CN103424641A - 插拔测试装置 - Google Patents

插拔测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103424641A
CN103424641A CN2012101596107A CN201210159610A CN103424641A CN 103424641 A CN103424641 A CN 103424641A CN 2012101596107 A CN2012101596107 A CN 2012101596107A CN 201210159610 A CN201210159610 A CN 201210159610A CN 103424641 A CN103424641 A CN 103424641A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit board
plug
pull out
slot
out detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2012101596107A
Other languages
English (en)
Inventor
李宏伟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wistron Corp
Original Assignee
Wistron Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wistron Corp filed Critical Wistron Corp
Priority to CN2012101596107A priority Critical patent/CN103424641A/zh
Priority to TW101119375A priority patent/TW201348710A/zh
Priority to US13/610,276 priority patent/US20130309878A1/en
Publication of CN103424641A publication Critical patent/CN103424641A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

一种插拔测试装置。该插拔测试装置用以使一具有接头的待测装置电性连接于一测试主机，该插拔测试装置包括：一第一电路板以及一第二电路板；该第一电路板包括至少一连接端口及至少一第一插槽，该至少一连接端口用以提供该接头插接于其中；该第二电路板包括多个导电接点，该多个导电接点用以电性连接该测试主机，以使该第二电路板的电性信号可传递至该测试主机，其中该第二电路板通过该第一插槽而电性连接该第一电路板，以使该第一电路板的电性信号可传递至该第二电路板。本发明可达到节省成本及材料的目的。

