CN103246587B - android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法 - Google Patents

android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103246587B
CN103246587B CN201310139557.9A CN201310139557A CN103246587B CN 103246587 B CN103246587 B CN 103246587B CN 201310139557 A CN201310139557 A CN 201310139557A CN 103246587 B CN103246587 B CN 103246587B
Authority
CN
China
Prior art keywords
card
debugging
file
read
write node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201310139557.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103246587A (zh
Inventor
林涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rockchip Electronics Co Ltd
Original Assignee
Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd filed Critical Fuzhou Rockchip Electronics Co Ltd
Priority to CN201310139557.9A priority Critical patent/CN103246587B/zh
Publication of CN103246587A publication Critical patent/CN103246587A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103246587B publication Critical patent/CN103246587B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明提供一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,所述方法需提供一调试设备和带android平台的被调试设备,所述调试设备包括:指令输入模块、SD卡接口以及数据解析模块;所述被调试设备包括:数据存储模块、调试工具ADB、SD卡接口以及指令解析模块;通过将SD卡插入调试设备中获取调试命令后,再将SD卡拔出插入被调试设备中,被调试设备通过指令解析模块进行解析调试命令,并将解析后的调试命令发给调试工具ADB进行调试。本发明可以在现有的调试技术手段都失效的情况下,也能对android平台的被调试设备进行调试;且操作简单,调试效率快。

