CN103163453B - 核电站继电器的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明适用于电力设备在线数字化状态检测与监控技术,同时也属于百万千瓦级核电站关键技术领域,提供了一种核电站继电器的检测方法。所述方法包括:根据核电站继电器所处的状态进行检测,所述继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态;根据检测的结果处理继电器。本发明实施例通过针对不同状态的继电器进行检测,评估继电器的可靠性,降低机组跳机跳堆的风险,提高核电站运行的安全可靠性。

Description

核电站继电器的检测方法
技术领域
本发明属于电力设备在线数字化状态检测与监控技术,同时也属于百万千瓦级核电站关键技术领域,尤其涉及核电站继电器的检测方法。
背景技术
电力设备状态检测与监控技术是核电站的关键技术,在核电站中,通过开发老化测试方法、维修测试方法来建立核电站控制设备检测的技术平台,包括建立核电站板件的老化、维修测试平台,以便将状态检测与监控技术应用于核电站仪控系统中电路板件的老化测试、维修测试领域,从而实现核电站控制设备/板件的老化诊断/测试管理,提高核电站运行设备和备件的可靠性检测维修水平,提升机组的安全运行。
在电力生产运行领域中,继电器的机械电气参数的检测是一重要环节,继电器可根据结构特征、用途、触点负载、外形尺寸以及防护特征进行分类。在根据继电器的结构特征分类时,可将继电器分为机电继电器、混合继电器和固体继电器三类。根据核电站设备管理和对设备运行可靠性的要求,可将继电器分为A类继电器、B类继电器、C类继电器。其中A类继电器是指与核安全相关和单一故障导致停机停堆或机组需要停机停堆处理的设备,在A类继电器中又细分为A1类和A2类,该A1类继电器指A类继电器中常励磁的继电器,A2类继电器指A类继电器中不常励磁的继电器;B类继电器是指与质量相关的重要设备,在B类继电器中又细分为B1类和B2类,该B1类继电器指B类继电器中常励磁的继电器,B2类继电器指B类继电器中不常励磁的继电器;C类继电器是指无质保要求的一般设备。
在核电站的逻辑控制和保护系统中需要使用很多继电器。电磁继电器是机电式的控制元件,其自身的结构特点和生产制造工艺导致电磁继电器的整体质量水平偏差,其使用的可靠性远远低于其他电子器件。
目前,对继电器缺少有效的检测手段,对在线继电器的老化缺少相应的诊断设备和方法,因此难以准确判断继电器的性能,对核电站的安全运行造成一定的风险。
发明内容
本发明实施例提供了一种核电站继电器的检测方法,该方法能够准确检测出继电器的性能,提前发现继电器的缺陷,降低机组跳机跳堆的风险。
本发明实施例是这样实现的,一种核电站继电器的检测方法,所述方法包括:
根据核电站继电器所处的状态进行检测,所述继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态;
根据检测的结果处理继电器。
本发明实施例中,根据继电器所处的不同状态选择相应的检测方法检测该继电器,并根据检测的结果处理该继电器。通过针对不同状态的继电器进行检测,评估继电器的可靠性,降低机组跳机跳堆的风险,提高核电站运行的安全可靠性。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的核电站继电器的检测方法的流程图;
图2是本发明第二实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于备件前状态的继电器的流程图;
图3是本发明第二实施例提供的另一种核电站继电器的检测方法在检测处于备件前状态的继电器的流程图;
图4是本发明第三实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于使用前状态的继电器的流程图;
图5是本发明第三实施例提供的另一种核电站继电器的检测方法在检测处于使用前状态的继电器的流程图;
图6是本发明第四实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于运行中状态的继电器的流程图;
图7是本发明第四实施例提供的另一种核电站继电器的检测方法在检测处于运行中状态的继电器的流程图;
图8是本发明第五实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于故障状态或老化状态的继电器的流程图;
图9是本发明第五实施例提供的另一种核电站继电器的检测方法在检测处于故障状态或老化状态的继电器的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例中,根据继电器所处的不同状态选择相应的检测方法检测该继电器,并根据检测的结果处理该继电器。其中,继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态。
