CN103297121A - 一种rssi值曲线拟合方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种RSSI值曲线拟合方法和系统，该方法包括：RSSI值曲线拟合装置发射特定光功率的光信号，光模块中的光信号探测器探测到光信号后，输出响应电流，流经由所述光模块中的多个采样电阻所构成的等效采样电阻后产生电压压降；所述光模块中的ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样并转换为数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值；之后，所述RSSI值曲线拟合装置对所述光模块进行RSSI值曲线拟合。本发明的技术方案降低了更换采样电阻的概率，提高了效率。进一步，在不增加硬件电路成本的前提下实现本发明的目的。

Description

一种RSSI值曲线拟合方法和系统

技术领域

本发明涉及光纤通信技术领域，尤其涉及一种RSSI值曲线拟合方法和系统。

背景技术

近年来，光纤通信得到广泛应用，光纤通信网络被广泛地部署。各种型号的光模块随着光纤通信网络的普及被大量应用，在出厂前对生产出的光模块的性能进行检测是必要的。

一般的，光模块中包括：激光发射单元、激光接收单元、控制单元和光组件。其中，激光发射单元用于将电信号转换为光信号后输出，光路组件用于将激光发射单元输出的光信号耦合进光纤进行传输，以及将从光纤传送过来的光信号耦合进激光接收单元；光路组件与激光发射单元的输出端光路相通；光路组件与激光接收单元的输入端光路相通；激光接收单元用于将接收到光信号转换为电信号输出，内部结构包括：ROSA（Receiver OpticalSubassembly，光接收次模块）和限幅放大器；ROSA内部结构包括：光信号探测器和TIA（Transimpedanceamplifier，跨阻放大器），TIA用于将电信号跨阻放大，TIA的输入端与光信号探测器的阳极相连接，TIA的输出端与振幅放大器的输入端相连接；其中，光信号探测器可以是APD（Avalanche PhotoDiode，雪崩光电二极管）接收探测器，也可以是PIN（PIN photoelectric diode，PIN光电二极管）接收探测器。其中，控制单元用于监控上报、采样、总线通讯和控制等功能，其主要由MCU（Micro Control Unit，微控制单元）器件实现。

光模块中的光信号探测器在探测接收到一定光功率的光信号时，会输出与该光功率相应的强度的电信号；光信号探测器输出的电信号的强度可以用RSSI（Received Sinal Strength Indicator，接收信号强度显示）值表征。利用光信号探测器的这个特性，在光模块应用于光纤通信网络时，可以通过监测RSSI值判断出光模块接收的光信号的光功率的大小。为达到此目的，需要在光模块出厂前，事先拟合出光信号探测器接收的光信号的光功率与光信号探测器输出的电信号的RSSI值之间的关系曲线并存储到MCU中。将该RSSI值曲线作为评价该光模块性能的指标之一。

现有的RSSI值曲线拟合系统，如图1所示，包括：RSSI值曲线拟合装置和待拟合的光模块；其中，待拟合的光模块中包括：激光接收单元（图中未标）、采样电阻102、和MCU103；其中，MCU103中内置有ADC（Analog-to-Digital Converter，模/数转换器）器件，用以将MCU103的电压输入端的电信号的模拟电压值转换为数字电压值。

其中激光接收单元用于探测接收光信号，并将光信号转换为电信号后放大输出；激光接收单元包括：光信号探测器101、跨导放大器TIA（图中未标）、和限幅放大器（图中未标）。

光信号探测器101的阴极与MCU103的电压输入端相连接，该阴极同时与采样电阻102的一端连接，采样电阻102的另一端接地。

RSSI值曲线拟合装置中具体包括：可调光源和控制单元；其中，可调光源与待拟合的光模块中的光信号探测器光路相通；控制单元与待拟合的光模块中的MCU203电路相通。

进一步，上述的待拟合的光模块中还可包括：激光发射单元（图中未标）、光路组件（图中未标）。

光模块中的激光发射单元用于将电信号转换为光信号后输出；所述光路组件用于将所述激光发射单元输出的光信号耦合进光纤进行传输；以及将从所述光纤传送过来的光信号耦合进光模块中的激光接收单元。

