CN103105546A

CN103105546A - 压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法

Info

Publication number: CN103105546A
Application number: CN2011103619679A
Authority: CN
Inventors: 陈聪渊; 侯贵智; 蒋文凯
Original assignee: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Current assignee: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date: 2011-11-15
Filing date: 2011-11-15
Publication date: 2013-05-15

Abstract

本发明涉及一种压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法，该压降测试系统的Labview开发平台运行时，各测试数据通过通讯链路传递到PLD测试仪，PLD测试仪测试完把测试结果反馈到Labview开发平台，该Labview开发平台利用其自带的函数库实时对传递数据进行处理、分析得到该测试完成的压降测试图框。通过该测试完成的压降测试图框，用户很容易得知该待测电子设备的压降测试情况。因此，本发明的压降测试系统方便的将软件硬件系统和软件控制算法建立在一个图形化平台上，通过图形化的操作，大大的简化了软硬件投入，实现了电子设备压降测试的自动化，大大节省了成本开支且提高了测试效率。

Description

压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试系统，更具体地，涉及一种基于Labview开发平台的压降测试系统、压降控制装置及其压降测试方法。

背景技术

电子设备在出厂前都需要做EMI电磁干扰压降测试，通常使用压降测试仪对电子设备作压降测试，如PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪。在PLD测试仪测试之前，用户通常会准备好一张如图3所示的记录表，该记录表中记录提供的电源电压、多个压降百分比及多个测试时间。每当测试时，电子设备电连接该PLD测试仪后，用户手动在PLD测试仪上输入记录表中的各个测试数据来做压降测试，用户通过观察判断来测试结果及记录该测试结果到记录表相应位置中。然而，整个测试过程都需要用户一直手动输入测试数据及时刻盯着测试仪来获取测试结果，这样大大浪费人力和时间。

发明内容

为了解决上述存在的问题，本发明的目的在于，提供一种压降测试系统，其用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间，该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；该压降测试系统包括：一参数载入模块，用于响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；一数据传输模块，用于将该压降测试图框中各个测试参数区域内的测试数据分组的传输到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；一判断模块，用于当该数据传输模块传输一组测试数据到该PLD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；一结果标识模块，用于当该预定时间内接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过；当该预定时间内没有接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及一输出控制模块，用于将各测试结果输出显示于该压降测试图框中；其中，当该判断模块在该预定时间内接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输模块传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪测试。

一种压降控制装置，其连接一PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪共同对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降控制装置运行于一Labview开发平台上，该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；该压降控制装置包括：一参数载入模块，用于响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；一数据传输模块，用于将该压降测试图框中各个测试参数区域内的测试数据分组的传输到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；一判断模块，用于当该数据传输模块传输一组测试数据到该PLD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；一结果标识模块，用于当该预定时间内接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过；当该预定时间内没有接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及一输出控制模块，用于将各测试结果输出显示于该压降测试图框中；其中，当该判断模块在该预定时间内接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输模块传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪测试。

一种压降测试系统的压降测试方法，一种压降测试系统的压降测试方法，该压降测试系统用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power linedisturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间，该方法包括步骤：提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；传输该压降测试图框中的一组测试数据到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，该组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；判断在该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；如果该预定时间内接收到该电压信号，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过及传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪；如果该预定时间内没有接收到该电压信号，在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及将各测试结果输出显示于该压降测试图框中。

附图说明

图1是本发明一压降测试系统的硬件结构示意图；

图2是图1压降测试系统的处理单元的硬件结构示意图；

图3是传统做压降测试所准备的记录表的示意图；

图4是图1的压降测试系统通过Labview开发平台编译的压降测试图框的示意图；及

图5是图1的压降测试系统做压降测试的方法流程图。

主要元件符号说明

压降测试系统	1
		待测电子设备	2
供电电压区域	3
		压降百分比区域	4
测试时间区域	5
		测试结果标识区域标识测试通过	6
测试结果标识区域标识测试失败	7
		开始测试标识	8
停止测试标识	9
		压降控制装置	10
输入单元	11
		Labview开发平台	12
处理单元	13
		显示单元	14
PLD测试仪	20
		参数载入模块	210
数据传输模块	220
		判断模块	230
结果标识模块	240
		输出控制模块	250

