CN103115897B - 一种读取测试载体上测试结果的设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种读取测试载体上测试结果的设备，包括测试载体；三个发光元件，发出光并照射到测试载体上对应的区上；三个光检测器，用于检测从所述测试载体上对应的区上发出的光。本发明的读取设备包括发光元件与光检测器一一对应的结构，使得检测更专一，从而使该设备检测的准确度和精确度进一步增加，同时，采取可卸载的形式，使该设备能进行多次的检测，增加设备利用率并使操作者更容易操作。

Description

一种读取测试载体上测试结果的设备

技术领域

本发明公开的主题涉及读取被化验对象测量值的设备。特别地，其涉及电子读数器，与使用光学测量方法的化验试片一起使用。

背景技术

目前市场上可以买到多种适于家庭使用对化验物进行测试的分析设备。Unipath就在CLEARBLUE®商标名下出售一种适合测量怀孕荷尔蒙人体绒膜（hCG）的横流免疫测定设备，该设备在EP291194中公开。

具体地，EP291194公开了一种免疫测定设备，包括：一个多孔渗水的测试载体，该载体包含用于一种化验物的微粒标记的特定结合试剂，在潮湿状态下，该试剂可以自由移动；和一种用于同一化验物的不带标记的特定结合试剂，该试剂固定在所述不带标记的特定粘合试剂下游的检测区或测试区中。怀疑含有所述化验物的液态样本施加到所述多孔渗水的载体，在其上该化验物与所述微粒标记的特定结合试剂作用，形成一种化验物-结合的复合体。所述微粒标记是有色的，通常是金色或染色聚合体，例如，乳胶或聚亚安脂。所述复合体随后移入检测区，在检测区与所述固定的不带标记的特定结合试剂构成另一种复合体，使得所述化验物的存在范围被检测或观察到。

将电子读出器与测试载体，例如分析测试条，结合起来用以检测流体样品中分析物的浓度和/或量是公知技术，例如中国专利200410045273.4；200410045275.3；200410063910.0所描述的那样。一般的，从光源如发光二极管发出的光照射测试条，并用光检测器检测反射光或透射光。典型地是，该读出器至少含有一个发光二极管，并且每一个发光二极管都设有相应的光检测器。

以上公开的装置以及具体的产品实施来看，这些设备中，测试条和读取设备都事先被组装固定在一起，测试条和读取设备之间的位置在生产，运输，销售和测试，以及测试结束后都处于一个相对固定的状态，他们之间没有任何的改变。这样的结构目前主要运用到早孕检测中，使用者只需要把尿液淋在测试装置的吸水片上，就直接可以等待测试的结果。随着消费者对这类产品的不断需求，希望在所有其它的检测中运用到这样的检测，这就需要提供一些不同的读取设备来满足日益增长的市场需要。比如：需要一个设备能够进行多个样本的检测，或者，测试结果更精确等等。

发明内容

一些传统的利用光学检测的装置通常利用一个发光元件来照射测试载体上多个区域，以及利用一个光检测器对应测试一个以上需要检测光线，比如，一个发光元件照射一个以上的测试区域，一个光检测器检测多个区域发出的光线，或者，一个光检测器检测由多个发光元件发出的光线等等。这样，会存在各个需要检测的区域之间的数据交叉和/或干扰的情况，从而出现检测反应慢或结果不精确的情况，甚至有检测结果不准确的情况。

为了解决以上一些问题，本发明提供一种读取测试载体上测试结果的设备，它包括测试载体；三个发光元件，发出光并照射到测试载体上对应的区上；三个光检测器，用于检测从所述测试载体上对应的区上发出的光。

本发明中，设置有三个发光元件和三个光检测器，这三个发光元件发出的光照射测试载体上对应的区域，即一个发光元件发出的光只照射一个与发光元件相对应的区域，这样可以保证该区域上入射光线的强度，从而使该区域上利用光线显示的检测信息更为精确；并且测试载体上的其他区域不会受到该发光元件发出的光干扰。并且，三个光检测器检测对应的区域上的光线，即一个光检测器只接收一个对应的区域上发出的光线，这样可以使光检测器不受其他地方或其他区域的光线干扰，能够更多的和更准确的接收到来自对应的区域上的光线，从而保证光检测器读取该区域上的检测结果的精确性和灵敏性。总的来说，提升了本发明读取设备的检测精确度和灵敏度。

一个优选的实施方式中，三个发光元件和三个光检测器为一一对应关系。具体的来说，一个发光元件与一个光检测器对应可提高检测的灵敏度。

三个发光元件与三个光检测器分别一一对应，即一个发光元件对应一个光检测器，也即一个发光元件发出的光线最终由一个专门的光检测器来检测，即提供了专门的元件来进行对应的检测，会提高检测的灵敏度和精确度。