Description

插拔测试装置
技术领域
本发明涉及一种插拔测试装置，特别是一种其设置的电路板为各自独立，而非焊接为一体的插拔测试装置。
背景技术
请参考图1，其为目前既有的一种插拔测试装置，例如自动插拔终端测试盒内部的电路板连接示意图。如图1所示，目前现有的自动插拔终端测试盒，其内部主要设置有两块第一电路板10a及一块第二电路板20a。两块第一电路板10a设有多种不同的连接端口11a，而使待测装置可通过接头插接于其中；第二电路板20a则用以与测试主机电性连接，且两块第一电路板10a上的电性信号可传递至第二电路板20a，因而使得待测装置可藉由自动插拔终端测试盒而与测试主机电性连接，藉以将待测装置的信号信息显示于测试主机（测试主机会与显示屏幕连接）。
目前现有的自动插拔终端测试盒，其内部设置的两块第一电路板10a与第二电路板20a以焊接为一体的方式而连接制成；一旦其中一块电路板损坏了，即无法单独更换该损坏的电路板而必须整体报废，造成材料上及成本上的浪费。
因此，实有必要发明一种新的插拔测试装置，以解决前述的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种插拔测试装置。
为达到上述的目的，本发明的插拔测试装置用以使一具有一接头的待测装置电性连接一测试主机，该插拔测试装置包括：一第一电路板以及一第二电路板；该第一电路板包括至少一连接端口及至少一第一插槽，该至少一连接端口用以提供该接头插接于其中；该第二电路板包括多个导电接点，该多个导电接点用以电性连接该测试主机，以使该第二电路板的电性信号可传递至该测试主机，其中该第二电路板通过该第一插槽而电性连接该第一电路板，以使该第一电路板的电性信号可传递至该第二电路板。
本发明的插拔测试装置用以使一具有一接头的待测装置电性连接一测试主机，该插拔测试装置包括：一第一电路板以及一第二电路板；该第一电路板包括至少一连接端口，该至少一连接端口用以提供该接头插接于其中；该第二电路板包括多个导电接点及至少一第二插槽，该多个导电接点用以电性连接该测试主机，以使该第二电路板的电性信号可传递至该测试主机，其中该第一电路板通过该第二插槽而电性连接该第二电路板，以使该第一电路板的电性信号可传递至该第二电路板。
本发明可不必如先前技术所述般，其中一块电路板损坏时，则须整体报废，因而可达到节省成本及材料的目的。
附图说明
图1是先前技术的插拔测试装置内部电路板的示意图。
图2是本发明的插拔测试装置电性连接待测装置时的示意图。
图3是本发明的插拔测试装置电性连接测试主机时的示意图。
图4是本发明的插拔测试装置的分解示意图。
主要组件符号说明：
1          插拔测试装置    10，10a    第一电路板
11，11a    连接端口        12         第一插槽
20，20a    第二电路板      21         导电接点
22         第二插槽        30         传输组件
40         基座            41         盖体
80         测试主机        81         探针
90         待测装置        91         接头
具体实施方式
为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出本发明的具体实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
以下请一并参考图2至图4。其中图2是本发明的插拔测试装置电性连接待测装置时的示意图；图3是本发明的插拔测试装置电性连接测试主机时的示意图；图4是本发明的插拔测试装置的分解示意图。
在本发明的一实施例中，本发明的插拔测试装置为一自动插拔终端测试盒，即一般所称的I-BOX，但本发明不以此为限。
如图2及图3所示，本发明的插拔测试装置1用以使一具有一接头91的待测装置90通过该插拔测试装置1而电性连接于一测试主机80。如图1及图2所示，在本发明的一实施例中，本发明的插拔测试装置1包括有一第一电路板10、一第二电路板20、两传输组件30以及一基座40。
如图2及图4所示，在本发明的一实施例中，第一电路板10连接并固定于基座40的一侧面，且第一电路板10包括有至少一连接端口11及至少一第一插槽12，其中至少一连接端口11用以提供待测装置90的接头91插接于其中。在本发明的具体实施例中，连接端口11的数量为多个，其可为VGA连接端口、DVI连接端口、HDMI连接端口或USB连接端口或由所述连接端口搭配组合，只是本发明并不以此为限。在本发明的具体实施例中，第一插槽12的数量为两个，只是本发明应当不以此为限。
如图3及图4所示，在本发明的一实施例中，第二电路板20连接并固定于基座40的另一侧面，且第二电路板20和第一电路板10相互平行对应而设置。第二电路板20包括有多个导电接点21点及至少一第二插槽22。多个导电接点21供测试主机80藉由探针81的触接而电性连接第二电路板20，以使第二电路板20的电性信号可传递至测试主机80。在本发明的具体实施例中，第二插槽22的数量为两个，只是本发明应当不以此为限。
传输组件30的一端插接于第一插槽12，而其另一端插接于第二插槽22，藉以使第一电路板10和第二电路板20可通过传输组件30而电性连接，以使第一电路板10和第二电路板20可相互传递电性信号。在本发明的一具体实施例中，传输组件30为传输线材，只是本发明不以此为限，传输组件30也可为软板、电连接器等具有传递电性信号功能的组件。
在本发明的一实施例中，基座40为一中空座体，第一电路板10及第二电路板20分别覆盖于基座40的对应两侧面，并藉由螺丝（图未示）以使第一电路板10及第二电路板20分别连接固定于基座40。基座40包括有一盖体41，盖体41用以覆盖第一电路板10，以保护第一电路板10。组装完成后，传输组件30被隐藏于中空座体内。
需注意的是，上述实施方式仅举例示意本发明的较佳实施例，为避免赘述，并未详加记载所有可能的变化组合。然而，本领域的普通技术人员应当可以理解，上述各组件未必皆为必要。且为实施本发明，亦可能包含其他较细节的公知组件，各组件皆可能视需求加以省略或修改。举例而言，也可在第二电路板20上设计一边接头（Edge Connector，俗称金手指），而使第二电路板20藉由边接头直接插接于第一插槽12，如此，即可省略传输组件30及第二插槽22。且需注意的是，倘若以上述连接方式为之者，当然也可由第一电路板10直接插接于第二插槽22，此时，即可省略传输组件30及第一插槽22。
由于本发明的插拔测试装置1的第一电路板10及第二电路板20是通过插槽而电性连接，且二者各自独立分开，而非焊接为一体；因此，一旦第一电路板10或第二电路板20当中有一块电路板损坏时，只要将传输组件30自损坏的电路板中拔除，即可更替该损坏的电路板，而未损坏的电路板依然可以继续保留使用；如此一来，即可不必如先前技术所述般，其中一块电路板损坏时，则须整体报废，因而可达到节省成本及材料的目的。
综上所陈，本发明无论就目的、手段及功效，处处均显示其迥异于公知技术的特征，恳请审查员明察，早日赐准专利，使嘉惠社会，实感德便。惟应注意的是，上述诸多实施例仅是为了便于说明而举例而已，本发明所要求保护的权利范围自然应当以权利要求书的范围所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (7)

