CN103067075B - 光器件测量装置、测量方法 - Google Patents
光器件测量装置、测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103067075B CN103067075B CN201210557111.3A CN201210557111A CN103067075B CN 103067075 B CN103067075 B CN 103067075B CN 201210557111 A CN201210557111 A CN 201210557111A CN 103067075 B CN103067075 B CN 103067075B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- microwave
- optical
- signal
- output
- sideband
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 113
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 35
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 30
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 15
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 9
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 7
- 238000003012 network analysis Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000005622 photoelectricity Effects 0.000 description 1
- 229940125730 polarisation modulator Drugs 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000004064 recycling Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
本发明公开了一种光单边带调制方法。本发明方法将光载波分为两路，对于其中一路，先进行抑制偶阶边带的光强度调制，然后从得到的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号，最后将滤出的一阶边带信号与另一路光载波合并，得到最终的光单边带调制信号。本发明还公开了一种采用上述调制方法的光单边带调制器、光器件测量装置及方法。本发明能够有效消除单边带调制信号中的二阶边带的影响，从而提高系统的动态范围；基于该调制方法的光器件测量装置和方法，可在保证测量精度的前提下，解决对待测光器件的选择性问题和由单边带信号中二阶边带造成的测量误差问题。
Description
技术领域
本发明涉及一种光单边带调制方法以及基于该调制方法的光器件测量装置、测量方法，属于微波光子学技术领域。
背景技术
随着无线接入、移动多媒体的迅速发展，高速无线通信对通信容量需求与日俱增，大容量和低功耗无线通信已成为迫切需求。过去三年中，全球移动数据量每年以超过两倍的速率增长，未来5年还将增长18倍(参见[CiscoInc.,“Ciscovisualnetworkindex:Globalmobiledatatrafficforecastupdate,2011-2016,”Feb.2012.])。在此背景下，由于毫米波通信能提供较大的频带资源而成为主要的发展方向之一，但是毫米波通信较高的硬件要求和较大的传输损耗使其应用受到了限制。而光载无线电技术(RoF)为毫米波通信网提供了一种新的解决方案，该技术将无线通信的灵活性与光纤通信的大带宽、低损耗、抗电磁干扰等优点融合起来。然而，尽管光纤具有极小的传输损耗，但在长距离传输中，光纤色散会使传输的信号发生畸变，限制了光信号的无中继传输距离。光单边带调制是一种能有效消除光纤色散对无中继距离限制的光信号调制方式。传统的光单边带调制主要通过双驱动马赫-曾德尔调制器辅以90°微波电桥和采用光纤光栅滤除强度调制或相位调制信号中的一个一阶边带的方法。前者，需要利用90°微波电桥使输入双驱动马赫-曾德尔调制器的两路等功率微波信号具有90°的相位差，而微波电桥的带宽通常非常有限，因此，该方法的单边带带宽通常很小；后者，由于光纤光栅的带宽通常很宽，很难保证在不影响载波的条件下滤除其中一个一阶边带，而且光纤光栅的调谐范围很小，很难实现可调谐的光单边带调制技术。此外，这两种方法还有一个共同的缺点，即无法消除高阶边带对整个系统动态范围的影响。因为这两种方法仅仅将一个一阶边带滤除，与剩余的一个一阶边带相邻的二阶边带还保留在信号中。该光单边带调制信号经光电探测器拍频后，得到的基频微波信号中不仅存在光载波与剩余一阶边带的拍频分量，还存在二阶边带与上述一阶边带的拍频分量且该分量在微波信号中占有较大比例，从而制约了系统的动态范围。
