CN103309785A - 显卡故障自行恢复系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种显卡故障自行恢复系统,该系统包括:读取模块,用于从显卡的固件中读取显存的每个分区在显存中的段地址和偏移地址;检测模块,用于利用检测单元检测显存中是否有出现故障的位;确定模块,用于当存在有出现故障的位时,确定该出现故障的位所在的分区;及切换模块,用于当对显卡进行读或写操作时,根据该有出现故障的位的分区的段地址和偏移地址来避开该出现故障的位的分区,取消对该出现故障的位的分区的读或写操作。本发明还提供了一种显卡故障自行恢复方法,利用本发明,可以有效处理显卡故障,合理利用显卡。
Description
技术领域
本发明涉及一种显卡处理系统及方法,尤其涉及一种显卡故障自行恢复系统及方法。
背景技术
显卡的内存在出现故障的时候,用户在显示屏上看到的画面是完全杂乱无章的画面,即通常所说的花屏现象。用户通常所采取的措施即重新换张显卡,即使内存只有一个bit(位)出现故障,也要换掉整张显卡,浪费了资源,提高了成本。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种显卡故障自行恢复系统,使得显卡自行恢复,无需更换显卡。
还有必要提供一种显卡故障自行恢复方法,使得显卡自行恢复,无需更换显卡。
一种显卡故障自行恢复系统,该系统包括:读取模块,用于从显卡的固件中读取显存的每个分区在显存中的段地址和偏移地址;检测模块,用于利用检测单元检测显存中是否有出现故障的位;确定模块,用于当存在有出现故障的位时,确定该出现故障的位所在的分区;及切换模块,用于当对显卡进行读或写操作时,根据该有出现故障的位的分区的段地址和偏移地址来避开该出现故障的位的分区,取消对该出现故障的位的分区的读或写操作。
一种显卡故障自行恢复方法,该方法包括:读取步骤,从显卡的固件中读取显存的每个分区在显存中的段地址和偏移地址;检测步骤,利用检测单元检测显存中是否有出现故障的位;确定步骤,当存在有出现故障的位时,确定该出现故障的位所在的分区;及切换步骤,当对显卡进行读或写操作时,根据该有出现故障的位的分区的段地址和偏移地址来避开该出现故障的位的分区,取消对该出现故障的位的分区的读或写操作。
相较于现有技术,所述显卡故障自行恢复系统及方法,使得当显卡出现故障时,自行避开出现故障的内存区域,无需更换整个显卡,合理利用资源,节省了成本。
附图说明
图1是本发明显卡故障自行恢复系统较佳实施例的运行环境图。
图2是图1中显卡故障自行恢复系统10的功能模块图。
图3是本发明显卡故障自行恢复方法较佳实施例的作业流程图。
主要元件符号说明
显卡 | 1 |
显卡故障自行恢复系统 | 10 |
显存 | 11 |
固件 | 12 |
分区 | 110 |
读取模块 | 100 |
检测模块 | 101 |
确定模块 | 102 |
切换模块 | 103 |
更新模块 | 104 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示,是本发明显卡故障自行恢复系统较佳实施例的运行环境图。该显卡故障自行恢复系统10运行于显卡1中,该显卡1包括显示存储器11(以下简称显存11)、固件(firmware)12及检测单元13,该显存11包括多个分区(bank)110,每个分区110包括多个位(bit),所述位的数量表示每个分区110的容量,如显存11有四个分区110(如图1所示),每个分区110包括32bit,则所述显卡1的容量为128bit。所述固件12中记录了显卡1的容量、倍速、型号、可以使用的分区110的数量、每个分区110的段地址和偏移地址等。所述显卡1的型号与分区110的数量对应。所述检测单元13用于检测每个分区110中的每个位是否正常。
如图2所示,是图1中显卡故障自行恢复系统10的功能模块图。所述显卡故障自行恢复系统10包括:读取模块100、检测模块101、确定模块102、切换模块103、及更新模块104。所述模块是具有特定功能的软件程序段,该软件存储于计算机可读存储介质或其它存储设备,可被计算机或其它包含处理器的计算装置执行,从而完成本发明中显卡故障自行恢复的作业流程。
读取模块100用于读取固件12中记录的每个分区110在显存11中的段地址和偏移地址。
检测模块101用于利用检测单元13来检测显存11中是否有出现故障的位。所述出现故障的位即不能对该位进行读写等操作。该检测方法可以为多种,本实施例中,检测单元13发送数据给每个位,再接收该每个位回传的数据,该检测单元13查看接收到的数据和发送的数据是否相同。若存在一个位回传的数据与检测单元13发送的数据相同,则判定该位正常。若检测单元13从一个位接收到的数据与发送的数据不相同,则判定该位出现故障。
若存在有出现故障的位,则确定模块102用于确定该出现故障的位所在的分区110(以下简称为确定的分区110)。