1.一种插拔测试装置，该插拔测试装置用以使一具有一接头的待测装置电性连接一测试主机，该插拔测试装置包括：
一第一电路板，该第一电路板包括至少一连接端口及至少一第一插槽，该至少一连接端口用以提供该接头插接于其中；以及
一第二电路板，该第二电路板包括多个导电接点，该多个导电接点用以电性连接该测试主机，以使该第二电路板的电性信号可传递至该测试主机，其中该第二电路板通过该第一插槽而电性连接该第一电路板，以使该第一电路板的电性信号可传递至该第二电路板。
2.如权利要求1所述的插拔测试装置，还包括至少一传输组件，该第二电路板还包括至少一第二插槽，该至少一传输组件的一端插接于该至少一第一插槽，而其另一端插接于该至少一第二插槽。
3.如权利要求2所述的插拔测试装置，还包括一基座，该第一电路板及该第二电路板分别连接并固定于该基座，且该第一电路板及该第二电路板相互平行对应而设置。
4.如权利要求3所述的插拔测试装置，其中该至少一传输组件为传输线材。
5.如权利要求4所述的插拔测试装置，其中该至少一连接端口可为VGA连接端口、DVI连接端口、HDMI连接端口或USB连接端口。
6.如权利要求5所述的插拔测试装置，其中该第一插槽及该第二插槽的数量各为两个。
7.一种插拔测试装置，该插拔测试装置用以使一具有一接头的待测装置电性连接一测试主机，该插拔测试装置包括：
一第一电路板，该第一电路板包括至少一连接端口，该至少一连接端口用以提供该接头插接于其中；以及
一第二电路板，该第二电路板包括多个导电接点及至少一第二插槽，该多个导电接点用以电性连接该测试主机，以使该第二电路板的电性信号可传递至该测试主机，其中该第一电路板通过该第二插槽而电性连接该第二电路板，以使该第一电路板的电性信号可传递至该第二电路板。
CN2012101596107A 2012-05-21 2012-05-21 插拔测试装置 Pending CN103424641A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012101596107A CN103424641A (zh) 2012-05-21 2012-05-21 插拔测试装置
TW101119375A TW201348710A (zh) 2012-05-21 2012-05-30 插拔測試裝置
US13/610,276 US20130309878A1 (en) 2012-05-21 2012-09-11 Plug extraction test apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2012101596107A CN103424641A (zh) 2012-05-21 2012-05-21 插拔测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103424641A true CN103424641A (zh) 2013-12-04

Family

ID=49581646

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012101596107A Pending CN103424641A (zh) 2012-05-21 2012-05-21 插拔测试装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130309878A1 (zh)
CN (1) CN103424641A (zh)
TW (1) TW201348710A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106937110A (zh) * 2015-12-29 2017-07-07 研祥智能科技股份有限公司 信号对接装置及信号接口对接方法
CN111083269A (zh) * 2018-10-22 2020-04-28 深圳市广和通无线股份有限公司 功能组件以及测试夹具

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5523695A (en) * 1994-08-26 1996-06-04 Vlsi Technology, Inc. Universal test socket for exposing the active surface of an integrated circuit in a die-down package
CN2604691Y (zh) * 2003-01-02 2004-02-25 英业达股份有限公司 泛用型测试治具平台
TW200521460A (en) * 2003-12-19 2005-07-01 Giga Byte Tech Co Ltd Ball grid array substrate detector and formation method
CN2764105Y (zh) * 2005-01-27 2006-03-08 胜华科技股份有限公司 电路板
CN2890925Y (zh) * 2006-01-05 2007-04-18 英业达股份有限公司 测试装置
CN2890920Y (zh) * 2006-01-23 2007-04-18 英业达股份有限公司 印刷电路板的显示模块测试治具
TWM311074U (en) * 2006-11-10 2007-05-01 Inventec Corp Test card and test device
CN2898837Y (zh) * 2006-01-06 2007-05-09 中兴通讯股份有限公司 一种测试夹具的接口装置
CN2929735Y (zh) * 2006-06-12 2007-08-01 英业达股份有限公司 电路板测试装置
CN101078737A (zh) * 2006-05-24 2007-11-28 捷智科技股份有限公司 测试治具与机台的联结机构
CN101086508A (zh) * 2006-06-07 2007-12-12 瀚斯宝丽股份有限公司 检测设备及其连接器及其检测方法
CN201247291Y (zh) * 2008-06-04 2009-05-27 北京康拓科技开发总公司 一种即插即用测试设备
CN201359626Y (zh) * 2009-02-27 2009-12-09 中国人民解放军63963部队 便携式车内数字通信检测装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5966021A (en) * 1996-04-03 1999-10-12 Pycon, Inc. Apparatus for testing an integrated circuit in an oven during burn-in
US6414505B1 (en) * 1999-11-03 2002-07-02 Compaq Information Technologies Group, L.P. Multiboard run-in tester for PCI expansions
TW561263B (en) * 2001-03-10 2003-11-11 Samsung Electronics Co Ltd Parallel test board used in testing semiconductor memory devices
US7187193B2 (en) * 2004-06-30 2007-03-06 Silicon Laboratories Inc. MCU test device for multiple integrated circuit chips
US7179096B2 (en) * 2004-07-30 2007-02-20 Finisar Corporation First protocol to second protocol adapter
US20070232132A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Yun Ling Stacked connectors for high density external cable connections
US7789674B2 (en) * 2007-05-02 2010-09-07 Finisar Corporation Molded card edge connector for attachment with a printed circuit board