除了光载无线电技术，光单边带调制技术的另一典型应用为基于扫频光单边带调制的光矢量网络分析技术，用以精确测量光器件的响应(参见[J.E.Román,M.Y.Frankel,andR.D.Esman,"Spectralcharacterizationoffibergratingswithhighresolution,"Opt.Lett.,vol.23,no.12,pp.939-941,Jun.1998.])。这种方法的本质是将光域的扫频操作转换到电域进行，受益于成熟的电频谱分析技术，相比于传统的光矢量网络分析技术其测试精度得到了质的飞跃。
图1是现有的基于光单边带调制的光器件测量装置的结构示意图，主要包括主控计算机、窄线宽激光器、微波扫频源、宽带光单边带调制器、光探测器及微波幅相接收机。其工作原理如下：首先，利用宽带光单边带调制器将微波扫频源产生的微波信号调制到窄线宽激光器输出的光载波上，产生只包含光载波和一个光边带的光单边带信号；使该光单边带信号经待测器件后送至光探测器，进行光电转换；然后，以微波扫频信号为参考，利用微波幅相接收机提取光探测器输出的微波信号的幅度相位信息；最后，通过主控计算机接收、存储并处理微波幅相接收机提取的幅度相位信息，得到待测光器件的传输函数。
虽然该测量装置可实现高分辨率光矢量网络分析，但是该测量装置仍存在两个问题需要改进：(1)图1中的单边带调制器往往基于上面介绍的传统单边带调制方法，因此输出的单边带调制信号具有与保留的一阶边带相邻的二阶边带。当采用该单边带信号进行光矢量网络分析时，上述一阶和二阶边带的拍频分量将在所得基频分量中占有较大比例，从而无法在基频分量中精确提取光载波与一阶边带拍频分量的幅度与相位信息，实现高精度光矢量网络分析。(2)由于输入光电探测器的光信号必须包含光载波，因此从根本上决定了待测的光器件必须是带阻响应的器件，换言之，该测量装置对待测器件具有选择性，对带通响应器件的测量无能为力。针对这两个关键问题，当前尚未有有效解决方案的报道。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于克服现有光单边带调制技术所存在的高阶边带对整个系统动态范围的影响的不足，提供一种光单边带调制方法、调制器，能够有效消除单边带调制信号中的二阶边带的影响，从而提高系统的动态范围；并且基于该方法提出一种光器件测量装置、测量方法，在保证测量精度的前提下，解决对待测光器件的选择性问题和由单边带信号中二阶边带造成的测量误差问题。
本发明具体采用以下技术方案解决上述技术问题：
一种光单边带调制方法，将光载波分为两路，对于其中一路，先进行抑制偶阶边带的光强度调制，然后从得到的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号，最后将滤出的一阶边带信号与另一路光载波合并，得到最终的光单边带调制信号。
一种使用如上所述调制方法的光单边带调制器，包括：
光分束器，用于将光源输出的光载波分为两路；
微波源，用于输出微波信号；
光强度调制器，其光输入端、微波输入端分别与所述光分束器的一个输出端、微波源的输出端连接，用于对输入的光载波进行抑制偶阶边带的光强度调制；
光滤波器，其输入端与所述光强度调制器的输出端连接，用于从光强度调制器输出的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号；
光合束器，其输入端分别与所述光分束器的另一个输出端以及所述光滤波器的输出端连接。
一种光器件测量装置，包括光源、主控单元、可进行微波扫频调制的光单边带调制器、光电探测器、微波幅相接收机，所述光单边带调制器为上述光单边带调制器，其中的微波源为微波扫频源。
一种如上所述光器件测量装置的光器件测量方法，将待测光器件接入所述光滤波器与光合束器之间；主控单元控制微波扫频源输出扫频的微波信号，并以微波扫频源的输出信号为参考，利用微波幅相接收机提取光电探测器输出信号中所携的待测光器件的传输函数；然后利用预先测得的未接入待测光器件时的系统传输函数对其进行校正，得到待测光器件的准确的传输函数。
附图说明
图1为一种现有的基于光单边带调制的测量装置的结构示意图；