切换模块103用于当对显卡1进行读写操作时,根据该确定的分区110的段地址和偏移地址来避开该确定的分区110,即取消对该分区110的读写操作。本实施例中,当要对所述确定的分区110进行读或写操作时,跳过该分区110的段地址和偏移地址,进行下个分区110的寻址后,对该下个分区110进行读或写操作。在另一实施例中,利用控制显卡1上的芯片选择引脚(select chip,CS)和利用BA0/BA1引脚的值来避开所确定的分区110。
更新模块104用于根据剩下可用的分区110的数量更新所述固件12中的参数。例如,若分区110的总数为4个,每个分区110的容量为32bit,则显卡1的初始容量为128bit。若显存11中存在两个被避开的分区110,即两个有坏掉的位的分区110,则该显存11剩下可用的分区110为2个,更新模块104更新所述固件12中显卡1的容量为64bit。
如图3所示,是本发明显卡故障自行恢复方法较佳实施例的作业流程图。
步骤S30,读取模块100读取固件12中记录的每个分区110在显存11中的段地址和偏移地址。
步骤S31,检测模块101利用检测单元13检测显存11中是否有出现故障的位。所述出现故障的位即不能对该位进行读或写操作的位。若该显存11中存在有出现故障的位,则执行步骤S32。若该显存11中不存在出现故障的位,则结束流程。
步骤S32,确定模块102确定所述出现故障的位所在的分区110,以下简称为确定的分区110。
步骤S33,当对显卡1进行读或写操作时,切换模块103根据该确定的分区110的段地址和偏移地址来避开该确定的分区110,即取消对该分区110的读或写操作。本实施例中,当要对所述确定的分区110进行读或写操作时,跳过该分区110的段地址和偏移地址,进行下个分区110的寻址,对下个分区110进行读或写操作。在另一实施例中,利用控制显卡1上的芯片选择引脚和利用BA0/BA1引脚的值来避开所确定的分区110。
步骤S34,更新模块104根据剩下可用的分区110的数量更新所述固件12中的参数。例如,若分区110的总数为4个,每个分区110的容量为32bit,则显卡1的初始容量为128bit。若存在两个被避开的分区110,即两个有坏掉的位的分区110,则剩下可用的分区110为2个,更新模块104更新所述固件12中显卡1的容量为64bit。
利用上述方法避开了故障的分区110,使得没有出现故障的分区110仍然可以使用,无需更换整个显卡1。
最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (6)
1.一种显卡故障自行恢复系统,其特征在于,该系统包括:
读取模块,用于从显卡的固件中读取显存的每个分区在显存中的段地址和偏移地址;
检测模块,用于利用检测单元检测显存中是否有出现故障的位;
确定模块,用于当存在有出现故障的位时,确定该出现故障的位所在的分区;及
切换模块,用于当对显卡进行读或写操作时,根据该有出现故障的位的分区的段地址和偏移地址来避开该出现故障的位的分区,取消对该出现故障的位的分区的读或写操作。
2.如权利要求1所述的显卡故障自行恢复系统,其特征在于,该系统还包括:更新模块,用于根据剩下可用的分区的数量更新所述固件中的参数。
3.如权利要求2所述的显卡故障自行恢复系统,其特征在于,所述固件中的参数包括显卡的容量和可用的分区的数量。
4.一种显卡故障自行恢复方法,其特征在于,该方法包括:
读取步骤,从显卡的固件中读取显存的每个分区在显存中的段地址和偏移地址;
检测步骤,利用检测单元检测显存中是否有出现故障的位;
确定步骤,当存在有出现故障的位时,确定该出现故障的位所在的分区;及
切换步骤,当对显卡进行读或写操作时,根据该有出现故障的位的分区的段地址和偏移地址来避开该出现故障的位的分区,取消对该出现故障的位的分区的读或写操作。
5.如权利要求4所述的显卡故障自行恢复方法,其特征在于,该方法还包括:更新步骤,根据剩下可用的分区的数量更新所述固件中的参数。
6.如权利要求5所述的显卡故障自行恢复方法,其特征在于,所述固件中的参数包括显卡的容量和可用的分区的数量。
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CN 201210063515 CN103309785A (zh) | 2012-03-12 | 2012-03-12 | 显卡故障自行恢复系统及方法 |
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CN113157476A (zh) * | 2021-04-10 | 2021-07-23 | 作业帮教育科技(北京)有限公司 | 虚拟云环境中显卡故障的处理方法及装置 |
CN114637624A (zh) * | 2022-05-19 | 2022-06-17 | 武汉凌久微电子有限公司 | 一种主动错误探测的gpu显存访问修复方法及装置 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130918 |