Description

android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法。
背景技术
目前几乎所有的Android平台的智能设备都配有SD卡设备,用户可以通过SD卡设备来拷贝文件、图像、音乐、视频等,实现信息资源的移动。在Android平台的智能设备中,当用户的Android平台设备发生故障的时候,需要用到Android平台自身的调试工具ADB(Android Debug Bridge),它是一个Android平台的后台程序,不断的查询接收到的调试命令和发送调试命令的结果,提供给维护人员分析和解决故障。标准的Android平台上的ADB支持USB接口连接调试(即PC机利用USB线和发生故障的Android平台设备进行连接,然后PC机发送调试命令给故障设备的ADB和故障设备的ADB发送系统日志给PC机,都使用USB总线来传输)。标准的Android平台上的ADB还支持利用WIFI来远程连接故障设备的ADB,进行调试(即故障设备和PC机都连接上网络,PC机利用网络发送调试命令给故障设备的ADB,故障设备的ADB也利用网络将系统日志发送给PC机)。这就存在这么一种情况:如果故障设备发生故障的部分就是USB总线和WIFI(即USB总线不能正常工作、WIFI不能正常连接上网络),那么作为调试人员该如何进行系统调试和故障分析呢?因此,本专利设计出一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,来解决这个问题。
现有技术中提供了“一种基于Android系统的终端测试的方法”,见公开号为:CN102917095A,公开日为:2013-02-06的中国专利,该发明用于解决现有在开发测试软件时,需要针对不同的芯片进行设计的问题。该发明实施例的方法包括:测试端通过ADB接口,与被测终端建立Socket连接;及通过建立的Socket连接,采用ADB接口支持的通信协议,与被测终端之间进行信令交互及数据传输。由于该发明测试端通过ADB接口与被测试终端之间建立Socket连接,在对基于不同硬件平台的被测试终端进行测试时,只要采用ADB接口支持的通信协议即可进行通信,而不需要针对不同的硬件平台开发不同的测试软件,减少了测试软件开发的重复性。但该发明是针对Android系统的终端测试兼容的问题,并非是针对Android系统中设备发生故障,通过新增其他途径来调用自身的调试工具ADB进行调试的方案。
发明内容
本发明要解决的技术问题,在于提供一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,可以在现有的调试技术手段都失效的情况下,对android平台的被调试设备进行调试。
本发明是这样实现的:一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,所述方法需提供一调试设备和带android平台的被调试设备,所述调试设备包括:指令输入模块、SD卡接口以及数据解析模块;所述被调试设备包括:数据存储模块、调试工具ADB、SD卡接口以及指令解析模块;该方法具体包括如下步骤:
步骤1、准备一SD卡,确认调试设备和被调试设备都能使用该卡;SD卡插入调试设备或者被调试设备中的SD卡接口后,调试设备或者被调试设备中均会出现多媒体存储卡mmc的读写节点;
步骤2、将SD卡插入调试设备,通过指令输入模块输入一需要调试的命令,指令输入模块创建一空的文件一,并将所述调试的命令存储在文件一中;
步骤3、指令输入模块通知调试设备的SD卡接口,利用所述读写节点发送所述文件一给SD卡,拔出该SD卡并插入被调试设备的SD卡接口;
步骤4、被调试设备的SD卡接口识别到SD卡插入后,利用产生的读写节点,接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中,通过指令解析模块从该文件一中提取调试命令;
步骤5、通过android平台系统的进程间通讯机制socket,将调试命令发送给调试工具ADB;
步骤6、调试工具ADB获取调试命令后,执行该调试命令,形成调试的系统日志,创建一个空文件二,并将系统日志存储在该空文件二中;
步骤7、数据存储模块将产生的含有系统日志的文件二利用所述读写节点发送给SD卡;拔出该SD卡并插入调试设备的SD卡接口;
步骤8、调试设备利用所述读写节点,接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中;
步骤9、数据解析模块从该文件二中提取出系统日志,进行解析得到调试结果。
本发明具有如下优点:本发明通过将SD卡插入调试设备中获取调试命令后,再将SD卡拔出插入被调试设备中,被调试设备通过指令解析模块进行解析调试命令,并将解析后的调试命令发给调试工具ADB进行调试。本发明可以在现有的调试技术手段都失效的情况下,也能对android平台的被调试设备进行调试;且操作简单,调试效率快。
附图说明
图1为本发明方法流程示意图。
图2为本发明原理框架图。
具体实施方式
请参阅图1和图2所示,本发明为一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,所述方法需提供一调试设备和带android平台的被调试设备,所述调试设备包括:指令输入模块、SD卡接口以及数据解析模块;所述被调试设备包括:数据存储模块、调试工具ADB、SD卡接口以及指令解析模块;该方法具体包括如下步骤:
步骤1、准备一SD卡,确认调试设备和被调试设备都能使用该卡;SD卡插入调试设备或者被调试设备中的SD卡接口后,调试设备或者被调试设备中均会出现多媒体存储卡mmc的读写节点;利用该读写节点可以从SD卡读取文件或者向SD卡存储文件;
步骤2、将SD卡插入调试设备,通过指令输入模块输入一需要调试的命令,指令输入模块创建一空的文件一,并将所述调试的命令存储在文件一中;
步骤3、指令输入模块通知调试设备的SD卡接口,利用所述读写节点发送所述文件一给SD卡,具体为:利用所述读写节点发送所述文件一,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令将文件一发送给SD卡;该53号命令是所带参数为向外写数据;拔出该SD卡并插入被调试设备的SD卡接口;
步骤4、被调试设备的SD卡接口识别到SD卡插入后,利用产生的读写节点,接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中,具体为:利用产生的读写节点接收SD卡中的文件一,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中;该53号命令是所带参数为从外读数据;通过指令解析模块从该文件一中提取调试命令;
步骤5、通过android平台系统的进程间通讯机制socket,将调试命令发送给调试工具ADB;
步骤6、调试工具ADB获取调试命令后,执行该调试命令,形成调试的系统日志,创建一个空文件二,并将系统日志存储在该空文件二中;
步骤7、数据存储模块将产生的含有系统日志的文件二利用所述读写节点发送给SD卡;具体为:利用所述读写节点发送所述文件二,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令将文件二发送给SD卡;该53号命令是所带参数为向外写数据;拔出该SD卡并插入调试设备的SD卡接口;
步骤8、调试设备利用所述读写节点,接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中;具体为:利用所述读写节点接收SD卡中的文件二,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中;该53号命令是所带参数为从外读数据;
步骤9、数据解析模块从该文件二中提取出系统日志,进行解析得到调试结果。
在本发明中,所述调试设备还包括数据显示模块,在所述步骤9之后还包括:步骤10、将调试结果通过所述数据显示模块逐条地进行显示,来完成一次调试任务。
其中,SD卡接口:负责将调试设备的调试命令拷贝到SD卡上,被调试设备的SD卡接口从该SD卡上获取到调试命令;并且,被调试设备将系统日志通过SD卡接口拷贝到SD卡上,以此将之拷贝给调试设备。
指令输入模块:用于调试人员的调试命令的输入。
指令解析模块:负责通过被调试设备的SD卡接口从SD卡中读取指令和执行从调试设备发送来的调试指令。
socket:操作系统中的进程间的通讯机制,是操作系统的必备组件;其负责设备内部各个模块之间的数据传递。
调试工具ADB:Android Debug Bridge,是Android平台内部标准的调试技术,负责接收调试命令,执行调试命令,获取调试结果,发送调试结果等操作。
数据存储模块:负责从被调试设备的调试工具ADB获取调试结果,并存储成文件。
数据解析模块:负责通过调试设备中的SD卡接口从SD卡中获取从被调试设备发送来的含有调试结果的文件(即上面提到的数据存储单元存储的文件),进行解析。
数据显示模块:负责在调试设备的屏幕上显示解析出来的、从被调试设备获取的调试结果。
总之,本发明可以在现有的调试技术手段都失效的情况下,也能对android平台的被调试设备进行调试;且操作简单,调试效率快。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (6)

