CN103398975B - 光学玻璃折射率的测量装置及其测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种测试精度高、测试周期短的光学玻璃折射率的测量装置及其测量方法。光学玻璃折射率的测量装置,沿光路依次包括自准直仪、滤光片、V型槽和样品架,所述V型槽固定在样品架上,所述滤光片对测试波长进行过滤。本发明方法使用的测试仪器为自准直仪,自准直仪的测量精度一般可达到0.5秒,较V棱镜折光仪的角度测量精度有很大的提高,因此折射率测试精度高;由于对样品加工的要求较低,测试过程较简单,相对于最小偏向角法来说,测试周期明显缩短,测试周期短。
Description
技术领域
本发明涉及光学玻璃的测量,特别是涉及一种光学玻璃折射率的测量装置及其测量方法。
背景技术
光学玻璃折射率测试通常采用V棱镜法和最小偏向角法。这两种方法均为直接测试样品折射后的角度,再代入到相应公式中求得折射率。V棱镜法采用的测试仪器为V棱镜折光仪,该仪器的角度测量精度为3秒,角度测试精度较低,因此折射率测量精度也较低。最小偏向角法的测试仪器一般采用精密测角仪,该仪器虽然角度测量精度较高,但是对样品加工的要求较高,测试周期也较长。发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种测试精度高、测试周期短的光学玻璃折射率的测量装置及其测量方法。
本发明解决技术问题所采用的技术方案是:光学玻璃折射率的测量装置,沿光路依次包括自准直仪、滤光片、V型槽和样品架,所述V型槽固定在样品架上,所述滤光片对测试波长进行过滤。
进一步的,所述自准直仪的光源的波长根据需要的哪个波长的折射率进行选择。
进一步的,在所述V型槽的出射面上镀全反射膜层。
光学玻璃折射率的测量方法,该方法的步骤为:调整自准直仪的方向,使自准直仪发出的平行光与V型槽的入射面垂直;将样品涂上匹配的折射液后,放在V型槽上;自准直仪发出的平行光通过滤光片后,对测试波长进行过滤,再通过V型槽及样品的折射后到达V型槽的出射面,且被出射面反射后又与V型槽及样品发生折射,最终成像在自准直仪的分划板上;读取像的角度θ,带入到公式(1)中,计算出样品的折射率,
其中,n0为V型槽(3)的折射率。
本发明的有益效果是:本发明方法使用的测试仪器为自准直仪,自准直仪的测量精度一般可达到0.5秒,较V棱镜折光仪的角度测量精度有很大的提高,因此折射率测试精度高;由于对样品加工的要求较低,测试过程较简单,相对于最小偏向角法来说,测试周期明显缩短,测试周期短。
附图说明
图1是本发明装置的示意图。
具体实施方式
本发明的装置沿光路依次包括自准直仪1、滤光片2、V型槽3和样品架4。自准直仪1的光源的波长根据需要测定哪个波长的折射率进行选择;在自准直仪1与V型槽3之间加入滤光片2对测试波长进行过滤,需要测试哪个波长,就允许哪个波长透过,其余波长不透过;V型槽3固定在样品架4上;在V型槽3的出射面6上镀全反射膜层,V型槽3本身的折射率可采用常规方法进行确定。
工作时,调整自准直仪1的方向,使自准直仪1发出的平行光与V型槽3的入射面7垂直。将样品5涂上匹配的折射液后,放在V型槽3上。自准直仪1发出的平行光通过滤光片2后,对测试波长进行过滤,再通过V型槽3及样品5的折射后到达V型槽3的出射面6,且被出射面6反射后又与V型槽3及样品5发生折射,最终成像在自准直仪1的分划板上。读取像的角度θ,带入到公式(1)中,计算出样品5的折射率。式(1)中,n0为V型槽3的折射率。
Claims (1)
1.光学玻璃折射率的测量方法,其特征在于:该方法的步骤为:调整自准直仪(1)的方向,使自准直仪(1)发出的平行光与V型槽(3)的入射面(7)垂直;将样品(5)涂上匹配的折射液后,放在V型槽(3)上;自准直仪(1)发出的平行光通过滤光片(2)后,对测试波长进行过滤,再通过V型槽(3)及样品(5)的折射后到达V型槽(3)的出射面(6),且被出射面(6)反射后又与V型槽(3)及样品(5)发生折射,最终成像在自准直仪(1)的分划板上;读取像的角度θ,带入到公式(1)中,计算出样品(5)的折射率,
其中,n0为V型槽(3)的折射率。
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