CN103512516A - 热继电器双金属片检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，热继电器包括电流触头，该热继电器双金属片检测装置包括：检测模块，用于检测热继电器双金属片位置状态；显示装置，其与所述检测模块电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值；其中，检测模块与热继电器双金属片配合时，被检测的热继电器双金属片至少部分暴露于热继电器双金属片检测装置之外。通过如此的设置，可以在对热继电器双金属片位置进行检测的同时，由检测人员实时对热继电器双金属片的位置进行调整。

Description

热继电器双金属片检测装置

技术领域

本发明属于机电设备制造领域，具体涉及一种热继电器双金属片检测装置。

背景技术

热继电器是由流入热元件的电流产生热量，使有不同膨胀系数的双金属片发生形变，当形变达到一定距离时，就推动连杆动作，使控制电路断开，从而使接触器失电，主电路断开，实现电动机的过载保护。具体地，现有的热继电器中通常包括若干并列的双金属片，该双金属片由两种不同热膨胀系数的金属片辗压而成，当电动机过载时，通过发热元件的电流超过整定电流，双金属片受热向上弯曲脱离扣板，使常闭触点断开。由于常闭触点是接在电动机的控制电路中的，它的断开会使得与其相接的接触器线圈断电，从而接触器主触点断开，电动机的主电路断电，实现了过载保护。热继电器作为电动机的过载保护元件，以其体积小，结构简单、成本低等优点在生产中得到了广泛应用。

但是，通常热继电器双金属片位置并不能完全符合设计精度，需要一种检测装置可以对热继电器双金属片位置状态进行检测，并可方便检测人员实时地进行调整。

发明内容

本发明的目的在于提供一种热继电器双金属片检测装置，其可在对热继电器双金属片位置进行检测的同时，方便检测人员实时对热继电器双金属片的位置进行调整。

为实现上述发明目的，本发明提供一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括电流触头，所述热继电器双金属片检测装置包括：

检测模块，所述检测模块用于与热继电器双金属片配合以检测其位置状态；

显示装置，所述显示装置与所述检测模块电性连接，所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；

其中，所述检测模块与热继电器双金属片配合时，所述热继电器双金属片至少部分暴露于所述热继电器双金属片检测装置之外。

作为本发明的进一步改进，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的初始位置运动至预定的测量位置以开始对热继电器双金属片的位置状态的检测，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的测量位置运动至预定的初始位置以结束对热继电器双金属片的位置状态的检测，所述热继电器双金属片检测装置还包括第一位移表和第二位移表，所述第一位移表用于测量并显示热继电器开始检测时从所述初始位置运动至测量位置的距离，所述第二位移表用于测量并显示热继电器结束检测时从所述测量位置运动至初始位置的距离。

作为本发明的进一步改进，所述检测模块包括探针及位移传感器，所述探针用于与热继电器双金属片配合，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态。

作为本发明的进一步改进，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。 

作为本发明的进一步改进，所述位移传感器包括直线位移传感器。

作为本发明的进一步改进，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。

与现有技术相比，本发明通过设置检测模块与热继电器双金属片配合时，热继电器双金属片至少部分暴露于所述热继电器双金属片检测装置之外，使得可在对热继电器双金属片位置进行检测的同时，由检测人员实时对热继电器双金属片的位置进行调整。

附图说明

图1是本发明一实施方式热继电器双金属片检测装置一实施方式的结构示意图。

具体实施方式

以下将结合附图所示的具体实施方式对本发明进行详细描述。但这些实施方式并不限制本发明，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。

参图1，介绍本发明热继电器双金属片检测装置10的一具体实施方式，其用于检测热继电器双金属片的位置状态，该热继电器双金属片检测装置10包括检测模块、显示装置（图未示）。

本发明的热继电器双金属片检测装置10通过控制热继电器从预定的初始位置运动至预定的测量位置以开始对热继电器双金属片的位置状态的检测，当检测结束后，热继电器双金属片检测装置10控制热继电器从预定的测量位置运动至预定的初始位置，如此往复，以连续完成热继电器双金属片位置状态的检测。

检测模块与热继电器双金属片配合时，该热继电器双金属片至少部分暴露于热继电器双金属片检测装置之外。通过如此的设置，检测人员可以实时对热继电器双金属片位置进行调整。在具体的实施例中，检测模块包括探针11以及位移传感器12。该探针11用于与热继电器中双金属片配合，位移传感器12与探针11电性连接，该位移传感器12通过探针11检测热继电器双金属片的位置状态。作为优选的实施方式，探针11通常与热继电器双金属片的中间位置配合，以实现将热继电器预留出部分在热继电器双金属片检测装置之外。位移传感器12可以例如采用电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。

在本实施方式中，由于仅需检测热继电器双金属片的直线位置方向上状态，所以采用直线位移传感器，其可以把直线机械位移量转换成电信号。

显示装置（图未示）与位移传感器12电性连接，用于显示表征热继电器双金属片位置状态的计量值。显示装置可以包括显示仪表、和/或电子显示器。

作为优选的实施方式，本发明的热继电器双金属片检测装置10还包括第一位移表13和第二位移表14。第一位移表13用于测量并显示热继电器开始检测时从初始位置运动至测量位置的距离，第二位移表14用于测量并显示热继电器结束检测时从测量位置运动至初始位置的距离。

在具体的操作中，热继电器首先被安置于初始位置上，然后热继电器双金属片检测装置10控制该热继电器运动至检测位置（此时热继电器的运动通过传送带机构实现，传送带机构图中未示），此时，第一位移表13检测并显示表征热继电器从初始位置运动至检测位置距离大小的第一位移值；当检测结束后，热继电器双金属片检测装置10控制该热继电器运动至初始位置，此时第二位移表14检测并显示表征热继电器从检测位置运动至初始位置距离大小的第二位移值。检测人员通过比对第一位移值和第二位移值是否一致，即可判断热继电器双金属片调整的精度，避免了经过调整的热继电器仍然不符合需求的精度规格的问题。

本发明的有益效果是：通过设置检测模块与热继电器双金属片配合时，热继电器双金属片至少部分暴露于所述热继电器双金属片检测装置之外，使得可在对热继电器双金属片位置进行检测的同时，由检测人员实时对热继电器双金属片的位置进行调整，更加方便。

应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本发明的保护范围，凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：

检测模块，所述检测模块用于与热继电器双金属片配合以检测其位置状态；

显示装置，所述显示装置与所述检测模块电性连接，所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；

其中，所述检测模块与热继电器双金属片配合时，所述热继电器双金属片至少部分暴露于所述热继电器双金属片检测装置之外。

2.根据权利要求1所述的双金属片检测装置，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的初始位置运动至预定的测量位置以开始对热继电器双金属片的位置状态的检测，所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的测量位置运动至预定的初始位置以结束对热继电器双金属片的位置状态的检测，所述热继电器双金属片检测装置还包括第一位移表和第二位移表，所述第一位移表用于测量并显示热继电器开始检测时从所述初始位置运动至测量位置的距离，所述第二位移表用于测量并显示热继电器结束检测时从所述测量位置运动至初始位置的距离。

3.根据权利要求1所述的双金属片检测装置，其特征在于，所述检测模块包括探针及位移传感器，所述探针用于与热继电器双金属片配合，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态。

4.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。

5.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括直线位移传感器。

6.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。

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