CN103256862A - 光电系统快速自校准用标准综合靶板和测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光电系统快速自校准用标准综合靶板及其测量方法，主要技术特点是，标准综合靶板包括基板、图案、基底、压圈，依次紧压封装在一个壳体内，图案由金属膜上刻蚀的三角形分布通孔阵列填充微纳米显示粉构成；标准综合靶板放置于被测光电系统的光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处)，光电系统瞄准标准综合靶板发射激光，标准综合靶板的图案反射激光光斑图像且瞬时辐射可见光、红外的激光光斑图像，被测光电系统接收并存储数字图像，计算数字图像中通孔及三角形互补阵列的几何中心和直线长度，与理论值比对获得光电系统的数字图像校正函数、分辨率、照射精度、跟踪角速度、跟踪精度参数。

Description

光电系统快速自校准用标准综合靶板和测量方法

本发明光电系统检测领域，主要涉及一种激光辐照致瞬时辐射高分辨率可见光图像和红外图像的标准综合靶板，尤其涉及一种具有金属膜上刻蚀孔阵且填充微纳米显示粉图案的标准综合靶板及其光电系统的校正函数、分辨率、照射精度、跟踪角速度、跟踪精度的快速测量方法。

背景技术

光电系统通常由光电传感器、稳定平台和控制与处理单元组成，光电传感器通常包括不同辐射波段的多个光学系统及其探测器；光电系统对不同辐射波段的目标实施周视探测和跟踪且输出数字图像，对这些数字图像和光电系统性能的快速校正、光轴校准和跟踪精度测量，需要标准综合靶板。

传统的对光电系统的像质评价方法是对不同辐射波段的光学系统分辐射波段进行像质评价，采用各自辐射波段对应材质的不同规格的多组标准靶板成像进行分析评价，标准靶板的图案采用不同粗细的条形线对纵横交错排布，评价时将标准靶板放置于光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处)进行测量，光学系统对不同粗细的条形线对逐个成像，根据视场中图像的条形线对清晰程度目视判断光学系统的分辨率，根据视场中图像的条形线对的笔直程度判断光学系统的形变，对光学系统进行调试修正；这种方法过程复杂，计算数据量大，光电系统快速维护受到限制，还有因测量人员的个体目视水平差异带来误差，且无法准确定量计算，测量结果无法直接用于对实测目标图像的校正；

传统的对光电系统的激光照射精度测量采用先瞄准十字靶板的十字线中心，再发射激光，然后用光斑跟踪仪测量激光光斑中心与靶板上十字线中心的偏差量，该偏差量除以光电系统到十字靶板的距离，获得照射精度，这种方法的测量结果包含了光电系统的瞄准误差，对操作人员的要求高；

传统的对光电系统的跟踪角速度测量采用对设定运动速度的目标瞄准且锁定跟踪，根据跟踪情况进行实测评价，这种测量方法对测量场地和目标速度有较高要求，很难快速对跟踪角速度进行测量；

专利号：ZL200710081409.0《多波段多光轴光电系统光轴校准用校轴靶》公开了一种基于光纤棒端面抗激光辐射的校准靶面，其特征在于光纤棒前端面均处在同一个平面内且径向紧邻构成靶面，在远离靶面一端各光纤棒之间的缝隙中填充显示粉。该专利适用于高功率密度高重复频率激光辐射的光电系统校准，对较弱功率激光辐照致瞬时红外辐射亮度不足。

国家发明专利申请号：2008102326185《载体光电系列动态自校准用校准方法和标准靶板》公开了一种由激光致瞬时发光、发热材料制成的圆孔与圆环阵列图案的标准靶板，该圆孔与环阵列图案适合目视判断，测量速度受到限制。