图2为本发明的光单边带调制器的结构示意图；
图3为本发明的光器件测量装置的结构示意图；
图4(a)为使用本发明光器件测量装置测量光纤光栅的原理示意图；
图4(b)为使用本发明光器件测量装置测量光纤光栅的各阶段信号频谱图，其中，A为经过马赫-曾德尔调制器调制并通过控制偏置电压得到的抑制偶阶边带的信号频谱图，B为使用光滤波滤出的某一边带的频谱，C为受光纤光栅作用时的频谱图，虚线为光纤光栅的幅频响应曲线，D为经光分束器分离的某一路光载波的频谱图，E为通过光合束器合在一起的频谱图，F为经拍频后将光纤光栅的光域幅频响应移至电域后的频谱图；
图5为本发明光器件测量装置各点的光谱图，图中，(a)为马赫-增德尔调制器输出的双边带调制信号，(b)为偶阶边带被抑制后的信号，(c)为经光滤波器滤波后的一阶边带信号，(d)为被光滤波器滤除的边带信号；
图6(a)、图6(b)分别为使用本发明光器件测量装置和商用光矢量网络分析仪OVA5000测得的光纤光栅的反射传输响应曲线、透射传输响应曲线；图中，实线为本发明装置测量得到的曲线，虚线为商用OVA测量得到的曲线。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案进行详细说明：
本发明的思路是针对现有光单边带调制中所存在的高阶边带(尤其是二阶边带)影响整个系统动态范围的问题，将光载波分成两路，对其中一路进行抑制偶阶边带的光电调制并利用光滤波器滤出一个一阶边带，与另一路未经任何操作的光载波合在一起，从而实现了不包含二阶边带的单边带调制。
本发明的光单边带调制器如图2所示，包括：光分束器、微波源、光强度调制器、光滤波器、光合束器，光分束器的输入端与光源的输出端连接，两个输出端分别与光合束器的一个输入端、光强度调制器的光输入端连接，用于将光源输出的光载波分为两路。微波源的输出端与光强度调制器的微波输入端连接；光滤波器的输入端、输出端分别与光强度调制器的输出端、光合束器的另一个输入端连接，用于从光强度调制器输出的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号。本发明中的光强度调制器可对输入的光载波进行抑制偶阶(0，±2，±4，……)边带的光强度调制。要实现偶阶边带抑制的光强度调制，可采用现有的各种方法，例如调节偏振调制器后检偏器的检偏角度的方法(参见[S.L.PanandJ.P.Yao,“Afrequency-doublingoptoelectronicoscillatorusingapolarizationmodulator,”IEEEPhoton.Technol.Lett.,vol.21,no.13,pp.929-931,Jul.2009.])，或者，调节马赫-增德尔调制的偏置电压使之偏置在偶阶抑制传输点的方法(参见[J.J.O’Reilly,P.M.Lane,R.Heidemann,andR.Hofstetter,“Opticalgenerationofverynarrowlinewidthmillimeterwavesignals,”Electron.Lett.,vol.28,no.25,pp.2309–2311,1992.])。如图2所示，本具体实施方式中光强度调制器包括马赫-增德尔调制器、偏置电压源，马赫-增德尔调制器的微波输入端、偏置输入端分别与微波源的输出端、偏置电压源的输出端连接，马赫-增德尔调制器的光输入端、输出端分别与所述光分束器的另一个输出端、光滤波器的输入端连接，通过偏置电压的控制即可实现偶阶边带抑制的光强度调制。采用该光单边带调制器进行光单边带调制时，首先控制微波源提供微波信号，利用马赫-曾德尔调制器将该微波信号调制到一路光载波上；控制输入调制器的偏置电压，从而抑制信号中的偶阶分量。随后输入光滤波器，利用光滤波器将其中的某一个光边带滤出。将滤出的边带信号与另一路光载波通过光合束器重新合光，此时即得到不包含二阶边带的单边带调制光调制信号，最后送入光电探测器实现光电信号转换。
由于本发明的光单边带调制方法可有效地将单边带调制信号中的二阶边带信号去除，因此利用其进行基于光单边带调制的光器件测量，可在保证测量精度的前提下，解决对待测光器件的选择性问题和由单边带信号中二阶边带造成的测量误差问题。
如图3所示，本发明的光器件测量装置在图2所示光单边带调制器的基础上增加了主控计算机和微波幅相接收机，且光单边带调制器中的微波源采用微波扫频源，可进行微波频率扫描。主控计算机用于控制微波扫频源，同时存储传输函数，并进行数据处理和结果显示；微波幅相接收机用于以微波扫频信号为参考，提取光探测器输出电信号的幅度相位信息。如图所示，主控计算机的控制信号输出端口与微波扫频源的控制端口相连，以控制微波扫频微波信号的频率；激光器的输出端口与光分束器相连；其中一路输出与马赫-曾德尔调制相连；调制器的微波输入口与微波源的输出端口相连，偏置输入口与偏置电压源相连；调制器的输出与滤波器的输入端相连，滤波器后级联待测光器件(需要进行频谱特性及偏振参数测量的光器件)，待测光器件的输出端口与光分束器另一路光载波分别与光合束器的两个输入口相连；光合束器后依次级联光电探测器和微波幅相接收机，微波幅相接收机的输出端口与主控计算机输入端口相连。