一个实施方式中，测试载体包括测试区，参比区和控制区。具体的方式中，三个发光元件分别与测试载体上的三个区域对应；并且，三个光检测器也分别与测试载体上的三个区域相对应。更具体的实施方式中，第一发光元件发出的光照射到测试载体的测试区，并且第一光检测器与第一发光元件对应，检测来自测试区的光线。以及另一实施方式中，第二发光元件发出的光照射到测试载体的参比区，并且第二光检测器与第二发光元件对应，检测来自参比区的光线。及第三发光元件发出的光照射到测试载体的控制区，并且第三光检测器与第三发光元件对应，检测来自控制区的光线。

另一实施方式中，三个光检测器分列于三个发光元件的两侧。具体的实施例中，三个发光元件位于一条直线上，三个光检测器分别位于发光元件的两侧，更具体的，第一和第三光检测器位于一侧，第二光检测器位于另一侧。光检测器分列于发光元件两侧，可以使每个光检测器之间保持一定的距离，并且能保证每一个光检测器与发光元件距离最近，避免了光检测器接收到别的发光元件的光而产生干扰，影响检测读数的准确性和精确性。

更具体的实施方式中，一一对应的发光元件与光检测器之间包括另一挡光部件，该另一挡光部件将一一对应的发光元件与光检测器分隔。该另一挡光元件能够阻挡发光元件的光直接照射到光检测器，即减少光检测器直接接受到无数据信息的光线，避免对光检测器读取测试载体上的数据的影响。

一个实施方式中，该测试载体与发光元件和光检测器以可卸载的形式配合。具体的，发光元件和光检测器位于本发明读取设备上，该设备与测试载体为可卸载的形式配合。“可卸载”在这里可以是，当还没有进行检测的时候，可以让测试载体和发光元件和光检测器（读取设备）分开，当需要检测的时候，让测试载体与发光元件和光检测器（读取设备）结合，结合的时间可以是测试载体被施加样本前或之后，让读取设备读取测试载体上的测试结果。或者，“可卸载”的形式还可以是，当检测完成后，还可以从包含有发光元件和光检测器的读取设备上分离出测试载体，进行针对相同样本或不同样本的下一个测试载体上测试结果的读取。这样让发光元件和光检测器的读取设备可以连续多次读取测试载体上的结果，更加节约成本和有利于环境保护。甚至，可以使用该可卸载的设备检测样本中不同的物质。

一个实施方式中，该读取设备包括光路导通结构，该光路导通结构让发光元件发出的光能够照射到测试载体的特定的区上，同时让测试载体上的特定的区中发出的光能够被光检测器接收。

光路导通结构能够使得测试载体的某个或某些区域和发光元件及光检测器在一个相对封闭的空间里，在这个空间外的光线无法进入该空间内；并且该空间内的光线也只能在该空间内传输，能够使该空间内的光线更充分的得到有效利用，并且使测试载体的某一或某些区域能最优化（最大量的）的接收到发光元件的光线，尽量减少光线照射到其他区域；并且，从测试载体上发出（反射）的光也能够充分被光检测器接收；同时，该光路导通结构能够充分的避免镜面反射。即该光路导通结构能够使发光元件发出的光有一定的光路通道，并使光检测器接收的光线有一定的范围；也即能够使发光元件发出的光被阻挡在一定的区域中，比如，在测试载体的测试区域上；并且，使得光检测器能够只接收到测试载体上发出的光。

一个具体的实施方式中，光路导通结构为三个。更具体的实施例中，每个光路导通结构内包括一个发光元件，一个光检测器和测试载体上一个对应的区。具体来说，第一发光元件，测试载体的测试区域和第一光检测器位于一个光路导通结构内；第二发光元件，测试载体的参比区域和第二光检测器位于另一个光路导通结构内；第三发光元件，测试载体的控制区域和第三光检测器位于第三个光路导通结构内。

为了配合发光元件和光检测器与测试载体的可卸载形式，一个实施方式中，每个光路导通结构分为两部分，两部分之间以可卸载的形式配合。具体来说，每个光路导通元件的一部分位于设备上，另一部分位于测试载体上。