当光信号探测器101探测到一定光功率的光信号时输出相应的响应电流，响应电流流过采样电阻102产生电压压降，从而将响应电流转换为相应的电压；MCU103通过其电压输入端对采样电阻102上的电压进行采样，根据采样的电压、以及采样电阻102的阻值可以计算出RSSI值。

在RSSI值曲线拟合过程中，RSSI值曲线拟合装置中的控制单元控制可调光源发射一组不同光功率的光信号，通过光纤传输到待拟合光模块的光信号探测器101。对于该组光信号中的每个光信号，MCU103在对采样电阻102上的电压进行采样，根据采样的电压、以及采样电阻102的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给RSSI值曲线拟合装置；RSSI值曲线拟合装置的控制单元将接收到的RSSI值与该光信号的光功率对应记录。

在RSSI值曲线拟合装置的控制单元在得到一组对应记录的RSSI值与光功率后，拟合出该光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到MCU103中。

然而，本发明的发明人发现，由于不同的光模块的光信号探测器的特性并不一致，甚至相差较大，经常会出现在拟合过程中MCU103采样电压溢出，或者MCU103采样电压过小，而不适合进行曲线拟合的情况；此时，需要更换待拟合的光模块中的采样电阻，将采样电阻更换为一个更合适的阻值的电阻后，才能完成该光模块的RSSI值曲线拟合。这使得光模块出厂前的RSSI值曲线拟合工作非常繁琐。

发明内容

为了克服现有技术方案的缺点，本发明方案提供了一种RSSI值曲线拟合方法和系统，用以简化光模块出厂前的RSSI值曲线拟合工作。

本发明公开了一种RSSI值曲线拟合方法，包括：

RSSI值曲线拟合装置发射特定光功率的光信号，并向光模块发送等效采样电阻调整指令；所述光信号经光纤传输到所述光模块；所述光模块中的光信号探测器探测到光信号后，输出相应的响应电流，流经由所述光模块中的多个采样电阻所构成的等效采样电阻后产生电压压降；所述光模块中的ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，将采样到的模拟电压转换为数字电压值；

所述光模块中的MCU根据所述等效采样电阻调整指令进行如下操作：

所述MCU将所述光模块中的多个采样电阻之间的连接方式设置为默认连接方式后，使得所述等效采样电阻被设置为默认阻值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值；之后，向所述RSSI值曲线拟合装置返回等效采样电阻调整完毕信息；

所述RSSI值曲线拟合装置接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合。

较佳地，所述RSSI值曲线拟合装置接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合具体包括：

所述RSSI值曲线拟合装置发射一组光功率的光信号，通过光纤传输到所述光模块；

对于该组光信号中的每个光信号，所述光信号探测器探测接收该光信号后输出对应大小的响应电流，响应电流流经所述等效采样电阻，在所述等效采样电阻上产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，并将采样到的电压转换成数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值、以及所述等效采样电阻的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给所述RSSI值曲线拟合装置；所述RSSI值曲线拟合装置将接收的RSSI值与该光信号的光功率对应记录；

在所述RSSI值曲线拟合装置得到一组对应记录的RSSI值和光功率后，拟合出所述光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到所述光模块的MCU中。