该测量装置的测量过程如下：首先利用马赫-曾德尔调制器将微波扫频源产生的扫频信号调制到一路光载波上，并控制偏置电压源的输出，使信号中的偶阶边带被抑制，通过光滤波器将其中某一边带滤出，并使该边带信号经待测光器件后与另一路光载波合光后送至光探测器，进行光电转换；然后以微波信号源的输出信号为参考，利用微波幅相接收机提取光电探测器输出信号的幅度相位信息并存储于主控计算机中通过主控计算机处理所存的传输函数信息，得到待测光器件的传输函数。
实际测量时，首先进行系统校准，在两个测试端口直接相连的情况下(即未接入待测光器件的情况下)，将测得的系统的传输函数储存在主控计算机中；然后，在该装置中级联待测光器件，测得待测光器件的传输函数；最后，运用系统校准时得到的系统传输函数对测得的器件传输函数进行校正，从而得到待测光器件精确的传输函数。
为了便于公众理解本发明技术方案，下面举一个采用该装置测量光纤光栅(FBG)的具体实施例。
该测量装置的结构如图4(a)所示，由主控计算机、激光器、光分束器、光合束器、微波扫频源、马赫-曾德尔调制器、偏置电压源、光滤波器、待测光器件、光探测器、微波幅相接收机组成。该测量装置测量光纤光栅时的各阶段信号频谱如图4(b)所示，A为经过马赫-曾德尔调制器调制并通过控制偏置电压得到的抑制偶阶边带的信号频谱图，B为使用光滤波滤出的某一边带的频谱，C为受光纤光栅作用时的频谱图，虚线为光纤光栅的幅频响应曲线，D为经光分束器分离的某一路光载波的频谱图，E为通过光合束器合在一起的频谱图，F为经拍频后将光纤光栅的光域幅频响应移至电域，以便于被微波幅相接收机检测。
具体而言，使用该装置进行光纤光栅的测量时，按照以下步骤：
步骤A、测量装置校准步骤：将光滤波器滤出的一阶边带和另一路的光载波信号通过光合束器直接合在一起，输至光探测器。主控单元控制微波扫频源输出扫频的微波信号，得到此时的传输函数，主控单元存储该传输函数并进行处理，得到系统的传输函数。步骤B、测量步骤：接入待测光器件，待测光器件的输入、输出端口分别与光滤波器的输出端口、光合束器一个端口相连；主控单元控制微波扫频源输出微波扫频信号，通过扫描频率得到传输函数；主控单元存储传输函数并对其进行数据处理，再利用步骤A中所得的系统的传输函数对测得的传输函数进行校正，得到待测光器件精确的传输函数。
下面对该光器件测量装置的工作原理进行简要介绍。
窄线宽激光器输出的光载波被分成两路微波扫频源产生的微波信号通过马赫-曾德尔调制器调制到其中一路光载波上(例如E1)，并控制输入调制器的偏置电压，从而抑制信号中的偶阶边带。当该信号通过光滤波器时，其中的上边带(或下边带)被滤出，滤出的边带信号可表示为该边带信号通过待测器件时，受到系统传输函数H(ω)+H’(ω)的作用，幅度和相位发生相对变化。得到的信号为：
该边带信号与另一路的光载波通过光合束器合在一起，得到的信号为：
在光探测器里，光单边带信号的载波与边带拍频得到微波信号：
此微波信号携带了待测器件传输函数的信息。通过微波幅相接收机可获得E(ωe)相对于其输出的微波信号的幅度和相位的变化信息。由于载频ω0是固定的，α、A0、A1、A2，均为已知常数，所以可得
其中α为光探测器响应系数，A2为未经调制的光载波的幅度，AUSB为经调制的上边带信号的幅度，为光边带的初始相位，E(ωe)为检测到的光探测器输出的微波信号相对于微波调制信号的幅度和相位变化。
用没有级联待测器件情况下得到的系统传输函数H'(ω)对得到的待测器件传输函数H(ω)进行校正，得到实际的待测器件传输函数：
图5为上述测量装置实际测量时各点的光谱图，如图所示，马赫-增德尔调制器将输入的微波信号调制到光载波上，得到了双边带调制信号(图中(a)所示)。通过调节偏置电压源，偶阶边带被抑制，得到的信号如图5中(b)所示。由图可知，光载波抑制了约50dB,二阶边带抑制了约30dB。该信号经光滤波器滤波后仅留下一个一阶边带。滤波器的响应如图5中(c)所示。滤除的边带信号如图5中(d)所示。由(d)可知，另一个一阶边带经过滤波器后抑制了将近70dB。该边带信号通过待测器件之后，与下路的未经任何处理的光载波合在一起，输入光电探测器探测，得到器件的频响结果。
