CN103245844A - Cis器件电气故障分析测试方法及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统，其中，所述方法包括：将CIS器件置于测试机台，此时，测试机台向CIS器件提供光照；获取CIS器件中每个像素的亮度；根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；输出CIS器件中不合格像素的信息。通过直接输出CIS器件中不合格像素的信息，避免了现有技术中输出一包含合格像素与不合格像素信息的黑白照片，需要通过人力捕捉CIS器件中的不合格像素的问题。从而提高了CIS器件电气故障分析的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，特别涉及一种CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统。
背景技术
CIS(CMOS Image Sensor，CMOS图像传感器)器件在我们的日常生活中扮演着越来越重要的角色，其已成为移动电话、笔记本电脑、数码相机、数码摄像机等多种数码产品中的必备部件。而随着技术的发展，人们对数码产品中显示画面的质量要求也越来越高。为了得到高质量的显示画面，CIS器件中的像素数量变得越来越多，与此同时，每个像素的尺寸变得越来越小。由此，对于CIS器件的电气故障分析提出了越来越高的要求。
现有技术中，采用如下测试方法实现对CIS器件的电气故障分析，包括：将CIS器件置于测试机台上，此时，打开测试机台，使得测试机台能够向CIS器件提供光照；接着，获取光照之下的CIS器件的黑白照片。所述黑白照片显示了CIS器件中各像素的情况，例如，有的像素显示正常(合格)，有的像素由于缺陷而显示为一个暗点或者一个亮点(不合格)，通过CIS器件中各像素的情况，便可进行CIS器件的电气故障分析。
但是，该黑白照片是一张像素非常紧密且非常小的照片，通过裸眼(即只依靠人体的眼睛，而不通过任何辅助工具)是很难发现照片中各像素的缺陷的，即难以获取CIS器件中各像素的情况。为此，现有技术中通常采用窗口画图工具(windows paint too1)，对该黑白照片进行多次切割，然后将每次切割后的部分予以放大，观测放大后的部分中包含的像素的情况。
请参考图1a～1b，其中，图1a为光照之下的CIS器件的黑白照片的示意图；图1b为图1a中选中的部分(方框框起来的部分)的放大示意图。观测图1a中的黑白照片将难以发现CIS器件中存在缺陷的像素，而观测图1b中被放大的部分之后，将发现在该被放大的部分中具有三个有缺陷的像素，其中，一个为亮点缺陷，两个为暗点缺陷。
但是，通过该方法进行CIS器件的电气故障分析需要对CIS器件的黑白照片进行上百次切割，并将每一个切割后的部分予以放大、观测，这对于人力的消耗非常大。同时，如此操作所产生的误差也非常大，一来由于正常像素均显示在该黑白照片上，对于观测缺陷像素是一种干扰；二来操作人员在进行大量的切割及观测之后，往往发生切割误差或者错过对一些缺陷像素的捕捉。由此，降低了CIS器件电气故障分析的可靠性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统，以解决现有的CIS器件电气故障分析测试方法可靠性不高的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供一种CIS器件电气故障分析测试方法，包括：
将CIS器件置于测试机台，此时，测试机台向CIS器件提供光照；
获取CIS器件中每个像素的亮度；
根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
输出CIS器件中不合格像素的信息。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，所述不合格像素包括：亮度大于第一标准量或者亮度小于第二标准量的像素，其中，第一标准量大于第二标准量。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：输出CIS器件中不合格像素的数量。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：输出CIS器件中不合格像素的亮度。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：输出CIS器件中不合格像素的不合格类别。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，所述不合格类别包括：不合格类别“1”及不合格类别“0”，其中，不合格类别“1”为像素的亮度大于第一标准量；不合格类别“0”为像素的亮度小于第二标准量。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，输出CIS器件中不合格像素的信息还包括：输出CIS器件中不合格像素所在的坐标位置。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试方法中，在CIS器件中，以最左端最下方的像素所在的位置作为坐标原点。