较佳地，所述多个采样电阻中包括内置于所述限幅放大器中的两个或两个以上采样电阻；或者

所述多个采样电阻中包括：内置于所述限幅放大器中的一个或一个以上采样电阻，设置于所述限幅放大器之外的一个采样电阻。

较佳地，所述根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值，具体包括：

所述MCU将所述数字电压值与预先设定的上限阈值进行比较，若大于所述上限阈值，则减小所述等效采样电阻的阻值；

所述MCU将所述数字电压值与预先设定的下限阈值进行比较，若小于所述下限阈值，则增大所述等效采样电阻的阻值。

本发明还公开了一种RSSI值曲线拟合系统，包括：RSSI值曲线拟合装置和光模块；

所述RSSI值曲线拟合装置用于发射特定光功率的光信号，并向光模块发送等效采样电阻调整指令；所述光信号经光纤传输到所述光模块；

所述光模块包括：光信号探测器、ADC、MCU和多个采样电阻；所述光信号探测器探测到光信号后，输出相应的响应电流，流经由所述光模块中的多个采样电阻所构成的等效采样电阻后产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，将采样到的模拟电压转换为数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述等效采样电阻调整指令进行如下操作：将所述多个采样电阻之间的连接方式设置为默认连接方式后，使得所述等效采样电阻被设置为默认阻值；根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值；之后，向所述RSSI值曲线拟合装置返回等效采样电阻调整完毕信息；

所述RSSI值曲线拟合装置还用于接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合。

较佳地，所述多个采样电阻中包括内置于所述限幅放大器中的两个或两个以上采样电阻；或者

所述多个采样电阻中包括：内置于所述限幅放大器中的一个或一个以上采样电阻，设置于所述限幅放大器之外的一个采样电阻。

较佳地，所述ADC内置于所述MCU中，或者内置于所述限幅放大器中。

较佳地，所述RSSI值曲线拟合装置中具体包括：可调光源和控制单元；

所述控制单元用于控制所述可调光源发射特定光功率的光信号，并向所述光模块的MCU发送等效采样电阻调整指令；并

在接收到所述光模块的MCU返回的等效采样电阻调整完毕信息后，控制所述可调光源发射一组光功率的光信号；其间，对于该组光信号中的每个光信号，所述光模块的光信号探测器探测接收该光信号后输出对应大小的响应电流，响应电流流经所述等效采样电阻，在所述等效采样电阻上产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，并将采样到的电压转换成数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值、以及所述等效采样电阻的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给所述RSSI值曲线拟合装置；

所述RSSI值曲线拟合装置的控制单元将接收的RSSI值与该光信号的光功率对应记录；

所述控制单元在得到一组对应记录的RSSI值和光功率后，拟合出所述光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到所述光模块的MCU中。

较佳地，所述光信号探测器与所述限幅放大器包括于所述光模块的激光接收单元中；以及所述激光接收单元还包括：连接于所述光信号探测器与所述限幅放大器之间的跨阻放大器TIA；以及

所述光信号探测器具体是APD（Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管）接收探测器，或者

所述光信号探测器具体是PIN（PIN photoelectric diode，PIN光电二极管）接收探测器。

较佳地，所述光模块还包括：激光发射单元和光路组件；

所述激光发射单元用于将电信号转换为光信号后输出；

所述光路组件用于将所述激光发射单元输出的光信号耦合进光纤进行传输；以及将从所述光纤传送过来的光信号耦合进所述激光接收单元。

本发明实施例的技术方案提供的RSSI值曲线拟合系统，在该系统的待拟合的光模块中设置两个以上不同阻值的采样电阻，各采样电阻不同的连接方式可以组合出不同阻值的等效采样电阻，以适应于不同光模块中不同光信号探测器的特性。从而使RSSI值曲线拟合系统在拟合不同光模块的RSSI值曲线过程中，降低了更换采样电阻的概率，提高了工作效率。

进一步，利用限幅放大器中内置电阻作为采样电阻，可以节省采样电阻的通断控制电路，既实现等效采样电阻的调整，又不增加额外的硬件电路；即在不增加硬件电路成本的前提下实现本发明的目的。

