CN103512607A - 检波器频率响应测量系统 - Google Patents

检波器频率响应测量系统 Download PDF

Info

Publication number
CN103512607A
CN103512607A CN201310484580.1A CN201310484580A CN103512607A CN 103512607 A CN103512607 A CN 103512607A CN 201310484580 A CN201310484580 A CN 201310484580A CN 103512607 A CN103512607 A CN 103512607A
Authority
CN
China
Prior art keywords
frequency
signal
wave detector
frequency response
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201310484580.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103512607B (zh
Inventor
祝宁华
邓晔
刘建国
李明
陈伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Institute of Semiconductors of CAS
Original Assignee
Institute of Semiconductors of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institute of Semiconductors of CAS filed Critical Institute of Semiconductors of CAS
Priority to CN201310484580.1A priority Critical patent/CN103512607B/zh
Publication of CN103512607A publication Critical patent/CN103512607A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103512607B publication Critical patent/CN103512607B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Abstract

本发明提供了一种检波器频率响应测量系统,该系统利用低频方波信号调制可调谐DBR激光器,输出波长周期性变化的光信号。该光信号分别经过未延时和四分之一周期延时的光路后合波并在光电探测器中拍频,输出经过低频方波信号调制后的微波信号。该微波信号经过待测检波器响应后输入到锁相放大器中,利用锁相放大器检测低频方波信号幅值随微波信号频率变化的规律,就可以得到待测检波器的频率响应特性。