一个优选的实施方式中，测试载体位于一个壳体中，所述的每个光路导通结构的另一部分位于该壳体上。

测试载体与带有发光元件和光检测器的设备为可卸载式配合时，其优点是可以利用设备测试多个测试载体上的样本，更方便操作。但也要考虑一些问题：首先希望先前的测试条不要对后来的测试条造成任何污染，另外也希望在插入过程中避免设备上的一些机械部件造成对测试载体结构的损害；以及对经过精密处理预先处理在载体上的一些的化学试剂造成损害或丧失功能，因为这些破坏会造成测试结果的无效或者不准确。同时，希望载体和读取设备的配合位置相对固定，而且相互配合精密，这样才可能不影响最终所读取的结果，这样读取的结果更加准确，同时采用不同的测试载体对同一样本进行多次测试的时候，获得的结果更加一致，而误差被控制在可接受范围内。在测试载体增加一个壳体，就可以避免上述的这些问题。当带有壳体的测试载体与检测设备接插时，原先由测试载体与设备直接相接触变更为测试载体上的壳体与设备直接接触。壳体直接与检测设备接触，不影响位于壳体内部的测试载体，同时，也避免了测试载体的样本会接触到检测设备，不会影响下一个测试载体的检测。因此，在测试载体上增加一个壳体，在该可卸载的设备中是非常必要的，不但使该设备使用寿命增加，还可以增加检测的准确性和精确性。更进一步的，原来位于测试载体上的光路导通结构的另一部分变更为位于该壳体上。该壳体上的光路导通结构与位于设备上的光路导通结构为可卸载式配合，当带有壳体的测试载体插入设备中，两部分的光路导通结构配合将测试载体的某个区域围合在光路导通结构内，使其不受到外界光线的照射，并使其内部的光线只能在内部传输，增加光线的利用。

一个优选的实施方式中，在每一个光路导通结构中，位于设备上的光路导通结构邻近光检测器的面为坡面；位于壳体上的光路导通结构邻近光检测器的面为垂直面。该邻近光检测器的壳体上的光路导通结构由通常的坡面改为垂直面，能够避免发光元件发出的光直接照射到原先的该壳体上的光路导通结构的坡面上后形成的镜面反射；同时光线照射到现在的垂直面上后，经过反射，光线到达测试载体上的需要照射的区域，从而增加了该光路导通结构内的光线反射到测试载体上的光线数量和强度，能够进一步提高测试载体上测试区域的结果显示效果。

另一个优选的实施方式中，在每一个光路导通结构中，所述邻近发光元件的光路导通结构的两部分不在同一垂直面上，位于壳体上的部分比位于设备上的部分远离发光元件。当发光元件发出光线后，会有部分光线发射到该光路导通结构的各个面上，并进行反射。邻近发光元件的面也会接收到光线并进行反射，并且反射的光线大多数会直接照射到光检测器上，而壳体上的光路导通结构更远离发光元件后，在测试载体和设备上光路导通结构之间形成一个凹槽，当发光元件发出的光线到达凹槽后，会经凹槽侧壁反射到测试载体上，这样，既减少了未照射到测试载体上的光直接反射到光检测器上，同时又增加光线入射到测试载体上。

有益效果

本发明的读取设备包括发光元件与光检测器一一对应的结构，使得检测更专一，从而使该设备检测的准确度和精确度进一步增加，同时，采取可卸载的形式，使该设备能进行多次的检测，增加设备利用率并使操作者更容易操作。