附图说明

图1为现有技术的RSSI值曲线拟合系统内部结构示意图；

图2a为本发明实施例的RSSI值曲线拟合系统的一种内部结构示意图；

图2b为本发明实施例的RSSI值曲线拟合系统的另一种内部结构示意图；

图2c为本发明实施例的RSSI值曲线拟合方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举出优选实施例，对本发明进一步详细说明。然而，需要说明的是，说明书中列出的许多细节仅仅是为了使读者对本发明的一个或多个方面有一个透彻的理解，即便没有这些特定的细节也可以实现本发明的这些方面。

本申请使用的“模块”、“系统”等术语旨在包括与计算机相关的实体，例如但不限于硬件、固件、软硬件组合、软件或者执行中的软件。例如，模块可以是，但并不仅限于：处理器上运行的进程、处理器、对象、可执行程序、执行的线程、程序和/或计算机。举例来说，计算设备上运行的应用程序和此计算设备都可以是模块。一个或多个模块可以位于执行中的一个进程和/或线程内，一个模块也可以位于一台计算机上和/或分布于两台或更多台计算机之间。

本发明的发明人考虑到，在光模块中设置两个或两个以上的采样电阻，并设置多个采样电阻之间的不同连接方式的机制，从而可以组合出不同阻值的等效采样电阻，以适应于不同光模块中不同光信号探测器的特性。从而在RSSI值曲线拟合过程中，一般不必进行采样电阻的更换工作，简化了光模块出厂前的RSSI值曲线拟合工作，提高了工作效率。

下面结合附图详细说明本发明实施例的技术方案。本发明实施例的光模块的RSSI值曲线拟合系统，如图2a所示，包括：RSSI值曲线拟合装置和待拟合的光模块。

其中，待拟合的光模块中包括：激光接收单元（图中未标）、ADC、MCU203以及采样电阻；

其中，激光接收单元是用于探测接收光信号，并将光信号转换为电信号后放大输出；其包括：光信号探测器201、跨阻放大器TIA（图中未标）、限幅放大器202；TIA连接于光信号探测器201与限幅放大器202之间。

ADC用以将输入端的电信号的模拟电压值转换为数字电压值；ADC的输入端与光信号探测器201的阴极相连接；其中，ADC可以是内置于MCU203中的ADC，也可以是内置于限幅放大器202中的ADC。例如，图2b所示，ADC为内置于限幅放大器202中的ADC。

其中，所述采样电阻为多个；较佳地，所述多个采样电阻具体包括：内置于限幅放大器202中的至少一个采样电阻，以及设置于限幅放大器202外的一个采样电阻；例如，图2a中第一采样电阻2021为内置于限幅放大器202中的采样电阻，第二采样电阻2022为设置于限幅放大器202外的采样电阻。

或者，所述多个采样电阻具体包括：内置于限幅放大器202中的至少两个采样电阻。例如，图2b所示，第一采样电阻2021和第二采样电阻2022为内置于限幅放大器202中的两个采样电阻。

MCU203与限幅放大器202通过总线（比如IIC总线或SPI总线）相连，MCU203通过向限幅放大器202发送电阻控制指令来控制限幅放大器202中的采样电阻的通断。

RSSI值曲线拟合装置中具体包括：可调光源和控制单元；其中，可调光源与待拟合的光模块中的光信号探测器光路相通；控制单元与待拟合的光模块中的MCU203电路相通。

进一步，上述的待拟合的光模块中还可包括：激光发射单元、光路组件。

光模块中的激光发射单元用于将电信号转换为光信号后输出；所述光路组件用于将所述激光发射单元输出的光信号耦合进光纤进行传输；以及将从所述光纤传送过来的光信号耦合进光模块中的激光接收单元。