Description

检波器频率响应测量系统
技术领域
本发明涉及光电仪器测量技术领域,尤其涉及一种检波器频率响应测量系统。
背景技术
检波器是检出波动信号中某种有用信息的装置,用于识别波、振荡或信号存在或变化的器件。检波器广泛用于设计和生产测试,也可作为测试系统信号接口单元的内部元件,在许多测试和测量应用中都可以用到,例如电源监视、视频检波、扫描传输和反射测量等。因此,通过测量检波器相关参数,对于提高系统性能、优化系统结构大有裨益。
频率响应是检波器非常重要的参数指标,表征检波器处理不同频率信号的能力。目前,测量检波器频率响应的方法主要是网络分析仪扫频法,该方法原理简单、快速直观,但是整台测试设备价格不菲,而且测试带宽越高,其价格越贵。我国还不能自行生产测试带宽较高的矢量网络分析仪(50GHz),由于其可用于检验、测试的器件可用于军事、卫星成像等领域,因此此类设备普遍被西方发达国家禁运。
发明内容
(一)要解决的技术问题
鉴于上述技术问题,本发明提供了一种检波器频率响应测量系统,以在不使用网络分析仪的情况下表征检波器频率响应特性。
(二)技术方案
根据本发明的一个方面,提供了一种检波器频率响应测量系统。该检波器频率响应测量系统包括:波形发生器,用于产生频率分别为f和2f的两路周期性方波信号,该周期性方波信号的低电平为VL,高电平为VH;可调谐DBR激光器,其相区电流输入端与所述波形发生器的输出端电性连接,用于利用所述频率为f的周期性方波信号改变自身相区电流实现对输出光波长的调谐,产生波长λ周期性变化的激光;第一50/50光耦合器,用于将所述可调谐DBR激光器输出的波长周期性变化的激光分为两束;光纤延时线,用于对两激光束中的一束进行1/4周期延时;第二50/50光耦合器,用于将未经延时的激光束与经过1/4周期延时的激光束进行合束并耦合;光电探测器,用于将合束并耦合的光信号拍频后转化为电信号;微波功率分束器,用于将所述光电探测器的输出电信号分为两部分,其中一部分送入频谱仪,另一部分进入待测检波器;频谱仪,用于检测输入信号的频率υb;锁相放大器,其待测信号输入端与待测检波器的输出端相连接,其参考信号输入端与所述波形发生器的另一输出端电性连接,用于利用波形发生器产生的频率为2f的周期性方波信号,从待测检波器的输出信号中读出频率为2f的信号幅值V1;控制器,用于控制所述波形发生器输出周期性方波信号的低电平VL或高电平VH其中之一变化,根据以下关系式获取待测检波器的频率响应特性F2b):logF2b)=logV1-C2-logF1b),其中,F1b)为光电探测器的频率响应,C2为一常数。
(三)有益效果
本发明检波器频率响应测量系统不需要价格昂贵的矢量网络分析仪,通过拍频法可以产生高带宽的测试信号,具有成本低,测量精度高、测量带宽大的优点。
附图说明
图1为根据本发明实施例测量检波器频率响应系统的结构示意图;
图2为图1所示系统中光耦合器输出两光路中(a)未延时和(b)1/4周期延时的光波长随时间变化图;
图3为图1所示系统中光电探测器输出波形示意图;
图4为图1所示系统中待测检波器输出波形示意图;
图5为图1所示系统中待测检波器频率响应曲线图。
【本发明主要元件符号说明】
1-波形发生器; 2-可调谐DBR激光器;
3-驱动源;     4-第一50/50光耦合器;
5-光纤延时线; 6-第二50/50光耦合器;
7-光电探测器; 8-微波功率分束器;
9-待测检波器; 10-锁相放大器;
11-频谱仪; 12-控制器。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。需要说明的是,在附图或说明书描述中,相似或相同的部分都使用相同的图号。附图中未绘示或描述的实现方式,为所属技术领域中普通技术人员所知的形式。另外,虽然本文可提供包含特定值的参数的示范,但应了解,参数无需确切等于相应的值,而是可在可接受的误差容限或设计约束内近似于相应的值。
本发明提供了一种检波器频率响应测量系统,该系统利用低频方波信号调制可调谐DBR激光器,输出波长周期性变化的光信号。该光信号分别经过未延时和四分之一周期延时的光路后合波并在光电探测器中拍频,输出经过低频方波信号调制后的微波信号。该微波信号经过待测检波器响应后输入到锁相放大器中,利用锁相放大器检测低频方波信号幅值随微波信号频率变化的规律,就可以得到待测检波器的频率响应特性。
在本发明的一个示例性实施例中,提供了一种检波器频率响应测量系统。图1为根据本发明实施例测量检波器频率响应系统的结构示意图。如1所示,本实施例检波器频率响应测量系统包括:
波形发生器1、可调谐DBR激光器2、第一50/50光耦合器4、光纤延时线5、第二50/50光耦合器6、光电探测器7、微波功率分束器8、锁相放大器10、频谱仪11和控制器12。
以下分别对本实施例测量检波器频率响应系统的各个组成部分进行详细说明。
波形发生器1产生频率分别为f和2f,占空比为50%的两低频周期性方波信号,该周期性方波信号的低电平为VL,高电平为VH