本发明还提供一种CIS器件电气故障分析测试系统，包括：
测试机台，用以向CIS器件提供光照；
获取装置，用以获取CIS器件中每个像素的亮度；
判断装置，用以根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
输出装置，用以输出CIS器件中不合格像素的信息。
可选的，在所述的CIS器件电气故障分析测试系统中，还包括：坐标获取装置，用以获取CIS器件中像素所在的坐标位置。
在本发明提供的CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统中，通过直接输出CIS器件中不合格像素的信息，避免了现有技术中输出一包含合格像素与不合格像素信息的黑白照片，需要通过人力捕捉CIS器件中的不合格像素的问题，从而提高了CIS器件电气故障分析的可靠性。
附图说明
图1a是光照之下的CIS器件的黑白照片的示意图；
图1b是图1a中选中的部分(方框框起来的部分)的放大示意图；
图2是本发明实施例的CIS器件电气故障分析测试方法的流程示意图；
图3是本发明实施例的CIS器件电气故障分析测试系统的框结构示意图；
图4是本发明实施例的CIS器件中像素排布的示例示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图2，其为本发明实施例的CIS器件电气故障分析测试方法的流程示意图。如图2所示，所述CIS器件电气故障分析测试方法包括如下步骤：
S10：将CIS器件置于测试机台，此时，测试机台向CIS器件提供光照；
S20：获取CIS器件中每个像素的亮度；
S30：根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
S40：输出CIS器件中不合格像素的信息。
相应的，本实施例还提供了一种CIS器件电气故障分析测试系统。请参考图3，其为本发明实施例的CIS器件电气故障分析测试系统的框结构示意图。如图3所示，所述CIS器件电气故障分析测试系统包括：
测试机台10，用以向CIS器件提供光照；
获取装置20，用以获取CIS器件中每个像素的亮度；
判断装置30，用以根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
输出装置50，用以输出CIS器件中不合格像素的信息。
具体的，首先，利用测试机台10执行步骤S10：将待做电气故障分析的CIS器件置于测试机台10之上，所述测试机台10为现有的做电气故障分析的通用测试机台，将CIS器件置于测试机台10上之后，打开测试机台10，使得测试机台10能够向CIS器件提供光照。此为现有技术，本申请对此不再赘述，需说明的是，通过该测试机台10以向CIS器件提供光照，而该测试机台10的开启时间并不限定，即在将CIS器件置于测试机台10上之前，该测试机台10可以已经打开。
接着，本实施例不同于背景技术中所提供的技术方案的是：利用获取装置20获取CIS器件中每个像素的亮度，而并不是如背景技术中那样，直接获取光照之下的CIS器件的黑白照片。在此，可利用现有技术中任一一种方式获取CIS器件中每个像素的亮度，例如：辉度计等各种亮度测量设备，即所述获取装置20可以包括辉度计。
在获取CIS器件中每个像素的亮度之后，可利用判断装置30根据该每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素。例如，合格像素为亮度值位于第二标准量及第一标准量之间(即位于区间【第二标准量，第一标准量】内)的值，则亮度大于第一标准量或者亮度小于第二标准量的像素，便可认为其为不合格像素，其中，第一标准量大于第二标准量。假设，第二标准量为100流明，第一标准量为140流明，则亮度小于100流明或者亮度大于140流明的像素即判定为不合格像素。
当然，根据对CIS器件的不同要求，该第一标准量及第二标准量可以为其他数值。此外，还可以进一步引入其他参考量，例如，还有第三标准量及第四标准量，其中，第四标准量小于第三标准量，第三标准量小于第二标准量，第二标准量小于第一标准量，而只有亮度值位于第四标准量及第三标准量之间的，以及亮度值位于第二标准量及第一标准量之间的像素是合格像素。关于合格像素与不合格像素的判定要求，可具体根据实际设定，本申请对比不做限定。
在此，所述判断装置30可包括一比较器，通过每个像素的亮度与判断装置30中预设的参考量进行比较，便可得到CIS器件中的不合格像素。当然，还可通过其他方式实现对于CIS器件中的不合格像素的判定，本申请对此不再赘述。
在获取CIS器件中的不合格像素之后，便可利用输出装置50直接输出CIS器件中不合格像素的信息。所述不合格像素的信息可包括：不合格像素的数量，例如，测试得知，一共有三个像素为不合格像素，则可直接输出不合格像素数量为三。进一步的，通过该信息(不合格像素数量为三)，分析人员便可进行电气故障分析，此为现有技术，且不是本申请的重点，本申请的重点在于得到不合格像素的信息，使得分析人员能够根据这些合格像素的信息方便的进行电气故障分析。因此，对于分析人员如何利用不合格像素的信息进行电气故障分析的内容，本申请不多介绍。