附图说明

图1为一个实施方式中读取设备光学结构（光路导通结构）剖面结构示意图；

图2为本发明另一个实施方式中读取设备的光学结构（光路导通结构）剖面结构示意图；

图3为本发明另一个优选实施方式中读取设备的光学结构（光路导通结构）剖面结构示意图；

图4为本发明一个实施方式中读取设备的爆炸结构示意图以及包括有测试载体的壳体的立体结构示意图；

图5为本发明一个实施方式中壳体的俯视结构示意图；

图6为本发明一个实施方式的包含挡光元件的读取设备的仰视结构示意图；

图7为本发明的一个具体实施方式中读取设备在与壳体组合时的一个立体结构示意图（不包括测试载体和壳体的下部分）（从上方看）；

图8为本发明的一个具体实施方式中读取设备在与壳体组合时的另一立体结构示意图（不包括测试载体和壳体的下部分）（从下方看）；

图9为本发明的一个具体实施方式中读取设备在与壳体组合时的仰视结构示意图（不包括测试载体和壳体的下部分）；

图10为包括有挡光元件的读取设备的部分放大结构俯视示意图；

图11为图7中的A-A`的纵剖面结构示意图（不包括测试载体和壳体的下部分）；

图12为图7中的B-B`的剖面结构示意图；

图13为本发明的一个具体实施方式中LED灯与PD检测器与测试载体上测试区域；参照区域以及检测结果控制区域之间的空间位置投影关系示意图；

图14为本发明的光路导通结构中一个光线道路示意图；

图15为本发明的光路导通结构中另一光线道路示意图。

附图标记说明

读取设备的光学结构（光路导通结构）100；本发明的另一读取设备的光学结构（光路导通结构）200，201；本发明包含挡光元件的读取设备400；包含测试载体和壳体的读取设备300；发光元件105；光电检测器 103；LED灯 51，52，53；PD检测器 41，42，43；光路导通结构（挡光元件的一部分） 101；设备上光路导通结构（设备上挡光元件）202；壳体上光路导通结构（壳体上挡光元件）203；光路导通结构的坡面106；设备上光路导通结构坡面2021；壳体上光路导通结构垂直面2031；设备上光路导通结构的另一面（近发光元件）2022；壳体上光路导通结构的另一面（近发光元件）2032；测试载体 10；测试载体的薄膜120；PCB板102；另一挡光部件104，44，45；含测试载体的壳体30；壳体窗口90，35，36，37；壳体凹槽34；壳体上样本添加处31；上壳体部件71；下壳体部件72；拿捏部位73；壳体侧边凹槽32；壳体上对准窗口33；设备上挡光元件40；壳体上挡光元件38，39，61，62；设备上挡光元件卡条406，407；设备上挡光元件的对准窗口47；设备上挡光元件与壳体窗口对应的窗口401，402，403；设备上挡光元件与壳体凹槽34对应的凸起404；设备上挡光元件凸起（用于安放发光元件和光检测器）70；间隔发光元件的凸起701，702，703，704；间隔光检测器的凸起705，706，707，708，709；测试载体的测试区域130，参比区域140，控制区域150；挡光元件凹口48；壳体上标示74；光路通道结构80；壳体30上的部分挡光元件75，76；光路导通结构内的凹槽区85。

具体实施方式

本发明的一个实施方式中，读取设备包含有测试载体10，至少一个发光元件105，至少一个光检测器103和挡光元件101。

测试载体10可以选用横向流动的检测试纸条，如US6156271，US5504013，EP728309或EP782707中公开的形式，它可检测多种被分析物。当然，其他合适的测试载体也可以运用在本发明。该测试载体10上可以包含有多个区域，比如，用于添加样本的样本区，显示检测结果的测试区130，控制区150等等。测试区130是测试载体中形成光信号的区域（如颗粒状有色结合试剂的标记物的堆积区或储存区），表示是否存在待测分析物（顺便解释一下，在没有待测分析物时，一些分析如取代分析可能会形成信号）。控制区150是测试载体上形成光信号的区域，用于显示测试正确进行和/或结合试剂是有作用的，与是否存在待测分析物无关。通常情况下，参比区域140是只形成“背景”信号的区域，例如该信号可用于校准分析结果读数装置和/或为测试信号提供可参考的背景信号。

一个实施方式中，测试载体包含样本区，测试区130，控制区150和吸水区。另一实施方式中，该测试载体包括样本区，测试区130，参比区140，控制区150和吸水区。优选的，测试载体10上的部分区域上，可以添加薄膜120以防止多余的样本从测试载体的区域上渗出。

发光元件105用于发出光线，比如各种光源。一个具体实施方式中，该发光元件为LED灯。光检测器103用来检测照射到其上的光线，一个具体的实施例中，该光检测器为光电二极管（PD检测器）。。

本发明的读取设备中，挡光元件101为一个整体元件构成，也可以为多个部件组合而成。该挡光元件101能够使该读取设备100中的发光元件105和光检测器103以及位于读取设备内的测试载体10的部分区域不受外界光线的照射和干扰。

在该读取设备100上，发光元件105和光检测器103可以位于其内，测试载体10也可以位于读取设备内，而挡光元件101则可以位于该设备100内部或外部，只要能满足阻挡外界光线进入设备内部的功能即可。

该读取设备300的制作材质广泛，比如PP，PVC或塑料等材质，一个具体实施方式中，该读数设备为不透光的塑料材质制成。挡光元件的材质需要满足挡光的功能，其他不限。该材质可以与读取设备相同或不同，一个优选的具体方式中，挡光元件使用的材质也未不透光的塑料材质，与读取设备材质相同。

一个具体实施例中，当样本被添加到测试载体上后一段时间后（该一段时间是指样本中被分析物与测试载体上预先安置的能够与样本中被分析物发生反应的检测物质反应时间，通常，该一段时间为5-10分钟），使发光元件发出光线，照射到测试载体上的某一或某些区域，该接收到光线的区域将光线反射，反射光照射到光检测器上。然后，通过光检测器读取的光线来显示这些区域的样本反应的结果。

本发明的一个读取设备，如图1所示，它包括至少一个发光元件105，发出光并照射到测试载体10或测试载体的薄膜120上；至少一个光电检测器103，用于检测从所述测试载体10上的一个或多个区中发出的光，以及挡光元件101，通过该挡光元件101让测试载体10和发光元件105与光检测器103固定在一起，同时合理的布局，可以顺利完成对测试载体10上的测试结果进行读取。优选的，发光元件105和光电检测器103位于PCB板102上。这种读取设备100是测试载体10和设备100固定在一起，当完成测试后，读取设备100和测试载体10丢弃，即为一次性使用的设备。这样的设备造成资源的浪费而不利于环境保护，另外这样的设备不能进行多次对不同测试载体的读取。