对于待拟合的任一光模块，本发明实施例的RSSI值曲线的拟合方法，流程图如图2c所示，具体包括如下步骤：

S201：RSSI值曲线拟合装置向待拟合的光模块发送等效采样电阻调整指令。

具体的，RSSI值曲线拟合装置的控制单元向待拟合的光模块中的MCU203发送等效采样电阻调整指令。

S202：待拟合的光模块中的MCU203接收到等效采样电阻调整指令后，将等效采样电阻设置为默认阻值。

具体的，待拟合的光膜块中的MCU203接收到等效采样电阻调整指令后，控制多个采样电阻之间的连接方式为默认连接方式，从而使得多个采样电阻所构成的等效采样电阻的阻值为默认阻值。

例如，图2b中，MCU203接收到等效采样电阻调整指令后，通过总线向限幅放大器202发送电阻控制指令，控制限幅放大器202中的第一采样电阻2021、第二采样电阻2022与限幅放大器202的外接引脚的通断，使得第一电路导通，第二电路断开；其中第一电路指的是由第一采样电阻2021跨接于光信号探测器201的阴极与地之间的电路所构成；第二电路指的是由第二采样电阻2022跨接于光信号探测器201的阴极与地之间的电路所构成。从而得到的等效采样电阻为第一采样电阻2021，第一采样电阻2021的阻值为默认阻值。

S203：RSSI值曲线拟合装置发射特定光功率的光信号，经光纤传输到待拟合的光模块。

具体的，RSSI值曲线拟合装置的控制单元控制可调光源发射特定光功率的光信号，经光纤传输到待拟合的光模块的光信号探测器201中。较优的，特定光功率一般为中心点光功率。

其中，RSSI值曲线拟合装置中预先存储了一组光功率的功率值，该组功率值包括：中心点值；中心点值对应的光功率即为中心点光功率。

较优的，该组功率值还包括：上限值、下限值、和一个或一个以上其他值。

S204：待拟合的光模块中的光信号探测器201探测到中心点光功率的光信号后，输出相应的响应电流，流经等效采样电阻后产生电压压降。

S205：ADC对等效采样电阻上的电压进行采样，将采样的模拟电压转换为数字电压值。

具体的，该光模块的ADC对等效采样电阻上的模拟电压进行采样，将该模拟电压转换为数字电压值；

若ADC为内置于限幅放大器202中的ADC，则MCU203通过总线与限幅放大器202通信，获取ADC转换出的数字电压值；

若ADC为内置于MCU203中的ADC，则MCU203直接获取ADC转换出的数字电压值。

例如：等效采样电阻为第一采样电阻2021，则ADC转换出数字电压值A₁。

S206：MCU203根据数字电压值对本光模块中的等效采样电阻进行调整。

具体的，MCU203获取所述数字电压值后，判定该数字电压值是否在一个合适的范围内：

MCU203将该数字电压值与上限阈值进行比较，若该数字电压值大于上限阈值，则说明当前的默认阻值过大，需减小等效采样电阻的阻值；

MCU203将该数字电压值与下限阈值进行比较，若该数字电压值小于下限阈值，则说明当前的默认阻值太小，需增大等效采样电阻的阻值；

若该数字电压值在上、下限阈值之间，说明其在一个合适的范围内，不用对等效采样电阻的阻值进行调整。

MCU203在判定出需增大、或减小等效采样电阻的阻值后，可以通过调整多个采样电阻之间的连接方式来达到增大、或减小等效采样电阻的阻值的目的：

例如，对于上述等效采样电阻为第一采样电阻2021的情况，若MCU203在判定出需减小等效采样电阻的阻值，则MCU203调整采样电阻之间的连接方式为：MCU203通过发送电阻控制指令，控制限幅放大器202中的第一采样电阻2021、第二采样电阻2022与限幅放大器202的外接引脚的通断，使得第二电路导通；从而调整后得到的等效采样电阻为第一采样电阻2021与第二采样电阻2022的并联电阻，达到减小等效采样电阻的阻值的目的。