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5523695A (en) * 1994-08-26 1996-06-04 Vlsi Technology, Inc. Universal test socket for exposing the active surface of an integrated circuit in a die-down package
CN2604691Y (zh) * 2003-01-02 2004-02-25 英业达股份有限公司 泛用型测试治具平台
TW200521460A (en) * 2003-12-19 2005-07-01 Giga Byte Tech Co Ltd Ball grid array substrate detector and formation method
CN2764105Y (zh) * 2005-01-27 2006-03-08 胜华科技股份有限公司 电路板
CN2890925Y (zh) * 2006-01-05 2007-04-18 英业达股份有限公司 测试装置
CN2898837Y (zh) * 2006-01-06 2007-05-09 中兴通讯股份有限公司 一种测试夹具的接口装置
CN2890920Y (zh) * 2006-01-23 2007-04-18 英业达股份有限公司 印刷电路板的显示模块测试治具
CN101078737A (zh) * 2006-05-24 2007-11-28 捷智科技股份有限公司 测试治具与机台的联结机构
CN101086508A (zh) * 2006-06-07 2007-12-12 瀚斯宝丽股份有限公司 检测设备及其连接器及其检测方法
CN2929735Y (zh) * 2006-06-12 2007-08-01 英业达股份有限公司 电路板测试装置
TWM311074U (en) * 2006-11-10 2007-05-01 Inventec Corp Test card and test device
CN201247291Y (zh) * 2008-06-04 2009-05-27 北京康拓科技开发总公司 一种即插即用测试设备
CN201359626Y (zh) * 2009-02-27 2009-12-09 中国人民解放军63963部队 便携式车内数字通信检测装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
佚名: "液晶显示器接口类型", 《百度百科HTTP://BAIKE.BAIDU.COM/HISTORY/29669679》 *
佚名: "金手指", 《百度百科HTTP://BAIKE.BAIDU.COM/HISTORY/21744749》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106937110A (zh) * 2015-12-29 2017-07-07 研祥智能科技股份有限公司 信号对接装置及信号接口对接方法
CN111083269A (zh) * 2018-10-22 2020-04-28 深圳市广和通无线股份有限公司 功能组件以及测试夹具

Also Published As

Publication number Publication date
US20130309878A1 (en) 2013-11-21
TW201348710A (zh) 2013-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9425566B2 (en) Power strip and cord thereof
CN105487955A (zh) 测试治具及c类型通用串行总线端口的测试方法
CN202421395U (zh) 一种usb接口测试工具
CN103424641A (zh) 插拔测试装置
US9071026B2 (en) Energy-saving control device and energy-saving control method and power adapter including the same
CN105588988A (zh) 电子设备测试系统
CN102141952B (zh) 系统管理总线测试装置
CN105242757A (zh) 一种平板电脑和底座的连接结构
CN205507029U (zh) 一种电路安全检测装置
CN203630269U (zh) 一种简便的插座漏电检测仪
CN204558739U (zh) 一种新型安全插座
CN204302384U (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
CN103901249A (zh) 接口信号测试装置
CN103458080A (zh) 具有万用表功能的手机
CN203340222U (zh) 带edid和hdcp-key检测功能的hdmi信号发生器及信号分配器
CN203071343U (zh) 拔离断电桥型插座
CN203101570U (zh) 真空断路器二次检线设备
CN203551716U (zh) 一种idc电子连接器的检测装置
CN203164221U (zh) 一种具有保护作用的测试装置
CN204205247U (zh) 一种基于插头与印制板直连的小型化测试适配器
CN204351594U (zh) 用于烹饪器具的水位检测电路和烹饪器具
CN217690056U (zh) 一种触控显示屏测试装置
CN103293502B (zh) 一种电压监测仪比对装置
CN103163488A (zh) 电压测试装置
CN208537647U (zh) 一种电气工程质量安全检测仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20131204