1.一种android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:所述方法需提供一调试设备和带android平台的被调试设备,所述调试设备包括:指令输入模块、SD卡接口以及数据解析模块;所述被调试设备包括:数据存储模块、调试工具ADB、SD卡接口以及指令解析模块;该方法具体包括如下步骤:
步骤1、准备一SD卡,确认调试设备和被调试设备都能使用该卡;SD卡插入调试设备或者被调试设备中的SD卡接口后,调试设备或者被调试设备中均会出现多媒体存储卡mmc的读写节点;
步骤2、将SD卡插入调试设备,通过指令输入模块输入一需要调试的命令,指令输入模块创建一空的文件一,并将所述调试的命令存储在文件一中;
步骤3、指令输入模块通知调试设备的SD卡接口,利用所述读写节点发送所述文件一给SD卡,拔出该SD卡并插入被调试设备的SD卡接口;
步骤4、被调试设备的SD卡接口识别到SD卡插入后,利用产生的读写节点,接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中,通过指令解析模块从该文件一中提取调试命令;
步骤5、通过android平台系统的进程间通讯机制socket,将调试命令发送给调试工具ADB;
步骤6、调试工具ADB获取调试命令后,执行该调试命令,形成调试的系统日志,创建一个空文件二,并将系统日志存储在该空文件二中;
步骤7、数据存储模块将产生的含有系统日志的文件二利用所述读写节点发送给SD卡;拔出该SD卡并插入调试设备的SD卡接口;
步骤8、调试设备利用所述读写节点,接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中;
步骤9、数据解析模块从该文件二中提取出系统日志,进行解析得到调试结果。
2.根据权利要求1所述的android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:所述调试设备还包括数据显示模块,在所述步骤9之后还包括:步骤10、将调试结果通过所述数据显示模块逐条地进行显示,来完成一次调试任务。
3.根据权利要求1所述的android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:所述步骤3利用所述读写节点发送所述文件一给SD卡,具体为:利用所述读写节点发送所述文件一,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令将文件一发送给SD卡。
4.根据权利要求1所述的android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:所述步骤7利用所述读写节点发送所述文件二给SD卡,具体为:利用所述读写节点发送所述文件二,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令将文件二发送给SD卡。
5.根据权利要求1所述的android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:所述步骤4利用产生的读写节点,接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中,具体为:利用产生的读写节点接收SD卡中的文件一,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令接收SD卡中的文件一并保存到被调试设备的android平台系统中。
6.根据权利要求1所述的android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法,其特征在于:步骤8利用所述读写节点,接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中,具体为:利用所述读写节点接收SD卡中的文件二,则读写节点产生SD总线53号命令,通过53号命令接收SD卡中的文件二并保存到调试设备中。
CN201310139557.9A 2013-04-19 2013-04-19 android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法 Active CN103246587B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310139557.9A CN103246587B (zh) 2013-04-19 2013-04-19 android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310139557.9A CN103246587B (zh) 2013-04-19 2013-04-19 android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103246587A CN103246587A (zh) 2013-08-14
CN103246587B true CN103246587B (zh) 2014-12-10