此外，所述不合格像素的信息还可以包括：每个不合格像素的亮度。例如，以前述的亮度小于100流明或者亮度大于140流明的像素即判定为不合格像素的判定标准，设有三个不合格像素，则所述输出装置50还可输出该三个像素的亮度，例如：该三个像素的亮度分别为75流明，85流明，155流明，则输出75流明，85流明，155流明。
输出每个不合格像素的具体亮度，可便于分析人员具体分析电气故障的产生原因，但是，若有大量不合格像素存在的情况下，往往也会显得不够清楚。因此，在本实施例中，也可按照判定标准对于不合格像素予以分类，输出不合格像素的信息包括其所在的不合格类别。在此，将不合格像素分成不合格类别“1”及不合格类别“0”，其中，不合格类别“1”为像素的亮度大于第一标准量；不合格类别“0”为像素的亮度小于第二标准量。由此，在输出不合格像素的信息时，直接输出“1”和“0”，从而可便于分析人员观察。进一步的，可输出“1”和“0”的数量，以前述三个不合格像素为例，可输出两个“1”及一个“0”，以进一步便于分析人员观察。
在本实施例中，输出CIS器件中不合格像素的信息还可进一步包括：输出CIS器件中不合格像素所在的坐标位置。具体的，所述CIS器件电气故障分析测试系统还可包括坐标获取装置40，利用该坐标获取装置40获取CIS器件中像素所在的坐标位置，在此，只获取不合格像素所在的坐标位置即可。在CIS器件中，以最左端最下方的像素所在的位置作为坐标原点。
具体的，请参考图4，其为本发明实施例的CIS器件中像素排布的示例示意图。如图4所示，在此，示出了5*5(即25)个像素，包括：A1-A5、B1-B5、C1-C5、D1-D5、E1-E5，在实际器件中，可包括更多个像素，例如VGA(VideoGraphics Array，视频图形阵列)产品中，包括480*640个像素。在此，以像素A1所在的位置为坐标原点，即像素A1的坐标为(0，0)，易知，像素A2的坐标为(1，0)，像素B1的坐标为(1，0)，即像素A2～像素E5的坐标都可根据像素A1的坐标确定下来。
假设，得到像素C2的亮度为85流明，则可输出(1，2)“0”，根据该输出信息，分析人员便可得知像素C2的亮度小于第二标准量，由此，可方便的据此进行电气故障分析。
通过上述CIS器件电气故障分析测试方法及测试系统，可直接输出CIS器件中不合格像素的信息，避免了现有技术中输出一包含合格像素与不合格像素信息的黑白照片，需要通过人力捕捉CIS器件中的不合格像素的问题。从而便于电气故障分析人员获取不合格像素的信息，进一步的提高了CIS器件电气故障分析的可靠性。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述，并非对本发明范围的任何限定，本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
Claims (10)
1.一种CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，包括：
将CIS器件置于测试机台，此时，测试机台向CIS器件提供光照；
获取CIS器件中每个像素的亮度；
根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
输出CIS器件中不合格像素的信息。
2.如权利要求1所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，所述不合格像素包括：亮度大于第一标准量或者亮度小于第二标准量的像素，其中，第一标准量大于第二标准量。
3.如权利要求2所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：
输出CIS器件中不合格像素的数量。
4.如权利要求2所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：
输出CIS器件中不合格像素的亮度。
5.如权利要求2所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，输出CIS器件中不合格像素的信息包括：
输出CIS器件中不合格像素的不合格类别。
6.如权利要求5所述的CIS器件电器故障分析测试方法，其特征在于，所述不合格类别包括：不合格类别“1”及不合格类别“0”，其中，
不合格类别“1”为像素的亮度大于第一标准量；
不合格类别“0”为像素的亮度小于第二标准量。
7.如权利要求1至6中的任一项所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，输出CIS器件中不合格像素的信息还包括：
输出CIS器件中不合格像素所在的坐标位置。
8.如权利要求7所述的CIS器件电气故障分析测试方法，其特征在于，在CIS器件中，以最左端最下方的像素所在的位置作为坐标原点。
9.一种CIS器件电气故障分析测试系统，其特征在于，包括：
测试机台，用以向CIS器件提供光照；
获取装置，用以获取CIS器件中每个像素的亮度；
判断装置，用以根据CIS器件中每个像素的亮度信息，得到CIS器件中的不合格像素；
输出装置，用以输出CIS器件中不合格像素的信息。
10.如权利要求9所述的CIS器件电气故障分析测试系统，其特征在于，还包括：
坐标获取装置，用以获取CIS器件中像素所在的坐标位置。
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