图6(a)为采用本发明测量装置测量得到的窄带FBG反射传输响应曲线和对应商用光矢量网络分析仪OVA5000测量得到的曲线，其中虚线为OVA5000测量得到的结果，实线为本发明测量装置测量得到的结果。从图中可以看出，两种方法测量得到的反射传输响应曲线在中心频率、带宽等重要特性上基本符合。但是由于商用OVA5000的测量精度仅为200MHz，所以在底部的拐角、起伏等细节特性上测量得不够精确。反之本发明测量装置在该测量范围内有6401个测试点，对应精度为2.8MHz，远小于前者，所以本发明测量装置得到的测量结果更加精确。图6(b)为本发明测量装置(实线)和OVA5000(虚线)测量得到的同一窄带FBG的透射传输特性曲线。同理可知，本发明测量装置相比于现有商用的OVA5000精度更高，测量结果更加准确。
本发明改进了光单边带调制的实现方法，在实现光单边带调制的基础上抑制了信号中的二阶边带，从而大大提高了系统的动态范围，并可用于消除基于光单边带扫频光矢量网络分析中由于二阶边带存在而引入的误差。基于本发明提出的光载波与边带分离的单边带调制方法的光器件测量装置可以实现对带通响应器件的测量，相比于现有的光器件测量技术，其性能和适用范围得到了极大的提高。
Claims (3)
1.一种光器件测量装置，包括光源、主控单元、可进行微波扫频调制的光单边带调制器、光电探测器、微波幅相接收机，其特征在于，所述光单边带调制器包括：
光分束器，用于将光源输出的光载波分为两路；
微波扫频源，用于输出微波信号；
光强度调制器，其光输入端、微波输入端分别与所述光分束器的一个输出端、微波源的输出端连接，用于对输入的光载波进行抑制偶阶边带的光强度调制；
光滤波器，其输入端与所述光强度调制器的输出端连接，用于从光强度调制器输出的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号；
光合束器，其输入端分别与所述光分束器的另一个输出端以及所述光滤波器的输出端连接；
所述光滤波器与光合束器之间为待测光器件的接入位置；
所述主控单元用于控制微波扫频源，同时存储传输函数，并进行数据处理和结果显示；微波幅相接收机用于以微波扫频信号为参考，提取光探测器输出电信号的幅度相位信息；主控单元的控制信号输出端口与微波扫频源的控制端口相连，以控制微波扫频微波信号的频率；光合束器后依次级联光电探测器和微波幅相接收机，微波幅相接收机的输出端口与主控单元输入端口相连。
2.如权利要求1所述光器件测量装置，其特征在于，所述光强度调制器包括马赫-增德尔调制器、偏置电压源，马赫-增德尔调制器的微波输入端、偏置输入端分别与所述微波源的输出端、偏置电压源的输出端连接，马赫-增德尔调制器的光输入端、输出端分别与所述光分束器的一个输出端、所述光滤波器的输入端连接。
3.如权利要求1或2所述光器件测量装置的光器件测量方法，其特征在于，将待测光器件接入所述光滤波器与光合束器之间；主控单元控制微波扫频源输出扫频的微波信号，并以微波扫频源的输出信号为参考，利用微波幅相接收机提取光电探测器输出信号中所携的待测光器件的传输函数；然后利用预先测得的未接入待测光器件时的系统传输函数对其进行校正，得到待测光器件的准确的传输函数。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201210557111.3A CN103067075B (zh) | 2012-12-20 | 2012-12-20 | 光器件测量装置、测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201210557111.3A CN103067075B (zh) | 2012-12-20 | 2012-12-20 | 光器件测量装置、测量方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103067075A CN103067075A (zh) | 2013-04-24 |
| CN103067075B true CN103067075B (zh) | 2016-01-06 |
Family
ID=48109556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201210557111.3A Active CN103067075B (zh) | 2012-12-20 | 2012-12-20 | 光器件测量装置、测量方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103067075B (zh) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103490821B (zh) * | 2013-09-13 | 2016-04-20 | 南京航空航天大学 | 一种光单边带偏振调制方法及装置 |