若MCU203在判定出需增加等效采样电阻的阻值，则MCU203调整采样电阻之间的连接方式为：MCU203通过发送电阻控制指令，控制限幅放大器202中的第一采样电阻2021、第二采样电阻2022与限幅放大器202的外接引脚的通断，使得第一电路断开，第二电路导通；从而调整后得到的等效采样电阻为第二采样电阻2022，而第二采样电阻2022的阻值大于第一采样电阻2021的阻值，以达到增加等效采样电阻的阻值的目的。

MCU203结束对本光模块中的等效采样电阻的调整后，向RSSI值曲线拟合装置返回等效采样电阻调整完毕信息。

S207：在等效采样电阻调整完毕后，进行该光模块的RSSI值曲线拟合。

具体的，RSSI值曲线拟合装置的控制单元在接收到光模块返回的等效采样电阻调整完毕信息后，可以开始该光模块的RSSI值曲线拟合：

RSSI值曲线拟合装置的控制单元控制可调光源发射一组光功率的光信号，通过光纤传输到待拟合光模块的光信号探测器201。针对该组光信号中的每个光信号，光信号探测器201探测接收该光信号并输出对应大小的响应电流，响应电流流经调整阻值后的等效采样电阻，在该等效采样电阻上产生电压压降；ADC在对该等效采样电阻上的电压进行采样，并将采样到的电压转换成数字电压值；MCU203获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值、以及等效采样电阻的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给RSSI值曲线拟合装置；RSSI值曲线拟合装置的控制单元将接收的RSSI值与该光信号的光功率对应记录。

在RSSI值曲线拟合装置的控制单元在得到一组对应记录的RSSI值和光功率后，拟合出该光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到MUC203中。

此外，步骤203与步骤201及步骤202没有明显的前后顺序，即步骤203可以出现在步骤201之前，也可以与步骤202互换。

本发明实施例的技术方案提供的RSSI值曲线拟合系统，在该系统的待拟合的光模块中设置两个以上不同阻值的采样电阻，各采样电阻不同的连接方式可以组合出不同阻值的等效采样电阻，以适应于不同光模块中不同光信号探测器的特性。从而使RSSI值曲线拟合系统在拟合不同光模块的RSSI值曲线过程中，降低了更换采样电阻的概率，提高了工作效率。

进一步，利用限幅放大器中内置电阻作为采样电阻，可以节省采样电阻的通断控制电路，既实现等效采样电阻的调整，又不增加额外的硬件电路；即在不增加硬件电路成本的前提下实现本发明的目的。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种RSSI值曲线拟合方法，其特征在于，包括：

RSSI值曲线拟合装置发射特定光功率的光信号，并向光模块发送等效采样电阻调整指令；所述光信号经光纤传输到所述光模块；所述光模块中的光信号探测器探测到光信号后，输出相应的响应电流，流经由所述光模块中的多个采样电阻所构成的等效采样电阻后产生电压压降；所述光模块中的ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，将采样到的模拟电压转换为数字电压值；

所述光模块中的MCU根据所述等效采样电阻调整指令进行如下操作：

所述MCU将所述光模块中的多个采样电阻之间的连接方式设置为默认连接方式后，使得所述等效采样电阻被设置为默认阻值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值；之后，向所述RSSI值曲线拟合装置返回等效采样电阻调整完毕信息；

所述RSSI值曲线拟合装置接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述RSSI值曲线拟合装置接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合具体包括：

所述RSSI值曲线拟合装置发射一组光功率的光信号，通过光纤传输到所述光模块；

对于该组光信号中的每个光信号，所述光信号探测器探测接收该光信号后输出对应大小的响应电流，响应电流流经所述等效采样电阻，在所述等效采样电阻上产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，并将采样到的电压转换成数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值、以及所述等效采样电阻的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给所述RSSI值曲线拟合装置；所述RSSI值曲线拟合装置将接收的RSSI值与该光信号的光功率对应记录；

在所述RSSI值曲线拟合装置得到一组对应记录的RSSI值和光功率后，拟合出所述光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到所述光模块的MCU中。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多个采样电阻中包括内置于所述限幅放大器中的两个或两个以上采样电阻；或者