发明内容

本发明要解决的第一个技术问题是，针对光电系统数字图像的快速校正用标准靶板的不足，提供一种基于脉冲激光辐照致瞬时反射、辐射高分辨率可见光和红外图像的标准综合靶板。

本发明要解决的第二个技术问题是，针对光电系统数字图像快速校正方法的不足，提供一种基于标准综合靶板的数字图像校正函数、分辨率的测量方法。

本发明要解决的第三个技术问题是，针对光电系统激光照射精度、跟踪角速度、跟踪精度测量方法的不足，提供一种基于标准综合靶板的激光照射精度、跟踪角速度、跟踪精度的测量方法。

为解决上述技术问题，本发明提供的光电系统校正用标准综合靶板包括基板、图案、基底、压圈，依次紧压封装在一个壳体内，其特征在于：所述基板是激光、可见光、红外辐射透射的光学平板，所述图案由附着在基板上的金属膜层、微纳米显示粉组成，所述金属膜层是单层金属膜或多层金属膜，多层金属膜的熔点从紧靠基板逐渐降低且热导率逐渐增大，金属膜上刻蚀直径相同的圆形通孔阵列，相邻的圆形通孔中心构成正三角形，相邻圆形通孔之间的三角形区域金属膜将各个圆形通孔隔离，且三角形的角尖处逐渐变细且相互连接，构成图案的最细处，其线条的宽度w等于圆形通孔间距减去圆形通孔直径，该三角形区域构成对激光辐照反射激光图像和瞬时辐射红外图像的区域，所述微纳米显示粉填充在圆形通孔内，是对激光辐照转换成可见光的微纳米颗粒粉料，所述基底为金属平板，紧靠图案的一面为光面；所述壳体为一端有底的空心管，且底上有通孔；所述压圈与壳体固连；激光穿过基板辐照图案，图案中的三角形区域金属膜反射和吸收激光能量，吸收的激光能量使金属膜的温度迅速升高，同时辐射红外图像，微纳米显示粉吸收激光能量辐射可见光图像，紧压图案的基底光面上的微观结构顶端与图案的金属膜紧压，构成快速热传导通道，使金属膜受激光辐照导致温升的热量快速传导到基底上，红外辐射和热传导使金属膜的温度快速降低，红外辐射图像快速变化直至消失，实现激光光斑的瞬时辐射红外图像。

本发明还包括数字图像校正函数、分辨率测量方法，其测量步骤：

①将所述标准靶板放置在被测光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处)；

②光电系统的激光器发射激光照射标准靶板，激光穿过基板辐照图案，图案的三角形金属膜反射激光，形成由亮三角形和暗圆孔互补阵列构成的激光光斑图像，光电系统的激光接收器接收该图像；图案的三角形金属膜吸收激光，温度迅速升高，同时辐射由亮三角形和暗圆孔互补阵列构成的激光光斑的红外辐射图像，光电系统的红外热像仪接收该图像；微纳米显示粉吸收激光能量，辐射由亮圆孔和暗三角形互补阵列构成激光光斑的可见光辐射图像，光电系统的可见光电视接收该图像；

③光电系统接收的图像经数-模转换，变成数字图像并存储在计算机中；

④求取数字图像校正函数，以图像中的三角形阵列为样本，求取三角形阵列中每一个三角形的几何中心T(x_i，y_i)，i＝1，2，…，N，N是三角形的个数，计算相邻三角形几何中心的距离L_i1、L_i2、L_i3，并求出所有相邻三角形几何中心T(x_i，y_i)之间距离的平均值

依据对图像中所有三角形几何中心逐一进行校正，其中：i＝1，2，…，N，j＝1，2，3，对相邻三角形的几何中心T(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数r；以图像中的圆孔为样本，求取圆孔阵列中每一个圆孔的几何中心C(x_i，y_i)，i＝1，2，…，N，N是圆孔的个数，计算相邻圆孔几何中心的距离D_i1、D_i2、D_i3、D_i4、D_i5、D_i6，并求出所有相邻圆孔几何中心C(x_i，y_i)之间距离的平均值

依据

对图像中所有圆孔几何中心C(x_i，y_i)逐一进行校正，其中：i＝1，2，…，N，j＝1，2，3，4，5，6，对相邻圆孔的几何中心C(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数s；将数字图像校正函数r、校正函数s存储在计算机中，以备对光电系统实测图像校正时调用；