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明压降测试系统作进一步的详细描述。

图1是本发明一压降测试系统的硬件结构示意图。该压降测试系统1用于对待测电子设备2做电磁干扰压降测试。该压降测试系统1包括一压降控制装置10及一PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪20。该压降控制装置10电连接该PLD测试仪20，彼此互相通信。该PLD测试仪20电连接该待测电子设备2。该压降测试系统1运行于该PLD测试仪20和该Labview开发平台12之间。该压降控制装置10运行于一Labview开发平台12上。

该压降控制装置10包括一输入单元11、一处理单元13及一显示单元14。在本实施方式中，该压降控制装置10为一台计算机，计算机10未涉及的元件在图中未示出。该输入单元11用于响应用户的输入操作产生输入信号。该显示单元14用于显示信息。

该Labview开发平台12是一种基于仪器或虚拟仪器的开发平台，其通过该平台的图形化编程控制方法将各种硬件模块执行机构图框化，编译出如图4所示的压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域和测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域3、压降百分比区域4及测试时间区域5，从而取代了图3所示的手工记录表。在该压降测试图框中，该Labview开发平台12还编译了一开始测试标识“Test”8和一停止测试标识“STOP”9。

该处理单元13包括一参数载入模块210、一数据传输模块220、一判断模块230、一结果标识模块240及一输出控制模块250。该参数载入模块210用于响应输入单元11的输入信号把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内。例如，载入供电电压200V，其压降百分比为-70％、-80％、-90％及-100％，测试时间为25ms、60ms、90ms...2s。当响应输入单元11的输入信号触发该“Test”测试标识8时，该数据传输模块220将该压降测试图框中各个测试参数区域内的测试数据分组的传输到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，例如，传输该压降测试图框中的一组测试数据(如供电电压为200V、压降百分比为-70％、测试时间为60ms)到该PLD测试仪20开始进行对该待测电子设备2的压降测试。该判断模块230判断在该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪20的该电压信号。

当接收到一组测试数据时，该PLD测试仪20根据提供的电源电压按照该压降百分比降低待测电子设备2的供电电压，在所提供的测试时间中，由于压降后的供电电压较低导致该PLD测试仪20断电，若断电后该PLD测试仪20立即重新启动继续开始工作时，说明该待测电子设备2在该电源电压降低该压降百分比的压降测试通过，在测试结果标识区域标识pass6；若断电后该PLD测试仪20无法立即重新启动，需要通过手动拨电源或手动按开关时，说明该待测电子设备2在该电源电压降低该压降百分比的压降测试失败，在测试结果标识区域标识fail7。

当该组测试数据压降测试通过时，该PLD测试仪20立即重新上电启动会产生一电压信号到压降控制装置10，该判断模块230判断在该测试时间结束后该预定时间内接收到来自该PLD测试仪20的该电压信号，该结果标识模块240在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过及该数据传输模块220传输该压降测试图框中的另一组测试数据(如供电电压为200V、压降百分比为-80％、测试时间为60ms)到该PLD测试仪20继续对该待测电子设备2做压降测试。如果该预定时间内没有接收到该电压信号，该结果标识模块240在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败及该数据传输模块220停止传输该压降测试图框中的测试数据到该PLD测试仪。在本实施方式中，在该压降测试图框中测试通过的测试数据组的测试结果6用绿色标识，测试失败的测试数据组的测试结果7用红色标识。

依此类推，当PLD测试仪20测试完一组测试数据测试通过后，该数据传输模块220接着传输该压降测试图框中的其他组测试数据到该PLD测试仪20进行对该待测电子设备2的压降测试。因此，只要有一组测试数据测试通过时才会继续测试下一组测试数据，当所有组测试数据测试都通过时，说明该待测电子设备2的压降测试是通过的，否则，一旦其中一组测试数据测试失败时，就无需继续测试，说明该待测电子设备2的压降测试是失败的。

该结果标识模块240在该压降测试图框中各组测试数据对应的测试结果标识区域标识测试结果。该Labview开发平台12触发该停止测试标识“STOP”9及形成该待测电子设备2的压降测试图框，该输出控制模块250用于控制该显示单元14显示各测试结果于该压降测试图框中，从而实现对待测电子设备压降测试的自动化。

