以接收扫描输出信号SCO1~SCON并输出扫描输入信号SCI1~SCIM。按键状态检测器520耦接至键盘阵列510中的按键,并接收扫描输出信号SCO1~SCON以及扫描输入信号SCI1~SCIM。按键状态检测器500计算各扫描输出信号SCO1~SCON被致能时,各扫描输出信号SCO1~SCON被致能的时间点与扫描输入信号SCI1~SCIM被致能的时间点的多个时间差,并依据比较时间差以及预设值以获得接收对应各时间差的各扫描输入信号SCI1~SCIM的各按键的被按压状态。
关于按键状态检测器520进行按键是否有发生鬼键现象的检测动作在前述的实施例中都有详细的说明,以下不多赘述。另外,按键状态检测器520中可以内建计时器521,用来进行执行计时动作,并获得各扫描输出信号SCO1~SCON被致能的时间点与扫描输入信号SCI1~SCIM被致能的时间点的多个时间差。
综上所述,本发明通过计算各扫描输出信号被致能的时间点与扫描输入信号被致能的时间点的时间差来获知键盘装置中的各按键是否有发生鬼键的现象。如此一来,因鬼键现象而产生的按键按压的误判断动作将可以被排除。据此,所有的按键状态都可以有效的被正确输出,大幅提升键盘装置的效能。
虽然本发明已以实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,故本发明的保护范围当视后附的申请专利权利要求范围所界定者为准。

Claims (13)

1.一种按键状态的检测方法,适用于具有多个按键的一键盘,其中该多个按键分别接收多个扫描输出信号,并分别传送出多个扫描输入信号,包括:
计算各该扫描输出信号被致能时,各该扫描输出信号被致能的时间点与该多个扫描输入信号被致能的时间点的多个时间差;以及
依据比较该多个时间差以及一预设值以获得接收对应各该时间差的各该扫描输入信号的各该按键的被按压状态。
2.如权利要求1所述的按键状态的检测方法,其中计算各该扫描输出信号被致能时,各该扫描输出信号被致能的时间点与该多个扫描输入信号被致能的时间点的该多个时间差的步骤包括:
依据各该扫描输出信号的被致能状态以启动一计时动作;以及
分别在该多个扫描输入信号被致能时撷取该计时动作所产生的多个计时结果以获得该多个时间差。
3.如权利要求2所述的按键状态的检测方法,其中依据各该扫描输出信号的被致能状态以启动该计时动作的步骤包括:
当各该扫描输出信号被致能时,启动该计时动作。
4.如权利要求3所述的按键状态的检测方法,其中还包括:
当各该扫描输入信号由被致能转换到被禁能时,重置该计时动作。
5.如权利要求2所述的按键状态的检测方法,其中分别在该多个扫描输入信号被致能时撷取该计时动作所产生的该多个计时结果以获得该多个时间差的步骤包括:
检测该多个扫描输入信号是否被致能;
当各该扫描输入信号被致能时,撷取该计时动作所产生的该计时结果以获得该多个时间差。
6.如权利要求1所述的按键状态的检测方法,其中依据比较该多个时间差以及该预设值以获得接收对应各该时间差的各该扫描输入信号的各该按键的被按压状态的步骤包括:
判断该多个时间差是否大于或等于该预设值;
当各该时间差大于或等于该预设值时,各该时间差对应的各该按键为未被按压的状态;以及
当各该时间差小于该预设值时,各该时间差对应的各该按键为被按压的状态。
7.一种键盘装置,包括:
多个按键,该多个按键分别接收多个扫描输出信号,并分别传送出多个扫描输入信号;以及
一按键状态检测器,耦接该多个按键,该按键状态检测器计算各该扫描输出信号被致能时,各该扫描输出信号被致能的时间点与该多个扫描输入信号被致能的时间点的多个时间差,并依据比较该多个时间差以及一预设值以获得接收对应各该时间差的各该扫描输入信号的各该按键的被按压状态。
8.如权利要求7所述的键盘装置,其中该按键状态检测器依据各该扫描输出信号的被致能状态以启动一计时动作,并分别在该多个扫描输入信号被致能时撷取该计时动作所产生的多个计时结果以获得该多个时间差。
9.如权利要求8所述的键盘装置,其中该按键状态检测器包括:
一计时器,该计时器用以进行该计时动作。
10.如权利要求9所述的键盘装置,其中该计时器在各该扫描输出信号被致能时启动该计时动作。
11.如权利要求9所述的键盘装置,其中当各该扫描输入信号由被致能转换到被禁能时,该计时器重置该计时动作。
12.如权利要求8所述的键盘装置,其中该按键状态检测器检测该多个扫描输入信号是否被致能,并在当各该扫描输入信号被致能时,撷取该计时动作所产生的计数值以获得对应各该扫描输入信号的各该按键的各该计时结果。
13.如权利要求8所述的键盘装置,其中该按键状态检测器判断该多个时间差是否大于或等于该预设值,并在当各该时间差大于或等于该预设值时,该按键状态检测器判定各该时间差对应的各该按键为未被按压的状态,在当各该时间差小于该预设值时,该按键状态检测器判定各该时间差对应的各该按键为被按压的状态。
CN201210215518.8A 2012-06-22 2012-06-27 键盘装置以及按键状态的检测方法 Active CN103513775B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101122439A TW201401106A (zh) 2012-06-22 2012-06-22 鍵盤裝置以及按鍵狀態的偵測方法
TW101122439 2012-06-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103513775A true CN103513775A (zh) 2014-01-15
CN103513775B CN103513775B (zh) 2016-08-03

Family

ID=49896637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210215518.8A Active CN103513775B (zh) 2012-06-22 2012-06-27 键盘装置以及按键状态的检测方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN103513775B (zh)
TW (1) TW201401106A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105094375A (zh) * 2014-05-23 2015-11-25 宏景科技股份有限公司 机械式按键的触发判断方法、装置、输入设备及输入系统
CN108650535A (zh) * 2018-05-11 2018-10-12 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 一种智能设备及其控制方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI547832B (zh) * 2015-07-06 2016-09-01 Dexin Corp An input device with adaptive adjustment and its adjustment method
US9921664B2 (en) 2015-11-25 2018-03-20 Darfon Electronics Corp. Keyboard device
TWI612443B (zh) * 2015-11-25 2018-01-21 達方電子股份有限公司 鍵盤裝置
TWI612444B (zh) * 2017-01-06 2018-01-21 群光電子股份有限公司 鬼鍵偵測電路

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5914677A (en) * 1997-01-15 1999-06-22 Chips & Technologies, Inc. Apparatus and method for scanning a switch array
CN101714052A (zh) * 2008-10-06 2010-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电子设备及屏幕显示控制方法
TW201037978A (en) * 2009-04-06 2010-10-16 Silitek Electronic Guangzhou Ghost key detecting circuit and related method
TW201122916A (en) * 2009-12-31 2011-07-01 Universal Scient Ind Co Ltd Keyboard scanning apparatus and key matrix circuit thereof and method for scanning the key matrix circuit
CN201917871U (zh) * 2010-11-10 2011-08-03 精元电脑股份有限公司 可消除鬼键的输入装置
US20120098680A1 (en) * 2010-10-20 2012-04-26 Shun-Pin Lin Input device with ghost key suppression

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5914677A (en) * 1997-01-15 1999-06-22 Chips & Technologies, Inc. Apparatus and method for scanning a switch array
CN101714052A (zh) * 2008-10-06 2010-05-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电子设备及屏幕显示控制方法
TW201037978A (en) * 2009-04-06 2010-10-16 Silitek Electronic Guangzhou Ghost key detecting circuit and related method
TW201122916A (en) * 2009-12-31 2011-07-01 Universal Scient Ind Co Ltd Keyboard scanning apparatus and key matrix circuit thereof and method for scanning the key matrix circuit
US20120098680A1 (en) * 2010-10-20 2012-04-26 Shun-Pin Lin Input device with ghost key suppression
CN201917871U (zh) * 2010-11-10 2011-08-03 精元电脑股份有限公司 可消除鬼键的输入装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105094375A (zh) * 2014-05-23 2015-11-25 宏景科技股份有限公司 机械式按键的触发判断方法、装置、输入设备及输入系统
CN105094375B (zh) * 2014-05-23 2018-07-03 宏景科技股份有限公司 机械式按键的触发判断方法、装置、输入设备及输入系统
CN108650535A (zh) * 2018-05-11 2018-10-12 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 一种智能设备及其控制方法
CN108650535B (zh) * 2018-05-11 2021-01-15 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 一种智能设备及其控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201401106A (zh) 2014-01-01
CN103513775B (zh) 2016-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103513775A (zh) 键盘装置以及按键状态的检测方法
CN102214031B (zh) 触碰判断方法及相关的触控手势判断方法
CN103150112B (zh) 音频播放的控制方法、装置及终端
US8487908B2 (en) Detector circuit and detect method of a capacitive touch panel
US8674960B2 (en) Detector circuit and detect method of a capacitive touch panel
CN102566817B (zh) 触控感测装置的感测方法
US8446387B2 (en) Touch control system with multi-touch detection functions
CN102890608B (zh) 终端及终端的锁屏唤醒方法和装置
CN105474147A (zh) 电容触摸系统
US20130307775A1 (en) Gesture recognition
CN108696271B (zh) 一种基于电容触摸按键的滑动手势识别方法及系统
CN101140609A (zh) 注册指纹、登入应用软件及设定其登入方式的系统与方法
CN101727242B (zh) 触控板上侦测多指触控的方法
CN104765524A (zh) 切换应用程序的方法及装置
CN104571670B (zh) 触控装置的检测方法及其系统
KR20070060580A (ko) 가속도 센서를 이용한 문자인식 장치 및 방법
TWI539275B (zh) 觸控裝置及其控制器、測試方法與測試系統
CN104184449A (zh) 电容式触控装置、方法与系统
CN103793287B (zh) 捕获模拟信号周期的方法及系统
CN104850417B (zh) 一种信息处理的方法及电子设备
CN102436310B (zh) 以键盘模拟鼠标装置的方法及输入装置
CN113054984B (zh) 一种压感检测电路、芯片、系统及压感检测方法
CN102043487A (zh) 手持电子装置的操作方法
CN104423616A (zh) 输入装置及控制单元
US20120075219A1 (en) Detection method and detecting apparatus for detecting multiple touch points on touch panel

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20190530

Address after: 10 Xinzhuyuan Building, No. 4 Xinzhu Road, Songshan Lake, Dongguan City, Guangdong Province (Building No. 10, No. 1, Headquarters)

Patentee after: Holtek semiconductor (China) Co. Ltd.

Address before: Hsinchu City, Taiwan, China

Patentee before: Shengqun Semiconductor Co., Ltd.

TR01 Transfer of patent right