| CN103954356B (zh) * | 2014-04-11 | 2016-02-17 | 南京航空航天大学 | 一种光器件光谱响应测量方法、测量系统 |
| CN104101484B (zh) * | 2014-06-25 | 2016-08-17 | 南京航空航天大学 | 基于双边带调制的光器件测量方法及测量装置 |
| CN104165756B (zh) * | 2014-08-27 | 2017-03-08 | 中国科学院半导体研究所 | 基于受激布里渊散射的高灵敏度光矢量网络分析仪 |
| CN105007124B (zh) * | 2015-06-24 | 2017-07-18 | 中国科学院半导体研究所 | 基于双电吸收调制激光器实现单边带调制的系统 |
| CN106124857B (zh) * | 2016-06-08 | 2019-03-22 | 哈尔滨工业大学 | 一种基于电光法珀腔的微波光子学频率测量装置 |
| EP3534543B1 (en) | 2016-11-30 | 2021-10-20 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Signal processing method and device, and optical fibre transmission system |
| CN108196131A (zh) * | 2018-04-02 | 2018-06-22 | 南京曦光信息科技有限公司 | 一种基于mems的光纤电信号检测装置 |
| CN108519167B (zh) * | 2018-04-16 | 2019-12-24 | 湖南工学院 | 无线光子温度传感系统和方法 |
| CN108802698A (zh) * | 2018-06-11 | 2018-11-13 | 南京航空航天大学 | 基于微波光子倍频与正交解调的雷达探测方法、装置 |
| CN109084961B (zh) * | 2018-07-09 | 2019-08-16 | 南京航空航天大学 | 基于载频抑制的光器件频谱响应测量方法和装置 |
| CN110048769B (zh) * | 2019-04-29 | 2021-01-22 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种自适应频响特性测试装置及方法 |
| CN112671681B (zh) * | 2020-02-03 | 2022-03-01 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | 边带抑制方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN115242310B (zh) * | 2022-07-01 | 2023-12-15 | 浙江大学 | 硅基调制器产生高边带抑制比单边带信号的方法及系统 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101465692A (zh) * | 2009-01-07 | 2009-06-24 | 北京邮电大学 | 光的ofdm系统中单边带光信号的调制方法和发射装置 |
| CN101800606A (zh) * | 2010-02-05 | 2010-08-11 | 上海交通大学 | 光单边带调制装置 |
| CN102215066A (zh) * | 2011-06-09 | 2011-10-12 | 中国科学院半导体研究所 | 单边带调制的光生微波载波信号产生装置 |
| CN102607618A (zh) * | 2012-02-21 | 2012-07-25 | 南京航空航天大学 | 一种光纤传感方法、光纤传感装置及其使用方法 |
| CN102638305A (zh) * | 2012-03-29 | 2012-08-15 | 南京航空航天大学 | 一种基于光单边带调制的光器件测量方法、测量装置 |
-
2012
- 2012-12-20 CN CN201210557111.3A patent/CN103067075B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101465692A (zh) * | 2009-01-07 | 2009-06-24 | 北京邮电大学 | 光的ofdm系统中单边带光信号的调制方法和发射装置 |
| CN101800606A (zh) * | 2010-02-05 | 2010-08-11 | 上海交通大学 | 光单边带调制装置 |