其中,波形发生器1输出波形应当十分稳定,即输出波形的频率和电平值应当稳定。其中,周期性方波信号的频率与光纤延时线的长度有关,当光纤延时线的长度很短时,该频率必须很大,而该光纤延时线的长度较长时,该频率就可以适当缩小。
本实施例中,光纤延时线10km,频率f取5kHz。但本发明并不以此为限。一般情况下,该频率f的范围应当介于1kHz-1MHz之间。此外,该周期性方波信号的低电平VL的幅值介于900~1000mV之间,高电平VH的幅值介于1000~2000mV之间。
可调谐DBR激光器2的相区电流输入端通过导线与波形发生器1的输出端电性连接,其通过利用上述频率为f的低频周期性方波信号改变相区电流实现对输出光波长的调谐,产生波长周期性变化的激光。其中,λ1为低电平控制下,可调谐DBR激光器2输出激光的波长,λ2为高电平控制下,可调谐DBR激光器2输出激光的波长。
本实施例中,可调谐激光器2的输出光功率和波长应当十分稳定,波长在小范围内应精密连续可调,且线宽应尽可能窄。一般情况下,该可调谐激光器2产生激光的波长λ介于1563.3~1563.6nm之间。
驱动源3的输出端通过导线与可调谐DBR激光器2相连接,用于为可调谐DBR激光器2提供工作电流。
第一50/50光耦合器4和第二50/50光耦合器6,分别用于对光信号进行分束和合束;光纤延时线5,连接于50/50光耦合器4和5之间,用于对一路光信号进行延时。
其中,第一50/50光耦合器4通过光纤与可调谐激光器2相连接,用于将可调谐DBR激光器2输出的激光分为两束。
第二50/50光耦合器6的两输入端中,第一输入端与第一50/50光耦合器4的第一输出端直接通过光纤连接,第二输入端与第一50/50光耦合器4的第二输出端通过光纤延时线5相连接。未经延时的第一束激光与经过四分之一周期延时的激光在第二50/50光耦合器中合束并耦合。
本实施例中,光纤延时线5为标准单模光纤,其长度为cT/(4n),其中c为光速,
Figure BDA0000396921720000041
n为光纤延时线5和光纤的折射率。由第一50/50光耦合器4的第二输出端输出的激光通过光纤延时线5进行四分之一周期
Figure BDA0000396921720000042
延时。未经延时的第一束激光与经过四分之一周期延时的激光的光波长随时间变化如图2所示,每隔T/2波长在λ1和λ2之间周期性变换。
光电探测器7的输入端与第二50/50光耦合器6的输出端通过光纤相连接,用于将合束并耦合的光信号拍频后转化为电信号。
其中,该光电探测器7频率响应F1b)为已知且尽可能平坦,其输出的微波电信号可表示为:
i c = eη hυ [ E 2 4 · F 1 ( υ b ) · cos ( 2 π υ b t ) ] · u ( 2 f , t ) - - - ( 1 )
公式1忽略了光电探测器7的直流分量,其中e为电子电荷,η为量子效率,hυ为光子的能量,E为电场强度,υb为拍频频率(
Figure BDA0000396921720000052
c为真空中光速,n为光纤和光纤延时线折射率),F1b)为光电探测器7的频率响应函数,u(2f,t)为占空比为50%,频率为2f单位幅度方波,光电探测器7输出波形如图3所示。
微波功率分束器8,其通过标准射频连接线与光电探测器7输出端相连接,用于将光电探测器7的输出信号分为两部分,其中一部分送入频谱仪11以检测信号频率υb,另一部分进入待测检波器9;
输出信号可表示为:
V0=C0·F1b)·F2b)·u(2f,t)  (2)
其中C0为一常数,F2b)待测检波器9的频率响应函数,其波形如图4所示。
锁相放大器10,其待测信号输入端通过射频连接线与待测检波器输出端相连接,其参考信号输入端通过射频连接线与波形发生器的第二输出端相连接,用于利用波形发生器产生的频率为2f的周期性方波信号,从待测检波器的输出信号中读出频率为2f的信号幅值V1
待测检波器9输出信号进入锁相放大器10作为待测信号,锁相放大器10参考信号输入端通过波形发生器1输入频率为2f的低频方波,因而只对频率为2f的待测信号有响应,其测得电压值为:
V1=C1·F1b)·F2b)  (3)
其中,C1为一常数,由上式两边取对数,可得到待测检波器9的频率响应为:
logF2b)=logV1-C2-logF1b)  (4)
其中,C2=logc1,其同样为一常数。
频谱仪11,其输入端通过射频连接线与微波功率分束器另一输出端相连接,用于检测输入电信号的频率,即拍频频率υb
控制器12,其控制信号输出端与波形发生器控制信号输入端相连接,用于控制波形发生器1输出波形。保持低频方波信号低电平VL不变,逐次增加高电平VH,使得拍频频率υb由小逐次增加,通过频谱仪11测得拍频频率υb,锁相放大器10测得电压值V1,根据关系式(4)即可得到待测检波器9的频率响应特性曲线如图5所示。
需要说明的是,虽然本实施例中控制器12通过逐次增加高电平VH来逐渐改变拍频频率υb,但本发明并不以此为限。在本发明的其他实施例中,还可以采用逐次降低高电平VH,来使拍频频率υb逐次减小来获得待测检波器9的频率响应特性曲线,其实现方式与本实施例相同,此处不再重述。