⑤在三角形阵列中画直线，求取最长直线L_max，计算α＝L_max/L，

其中L＝MAX(L_i1，L_i2，L_i3)；对标准综合靶板放置在平行光管的焦距为f焦平面上的情况，当

时，光电系统的分辨率优于标准综合靶板最细处线条宽度w，用弧度表述等于Θ＝w/f，当0＜α＜1时，根据通孔之间的三角形几何计算获得图像中三角形角尖处对应的金属膜的实际宽度d，用弧度表述的分辨率值等于Θ＝d/f；对标准综合靶板放置在远距离R处的情况，当

时，光电系统的分辨率优于标准综合靶板最细处线条宽度w，光电系统的分辨率用弧度表述Θ＝w/R，当0＜α＜1时，根据通孔之间的三角形几何计算获得图像中三角形角尖处对应的金属膜的实际宽度d，光电系统的分辨率用弧度表述的分辨率值Θ＝d/R。

本发明还包括光电系统激光照射精度测量方法，其测量步骤：

①～③与数字图像校正函数、分辨率测量相同；

④求取数字图像中激光光斑的几何中心坐标M(x，y)，通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上激光光斑的几何中心坐标M(x，y)与可见光电视和红外热像仪的瞄准线十字中心坐标之间的距离m，对标准综合靶板放置在平行光管的焦距为f焦平面上的情况，激光照射精度用弧度表述为β＝m/f，对标准综合靶板放置在远距离R处的情况，激光光轴与可见光电视和红外热像仪光轴的轴间距n，光电系统激光照射精度用弧度表述为β＝(m-n)/R。

本发明还包括光电系统跟踪角速度、跟踪精度测量方法，其测量步骤：

①将所述标准综合靶板放置在平行光管的焦平面附近，偏离焦平面距离为δ，δ远小于平行光管的焦距f，且δ随着被测光电系统的跟踪角速度增大而增加，或者标准综合靶板放置在远距离R处；

②光电系统瞄准标准综合靶板，开启稳定平台的随动开关，发射一列激光脉冲照射标准综合靶板，光电系统的可见光电视和红外热像仪接收每一个激光脉冲的激光光斑在标准综合靶板上的图像T_i，并记录每一个激光脉冲的发射时间t_i，接收图像经数-模转换，变成数字图像存储在计算机中；

③对图像T_i，通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上第i个激光光斑的几何中心坐标M(x_i，y_i)与可见光电视和红外热像仪的瞄准线十字中心坐标O(ξ_i，η_i)，对标准综合靶板放置在平行光管的焦平面附近，跟踪角速度

跟踪精度φ：

$\mathrm{\φ}=\frac{\sqrt{{({\mathrm{\ξ}}_{i+1}-x_i)}^2+{({\mathrm{\η}}_{i+1}-y_i)}^2}}{f}---\left(2\right)$

对标准综合靶板放置在远距离R处，跟踪角速度：

跟踪精度φ：

$\mathrm{\φ}=\frac{\sqrt{{({\mathrm{\ξ}}_{i+1}-x_i)}^2+{({\mathrm{\η}}_{i+1}-y_i)}^2}}{R}---\left(4\right)$

本发明的有益效果体现在以下几个方面。

(一)本发明中的标准综合靶板采用金属膜、微纳米显示粉构成图案和金属基底的紧压结构，金属膜单位面积内的质量小使得脉冲激光辐照产生热温升高，微纳米显示粉的团聚效应使得金属基底光面与金属膜紧密接触，热量快速传导，减小标准综合靶板表面红外辐射图像的滞留时间，增加了瞬时红外辐射亮度，实现对微弱激光辐照时标准综合靶板的红外辐射图像增强。

(二)本发明中的标准综合靶板采用金属膜刻蚀通孔填充微纳米显示粉构成图案，图案线条的精细制作工艺难度降低，通孔图案线条的边沿光滑，微纳米显示粉充分填塞通孔，使得可见光图像、红外辐射图像轮廓连续，可见光图像和红外辐射图像之间界线清晰，便于数字图像分析时的数据处理。

(三)本发明中的标准综合靶板采用相邻圆形通孔之间的三角形图形阵列，求取最长直线L_max的分辨率测量方法，剔出了图案硬边沿的衍射条纹对计算结果的影响，可实现全部程序判读，无需人工参与测量结果处理，提高了整个测量过程的速度，节约了光电系统分辨率的测量时间。

(四)本发明中的标准综合靶板采用相邻圆形通孔之间的三角形图形阵列，图案没有区域差别，能够实现光电系统的数字图像的全视场快速校正。

(五)本发明中采用对一列激光脉冲激光光斑图像的锁定跟踪，测量稳定平台跟踪速度，测量过程无需数据录入，可实现自动测量和数据处理。

附图说明

图1是本发明标准综合靶板的结构组成示意图。

图2是本发明的图案局部示意图。

图3是本发明光电系统数字图像校正方法示意图。

具体实施方式

下面结合附图1、图2、图3及优选实施例对本发明作进一步的详述。

优选实施例1：

根据图1所示，本发明优选实施例提供用于焦距为3m的平行光管的焦平面上的标准综合靶板，包括基板1、图案2、基底3、压圈4，依次紧压封装在一个壳体5内，其特征在于：所述基板1为激光、可见光、红外辐射透射的光学平板，本实施例优选碳化硅晶体平板，直径为8mm，厚度为300μm，所述图案2由附着在基板1上的多层金属膜21、纳米显示粉22组成；本实施例优选在基板1上先镀钨薄膜再镀金薄膜，根据图2、图3所示，金属膜21上采用光刻工艺刻蚀直径为10μm，孔间距为12μm的通孔阵列，相邻的通孔中心构成正三角形，相邻通孔之间的三角形区域金属膜21将各个通孔隔离，且三角形的角尖处逐渐变细且相互连接，构成图案2的最细处，其线条的宽度w为2μm，该三角形区域构成对激光辐照反射激光图像和瞬时辐射热图像的区域，所述微纳米显示粉22填充在通孔内，是对激光辐照转换成可见光的纳米粉料，本实施例微纳米显示粉22优选激光上转换材料，颗粒的粒径为300nm；所述基底3为金属平板，紧靠图案的一面为光面，选用直径为8mm黄铜平板，其光面的光洁度高于0.4级；所述壳体5为一端有底的空心管，且底上有通孔；所述压圈4与壳体5固连；激光穿过基板1辐照图案2，图案2中的三角形区域金属膜21反射和吸收激光能量，吸收的激光能量使金属膜21的温度迅速升高，同时辐射热图像，微纳米显示粉吸收激光能量辐射可见光图像，紧压图案2的基底3光面上的微观结构顶端与图案2的金属膜21构成快速热传导通道，使金属膜21受激光辐照导致温升的热量快速传导到基底3上，红外辐射和热传导使金属膜21的温度快速降低，红外辐射图像快速变化直至消失，实现激光光斑的瞬时辐射热图像。

本优选实施例数字图像校正函数、分辨率测量步骤如下：

①光电系统对准平行光管，瞄准标准综合靶板的中心区域，激光器发射激光经平行光管聚焦照射位于焦平面上的标准综合靶板；

②激光穿过基板1辐照图案2，图案2的三角形金属膜21反射激光，形成由亮三角形和暗圆孔阵列构成的激光光斑图像，光电系统的激光接收器接收该图像；图案2的三角形金属膜21吸收激光，温度迅速升高，同时辐射由亮三角形和暗圆孔阵列构成的激光光斑的红外辐射图像，光电系统的红外热像仪接收该图像；微纳米显示粉22吸收激光能量，辐射由亮圆孔和暗三角形互补阵列构成激光光斑的可见光辐射图像，光电系统的可见光电视接收该图像；

③光电系统接收的图像经数-模转换，变成数字图像并存储在计算机中；

④求取数字图像校正函数，以图像中的三角形阵列为样本，求取三角形阵列中每一个三角形的几何中心T(x_i，y_i)，计算相邻三角形几何中心的距离L_i1、L_i2、L_i3，并求出所有相邻三角形几何中心T(x_i，y_i)之间距离的平均值

依据

对图像中所有三角形几何中心逐一进行校正，对相邻三角形的几何中心T(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数r；以图像中的圆孔为样本，求取圆孔阵列中每一个圆孔的几何中心C(x_i，y_i)，计算相邻圆孔几何中心的距离D_i1、D_i2、D_i3、、D_i4、D_i5、D_i6，并求出所有相邻圆孔几何中心C(x_i，y_i)之间距离的平均值

依据对图像中所有圆孔几何中心C(x_i，y_i)逐一进行校正，对相邻圆孔的几何中心C(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数s；将数字图像校正函数r、校正函数s存储在计算机中，以备对光电系统实测图像校正时调用；

⑤在三角形阵列中画直线，求取最长直线L_max，计算α＝L_max/L，

其中L＝MAX(L_i1，L_i2，L_i3)，当时，光电系统的分辨率优于标准综合靶板最细处线条宽度w＝2μm，用弧度表述等于Θ＝w/f＝2μm/3m＝0.67μrad，当0＜α＜1时，根据通孔之间的三角形几何计算获得图像中三角形角尖处对应的标准综合靶板的金属膜的实际宽度d，用弧度表述的分辨率值等于Θ＝d/f＝d/3m。

本优选实施例光电系统激光照射精度测量步骤如下：

①～③与数字图像校正函数、分辨率测量相同；

④求取数字图像中激光光斑的几何中心坐标M(x，y)，通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上激光光斑的几何中心坐标M(x，y)与可见光电视和红外热像仪的数字图像瞄准线十字中心坐标之间的距离h，激光照射精度用弧度表述为β＝h/f＝h/3m。

本优选实施例光电系统跟踪角速度测量步骤如下：

①将所述标准综合靶板放置在平行光管的焦平面附近，偏离焦平面距离为δ＝6mm，δ远小于平行光管的焦距f＝3m；

②光电系统瞄准标准综合靶板，开启随动转塔的随动开关，发射一列激光脉冲照射标准综合靶板，光电系统的可见光电视和红外热像仪接收每一个激光脉冲的激光光斑在标准综合靶板上的图像T_i，并记录每一个激光脉冲的发射时间t_i，接收图像经数-模转换，接收图像经数-模转换，变成数字图像存储在计算机中；

③通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上激光光斑的几何中心坐标M(x，y)与可见光电视和红外热像仪的瞄准线十字中心坐标O(ξi，ηi)，跟踪角速度

跟踪精度φ：

$\mathrm{\φ}=\frac{\sqrt{{({\mathrm{\ξ}}_{i+1}-x_i)}^2+{({\mathrm{\η}}_{i+1}-y_i)}^2}}{3}---\left(6\right)$

优选实施例2：

根据图1所示，本发明优选实施例2提供用于放置于远距离100m的标准综合靶板，包括基板1、图案2、基底3、压圈4，依次紧压封装在一个壳体5内，其特征在于：所述基板1为激光、可见光、红外辐射透射的光学平板，本实施例优选蓝宝石平板玻璃，直径为150mm，厚度为3mm，所述图案2由附着在基板1上的金属膜层21、微纳米显示粉22组成；本实施例优选镀金薄膜材料，根据图2、图3所示，金属膜21上采用电镀工艺且刻蚀直径为6mm，孔间距为7mm的通孔阵列，相邻的通孔中心构成正三角形，相邻通孔之间的三角形区域金属膜21将各个通孔隔离，且三角形的角尖处逐渐变细且相互连接，构成图案2的最细处，其线条的宽度w为1mm，该三角形区域构成对激光辐照反射激光图像和瞬时辐射热图像的区域，所述微纳米显示粉22填充在通孔内，是对激光辐照转换成可见光的纳米粉料，本实施例微纳米显示粉22优选激光上转换材料，颗粒的粒径小于1μm；所述基底3为金属平板，紧靠图案的一面为光面，选用直径为150mm黄铜平板，其光面的光洁度高于0.4级；所述壳体5为一端有底的空心管，内径为150mm，且底上有通孔，孔径为140mm；所述压圈4与壳体5固连；激光穿过基板1辐照图案2，图案2中的三角形区域金属膜21反射和吸收激光能量，吸收的激光能量使金属膜21的温度迅速升高，同时辐射热图像，微纳米显示粉吸收激光能量辐射可见光图像，紧压图案2的基底3光面上的微观结构顶端与图案2的金属膜21构成快速热传导通道，使金属膜21受激光辐照导致温升的热量快速传导到基底3上，红外辐射和热传导使金属膜21的温度快速降低，红外辐射图像快速变化直至消失，实现激光光斑的瞬时辐射红外图像。

Claims (4)

1.一种标准综合靶板，包括基板(1)、图案(2)、基底(3)、压圈(4)，依次紧压封装在一个壳体(5)内，其特征在于：所述基板(1)是激光、可见光、红外辐射透射的光学平板，所述图案(2)由附着在基板(1)上的金属膜层(21)、微纳米显示粉(22)构成，所述金属膜层(21)是单层金属膜或多层金属膜，多层金属膜的熔点从紧靠基板(1)逐渐降低且热导率逐渐增大，所述金属膜(21)上刻蚀直径相同的通孔阵列，相邻的通孔中心构成正三角形，相邻通孔之间的三角形区域金属膜将各个通孔隔离，且三角形的角尖处逐渐变细且相互连接，构成图案(2)的最细处，其线条的宽度w等于通孔间距减去通孔直径，该三角形区域构成对激光辐照反射激光图像和瞬时辐射红外图像的区域，所述微纳米显示粉(22)填充在通孔内，是对激光辐照转换成可见光的微纳米粉料，所述基底(3)为金属平板，紧靠图案(2)的一面为光面；所述壳体(5)为一端有底的空心管，且底上有通孔；所述压圈(4)与壳体(5)固连；激光穿过基板(1)辐照图案(2)，图案(2)中的三角形区域金属膜(21)反射和吸收激光能量，吸收的激光能量使金属膜(21)的温度迅速升高，同时辐射红外图像，微纳米显示粉(22)吸收激光能量辐射可见光图像，紧压图案(2)的基底(3)光面上的微观结构顶端与图案(2)的金属膜(21)构成快速热传导通道，使金属膜(21)受激光辐照导致温升的热量快速传导到基底(3)上，红外辐射和热传导使金属膜(21)的温度快速降低，红外辐射图像快速变化直至消失，实现激光光斑的瞬时辐射红外图像。

2.一种光电系统数字图像校正函数、分辨率测量方法，其测量步骤：

①将所述标准综合靶板放置在被测光电系统的光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处)；

②光电系统的激光器发射激光照射标准综合靶板，激光穿过基板(1)辐照图案(2)，图案(2)的三角形金属膜(21)反射激光，形成由亮三角形和暗圆孔互补阵列构成的激光光斑图像，光电系统的激光接收器接收该图像；图案(2)的三角形金属膜(21)吸收激光，温度迅速升高，同时辐射由亮三角形和暗圆孔互补阵列构成的激光光斑的红外辐射图像，光电系统的红外热像仪接收该图像；微纳米显示粉(22)吸收激光能量，辐射由亮圆孔和暗三角形互补阵列构成激光光斑的可见光辐射图像，光电系统的可见光电视接收该图像；

③光电系统接收的图像经数-模转换，变成数字图像并存储在计算机中；

④求取数字图像校正函数，以图像中的三角形阵列为样本，求取三角形阵列中每一个三角形的几何中心T(x_i，y_i)，计算相邻三角形几何中心的距离L_i1、L_i2、L_i3，并求出所有的N个相邻三角形几何中心T(x_i，y_i)之间距离的平均值

依据

其中：i＝1，2，…，N，j＝1，2，3，对图像中所有三角形几何中心逐一进行校正，对相邻三角形的几何中心T(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数r；以图像中的圆孔为样本，求取圆孔阵列中每一个圆孔的几何中心C(x_i，y_i)，计算相邻圆孔几何中心的距离D_i1、D_i2、D_i3、D_i4、D_i5、D_i6，并求出所有的N个相邻圆孔几何中心C(x_i，y_i)之间距离的平均值依据

其中：i＝1，2，…，N，j＝1，2，3，4，5，6，对图像中所有圆孔几何中心C(x_i，y_i)逐一进行校正，对相邻圆孔的几何中心C(x_i，y_i)之间的像素的校正采用插值法，建立图像校正函数s；将数字图像校正函数r、校正函数s存储在计算机中，以备对光电系统实测图像校正时调用；

⑤在三角形阵列中画直线，求取最长直线L_max，计算α＝L_max/L，

其中L＝MAX(L_i1，L_i2，L_i3)；对标准综合靶板放置在平行光管的焦距为f焦平面上的情况，当

时，光电系统的分辨率优于标准综合靶板最细处线条宽度w，用弧度表述等于Θ＝w/f，当0＜α＜1时，根据通孔之间的三角形几何计算获得图像中三角形角尖处对应的金属膜(21)的实际宽度d，用弧度表述的分辨率值等于Θ＝d/f；对标准综合靶板放置在远距离R处的情况，当

时，光电系统的分辨率优于标准综合靶板最细处线条宽度w，光电系统的分辨率用弧度表述Θ＝w/R，当0＜α＜1时，根据通孔之间的三角形几何计算获得图像中三角形角尖处对应的金属膜的实际宽度d，光电系统的分辨率用弧度表述的分辨率值Θ＝d/R。

3.一种光电系统激光照射精度测量方法，其测量步骤：

①～③与权利要求2相同；

④求取数字图像中激光光斑的几何中心坐标M(x，y)，通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上激光光斑的几何中心坐标M(x，y)与可见光电视和红外热像仪的瞄准线十字中心坐标之间的距离m，对标准综合靶板放置在平行光管的焦距为f焦平面上的情况，激光照射精度用弧度表述为β＝m/f，对标准综合靶板放置在远距离R处的情况，激光光轴与可见光电视和红外热像仪光轴的轴间距n，光电系统激光照射精度用弧度表述为β＝(m-n)/R。

4.一种光电系统跟踪角速度、跟踪精度测量方法，其测量步骤：

①将所述标准综合靶板放置在平行光管的焦平面附近，偏离焦平面距离为δ，δ远小于平行光管的焦距f，且δ随着被测光电系统的跟踪角速度增大而增加，或者标准综合靶板放置在远距离R处；

②光电系统瞄准标准综合靶板，开启稳定平台的随动开关，发射一列激光脉冲照射标准综合靶板，光电系统的可见光电视和红外热像仪接收每一个激光脉冲的激光光斑在标准综合靶板上的图像T_i，并记录每一个激光脉冲的发射时间t_i，接收图像经数-模转换，变成数字图像存储在计算机中；

③通过标准综合靶板上通孔间距与数字图像中标准综合靶板的通孔间距的对应关系，测量标准综合靶板上激光光斑的几何中心坐标M(x_i，y_i)与可见光电视和红外热像仪的瞄准线十字中心坐标O(ξ_i，η_i)，对标准综合靶板放置在平行光管的焦平面附近，跟踪角速度

跟踪精度φ：

$\mathrm{\φ}=\frac{\sqrt{{({\mathrm{\ξ}}_{i+1}-x_i)}^2+{({\mathrm{\η}}_{i+1}-y_i)}^2}}{f}--\left(2\right)$

对标准综合靶板放置在远距离R处，跟踪角速度：

跟踪精度φ：

$\mathrm{\φ}=\frac{\sqrt{{({\mathrm{\ξ}}_{i+1}-x_i)}^2+{({\mathrm{\η}}_{i+1}-y_i)}^2}}{R}$

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