本发明的另一种实施方式的读取设备200，可以使读取设备多次使用，节约成本并减少浪费。该优化的读取设备200与前一实施方式不同的是，测试载体10与读取设备200并不是固定在一起的，二者为可卸载式的组合在一起。这里的“可卸载”可以理解为：先分开，然后相互接触形成一个完成的部件；也可以理解为：完成某一个功能的两个组建在分开或不正确的位置的情况下，该两个组件不能实现该两个组件组合后能成组件的功能，只有当两个组件组合在一起才能实现某种功能。具体的来讲，该设备200包括至少一个发光元件105，发出光并照射到测试载体10或测试载体的薄膜120上相应的一个或多个区上；至少一个光检测器103，用于检测从所述测试载体10上的一个或多个区中发出的光; 和挡光元件101，该挡光元件101能阻挡外界的光进入设备内，即使外界光线无法照射到设备内的光检测器103，发光元件105，测试载体10；其中，测试载体10与读取设备200为可卸载的形式组合。为了配合测试载体与读取设备的可拆卸，挡光元件101可以为至少两部分组成，其中一部分位于设备202上，另一部分位于测试载体203上，二者也为可卸载形式配合，如图2所示，当读取设备200没有读取测试载体10上的测试结果的时候，挡光元件的一部分202与挡光元件的另一部分203分开而不接触；当需要进行读取测试结果的时候，让测试载体10插入到读取设备200中，并且挡光元件的一部分202与挡光元件的另一部分203接触而形成一个完整的挡光元件101，此时读取设备200完成测试载体10上测试结果的读取。例如，在图2中，挡光元件的一部分202与挡光元件的另一部分203在分开的时候，由于不存在测试载体或测试载体的位置不正确（相对于发光元件105，光电检测器103的位置），不能正确进行测试载体上测试结果的读取，反之，可以正确进行测试结果的读取。 当然，挡光元件的一部分202可以位于读取设备上的PCB板102上，以及和发光元件105，检测器103一起作为另一个单独部件，编号为C存在；挡光元件的另一部分203可以与测试载体10一起作为一个部件，编号为D，单独存在。当需要进行测试载体10上测试结果的时候，让两个包括有挡光元件的两个不同部件C和D配合到合适的位置后，完成整个测试结果的读取。当然，挡光元件的一部分202和挡光元件的另一部分203还可以位于读取设备的其它部件和或结构上，当还没有进行测试载体上测试结果的读取的时候，这两个部件分开，当需要对测试载体上的测试结果读取的时候，让两个先前分开的部件进行配合，让测试载体与发光元件以及测试器处于合适的位置，进行测试结果的读取。

图4-13是本发明的一个优选的具体实施方式中的整体的读取设备300。

如图4所示，测试载体10位于一个壳体30中，壳体30包括上下两个壳体部件71，72，他们通过卡扣或铆钉的形式接合，测试载体10位于上下两个壳体部件71，72之间并被固定在壳体30内。这样，当带有壳体的测试载体10与读取设备进行接插时，可以避免样本接触到读取设备，也可以避免测试载体被损坏。在上壳体部件71上开有暴露出测试载体上部分区域的窗口90。被窗口90暴露的测试载体10上的区域可以是测试区域130，参比区域140和控制区域150中的一个或几个。窗口90的形状可以根据测试区域上需要暴露的形状进行任意设计，通常为长方形，当然也可以为圆形或椭圆形。窗口90可以是直接暴露出测试载体上的区，也可以是被透明的片（薄膜）120覆盖，但是不影响从发光元件105发出的光照射到测试载体10上，也不影响来源于载体10上的光穿过该片或薄膜120被光电检测器103接收。壳体30上还包括对准窗口33，该窗口33用于与设备上某一对应位置对准，以保证壳体插入设备中是否到达指定的正确的位置。壳体30上还设计有加样口31，该加样口31与测试载体10相通，当需要检测时，将样本从此处加入并到达测试载体10上。加样口在满足加样的功能的要求下其外形不限，一个具体实施例中，为了使该壳体30与设备400更好的配合，该加样口31设计为圆形凸起，即外部为圆柱形，而内部为原锥形的结构。另外，在壳体30上还可以设计有方便操作者手拿的拿捏部位73，当操作者捏住该拿捏部位73时，能准确的与设备进行插入或拔出。为了使操作者能够准确无误的将该带有测试载体的壳体插入设备中进行检测，在壳体30的远离取样口31的一端设计有指示操作者插拔方向的箭头74，比如“”，“”或“→”等。