所述多个采样电阻中包括：内置于所述限幅放大器中的一个或一个以上采样电阻，设置于所述限幅放大器之外的一个采样电阻。

4.如权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值，具体包括：

所述MCU将所述数字电压值与预先设定的上限阈值进行比较，若大于所述上限阈值，则减小所述等效采样电阻的阻值；

所述MCU将所述数字电压值与预先设定的下限阈值进行比较，若小于所述下限阈值，则增大所述等效采样电阻的阻值。

5.一种RSSI值曲线拟合系统，包括：RSSI值曲线拟合装置和光模块；

所述RSSI值曲线拟合装置用于发射特定光功率的光信号，并向光模块发送等效采样电阻调整指令；所述光信号经光纤传输到所述光模块；

所述光模块包括：光信号探测器、ADC、MCU和多个采样电阻；所述光信号探测器探测到光信号后，输出相应的响应电流，流经由所述光模块中的多个采样电阻所构成的等效采样电阻后产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，将采样到的模拟电压转换为数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述等效采样电阻调整指令进行如下操作：将所述多个采样电阻之间的连接方式设置为默认连接方式后，使得所述等效采样电阻被设置为默认阻值；根据所述数字电压值对所述多个采样电阻之间的连接方式进行调整，以调整所述等效采样电阻的阻值；之后，向所述RSSI值曲线拟合装置返回等效采样电阻调整完毕信息；

所述RSSI值曲线拟合装置还用于接收到所述等效采样电阻调整完毕信息后，对所述光模块进行RSSI值曲线拟合。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述多个采样电阻中包括内置于所述限幅放大器中的两个或两个以上采样电阻；或者

所述多个采样电阻中包括：内置于所述限幅放大器中的一个或一个以上采样电阻，设置于所述限幅放大器之外的一个采样电阻。

7.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述ADC内置于所述MCU中，或者内置于所述限幅放大器中。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述RSSI值曲线拟合装置中具体包括：可调光源和控制单元；

所述控制单元用于控制所述可调光源发射特定光功率的光信号，并向所述光模块的MCU发送等效采样电阻调整指令；并

在接收到所述光模块的MCU返回的等效采样电阻调整完毕信息后，控制所述可调光源发射一组光功率的光信号；其间，对于该组光信号中的每个光信号，所述光模块的光信号探测器探测接收该光信号后输出对应大小的响应电流，响应电流流经所述等效采样电阻，在所述等效采样电阻上产生电压压降；所述ADC对所述等效采样电阻上的电压进行采样，并将采样到的电压转换成数字电压值；所述MCU获取所述数字电压值后，根据所述数字电压值、以及所述等效采样电阻的阻值计算出RSSI值后，将计算出的RSSI值发送给所述RSSI值曲线拟合装置；

所述RSSI值曲线拟合装置的控制单元将接收的RSSI值与该光信号的光功率对应记录；

所述控制单元在得到一组对应记录的RSSI值和光功率后，拟合出所述光模块的RSSI值曲线，并将拟合出的RSSI值曲线保存到所述光模块的MCU中。

9.如权利要求5-8任一所述的系统，其特征在于，所述光信号探测器与所述限幅放大器包括于所述光模块的激光接收单元中；以及所述激光接收单元还包括：连接于所述光信号探测器与所述限幅放大器之间的跨阻放大器TIA；以及

所述光信号探测器具体是APD（Avalanche Photo Diode，雪崩光电二极管）接收探测器，或者

所述光信号探测器具体是PIN（PIN photoelectric diode，PIN光电二极管）接收探测器。

10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述光模块还包括：激光发射单元和光路组件；

所述激光发射单元用于将电信号转换为光信号后输出；

所述光路组件用于将所述激光发射单元输出的光信号耦合进光纤进行传输；以及将从所述光纤传送过来的光信号耦合进所述激光接收单元。

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