至此,已经结合附图对本发明检波器频率响应测量系统进行了详细描述。依据以上描述,本领域技术人员应当对本发明检波器频率响应测量系统有了清楚的认识。
此外,上述对各元件和方法的定义并不仅限于实施方式中提到的各种具体结构、形状或方式,本领域的普通技术人员可对其进行简单地熟知地替换。
综上所述,本发明检波器频率响应测量系统不需要价格昂贵的矢量网络分析仪,通过拍频法可以产生高带宽的测试信号来对检测器的频率响应进行测量,具有成本低,测量精度高、测量带宽大的优点。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种检波器频率响应测量系统,其特征在于,包括:
波形发生器,用于产生频率分别为f和2f的两路周期性方波信号,该周期性方波信号的低电平为VL,高电平为VH
可调谐DBR激光器,其相区电流输入端与所述波形发生器的输出端电性连接,用于利用所述频率为f的周期性方波信号改变自身相区电流实现对输出光波长的调谐,产生波长λ周期性变化的激光;
第一50/50光耦合器,用于将所述可调谐DBR激光器输出的波长周期性变化的激光分为两束;
光纤延时线,用于对两激光束中的一束进行1/4周期延时;
第二50/50光耦合器,用于将未经延时的激光束与经过1/4周期延时的激光束进行合束并耦合;
光电探测器,用于将合束并耦合的光信号拍频后转化为电信号;
微波功率分束器,用于将所述光电探测器的输出电信号分为两部分,其中一部分送入频谱仪,另一部分进入待测检波器;
频谱仪,用于检测输入信号的频率υb
锁相放大器,其待测信号输入端与待测检波器的输出端相连接,其参考信号输入端与所述波形发生器的另一输出端电性连接,用于利用波形发生器产生的频率为2f的周期性方波信号,从待测检波器的输出信号中读出频率为2f的信号幅值V1
控制器,用于控制所述波形发生器输出周期性方波信号的低电平VL或高电平VH其中之一变化,根据以下关系式获取待测检波器的频率响应特性F2b):
logF2b)=logV1-C2-logF1b)
其中,F1b)为光电探测器的频率响应,C2为一常数。
2.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,所述波形发生器产生周期性方波信号的占空比为50%,频率f介于1kHz~1MHz之间。
3.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,所述波形发生器产生周期性方波信号的低电平VL的幅值介于900~1000mV之间,高电平VH的幅值介于1000~2000mV之间。
4.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,所述可调谐DBR激光器产生激光的波长λ介于1563.3~1563.6nm之间。
5.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,所述光纤延时线的长度为10km~50km。
6.根据权利要求1所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,所述频谱仪检测到的信号频率υb满足:
υ b = c nλ 1 - c nλ 2
其中,c为真空中光速,n为光纤和光纤延时线折射率,λ1为低电平控制下,所述可调谐DBR激光器输出激光的波长,λ2为高电平控制下,所述可调谐DBR激光器输出激光的波长。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的检波器频率响应测量系统,其特征在于,
所述波形产生器、可调谐DBR激光器之间通过导线连接;
所述可调谐DBR激光器、第一50/50光耦合器、第二50/50光耦合器、光纤延时线、光电探测器之间通过光纤连接。
所述光电探测器、微波功率分束器、频谱仪、待测检波器、锁相放大器、波形发生器、控制器之间通过射频连接线连接。
CN201310484580.1A 2013-10-16 2013-10-16 检波器频率响应测量系统 Active CN103512607B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310484580.1A CN103512607B (zh) 2013-10-16 2013-10-16 检波器频率响应测量系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310484580.1A CN103512607B (zh) 2013-10-16 2013-10-16 检波器频率响应测量系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103512607A true CN103512607A (zh) 2014-01-15
CN103512607B CN103512607B (zh) 2015-12-02

