CN103344412A

CN103344412A - Led测试装置

Info

Publication number: CN103344412A
Application number: CN 201310269505
Authority: CN
Inventors: 刘辉武; 谢旺; 何学志; 黄斐铨; 徐文杰
Original assignee: Guangzhou Shirui Electronics Co Ltd
Current assignee: Guangzhou Shirui Electronics Co Ltd
Priority date: 2013-06-28
Filing date: 2013-06-28
Publication date: 2013-10-09
Anticipated expiration: 2033-06-28
Also published as: CN103344412B

Abstract

本发明提供了一种LED测试装置，其包括第一横杆、第一滑块、信号处理电路、控制电路、第一灯管插座、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座第二灯管插座，所述第一滑块设置在所述第一横杆上且可沿所述第一横杆延伸方向滑动，所述第一灯管插座设置在所述第一滑块上且与所述信号处理电路连接，所述第二灯管插座与所述控制电路连接；所述信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度；所述控制电路用于控制插入到所述第二灯管插座中的LED发射管的信号发射，可以可简化LED测试程序、缩短测试周期、节约人力物力成本。

Description

LED测试装置

技术领域

本发明涉及LED测试领域，特别是涉及一种LED测试装置。

背景技术

由于LED(Light-Emitting Diode，发光二极管)具有功率效率高、光输出/尺寸比好、寿命长等特点，使得LED的应用领域越来越广泛。

例如，在红外触摸屏领域，LED作为其用量最大的元器件，至关重要。但是，一旦出现某个或者多个LED不良，将导致红外触摸屏出现断线、跳笔等现象，以至于红外触摸屏不能正常工作。

因此，需要严格控制LED性能指标，一般地，评价LED性能的参数主要有半角值、信号强度和角度关系等等，但现有的关于LED的测试多采用光学测试仪，测试步骤繁琐、测试周期长、消耗大量的人力物力成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED测试装置，可简化测试程序、缩短测试周期、节约人力物力成本。

本发明的目的通过如下技术方案实现：

一种LED测试装置，包括第一横杆、第一滑块、信号处理电路、控制电路、第一灯管插座、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座，所述第一滑块设置在所述第一横杆上且可沿所述第一横杆延伸方向滑动，所述第一灯管插座设置在所述第一滑块上且与所述信号处理电路连接，所述第二灯管插座与所述控制电路连接；

所述信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度；

所述控制电路用于在测试中控制插入到所述第二灯管插座中的LED发射管的信号发射。

依据本发明的方案，由于第一横杆上设置有可沿所述第一横杆延伸方向滑动的第一滑块，且该第一滑块上设置有第一灯管插座，在进行测试时，该第一灯管插座中可以插入LED接收管，而该LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取，方便快捷，第二灯管插座插入LED发射管后，由控制电路导通LED发射管，通过改变第一灯管插座、第二灯管插座的位置，可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度，便于获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数，简单易行，缩短了测试周期，节约了人力物力成本，同时，可以便于更换不同的LED接收管或者LED发射管进行测试。

一种LED测试装置，包括第一横杆、信号处理电路、控制电路、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座、多个设置在所述第一横杆上且沿所述第一横杆延伸方向排布的第一灯管插座；

各所述第一灯管插座分别与所述信号处理电路连接，所述第二灯管插座与所述控制电路连接；

所述控制电路用于控制插入到所述第二灯管插座中的LED发射管的信号发射。

依据本发明的方案，由于第一横杆上设置有多个沿所述第一横杆延伸方向排布的第一灯管插座，在进行测试时，插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取，方便快捷，第二灯管插座插入LED发射管后，由控制电路导通LED发射管，通过将LED接收管插入到不同的第一灯管插座中、改变第二灯管插座的位置，可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度，便于获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数，简单易行，缩短了测试周期，节约了人力物力成本，同时，可以便于更换不同的LED接收管或者LED发射管进行测试。

附图说明

图1为本发明的LED测试装置第一实施例的结构示意图；

图2为本发明的LED测试装置第二实施例的结构示意图；

图3为采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管的半角值的流程示意图；

图4为采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管的光强与角度的关系的流程示意图；

图5采用图2中所示LED测试装置测试LED接收管的光强与角度的关系的流程示意图；

图6采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管发射光强与传播距离之间的关系的流程示意图；

图7为在测试过程中各结构的位置关系示意图；

图8为本发明的LED测试装置第三实施例的结构示意图；

图9为本发明的LED测试装置第四实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本发明的作进一步阐述，但本发明的实现方式不限于此。

参见图1所述，为本发明的LED测试装置第一实施例的结构示意图。

如图1所示，本实施例中的LED测试装置包括第一横杆101、第一滑块102、信号处理电路(图中未示出)、控制电路(图中未示出)、第一灯管插座103、与第一横杆101延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座104，第二灯管插座104与第一横杆101之间的距离可以根据实际需要设定，第一滑块102设置在第一横杆101上且可沿第一横杆101延伸方向滑动，第一灯管插座103设置在第一滑块102上且与信号处理电路连接，第二灯管插座104与控制电路连接；

信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座103中的LED接收管接收到的信号强度；

控制电路用于控制插入到第二灯管插座104中的LED发射管的信号发射。

其中，第一滑块102与第一横杆101之间的连接方式可以采用现有的任意可以实现第一滑块102在第一横杆101上可滑动的方式，在此不予赘述。第一横杆101一般为长条形结构。

上述的信号处理电路可以采用现有的光电接收电路实现，一般包括有MCU(Micro Controller Unit，微控制器)；

上述的控制电路控制LED发射管的信号发射包括控制LED发射管的通断、功率强度等，可以采用现有任意可以实现控制LED发射管的通断、功率强度等的电路实现，在此不予赘述。

依据本发明的方案，由于第一横杆101上设置有可沿第一横杆101延伸方向滑动的第一滑块102，且该第一滑块102上设置有第一灯管插座103，在进行测试时，该第一灯管插座103中可以插入LED接收管，而该LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取，方便快捷，第二灯管插座104插入LED发射管后，由控制电路导通LED发射管，通过改变第一灯管插座103、第二灯管插座104的位置，可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度，便于据此获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数，简单易行，缩短了测试周期，节约了人力物力成本，同时，第一灯管插座103、第二灯管插座104可以方便更换不同的LED接收管或者LED发射管，便于重复使用该LED测试装置进行测试，节约成本。

由于考虑到在测试时需要控制第二灯管插座104的位置，包括改变第二灯管插座104到第一横杆101的距离以及第二灯管插座104沿第一横杆101延伸方向平移的长度，为了便于控制第二灯管插座104的位置，如图2所示，发明的LED测试装置在第一实施例的基础上做出了改进。

图2为本发明的LED测试装置第二实施例的结构示意图，本实施例中的LED测试装置，还可以包括第二横杆105、第二滑块106、纵杆107，第二横杆105与第一横杆101平行，纵杆107分别与第一横杆101、第二横杆105垂直连接，第一横杆101和第二横杆105中的至少一个横杆可沿纵杆107延伸方向移动，第二灯管插座104设置在第二滑块106上，第二滑块106设置在第二横杆105上且可沿第二横杆105延伸方向滑动。

采用本实施中的方案，由于第二滑块106设置在第二横杆105上且可沿第二横杆105延伸方向滑动，因此可以方便的控制第二灯管插座104沿滑动方向和滑动长度，也方便记录滑动长度；且由于第一横杆101和第二横杆105中的至少一个横杆可沿纵杆107延伸方向移动，也便于调节第一横杆101、第二横杆105之间的距离，即调节第二灯管插座104到第一横杆101之间的距离，使得测试更加便捷，提高了测试效率。

其中，根据实际需要，第一灯管插座103可以选用直式插座，也可以选用弯式插座、第二灯管插座也是可以选用直式插座或者选用弯式插座。

另一方面，由于考虑到，在测试时，经常涉及长度的读取，为此，为了方便测试人员读取长度，以提高测试效率，第一横杆101、第二横杆105、纵杆107上可以分别设有位置标识，一般地，第一横杆101与纵杆107连接处的刻度(长度刻度)与第二横杆105与纵杆107连接处的刻度一致，例如，均为零刻度位置。

此外为了减少测试人员的大量计算工作，且使测试结果更加准确，本发明的LED测试装置，还可以包括与信号处理电路连接的测试分析单元，用于采集所述信号处理电路获得的信号强度，接收输入的第一灯管插座103的位置信息、第二灯管插座104的位置信息、第二灯管插座104到第一横杆101的距离信息，根据所述信号处理电路获得的信号强度、所第一灯管插座103的位置信息、第二灯管插座104的位置信息、第二灯管插座104到第一横杆101的距离信息获得测试结果。

其中，根据实际需要，试分析单元一般可以包括用于采集所述信号处理电路获得的信号强度的采集器、用于接收输入的第一灯管插座103的位置信息、第二灯管插座104的位置信息、第二灯管插座104到第一横杆101的距离信息数据输入接口，以及用于根据所述信号处理电路获得的信号强度、所第一灯管插座103的位置信息、第二灯管插座104的位置信息、第二灯管插座104到第一横杆101的距离信息获得测试结果的数据处理模块，在具体实现时，可以通过任意软件、硬件、软件硬件结合的任意方式实现，具体实现方式不构成对本发明限制。

采用本实施例中的方案，测试人员只需要向测试分析单元输入需要所需数据，就可以获得相应的测试结果，也可以大大提高测试效率。

采用本发明的LED测试装置可以测试LED发射管的半角值、LED发射管的光强与角度的关系、LED接收管的光强与角度的关系、LED发射管发射光强与传播距离之间的关系等性能参数，以实现对LED性能的较全面地测试。以下以采用上述实施例二中的LED测试装置进行LED测试为例进行说明，对于其他实施例中LED测试装置进行LED测试的过程与此类似，在此不予重复赘述。

参见图3所示，为采用图2中所示装置测试LED发射管的半角值的流程示意图。如图3所示，该过程包括步骤：

步骤S201：通过上述控制电路导通插入到第二灯管插座104中的LED发射管；

步骤S202：固定第二滑块106的位置，将第一滑块102移动到与第二滑块106正对的位置，通过所述信号处理电路获取插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度；

其中，第二滑块106距离起点O2的距离为b，第一滑块102移动到与第二滑块106正对的位置即第一滑块102距离起点O1的距离为也为b时；

步骤S203：移动第一滑块102至所述信号处理电路获取的信号强度只有第一滑块102移动到与第二滑块106正对时所述信号处理电路获取的信号强度一半时的位置；

将此时第一滑块102的位置记为a，即第一滑块102距离起点O1的距离a；

步骤S204：第一滑块102的当前位置、第二滑块106的位置以及第一横杆101和第二横杆105之间的长度确定LED发射管的半角值；

第一横杆101和第二横杆105之间的长度记为h，即起点O1与起点O1之间的长度为h，则LED发射管的半角值为|actg((a-b)/h)|。

参见图4所示，为采用图2中所示装置测试LED发射管的光强与角度的关系的流程示意图。如图4所示，该过程包括步骤：

步骤S301：通过上述控制电路导通插入到第二灯管插座104中的LED发射管；

步骤S302：固定第二滑块106的位置，改变第一滑块102的位置，并分别记录第一滑块102在各位置时信号处理电路获得的信号强度；

其中，第二滑块106距离起点O2的长度为b，第一滑块102在各位置时信号处理电路获得的信号强度为E(x)，信号强度为E(x)一般指光强，x表示第一滑块102距离起点O1的长度；

步骤S303：根据第一滑块102在各位置时信号处理电路获得的信号强度、第二滑块106的位置以及第二横杆和第一横杆之间的长度确定LED发射管的信号强度和角度的关系；

第二横杆105和第一横杆101之间的长度为h，角度A＝actg((x-b)/h)，则可以根据E(x)以及A获得LED发射管的信号强度和角度的关系为E(A)，为了直观的表示二者之间的关系，可以绘制二维曲线，曲线绘制过程在此不予赘述。

参见图5所示，为采用图2中所示装置测试LED接收管的光强与角度的关系的流程示意图。如图5所示，该过程包括步骤：

步骤S401：通过上述控制电路导通插入到第二灯管插座104中的LED发射管；

步骤S402：固定第一滑块102的位置，改变第二滑块106的位置，并分别记录第二滑块106在各位置时信号处理电路获得的信号强度；

其中，第一滑块102距离起点O1的长度为2，第二滑块106在各位置时信号处理电路获得的信号强度为E(y)，信号强度为E(y)一般指光强，y表示第二滑块106距离起点O1的长度；