Family

ID=48926117

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310139557.9A Active CN103246587B (zh) 2013-04-19 2013-04-19 android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103246587B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104468260A (zh) * 2014-11-13 2015-03-25 百度在线网络技术(北京)有限公司 一种移动终端设备的识别方法、装置及系统
CN105068895B (zh) * 2015-09-18 2018-01-26 四川效率源信息安全技术股份有限公司 一种针对Android设备的数据还原方法
CN109977013B (zh) * 2019-03-19 2022-06-17 深圳市腾讯信息技术有限公司 一种调试信息获取方法、系统及装置
CN110753363A (zh) * 2019-10-29 2020-02-04 乐鑫信息科技(上海)股份有限公司 一种智能设备无线调试系统和方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102541795A (zh) * 2012-01-09 2012-07-04 南京航空航天大学 基于Android系统的USB动态实时控制方法及其系统
CN102917095A (zh) * 2012-10-10 2013-02-06 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种基于Android系统的终端测试的方法及装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101161493B1 (ko) * 2010-01-18 2012-06-29 (주)쉬프트웍스 안드로이드 단말 플랫폼에서의 악성 코드와 위험 파일의 진단 방법
KR101027971B1 (ko) * 2010-12-10 2011-04-13 (주)헬릭스테크 애플리케이션 검사 가능한 이동통신 단말기 및 그 검사 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102541795A (zh) * 2012-01-09 2012-07-04 南京航空航天大学 基于Android系统的USB动态实时控制方法及其系统
CN102917095A (zh) * 2012-10-10 2013-02-06 青岛海信移动通信技术股份有限公司 一种基于Android系统的终端测试的方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN103246587A (zh) 2013-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103246586B (zh) android平台上利用USB存储设备进行ADB调试的方法
CN109302522B (zh) 测试方法、装置以及计算机系统和介质
CN111651366B (zh) Sdk测试方法、装置、设备及存储介质
CN103176924B (zh) 输出设备以及输出设备的日志信息收集方法
CN103269291B (zh) android平台上利用点对点射频设备进行ADB调试的方法
CN100442293C (zh) 合并硬件设计语言的原始档案与查验资料档案的方法
CN103246587B (zh) android平台上利用SD卡进行ADB调试的方法
CN104407980A (zh) 移动应用自动化测试装置和方法
CN103577313A (zh) 一种移动终端应用程序测试方法及装置
CN103516559A (zh) 一种智能终端应用兼容性测试方法及系统
CN109840209A (zh) 应用性能数据采集方法、终端、计算机设备及存储介质
CN112100081B (zh) 基于双芯智能电表的升级测试方法、装置和计算机设备
CN103376340A (zh) 一种转接板、多平台串行测试系统及方法
CN101923494B (zh) 一种存储器控制器验证系统、方法及记分板
CN103259697B (zh) android平台上利用UWB设备进行ADB调试的方法
CN117076337B (zh) 一种数据传输方法、装置、电子设备及可读存储介质
CN102455965A (zh) 电子装置测试系统及方法
CN103269293B (zh) android平台上利用微波通信设备进行调试工具ADB调试的方法
US20210124810A1 (en) Method of debugging hardware and firmware of data storage
CN103106140A (zh) 智能显示设备测试信息显示方法
CN103269292B (zh) 利用短距离微波通信设备进行调试工具adb调试的方法
CN113535578B (zh) 一种cts测试方法、装置及测试设备
CN113778774A (zh) 一种测试数据传输方法、装置,测试方法及通信模组
CN103870368A (zh) Sas扩展卡测试系统及方法
CN116820867B (zh) 一种芯片调试方法、装置及芯片

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee
CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 350000 Fuzhou Gulou District, Fujian, software Avenue, building 89, No. 18

Patentee after: FUZHOU ROCKCHIP ELECTRONICS CO., LTD.

Address before: 350000 Fuzhou Gulou District, Fujian, software Avenue, building 89, No. 18

Patentee before: Fuzhou Rockchip Semiconductor Co., Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 350000 building, No. 89, software Avenue, Gulou District, Fujian, Fuzhou 18, China

Patentee after: Ruixin Microelectronics Co., Ltd

Address before: 350000 building, No. 89, software Avenue, Gulou District, Fujian, Fuzhou 18, China

Patentee before: Fuzhou Rockchips Electronics Co.,Ltd.

CP01 Change in the name or title of a patent holder