Family

ID=49895702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310484580.1A Active CN103512607B (zh) 2013-10-16 2013-10-16 检波器频率响应测量系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103512607B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106501601A (zh) * 2016-11-03 2017-03-15 南京航空航天大学 一种光电探测器频率响应测量方法及测量系统
CN109283598A (zh) * 2018-08-24 2019-01-29 西安陆海地球物理科技有限公司 检波器测试仪的震动激励系统及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060065834A1 (en) * 2004-09-29 2006-03-30 Axsun Technologies, Inc. Method and system for noise control in semiconductor spectroscopy system
CN101764646A (zh) * 2008-12-24 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法
CN101762330A (zh) * 2009-12-30 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法
CN101969317A (zh) * 2010-08-18 2011-02-09 中国科学院半导体研究所 一种非对称的高速低功耗收发装置
CN102684059A (zh) * 2012-04-20 2012-09-19 中国科学院半导体研究所 基于石英音叉增强气体光声光谱的可调谐激光稳频装置
JP2013047669A (ja) * 2011-07-25 2013-03-07 Kansai Electric Power Co Inc:The 光ファイバの解析装置および光ファイバの解析方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060065834A1 (en) * 2004-09-29 2006-03-30 Axsun Technologies, Inc. Method and system for noise control in semiconductor spectroscopy system
CN101764646A (zh) * 2008-12-24 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法
CN101762330A (zh) * 2009-12-30 2010-06-30 中国科学院半导体研究所 单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法
CN101969317A (zh) * 2010-08-18 2011-02-09 中国科学院半导体研究所 一种非对称的高速低功耗收发装置
JP2013047669A (ja) * 2011-07-25 2013-03-07 Kansai Electric Power Co Inc:The 光ファイバの解析装置および光ファイバの解析方法
CN102684059A (zh) * 2012-04-20 2012-09-19 中国科学院半导体研究所 基于石英音叉增强气体光声光谱的可调谐激光稳频装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李国栋 等: "地震检波器频率响应特性的研究", 《石油仪器》, vol. 23, no. 4, 31 August 2009 (2009-08-31) *
温继敏 等: "高速光探测器频率响应的精确表征", 《半导体学报》, vol. 27, no. 9, 30 September 2006 (2006-09-30) *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106501601A (zh) * 2016-11-03 2017-03-15 南京航空航天大学 一种光电探测器频率响应测量方法及测量系统
CN106501601B (zh) * 2016-11-03 2019-01-04 南京航空航天大学 一种光电探测器频率响应测量方法及测量系统
CN109283598A (zh) * 2018-08-24 2019-01-29 西安陆海地球物理科技有限公司 检波器测试仪的震动激励系统及方法
CN109283598B (zh) * 2018-08-24 2021-08-03 西安陆海地球物理科技有限公司 检波器测试仪的震动激励系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN103512607B (zh) 2015-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110187177A (zh) 一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法
CN103645371B (zh) 一种测量电光相位调制器半波电压的装置和方法
CN104459360A (zh) 基于微波光子混频技术的微波源相位噪声测试方法及装置
CN102914423B (zh) 一种色散光纤凹陷频率测量方法
CN111277325B (zh) 一种基于偏振调制器的测量范围可调的瞬时频率测量方法和系统
CN103698298A (zh) 基于短腔腔增强关联光谱技术测量气体浓度的装置及采用该装置测量气体浓度的方法
CN105091776A (zh) 基于单边带扫频调制的光纤激光静态应变拍频解调系统
CN110995341B (zh) 基于光载微波干涉的光纤时延测量方法及装置
CN103759841A (zh) 激光器频率稳定度测试装置
CN113945744B (zh) 一种全光纤直流电流互感器温度补偿系统及方法
CN113098595B (zh) 一种少模光纤差分模式群时延测量方法、系统和装置
CN112162229B (zh) 用于光纤电流传感器的状态监测装置
CN102353452B (zh) 一种f-p腔自由光谱范围测量系统
CN103414513A (zh) 一种具有高动态范围的脉冲光动态消光比测量装置及方法
CN107966172B (zh) 一种宽带光电探测器响应度测试仪及其测试方法
CN112526538A (zh) 基于fdml的调频连续波激光雷达捕获系统及方法
CN104243018A (zh) 一种色散测量方法及系统
CN105021901A (zh) 高压电场测量系统及其测量方法
CN105606345A (zh) 基于波长编码技术光电探测器频响的测试装置及测试方法
CN103512607B (zh) 检波器频率响应测量系统
CN103245817B (zh) 一种测量电压的方法和电压传感器
CN115664512A (zh) 一种电光调制器频响参数测试方法
CN109004983A (zh) 一种基于相位到强度调制转换原理的精确传感方法
CN201749021U (zh) 声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试装置
Zhou et al. Development of a variable and broad speed range all-fiber laser vibration measurement technology

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant