CN103324219A - 一种多点温度测控装置 - Google Patents

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黄克亚
尤一龙
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Abstract

本发明公开了一种多点温度测控装置,包括控制器,所述控制器连接方式选择开关、拨动开关、测试基座、LCD显示器、温度传感器阵列和继电器阵列、所述继电器阵列连接加热器阵列。本发明可以同时检测地理分散的不同监测地点的温度,送LCD显示器显示,并根据温度设定值进行温度控制,系统功能完善且使用灵活。温度传感器阵列和单片机采用单总线连接,从而大大简化了系统布线,提高了可靠性,降低了成本。

Description

一种多点温度测控装置
技术领域
本发明涉及多点温度测控技术和单片机控制技术,具体涉及的是一种多点温度测控装置。 
背景技术
温度是工业控制中主要的被控参数之一,特别是在冶金、化工、建材、食品、机械、石油等工业中,具有非常重要的作用。传统的温度测量要经过多个环节的处理,即先由热电偶将温度信号转换为电信号,再经多极运算放大电路将电信号整形放大,再经A/D转换芯片将模拟信号转换为数字信号,送计算机或是数字信号处理器处理。随着电子技术和计算机技术的迅速发展,微机测量和控制技术得到了迅速的发展和广泛的应用。单片机具有处理能力强、运行速度快、功耗低等优点,尤其在温度测量与控制方面,控制简单方便,测量范围广,精度较高,得到了广泛应用。新型数字式单总线温度传感器出现,使得温度现场测量以及传感器和处理器接口变得更为简便。 
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种多点温度测控装置,能应用于工业现场多点温度测量与控制。 
为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本发明通过以下技术方案实现: 
一种多点温度测控装置,包括控制器,所述控制器连接方式选择开关、拨动开关、测试基座、LCD显示器、温度传感器阵列和继电器阵列、所述继电器阵列连接加热器阵列。
进一步的,所述控制器选用8位AVR单片机ATmega16,所述LCD显示器选用2*16字符型的液晶显示器LCD1602,所述控制器与所述LCD显示器之间通过并行传输的方式连接,所述控制器的一组I/O端口与所述LCD1602的8位数据线D0-D7连接,所述ATmega16的三个I/O端口与所述LCD1602的使能端口、读/写选择端口、数据/命令选择端口连接,所述LCD1602的偏压引脚外接调压电路。 
进一步的,所述温度传感器阵列和所述控制器通过单总线连接。 
本发明的有益效果是: 
本发明可以同时检测地理分散的不同监测地点的温度,送LCD显示器显示,并根据温度设定值进行温度控制,系统功能完善且使用灵活。温度传感器阵列和单片机采用单总线连接,从而大大简化了系统布线,提高了可靠性,降低了成本。
附图说明
图1整体结构示意图。 
图中标号说明:1、方式选择开关,2、拨动开关,3、测试基座,4、控制器,5、LCD显示器,6、温度传感器阵列,7、继电器阵列,8、加热器阵列。 
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例,来详细说明本发明。 
参照图1所示,一种多点温度测控装置,包括控制器4,所述控制器4连接方式选择开关1、拨动开关2、测试基座3、LCD显示器5、温度传感器阵列6和继电器阵列7、所述继电器阵列7连接加热器阵列8。 
进一步的,所述控制器4选用8位AVR单片机ATmega16,所述LCD显示器5选用2*16字符型的液晶显示器LCD1602,所述控制器4与所述LCD显示器5之间通过并行传输的方式连接,所述控制器4的一组I/O端口与所述LCD1602的8位数据线D0-D7连接,所述ATmega16的三个I/O端口与所述LCD1602的使能端口、读/写选择端口、数据/命令选择端口连接,所述LCD1602的偏压引脚外接调压电路。 
进一步的,所述温度传感器阵列6和所述控制器4通过单总线连接。 
本实施例的工作原理如下: 
所述方式选择开关1用于选择系统处于测试模式还是工作模式,连接时只要将开关一端连接至所述控制器4一个I/O端口,另一端接地即可,程序运行时应使所述控制器4该I/O端口内置上接电阻有效,当开关断开,端口为高电平,系统工作于工作模式,当开关接通,端口为低电平,系统工作于测试模式。在测试模式下,将温度传感器放至于所述测试基座3上,通过所述拨动开关2输入位置编号,所述控制器通过程序读取该温度传感器序列号,并建立位置编号与传感器序列号对应表,存于AVR单片机的E2PROM,以便正常工作时测量和控制使用。在工作模式下,所述温度传感器阵列6采集各点温度值,送所述控制器4处理,所述控制器4根据温度设定值控制所述继电器阵列7的通断,以接通和断开加热器阵列,以实现多点温度控制。
所述拨动开关2和所述测试基座3用于在测试模式下测试每一个温度传感器的序列号。 
所述拨动开关2为一组开关,依次连接所述控制器4的一组I/O端口上,用于向所述控制器4的I/O端口输入一组高低电平。 
所述测试基座3为温度传感器锁紧装置,并将温度传感器三个脚连接至电源、地线及一个单片机I/O端口。测试时由所述拨动开关2向所述控制器4输入地理位置编号,由所述控制器4读取所述测试基座3上温度传感器序列号,并建立位置编号与传感器序列号对应表,存于AVR单片机的E2PROM,以便正常工作时测量和控制使用。 
温度传感器选择单总线接口器件DS18B20,将地理位置分散的各温度传感器连接于同一条数据总线,构成温度传感器阵列。其与单片机接口十分简单,只将ATmegal6单片机的一个I/O端口连接至DS18B20的单总线DQ并外接上拉电阻,再将DS18B20的VDD端接至电源正极,DS18B20的GND端接地即可。从而大大简化了系统布线,提高了可靠性,降低了成本。 
所述加热器阵列8用于加热生产设备以提升其温度,其由地理位置分散的各加热器组成。 
所述继电器阵列7由地理位置分散的各继电器组成,用于接通或断开各加热器电路,以实现每一个监测点的温度控制。系统运行时所述控制器根据每一个监测点的实际温度和设定温度,接通或断开所述继电器阵列7的相应继电器,以控制所述加热器阵列8中相应加热器通断,以实现各监测点的温度控制。 

Claims (3)

1.一种多点温度测控装置,其特征在于:包括控制器(4),所述控制器(4)连接方式选择开关(1)、拨动开关(2)、测试基座(3)、LCD显示器(5)、温度传感器阵列(6)和继电器阵列(7)、所述继电器阵列(7)连接加热器阵列(8)。
2.根据权利要求1所述的多点温度测控装置,其特征在于:所述控制器(4)选用8位AVR单片机ATmega16,所述LCD显示器(5)选用2*16字符型的液晶显示器LCD1602,所述控制器(4)与所述LCD显示器(5)之间通过并行传输的方式连接,所述控制器(4)的一组I/O端口与所述LCD1602的8位数据线D0-D7连接,所述ATmega16的三个I/O端口与所述LCD1602的使能端口、读/写选择端口、数据/命令选择端口连接,所述LCD1602的偏压引脚外接调压电路。
3.根据权利要求1所述的多点温度测控装置,其特征在于:所述温度传感器阵列(6)和所述控制器(4)通过单总线连接。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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