在一个具体的实施例中，挡光元件的另一部分203位于壳体30上并与暴露测试载体的窗口90对应，例如位于上壳体部件71上的窗口上。挡光元件的一部分203通过在窗口的不同设计可以把窗口90划分出不同的部分，例如通过两个细小格条38，39把窗口划分为三个小窗口35，36，37，这样的划分就把测试载体上被窗口90暴露的区域也就划分为三个区域，例如为测试区域130，参比区域140和测试控制区域150，如图4和5和13所示。单位D上的挡光元件203可以位于壳体30上，该壳体30上的挡光元件203将测试载体10上的部分区域固定并包围。具体的说，位于窗口上的小隔条38，39和窗口外侧挡板的61和62共同构成壳体30上的挡光元件203。当带有测试载体10的壳体30插入设备400后，该部分的挡光元件203与设备上的挡光元件202配合，形成一个封闭的空间，使得测试载体10上的部分区域，发光元件105和光检测器103位于该封闭空间内。

另一具体实施例中，挡光元件202与发光元件105及光检测器103构成的另一单独部件C位于设备400上，如图4所示，该位于设备上的挡光元件的部分40（202）为一个整体，在该挡光元件部分上有一个凸起70，在凸起70上有多个分隔开的空间，用于安装发光元件105和光检测器103，并且将发光元件105和光检测器103分隔开。更具体的实施例中，如图10和图11所示，凸起701，702，703和704分隔出安放发光元件105的空间，用于安放3个发光元件，即LED灯51，52和53。位于LED灯的两侧的凸起705，706，707，708和709分隔出3个安放光检测器的空间，其中，一侧有一个PD检测器42，另一侧安放有两个PD检测器41，43。

在使用过程中，为了保证壳体30插入读取设备400后能更好的被固定，并使LED灯和PD检测器能够与壳体30中测试载体的对应的区域精密对准，在设备上挡光元件40上设计有卡条406和407，该卡条406，407分别位于挡光元件40的两侧，并且具有弹性；同时，在挡光元件40的背面还设计有长方形的凸起404，如图6所示；与之相对应，如图5所示，在壳体30上设计有能够容纳挡光元件上卡条406，407端口的侧边凹槽32，该凹槽32分别位于壳体30的两个侧边；并且，还在壳体的上部位71上设计有与挡光元件40的背面凸起404配套的长方形凹槽34。当壳体30插入设备400中时，挡光元件40上的卡条406，407沿壳体30的侧边滑动，最终卡条406，407的端口分别落入壳体侧边对应的凹槽32内，固定并锁定壳体30，同时，壳体上长方形凹槽34沿挡光元件的背部凸起404滑动，当壳体30滑动到指定的固定位置后，凹槽34的末端也到达凸起404的末端，二者紧密配合，从而确保壳体与设备配套使用时的精准度。

优选的，挡光元件40上还具有圆弧形凹口48，当壳体30插入设备400中并到达指定位置后，该凹口48抵触到壳体上圆形加样口31，从而进一步固定位于设备中的测试载体10和壳体30。也保证了包含挡光元件的设备400与壳体30的紧密配合。另一优选的方式中，为了确保壳体插入读取设备中到达预定的位置，在挡光元件40上包含有与壳体对准窗口33对应的对准窗口47。在一个具体实施例中，还可以设定壳体上的对准窗口33与设备上对准窗口47对准后，该读取设备检测开始。

图6为设备上挡光元件的背面示意图，在该图中可以看出，与壳体上的窗口35，36，37对应，在设备上挡光元件40也有3个与窗口对应得窗口401，402，403。当壳体30插入到设备400中后，两部分的窗口对应重合，形成一个个通道。这些通道能够使发光元件发出的光线照射到测试载体的区域上，并能够使该区域上的光返回到光检测器上。