与现有技术相比，本发明的压降测试系统1的Labview开发平台12运行时，各测试数据通过通讯链路传递到PLD测试仪20，PLD测试仪20测试完把测试结果反馈到Labview开发平台12，该Labview开发平台12利用其自带的函数库实时对传递数据进行处理、分析得到该测试完成的压降测试图框。通过该测试完成的压降测试图框，用户很容易得知该待测电子设备2的压降测试情况。因此，本发明的压降测试系统1方便的将软件硬件系统和软件控制算法建立在一个图形化平台上，通过图形化的操作，大大的简化了软硬件投入，实现了电子设备压降测试的自动化，大大节省了成本开支且提高了测试效率。

图5是图1的压降测试系统做压降测试的方法流程图。该Labview开发平台12提供该压降测试图框(步骤S300)，该参数载入模块210响应输入单元11的输入信号(即用户的输入操作)把各测试参数载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内(步骤S310)，该数据传输模块220从压降测试图框中获取一组测试数据传输到PLD测试仪20(步骤S320)，该PLD测试仪20根据该组测试数据开始测试(步骤S330)，该判断模块230判断在该测试时间结束后该预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪20的该电压信号(步骤S340)，如果是，该判断模块230判断此组数据测试通过(步骤S350)，上述步骤继续进行测试其他组测试数据，即该测试流程回到步骤S320，如果否，该判断模块230判断此组数据测试失败(步骤S345)，该结果标识模块240在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识测试结果(步骤S360)，该输出控制模块250控制显示单元14显示各测试结果于该压降测试图框中(步骤S370)。

尽管对本发明的优选实施方式进行了说明和描述，但是本领域的技术人员将领悟到，可以作出各种不同的变化和改进，这些都不超出本发明的真正范围。因此期望，本发明并不局限于所公开的作为实现本发明所设想的最佳模式的具体实施方式，本发明包括的所有实施方式都有所附权利要求书的保护范围内。

Claims

1.一种压降测试系统，其用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power linedisturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间，其特征在于，

该Labview开发平台提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；

该压降测试系统包括：

一参数载入模块，用于响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；

一数据传输模块，用于将该压降测试图框中各个测试参数区域内的测试数据分组的传输到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，每一组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；

一判断模块，用于当该数据传输模块传输一组测试数据到该PLD测试仪测试时，判断该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；

一结果标识模块，用于当该预定时间内接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过；当该预定时间内没有接收到该电压信号时，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及

一输出控制模块，用于将各测试结果输出显示于该压降测试图框中；

其中，当该判断模块在该预定时间内接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输模块传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪测试。

2.根据权利要求1所述的压降测试系统，其特征在于，当该判断模块判断出该预定时间内没有接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输模块停止传输该压降测试图框中的其他组测试数据到该PLD测试仪。

3.一种压降控制装置，其连接一PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪共同对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降控制装置运行于一Labview开发平台上，其特征在于，

该压降控制装置包括：

4.根据权利要求3所述的压降控制装置，其特征在于，当该判断模块判断出该预定时间内没有接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，该数据传输模块停止传输该压降测试图框中的其他组测试数据到该PLD测试仪。

5.一种压降测试系统的压降测试方法，该压降测试系统用于对一待测电子设备做电磁干扰压降测试，该压降测试系统运行于一连接该待测电子设备的PLD(Power line disturbance)电源线干扰测试仪及一Labview开发平台之间，其特征在于，该方法包括步骤：

提供一压降测试图框，该压降测试图框定义有实现压降测试所需的测试参数区域及测试结果标识区域，所述测试参数区域包括供电电压区域、压降百分比区域及测试时间区域；

响应用户的输入把各测试数据载入到该压降测试图框中各个测试参数区域内；

传输该压降测试图框中的一组测试数据到该PLD测试仪进行对该待测电子设备的压降测试，该组测试数据包括一供电电压、一压降百分比和一测试时间；

判断在该组测试数据的测试时间结束后一预定时间内是否接收到来自该PLD测试仪的一电压信号；

如果该预定时间内接收到该电压信号，在该压降测试图框中将该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试通过及传输该压降测试图框中的另一组测试数据到该PLD测试仪；

如果该预定时间内没有接收到该电压信号，在该压降测试图框中该组测试数据对应的测试结果标识区域标识一测试结果为测试失败；及

将各测试结果输出显示于该压降测试图框中。

6.根据权利要求5所述的压降测试方法，其特征在于，还包括步骤：如果该预定时间内没有接收到来自该PLD测试仪的电压信号时，停止传输该压降测试图框中的其他组测试数据到该PLD测试仪。