步骤S403：根据第二滑块106在各位置时信号处理电路获得的信号强度以及第二横杆和第一横杆之间的长度确定LED接收管的信号强度和角度的关系；

第二横杆105和第一横杆101之间的长度为h，角度A＝actg((y-a)/h)，则可以根据E(y)以及A获得LED发射管的信号强度和角度的关系为E(A)，为了直观的表示二者之间的关系，可以绘制二维曲线，曲线绘制过程在此不予赘述。

参见图6所示，为采用图2中所示装置测试LED发射管的LED发射管发射光强与传播距离之间的关系的流程示意图。如图6所示，该过程包括步骤：

步骤S501：通过上述控制电路导通插入到第二灯管插座104中的LED发射管；

步骤S502：固定第一滑块102的位置，将第二滑块106移动到与第一滑块102正对的位置，改变第二横杆105和第一横杆101之间的长度，并分别记录变第二横杆105和第一横杆101为不同长度时信号处理电路获得的信号强度；

其中，第二横杆105和第一横杆101为不同长度时信号处理电路获得的信号强度为E(h)，E(h)即为LED发射管发射光强与传播距离之间的关系，为了直观的表示二者之间的关系，也可以绘制二维曲线，曲线绘制过程在此不予赘述。

需要说明的是，在上述测试过程的描述中，是以第一滑块102的位置近似表示LED接收管的位置、以第二滑块106的位置近似表示LED发射管的位置、第二横杆105和第一横杆101之间的长度近似表示LED发射管和LED接收管之间的距离等等，也可以根据实际情况分别作相应的修正，在此，不予赘述。

参见图8所述，为本发明的LED测试装置第三实施例的结构示意图。

如图8所示，本实施例中的LED测试装置，包括第一横杆601、信号处理电路(图中未示出)、控制电路(图中未示出)、与第一横杆601延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座603，第二灯管插座603与第一横杆601之间的距离可以根据实际需要设定，第二灯管插座603，还包括多个设置在第一横杆601上且沿第一横杆601延伸方向排布的第一灯管插座602，各第一灯管插座602分别与信号处理电路连接，各第一灯管插座602之间的距离可以根据实际情况进行设定，一般以小于20毫米为佳，第二灯管插座603与控制电路连接；

信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座602中的LED接收管接收到的信号强度，其中，信号处理电路可以采用现有的光电接收电路实现，一般包括有MCU(Micro Controller Unit，微控制器)；

控制电路用于控制插入到第二灯管插座603中的LED发射管的信号发射，其中，控制电路控制LED发射管的信号发射包括控制LED发射管的通断、功率强度等，可以采用现有任意可以实现控制LED发射管的通断、功率强度等的电路实现，在此不予赘述。

据此，依据本实施例中的方案，由于第一横杆601上设置有多个沿第一横杆601延伸方向排布的第一灯管插座602，在进行测试时，插入到第一灯管插座602中的LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取，方便快捷，第二灯管插座603插入LED发射管后，由控制电路导通LED发射管，通过将LED接收管插入到不同的第一灯管插座602中、改变第二灯管插座603的位置，可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度，便于获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数，简单易行，缩短了测试周期，节约了人力物力成本，同时，可以方便更换不同的LED接收管或者LED发射管。

图9为本发明的LED测试装置第四实施例的结构示意图，其在第三实施例的基础上，还可以包括第二横杆604、纵杆605，第二横杆604与第一横杆601平行，纵杆605分别与第一横杆601、第二横杆604垂直连接，第一横杆601和第二横杆604中的至少一个横杆可沿纵杆605延伸方向移动，第二横杆604上设置有且多个沿第二横杆604延伸方向排布的第二灯管插座603。

采用本实施中的方案，由于第二横杆604上设置有且多个沿第二横杆604延伸方向排布的第二灯管插座603，因此可以通过将LED接收管插入不同的第二灯管插座104中方便的控制LED接收管的位置；且由于第一横杆601和第二横杆604中的至少一个横杆可沿纵杆605延伸方向移动，也便于调节第一横杆101、第二横杆105之间的距离，即调节第二灯管插座104到第一横杆101之间的距离，使得测试更加便捷，提高了测试效率。

此外，根据实际需要，第一灯管插座602可以选用直式插座，也可以选用弯式插座，第二灯管插座也是可以选用直式插座或者选用弯式插座。

为了方便测试人员读取长度，以提高测试效率，在其中一个实施例中，第一横杆601、第二横杆604、纵杆605上可以分别设有位置标识。

此外为了减少测试人员的大量计算工作，且使测试结果更加准确，在其中一个实施例中，还可以包括与信号处理电路连接的测试分析单元，该单元可以基于计算机来实现，用于采集信号处理电路获得的信号强度，接收输入的第一灯管插座602的位置信息、第二灯管插座603的位置信息、第二灯管插座603到第一横杆601的距离信息，根据信号处理电路获得的信号强度、第一灯管插座602的位置信息、第二灯管插座603的位置信息、第二灯管插座603到第一横杆601的距离信息获得测试结果。

如前所述测试分析单元的功能可以通过任意软件、硬件、软件硬件结合的任意方式实现，在此不予赘述。

采用第三实施例及之后各实施例中的LED测试装置进行LED性能测试的方式与前述采用第三实施例中的LED测试装置进行LED性能测试的方式类似，只是，在第二实施例中是通过滑动第一滑块102的方式改变插入第一灯管插座103中的LED接收管的位置，通过滑动第二滑块106的方式改变插入第二灯管插座104中的LED发射管的位置等等，而在第三实施例及之后各实施例中，是通过将LED接收管插入不同的第一灯管插座602中改变LED接收管的位置，通过移动第二灯管插座603或者将发射插入不同的第二灯管插座603中改变LED发射管的位置等等，在此不予赘述。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种LED测试装置，其特征在于，包括第一横杆、第一滑块、信号处理电路、控制电路、第一灯管插座、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座，所述第一滑块设置在所述第一横杆上且可沿所述第一横杆延伸方向滑动，所述第一灯管插座设置在所述第一滑块上且与所述信号处理电路连接，所述第二灯管插座与所述控制电路连接；

2.根据权利要求1所述的LED测试装置，其特征在于，还包括第二横杆、第二滑块、纵杆，所述第二横杆与所述第一横杆平行，所述纵杆分别与所述第一横杆、所述第二横杆垂直连接，所述第一横杆和所述第二横杆中的至少一个横杆可沿所述纵杆延伸方向移动，所述第二灯管插座设置在所述第二滑块上，所述第二滑块设置在所述第二横杆上且可沿所述第二横杆延伸方向滑动。

3.根据权利要求1或2所述的LED测试装置，其特征在于，所述第一灯管插座、所述第二灯管插座为直式插座或者弯式插座。

4.根据权利要求2所述的LED测试装置，其特征在于，所述第一横杆、所述第二横杆、所述纵杆上分别设有位置标识。

5.根据权利要求1所述的LED测试装置，其特征在于，还包括与信号处理电路连接的测试分析单元，用于采集所述信号处理电路获得的信号强度，接收输入的所述第一灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座到所述第一横杆的距离信息，根据所述信号处理电路获得的信号强度、所述第一灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座到所述第一横杆的距离信息获得测试结果。

6.一种LED测试装置，其特征在于，包括第一横杆、信号处理电路、控制电路、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座、多个设置在所述第一横杆上且沿所述第一横杆延伸方向排布的第一灯管插座；

7.根据权利要求6所述的LED测试装置，其特征在于，还包括第二横杆、纵杆，所述第二横杆与所述第一横杆平行，所述纵杆分别与所述第一横杆、所述第二横杆垂直连接，所述第一横杆和所述第二横杆中的至少一个横杆可沿所述纵杆延伸方向移动，所述第二横杆上设置有且多个沿所述第二横杆延伸方向排布的第二灯管插座。

8.根据权利要求6或7所述的LED测试装置，其特征在于，所述第一灯管插座、所述第二灯管插座为直式插座或者弯式插座。

9.根据权利要求7所述的LED测试装置，其特征在于，所述第一横杆、所述第二横杆、所述纵杆上分别设有位置标识。

10.根据权利要求6所述的LED测试装置，其特征在于，还包括与信号处理电路连接的测试分析单元，所述测试分析单元用于采集所述信号处理电路获得的信号强度，接收输入的所述第一灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座到所述第一横杆的距离信息，根据所述信号处理电路获得的信号强度、所述第一灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座的位置信息、所述第二灯管插座到所述第一横杆的距离信息获得测试结果。