优选实施例中的读取设备中，如图4所示，至少一个发光元件105包含三个发光元件，每个发光元件分别照射测试载体的特定区域；至少一个光检测器103包括三个光检测器，用于检测测试载体上特定区域的光。具体的，第一发光元件照射测试区或测试区；第二发光元件照射参比区；并且第三发光元件照射控制区。并且，第一检测器对应于第一发光元件，即第一检测器检测第一发光元件发出的光到测试区域后反射的光线；第二检测器对应于第二发光元件，即第二检测器检测第二发光元件发出的光到参比区后反射的光线；第三检测器检测第三发出的光到控制区后反射的光线。这样，发光元件与光检测器一一对应的检测，能够更准确的反应各个区域的光学信息，保证检测的准确性。在具体的实施例中，如图4所示，LED灯51（第一发光元件）对应光检测器43（第一光检测器），即LED灯51发出的光线到达测试载体（测试条）10的测试区域130，而后，测试区域130上反射的光线被PD检测器43检测，此时，LED灯51发出的光仅仅照射到测试载体上特定的区域—测试区域，而PD检测器43只检测测试载体上固定的区域—测试区域发出的光线。更具体的实施方式中，位于挡光元件上的LED灯与测试载体上的某一区域相对应，如图7和8所示，LED灯53（第三发光元件）位于窗口403和壳体窗口37上，对应于测试载体的控制区域150，该LED灯53发出的光照射到对应的控制区域上；光源LED灯52（第二发光元件）位于窗口402和壳体窗口36上，对应于测试载体的参比区域140，LED灯52发出的光直接照射到该参比区域140上；光源LED灯51（第一发光元件）位于窗口401和壳体窗口35上，对应于测试载体的测试区域130，发出的光照射到测试区域上。同样的，光检测器与之也是一一对应的关系，具体如图13所示，PD检测器41（第三光检测器）与控制区域150对应，用于检测从该控制区域发出的光线，而PD检测器42（第二光检测器）与参比区域140对应，检测该区域上发出的光，PD检测器43（第一光检测器）与测试区域130相对应，检测来自该区域130的光线。

一个具体实施例中，该设备还包括光路导通结构，该光路通道结构同样如图2和图3所示。光路导通结构200，201的主要作用：一是让发光元件105可以最大限度的把光照射到测试载体10上特定的区域上（例如测试区域，参比区域或测试控制区域中的一个或几个），而不照射到其它的非特定区域上；另外光路导通结构也让光电检测器103最大限度的接收来自测试载体10上的特定区域的光（例如测试区域，参比区域或测试控制区域中的一个或几个），而不是来自其他非特定的区域上的光。例如通过设计光路导通的结构，只让一个或几个发光元件只照射特定的测试区域而不照射控制区域；同时只让来自测试区域或测试控制区域的光被其中一个光电检测器检测而不检测其它测试区域的光，例如参比区域。如图2中所示，设备上挡光元件202与测试载体上的挡光元件203和测试载体10以及PCB板102围合形成光路导通结构200。更具体的实施例中，如图12所示，设备上的挡光元件40与壳体上的挡光元件38，39，61，62组合形成3个光路通道结构80；也即壳体上窗口35与设备上挡光元件上的窗口401结合，与安放LED灯51与PD检测器43的隔开空间配合，形成一个光路导通结构80。图12所示，包围测试区域130的光路导通结构80由壳体30上的部分挡光元件75，76和设备上挡光元件凸起408，409相结合，结合测试载体10的测试区域130和PCB板102形成一个完整的光路导通结构。该结构能够使LED灯51发出的光a只照射到壳体上窗口35的区域，即测试载体的测试区域130，而测试区域130或其上的薄膜120接收到该光线a后，进行反射，反射出的光线b被PD检测器43所接收，完成对测试区域130上通过光学的检测；同样的，壳体上窗口36与设备上挡光元件的窗口402结合，与安放LED灯52和PD检测器42的空间配合，形成另一个光路导通结构，在该另一光路导通结构中，LED灯52发出的光照射到测试载体的参比区域140，而后参比区域进行反射，反射后的光线由PD检测器42所检测，完成对参比区域140上通过光学的检测；壳体上窗口37与设备上挡光元件的窗口403结合，与安放LED灯53和PD检测器41的空间配合，形成第三个光路导通结构，在该结构中，LED灯53发出的光线只照射到测试载体的控制区域150上，再由控制区域将该光线反射，反射的光线仅能够由PD检测器41所接收，完成对控制区域150上通过光学的检测。

图3为本发明在图2中所表示的的实施方式的一个更优选的结构示意图。在图2和图3中都有具体的光路导通设计结构，为了减少图2中110部件的坡面106对发光元件105，或LED灯51发出的光的反射作用而引起的干扰，把坡面106构造成一个位于设备挡光元件上的坡面2021和一个位于壳体上垂直的面2031，该垂直面2031与测试载体10所在的面垂直，如图3和图12所示。这样的结构中，因垂直面的存在，使得测试区域上接受到LED灯51发出的光的面积增加；并且LED灯51发出的光c到达垂直面2031后，被反射，反射的光线d可到达测试区域130上，如图14所示，增加了测试区域130上入射光线的量，使得检测效果更好。

同时，如图3和图12所示，为了减少发光元件105发出的光照射到挡光元件101的侧壁上后直接反射到光检测器中，将原来在一个垂直面上的结构改为靠近测试载体部分的区域往后凹陷，形成一个凹槽区85，即邻近发光元件的光路导通结构的两部分不在同一垂直面上，位于壳体上的面2032比位于设备上的面2022远离发光元件105。这样，发光元件发出的光因缺少了侧壁的阻挡，均照射到测试载体上的特定区域，从而，更有效的利用光源。即当发光元件105或LED灯51发出光线后，会有部分光线发射到该光路导通结构的各个面上，并进行反射，邻近发光元件105或LED灯51的面也会接收到光线并进行反射，并且反射的光线大多数会直接照射到光检测器103上，会影响检测结果；而壳体上的面2032更远离发光元件105后，在测试载体10和设备上挡光元件的面2022之间形成一个凹槽85，当发光元件105或LED灯51发出的光线e到达凹槽85后，会经凹槽85侧壁反射，反射光线f到达测试载体10的测试区域130上，如图15所示，这样，既减少了未照射到测试载体10上的光直接反射到光检测器103，或PD检测器43上，同时又增加光线入射到测试载体10的测试区域130上。

另一优选实施方式中，如图2和图3所示，在发光元件和光检测器之间还存在另一挡光部件104。该另一挡光部件104能够隔开发光元件和光检测器，从而避免发光元件上的直接照射到光检测器上，干扰光检测器的检测结果。具体的实施例中，如图4和图12所示，另一挡光的部件44和45被分布在LED灯的两侧，隔开所有的LED灯和PD检测器。该另一挡光部件44,45为一长方形的不透光的隔片，优选的，该隔片与挡光元件材料相同。

下面就本发明图4-13所示的读取设备300的具体使用操作进行具体说明。在未进行检测时，带有测试载体10的壳体30与读取设备400为分开式的，在壳体30的加样口31处添加需要检测的样本，将壳体30平放并静置一端时间后，如5分钟，手握壳体的拿捏部位73，按照壳体上箭头74指示方向将壳体30插入读取设备400中，当壳体30完全插入设备400中后，即壳体的对准窗口33和设备上对准窗口47对准后，该读取设备300启动，首先LED灯51，52，53依次发光，依次照射到其对应的区域：测试区域130，参比区域140，控制区域150，而后，各个区域上的反射光线分别进入其专门的PD检测器43，42，41，完成相应的检测。

另外，根据实际，本发明所公开的读取设备还可以包括光学读取系统，这种系统在申请号200910126658.3或200410063910.0，申请日2004年6月4日的中国专利申请中有详细的描述。这些公开的文献中每一个具体的实施方式都可以和本发明公开的方案结合而构成本发明的技术方式，而成为本发明的一部分。

Claims (12)

1.一种读取测试载体上测试结果的设备，包括：

测试载体；

三个发光元件，发出光并照射到测试载体上对应的区上；

三个光检测器，用于检测从所述测试载体上对应的区上发出的光；

还包括光路导通结构，该光路导通结构让发光元件发出的光能够照射到测试载体的特定的区上，同时让测试载体上的特定的区中发出的光能够被光检测器接收；

每个光路导通结构分为两部分，两部分之间以可卸载的形式配合；

每个光路导通结构的一部分位于设备上，另一部分位于测试载体上；

测试载体位于一个壳体中，所述的每个光路导通结构的另一部分位于该壳体上；

在每一个光路导通结构中，位于设备上的光路导通结构邻近光检测器的面为坡面；位于壳体上的光路导通结构邻近光检测器的面为垂直面；

在每一个光路导通结构中，所述邻近发光元件的光路导通结构的两部分不在同一垂直面上，位于壳体上的部分比位于设备上的部分远离发光元件,光路导通结构侧壁形成一个凹槽区。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述三个发光元件和三个光检测器为一一对应关系。

3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述一个发光元件与一个光检测器对应可提高检测的灵敏度。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述测试载体包括测试区，参比区和控制区。

5.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，第一发光元件发出的光照射到测试载体的测试区，并且第一光检测器与第一发光元件对应，检测来自测试区的光线。

6.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，第二发光元件发出的光照射到测试载体的参比区，并且第二光检测器与第二发光元件对应，检测来自参比区的光线。

7.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，第三发光元件发出的光照射到测试载体的控制区，并且第三光检测器与第三发光元件对应，检测来自控制区的光线。

8.根据权利要求4所述的设备，其特征在于，所述三个光检测器分列于三个发光元件的两侧。

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，一一对应的发光元件与光检测器之间包括另一挡光部件，该挡光部件将一一对应的发光元件与光检测器分隔。

10.根据权利要求1-9之一所述的设备，其特征在于，该测试载体与发光元件和光检测器以可卸载的形式配合。

11.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，光路导通结构为三个。

12.根据权利要求11所述的设备，其特征在于，每个光路导通结构内包括一个发光元件，一个光检测器和测试载体上一个对应的区。