本发明实施例提供了一种:核电站继电器拷机检测系统和方法。
所述方法包括:根据核电站继电器所处的状态进行检测,所述继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态;
根据检测的结果处理继电器。
本发明实施例中,根据继电器所处的不同状态选择相应的检测方法检测该继电器,并根据检测的结果处理该继电器。通过针对不同状态的继电器进行检测,评估继电器的可靠性,降低机组跳机跳堆的风险,提高核电站运行的安全可靠性。
为了说明本发明所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
实施例一:
图1示出了本发明第一实施例提供的核电站继电器的检测方法的流程图,详述如下。
步骤S11,根据核电站继电器所处的状态进行检测,其中继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态。
步骤S12,根据检测的结果处理继电器。
在核电站中,当新购进一批新的继电器之后,需要对该新的继电器进行全面的检查,以判断该新的继电器是否适合作为核电站的新备件;当核电站使用继电器的新备件或者使用经过维修后的继电器更换运行中的继电器之前,需要再次对继电器的新备件或者经过维修后的继电器进行检测,以保证更换后的继电器的可靠性;当继电器在核电站中运行一定周期之后,为了防止继电器突发故障造成机组的跳机跳堆,也需要定期对仍在运行使用中的继电器进行检测;当继电器发生故障或者需要分析继电器的老化状态时,同样需要对继电器进行检测。
本发明第一实施例中,根据继电器所处的不同状态选择相应的检测方法检测该继电器,并根据检测的结果处理该继电器,比如在继电器通过检测时,如何处理该继电器,在继电器没有通过检测时,又如何处理该继电器等,通过针对不同状态的继电器进行检测,评估继电器的可靠性,降低机组跳机跳堆的风险,提高核电站运行的安全可靠性。
实施例二:
图2示出了本发明第二实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于备件前状态的继电器的流程图,详述如下。
步骤S21,采用放大镜或显微镜对处于核电站备件前状态的继电器进行外观检测。
本实施例中,首先对新采购的继电器进行外观检测,具体地,可采用目测或放大镜或显微镜检测该继电器,若继电器不存在虚焊、空焊等现象,则表明该继电器通过外观检测,否则,表明该继电器没有通过外观检测,并不再对没有通过外观检测的继电器执行后续的检测,从而提高继电器检测效率。
步骤S22,对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
其中,对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压的步骤具体为:
A1、对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
A2、将检测获取的继电器的性能参数分别与预存储的继电器的合格参数比较,若检测获取的性能参数与预存储的合格参数的差值在预设参数合格范围内,则判定检测的继电器通过无损检测,否则,判定检测的继电器没有通过无损检测。
本实施例中,根据核电站的实际要求检测继电器的性能参数,比如检测该继电器的绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压等,若获取的上述继电器性能参数与预存储的合格参数的差值在预设参数合格范围内,则判定检测的继电器通过无损检测。
步骤S23,对通过无损检测的继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流。
其中,对通过无损检测的继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流的步骤具体为:
B1、判断进行无损检测的同一批次继电器的性能参数是否全部合格。
B2、在同一批次继电器的性能参数全部合格时,对该同一批次继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流。
B3、在同一批次继电器的性能参数不是全部合格时,确定该同一批次继电器通过无损检测的合格率,并在无损检测的合格率在预设合格率范围内时,对该同一批次继电器进行抽样有损检测。
本实施例中,对新购进的一批继电器进行无损检测,当检测的一批继电器全部通过无损检测时,再对通过无损检测的继电器进行抽样有损检测;当检测的一批继电器没有全部通过无损检测时,将没有通过无损检测的继电器标记为故障继电器,并确定该批次继电器通过无损检测的继电器的合格率。将确定的合格率与预设合格率范围比较,若该确定的合格率在预设合格率范围内时,对该批次继电器进行抽样有损检测。
作为本发明一优选实施例,在检测处于备件前状态的继电器时,还包括步骤B4:将无损检测的合格率不在预设合格率范围内的同一批次继电器标记为批次不合格。
步骤S24,根据检测的结果处理继电器。
其中,根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
C1、判断继电器是否通过抽样有损检测。
C2、将与通过抽样有损检测同一批次的继电器标记为核电站的新备件。
C3、将与抽样有损检测不合格的同一批次的继电器标记为批次不合格。
本实施例中,当新购进的继电器通过外观检测、无损检测以及抽样有损检测之后,将与通过上述测试同一批次的继电器标记为核电站的新备件,将与没有通过有损检测的同一批次的继电器标记为批次不合格。其中,包括B1、B2、B3、B4、C1、C2、C3的检测步骤具体如图3所示。
在本发明第二实施例中,通过对新购进的批次继电器执行外观检测、无损检测以及抽样有损检测来检测该批次继电器的性能参数、可靠性等,以提前发现该新购进继电器的早期质量缺陷,降低核电站的运行风险。
实施例三:
图4示出了本发明第三实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于使用前状态的继电器的流程图,本实施例中,若将经过实施例二的检测方法检测后的备件使用在核电站之前,或者将故障维修后的继电器重新使用在核电站之前,还需进行本实施例三描述的检测,详述如下。
步骤S41,对处于使用前状态的继电器进行第一次无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
本实施例中,对将在核电站中使用的继电器进行第一次无损检测,获取该继电器的各项性能参数,以便判断该继电器的各项性能参数是否仍符合核电站的运行要求。
步骤S42,对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压。
其中,对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压的步骤具体为:
D1、判断继电器是否通过第一次无损检测。
D2、在继电器通过第一次无损检测时,对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压。
D3、在继电器没有通过第一次无损检测时,将该继电器标记为故障继电器。
D4、将获取的继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压分别与预存储的继电器的合格接触电阻和合格开路电压比较。
D5、当继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压与预存储的合格接触电阻和合格开路电压的差都在预设的拷机合格范围内,则判定检测的继电器通过长时间励磁拷机检测,否则将没有通过长时间励磁拷机检测的继电器标记为故障继电器。
本实施例中,对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,并获取继电器在拷机期间的接触电阻和开路电压,根据获取的多个接触电阻和开路电压判断继电器的稳定性,以确保用在核电站现场的继电器是合格的。
步骤S43,对通过长时间励磁拷机检测的继电器进行第二次无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
本实施例中,若继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压符合要求之后,再对该继电器进行第二次无损检测,以获取该无损检测对应的性能参数。
步骤S44,根据检测的结果处理继电器。
其中,根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
E1、判断继电器是否通过第二次无损检测。
E2、将通过第二次无损检测的继电器标记为可在核电站现场使用的继电器。
E3、将没有通过第二次无损检测的继电器标记为故障继电器。
其中,包括D1、D2、D3、D4、D5、E1、E2、E3的检测步骤具体如图5所示。
实施例四:
图6示出了本发明第四实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于运行中状态的继电器的流程图,本实施例中,定期对正在核电站运行中的继电器进行检测,详述如下:
步骤S61,采用放大镜或显微镜对处于核电站运行中状态的继电器进行外观检测。
本实施例中,对运行中的继电器进行外观检测,查找运行中的继电器是否存在明显的故障。
步骤S62,对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
步骤S63,根据检测的结果处理继电器。
其中,根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
F1、判断继电器是否通过无损检测。
F2、将通过无损检测的继电器标记为合格继电器,并继续在核电站运行。
F3、将没有通过无损检测的继电器标记为故障继电器。
本实施例中,包括步骤F1、F2、F3的检测方法具体如图7所示。
在本发明第四实施例中,对核电站中运行的继电器分别进行外观检测、无损检测,以判断该运行中的继电器是否仍可以使用,通过定期对运行中的继电器执行上述检测,能够有效评估现场继电器使用的可靠性,降低机组跳机跳堆的风险。
实施例五:
图8示出了本发明第五实施例提供的核电站继电器的检测方法在检测处于故障状态或老化状态的继电器的流程图,本实施例中,通过检测发生故障或老化的继电器的外观、性能参数等来分析继电器的故障原因和老化程度,详述如下:
步骤S81,采用放大镜或显微镜对处于核电站故障状态或老化状态的继电器进行外观检测。
步骤S82,对外观检测后的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,该继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压。
本实施例中,无论继电器是否通过外观测试都对继电器进行无损检测。
步骤S83,对无损检测后的继电器进行有损检测,以获取继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流。
本实施例中,对发生故障或老化的继电器进行外观检测、无损检测后,再对上述继电器进行有损检测,以获取有损测试对应的参数。
步骤S84,根据检测的结果处理继电器。
本实施例中,根据检测的结果处理继电器主要是根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因和判断继电器的老化状态。
其中,根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因和判断继电器的老化状态的步骤具体为:
G1、根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因,以及获取继电器出现外观故障的概率或出现绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压故障的概率或出现动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性、中等电流故障的概率。
G2、将外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数描点绘制曲线,根据绘制曲线的趋势判断继电器的老化程度。
本实施例中,包括G1、G2的检测方法具体如图9所示。
在本发明第五实施例中,获取发生故障或老化情况的继电器的外观参数、无损检测对应的性能参数以及有损检测对应的参数,将上述获取的几种类型参数与预存储的标准参数比较,从而判断继电器发生故障的位置,并且,通过将获取的几种类型参数描点绘制曲线,根据绘制曲线的趋势能够评估继电器的老化程度和可靠性,提早发现继电器的缺陷,降低机组跳机跳堆的风险。
实施例六:
为了更清楚地说明获取继电器各项测试参数的过程,下面以获取继电器的触点粘结、机械寿命、触点寿命、动作可靠性、线圈耐久性、中等电流等参数为例进行说明。
1、获取触点粘接参数:
本实施例主要测试继电器在120%的额定电压、触点不加负载且激励第一预设时间后的释放时间。
本实施例中,在继电器线圈加120%的额定电压且触点不加负载的情况下激励第一预设时间,在激励第一预设时间内,若继电器不受机械扰动,将线圈去激励并测量继电器的释放时间,若获取的释放时间符合规定,则被测继电器通过触点粘结试验。其中,本实施例的第一预设时间可以为96小时。
2、获取机械寿命参数:
本实施例主要测试继电器循环第一预设循环阈值之后,绝缘电阻的阻值、介质耐电压的电压值、动作时间以及释放时间。
本实施例中,对继电器按规定进行试验,每个触点负载10~50μA,10~50mV(直流或交流峰值),在每次循环周期的(50±10)%的时间内线圈应以额定电压激励。若在循环第一预设循环阈值期间及其后,没有机械或电气失效,则测试绝缘电阻的阻值、介质耐电压的电压值、动作时间以及释放时间。其中,第一预设循环阈值最小为被测继电器所规定的最大动作时间和释放时间之和的10倍;若测试的继电器为自保持继电器,则第一预设循环阈值最小为10乘以2倍动作时间。进一步地,该第一预设循环阈值可取为1×106次。
本实施例中,在检测的绝缘电阻和介质耐电压不超过规定的极限值、动作时间和释放时间不超过规定极限值的120%,并且在循环期间及其后,没有机械或电气失效时,判定被测继电器通过机械寿命试验。其中,连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一次失效;对带有二极管的继电器,若二极管失效,则该继电器也构成一次失效。
3、获取触点寿命参数:
本实施例主要获取继电器在触点接通时的电阻值和触点断开时的电阻值。
本实施例中,在以下环境下检测继电器的电阻值:对继电器按适用的规定加负载循环第二预设循环阈值次,每一个继电器的所有触点均加相同的负载,所加的负载可以为阻性负载、感性负载、灯负载以及低电平负载的至少一种负载,该第二预设循环阈值可取为105次,当然也可以取其他数值,此处不作限定;继电器线圈的激励与交流负载的电源不同步;每个继电器的外壳单独通过一通用熔断器与核电站继电器拷机检测系统的接地端相连接,外壳对地的熔断器应保持电气连接,熔断器的额定值取100mA和负载电流的5%的最大值;试验箱内的环境温度为继电器的最高环境温度。在每次继电器触点“接通”和“断开”的至少40%时间内获取继电器在接通时的电阻值和断开时的电阻值,当继电器循环之后的静态接触电阻值小于规定的初始接触电阻值的两倍且没有机械或电气失效时,判定被测继电器通过触点寿命试验。其中,继电器触点熔接,接通、承载或断开负载失效或连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一次失效,带有二极管的继电器,当其二极管失效时同样构成该继电器失效。
当然,继电器在触点接通时的电阻值和触点断开时的电阻值,也可通过继电器在触点接通时的电压值和触点断开时的电压值计算获取。
本实施例中,在每次继电器触点“接通”和“断开”的至少40%时间内获取继电器在触点接通时的电压值和触点断开时的电压值。若在循环过程中,监测触点失效监测仪的低电平小于100Ω,高电平小于开路电压的5%,循环过程后,断开触点间的电压应不小于循环开始前继电器触点断开时电压的95%,并且没有机械或电气失效时,判定被测继电器通过触点寿命试验。其中,继电器触点熔接,接通、承载或断开负载失效或连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一次失效,带有二极管的继电器,当其二极管失效时同样构成该继电器失效。当激励或去激励失效时,核电站继电器拷机检测系统能自动使继电器保持失效状态并断开触点电压。
下面对继电器增加阻性负载或感性负载或灯负载或低电平负载来测试触点寿命作进一步介绍:
(1)阻性负载:
本实施例中,采用合适的无感电阻器作为继电器的阻性负载,该无感电阻器的循环速率为20±2次/分,电流为规定的额定阻性电流。
(2)感性负载:
本实施例中,采用合适的感性负载元件作为继电器的感性负载,该感性负载元件的循环速率为20±2次/分,接通时间和关断时间大致相等。通入该感性负载元件的电流为额定电流,为了使通入感性负载元件的电流为额定稳态电流,可在电路中接入一个合适的电阻器。
(3)灯负载:
本实施例中,采用灯或模拟负载作为继电器的灯负载,若无其他规定,在进行灯负载试验时,电源电压采用28Vdc。
若采用灯作为继电器的灯负载,则该灯最小的初始冷态浪涌电流达到12倍的额定灯负载,总的接通时间为2±0.05s,总的关断时间为7±2s;若采用模拟负载作为继电器的灯负载,则该模拟负载应使继电器能闭合12倍额定灯负载电流,断开额定的灯负载电流。进行该试验时,12倍浪涌电流的持续时间为0.015~0.020s,总的接通时间为5±0.05s,总的关断时间亦为5±0.05s。
(4)低电平负载:
继电器低电平负载时,循环时间最少应为该继电器所规定的最大动作时间和释放时间之和的10倍;而对于自保持继电器,循环时间最少应为10乘以2倍动作时间。在每次循环周期的(50±10)%的时间内,以额定电压激励线圈,继电器每个触点的负载的直流或交流峰值为10~50μA,10~50mV。
4、获取动作可靠性参数:
本实施例中主要获取继电器的绝缘电阻、接触电阻以及开路电压。
比如获取继电器线圈去激励以及以140%的额定电压激励时继电器所有触点引出端与外壳间的绝缘电阻。
本实施例中,继电器线圈去激励后,在15℃-25℃温度下至少保持30分钟,观察并测量继电器所有触点引出端与外壳间的绝缘电阻;继电器线圈以140%的额定电压(或电流)激励2.5分钟。在此期间内,测量各触点引出端与外壳间的绝缘电阻,至少每30s核查1次。本实施例中,若继电器的最小绝缘电阻数值都不小于10000MΩ,则该继电器的最小绝缘电阻符合要求。
比如获取继电器以预设的最大循环速率循环运行过程中的接触电阻和开路电压。
本实施例中,继电器的负载条件为低电平负载,当然,若有其他规定,继电器的负载条件也可以相应改变,此处不作限定。在室温25℃左右,以额定电压或额定电流激励线圈,测量继电器以预设的最大循环速率循环一定次数以后的接触电阻和开路电压,比如测量继电器循环5000次后的接触电阻和开路电压。其中,预设的最大循环速率为继电器每秒循环的次数,通常情况下,
预设的最大循环速率=0.1/(最大动作时间+最大释放时间);
若为自保持继电器,则,
预设的最大循环速率=0.1/(2*最大自保持动作或复归时间)。
本实施例中,若在继电器循环时,触点失效检测仪中的接触电阻不大于100Ω,断开触点间的电压不小于开路电压的95%,并且继电器的最小绝缘电阻测量值也不小于10000MΩ,则判定该继电器通过动作可靠性筛选试验。
5、获取线圈耐久性参数:
本实施例主要获取继电器在最高环境温度以4±0.4s接通,2±0.2s断开的循环速率运行第二预设时间后的电阻或电流。
本实施例中,第二预设时间可为114小时,当然也可以为其他时间,比如大于114小时的时间,此处不作限定,对自保持继电器,第二预设时间应在两个线圈上平均分配。本实施例在测量继电器的电阻或测量继电器的电流之前,按规定测量继电器线圈的电阻或继电器线圈的电流,当所得的电阻值或电流值符合规定后,按规定安装继电器,连接继电器每个触点的引出端,再调节试验箱的温度,使其保持在继电器可运行的最高环境温度,并对继电器线圈加最大电压,使继电器以4±0.4s接通,2±0.2s断开的循环速率运行第二预设时间后,测量继电器线圈的电阻或测量继电器线圈的电流,若获得的电阻或电流符合规定,则判定该继电器通过线圈耐久性试验。
6、获取中等电流参数:
本实施例主要获取线圈在激励电压为额定电压,继电器触点负载为100mA、28Vdc且继电器在最高额定温度以10±2次/分的循环速率运行第三预设循环阈值时,触点至少40%闭合时间内的接触电阻和触点断开40%内的开路电压。
本实施例中,第三预设循环阈值可以为5×104,当然,也可以为其他数值,此处不作限定。继电器线圈的激励电压为该继电器的额定激励电压,触点负载为100mA、28Vdc,在该继电器的最高额定温度下,继电器以10±2次/分的循环速率运行第三预设循环阈值次。在10±2次/分的循环速率下,对非保持继电器,线圈接通时间至少为每次循环时间的75%;对自保持继电器,在每一状态下应停留大约一半的循环时间,每个线圈的激励时间至少为每次停留时间的75%。在本实施例的继电器循环过程中,若测量的闭合触点的接触电阻不大于3Ω,断开触点间的电压(开路电压)不小于所加负载电压的95%或者循环后在室温下测量的静态接触电阻(或根据开路电压确定)没有超过规定的极限值,则判定该继电器通过中等电流试验。当然,判定合格的继电器在进行中等电流试验的过程中,没有机械或电气失效,比如触点熔接,接通、承载或断开负载失效或连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效以及二极管的失效等。进一步地,在存在其他特殊规定的情况下,闭合触点的接触电阻也可以为其他值,此处不作限定。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
根据核电站继电器所处的状态进行检测,所述继电器所处的状态包括作为备件前状态、作为使用前状态、作为运行中状态、以及作为故障状态或老化状态;
根据检测的结果处理继电器;
其中,检测处于作为备件前状态的继电器的步骤具体为:
采用放大镜或显微镜对处于作为核电站备件前状态的继电器进行外观检测;
对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
对通过无损检测的继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流。
2.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压的步骤具体为:
对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
将检测获取的继电器的性能参数分别与预存储的继电器的合格参数比较,若检测获取的性能参数与预存储的合格参数的差值在预设参数合格范围内,则判定检测的继电器通过无损检测,否则,判定检测的继电器没有通过无损检测。
3.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述对通过无损检测的继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流的步骤具体为:
判断进行无损检测的同一批次继电器的性能参数是否全部合格;
在同一批次继电器的性能参数全部合格时,对所述同一批次继电器进行抽样有损检测,以获取抽样检测的继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流;
在同一批次继电器的性能参数不是全部合格时,确定所述同一批次继电器通过无损检测的合格率,并在无损检测的合格率在预设合格率范围内时,对所述同一批次继电器进行抽样有损检测。
4.如权利要求3所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,
将无损检测的合格率不在预设合格率范围内的同一批次继电器标记为批次不合格。
5.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
判断继电器是否通过抽样有损检测;
将与通过抽样有损检测同一批次的继电器标记为核电站的新备件;
将与抽样有损检测不合格的同一批次的继电器标记为批次不合格。
6.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,检测处于作为使用前状态的继电器的步骤具体为:
对处于作为使用前状态的继电器进行第一次无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压;
对通过长时间励磁拷机检测的继电器进行第二次无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
根据检测的结果处理继电器。
7.如权利要求6所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压的步骤具体为:
判断继电器是否通过第一次无损检测;
对通过第一次无损检测的继电器进行长时间励磁拷机检测,以获取继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压;
将没有通过第一次无损检测的继电器标记为故障继电器;
将获取的继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压分别与预存储的继电器的合格接触电阻和合格开路电压比较,若继电器在励磁期间的接触电阻和开路电压与预存储的合格接触电阻和合格开路电压的差都在预设的拷机合格范围内,则判定检测的继电器通过长时间励磁拷机检测,否则标记检测的继电器为故障继电器。
8.如权利要求6所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
判断继电器是否通过第二次无损检测;
将通过第二次无损检测的继电器标记为核电站现场使用的继电器;
将没有通过第二次无损检测的继电器标记为故障继电器。
9.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,检测处于作为运行中状态的继电器的步骤具体为:
采用放大镜或显微镜对处于作为核电站运行中状态的继电器进行外观检测;
对通过外观检测的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
根据检测的结果处理继电器。
10.如权利要求9所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
判断继电器是否通过无损检测;
将通过无损检测的继电器标记为合格继电器,并继续在核电站运行;
将没有通过无损检测的继电器标记为故障继电器。
11.如权利要求1所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,检测处于作为故障状态或老化状态的继电器的步骤具体为:
采用放大镜或显微镜对处于作为核电站故障状态或老化状态的继电器进行外观检测;
对外观检测后的继电器进行无损检测,以获取继电器的性能参数,所述继电器的性能参数包括绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压;
对无损检测后的继电器进行有损检测,以获取继电器的动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性以及中等电流;
根据检测的结果处理继电器。
12.如权利要求11所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述根据检测的结果处理继电器的步骤具体为:
根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因和判断继电器的老化状态。
13.如权利要求12所述的核电站继电器的检测方法,其特征在于,所述根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因和判断继电器的老化状态的步骤具体为:
根据外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数判断继电器故障的原因,以及获取继电器出现外观故障的概率或出现绕组电阻、吸合电压、释放电压、触点电阻、触点动作时间、触点释放时间、触点同步时间、触点回跳时间、触点稳定时间、转换功能、中位筛选、绝缘电阻、介质耐电压故障的概率或出现动作可靠性、触点粘结、电气寿命、机械寿命、线圈耐久性、中等电流故障的概率;
将外观检测获取的参数、无损检测获取的参数以及有损检测获取的参数描点绘制曲线,根据绘制曲线的趋势判断继电器的老化程度。
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