| CN102215066A (zh) * | 2011-06-09 | 2011-10-12 | 中国科学院半导体研究所 | 单边带调制的光生微波载波信号产生装置 |
| CN102607618A (zh) * | 2012-02-21 | 2012-07-25 | 南京航空航天大学 | 一种光纤传感方法、光纤传感装置及其使用方法 |
| CN102638305A (zh) * | 2012-03-29 | 2012-08-15 | 南京航空航天大学 | 一种基于光单边带调制的光器件测量方法、测量装置 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| A high resolution optical vector network analyzer based on a wideband and wavelength-tunable optical single-sideband modulator;Zhenzhou Tang, et al,.;《OPTICS EXPRESS》;20120312;第20卷(第6期);全文 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103067075A (zh) | 2013-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103067075B (zh) | 光器件测量装置、测量方法 | |
| Zhang et al. | Instantaneous microwave frequency measurement using an optical phase modulator | |
| CN106487453B (zh) | 一种零中频的微波光子信道化接收机的装置及方法 | |
| CN103091072B (zh) | 基于光单边带调制的光器件测量方法、测量装置 | |
| CN102638305B (zh) | 一种基于光单边带调制的光器件测量方法、测量装置 | |
| CN107085143B (zh) | 一种光电频响测试仪及测试方法 | |
| CN105738080B (zh) | 一种光器件光谱响应测量方法及测量装置 | |
| CN108088655B (zh) | 基于双边带调制与频移的光器件测量方法、装置 | |
| CN103048121B (zh) | 一种光器件测量方法及测量装置 | |
| CN109084961B (zh) | 基于载频抑制的光器件频谱响应测量方法和装置 | |
| CN107121193B (zh) | 光谱测量方法、装置 | |
| CN103954356B (zh) | 一种光器件光谱响应测量方法、测量系统 | |
| CN107528638A (zh) | 基于微波光子滤波的宽带微波信号到达角估计方法 | |
| CN107634807B (zh) | 基于啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置 | |
| CN108449131B (zh) | 一种基于混频的相干光接收机参数测量方法、装置 | |
| CN105606890A (zh) | 一种光波元件频率响应特性参数测量装置 | |
| Li et al. | Optical sideband processing approach for highly linear phase-modulation/direct-detection microwave photonics link | |
| CN110057544B (zh) | 一种光电转换模块频率响应自动测量装置及方法 | |
| CN104165756A (zh) | 基于受激布里渊散射的高灵敏度光矢量网络分析仪 | |
| CN105911723A (zh) | 基于Sagnac环的电光调制器偏压控制装置和方法 | |
| CN105547654A (zh) | 一种基于光双边带调制的光器件测量方法及测量系统 | |
| CN113992275A (zh) | 一种基于光子信道化采样的宽带信号接收方法与装置 | |
| CN107835053B (zh) | 一种高精度瞬时微波频率测量装置 | |
| CN108918085A (zh) | 基于双啁啾强度调制的光矢量分析方法及装置 | |
| CN108540219A (zh) | 一种基于移频调制的相干光接收机参数测量方法、装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |