CN103019301A - 一种模拟实时时钟的mcu的计数器的校验装置及其校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置及其校验方法。本发明公开的方法，首先将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。本发明通过对待校验的MCU计数器进行精准校验，经校验后的MCU的计数器模拟实时时钟功能可以与硬件RTC模组精度相媲美，完全可以实现MCU的计数器对模拟硬件RTC模组的替代。
Description
技术领域
本发明涉及电子产品领域，尤其涉及一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置及其校验方法。
背景技术
随着电子行业激烈竞争的加剧，厂家在不影响产品正常功能的前提下，需要考虑尽可能的降低产品生产成本，其中，包括对产品中硬件RTC（real time clock，实时时钟）模组的节约等。但是，节约掉硬件RTC模组后，客户又需要相应的实时时钟功能，因此一种能模拟的RTC模组的实时时钟功能的部件亟待开发。
众所周知，MCU（Micro Control Unit，微控制单元）的Timer（计数器）本身就是一个计数器，当配置外部12M晶振作为MCU的Timer频率源时，可以推算出Timer计数12M次就约等于单位时间1S；理论上，配置Timer的翻转计数次数（即达到翻转时所需的计数次数）为12000000次，也就是当Timer计数到12000000次的时候，又会重新翻转到0计数，如此反复运行。现有技术中，采用电子产品中的MCU的Timer功能模拟和替代RTC模组的功能的方法很多。但是，在实际应用当中，由于晶振本身以及MCU运行时均有一定误差，这导致这类方法和产品产生的误差不一，MCU的计数器并不能得到精确的1S，存在实时误差较大的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置。
本发明的另一目的在于提供一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，旨在解决现有的MCU的计数器模拟实时时钟功能时存在计时不精确的问题。
为了实现上述目的，本发明提供模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置，包括：
标杆模块，用于将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
获取模块，用于获取所述标杆的标准翻转计数次数；
调节模块，用于根据获取模块获取的所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
优选的，所述调节模块还用于根据所述其他待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数调节待校验的MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，包括以下具体步骤：
将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
优选的，所述根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数的步骤之后还包括：
根据所述其他待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数调节其自身MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
优选的，所述标杆的制作步骤包括：
（1）取一待校验的MCU的计数器为待校验标杆，且预先设置所述待校验标杆的计数器1秒内的假定翻转计数次数；
（2）将所述待校验标杆与标准时间进行比对一定时长，获取所述待校验标杆的总误差秒数，并计算出所述待校验标杆的校正翻转计数次数；
（3）将所述校正翻转计数次数作为所述待校验标杆的计数器1秒内的假定翻转计数次数，重复执行步骤（2）及（3），直到所述总误差秒数为零时，确定该待校验标杆为标杆，并将所述校正翻转计数次数作为所述标杆的标准翻转计数次数。
优选的，上述步骤（2）中，所述计算包括：将所述总误差秒数除以一定时长的总秒数再乘以所述假定翻转计数次数，得出所述待校验标杆1秒内的平均计数次数误差，用所述假定翻转计数次数减去平均计数次数误差，得到所述待校验标杆的校正翻转计数次数。
优选的，所述确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数的方法包括以下具体步骤：
所述标杆发送第一次脉冲给待校验MCU的计数器，同时所述标杆的计数器开始计数，待校验MCU的计数器接收到第一次脉冲后也开始计数；
所述标杆到达预定的测试时间后给待校验MCU的计数器发送第二次脉冲，同时所述标杆的计数器停止计数，待校验MCU的计数器接收到第二次脉冲后也停止计数；
获取所述待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数，将所述标杆的标准翻转计数次数减去待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数得到待校验MCU的计数器1秒内的计数误差，最后将所述标准翻转计数次数减去计数误差得到待校验MCU的计数器每次翻转的计数次数。
本发明提供了一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置及其校验方法，该方法，首先将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。本发明通过对待校验的MCU计数器进行精准校验，经校验后的MCU的计数器模拟实时时钟功能可以与硬件RTC模组精度相媲美，完全可以实现MCU的计数器对模拟硬件RTC模组的替代。
附图说明
图1是本发明的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法较佳实施例的流程示意图；
图2为本发明一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置的较佳实施例的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提出一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法。
请参阅图1，图1为本发明模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法较佳实施例的流程示意图，该方法包括如下步骤。
步骤S10：将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
其中，将任意一个MCU的计数器制作成标杆，具体步骤如下：
（1）取一个待校验的MCU的计数器为待校验标杆，假定其翻转计数次数为12 000 000次。
（2）将该待校验标杆与标准北京时间进行比对一定时长，如进行比对15天，获取待校验标杆的总误差秒数，将总误差秒数除以一定时长内总秒数，得出1秒内的待校验标杆的计数器平均计数次数误差，用计数器的假定翻转计数次数减去平均计数次数误差，得到校正翻转计数次数。
（3）将步骤（2）得到的校正翻转计数次数设置到产品中作为标杆的计数器1秒内新的假定翻转计数次数，重复步骤（2）。
其中，将步骤（2）以及（3）重复循环多次，直到待校验模拟实时时钟一定时长内的误差时间与标准北京时间为零为止，最终获取含准确翻转计数次数的待校验标杆为标杆，并以标杆的翻转计数次数为标准翻转计数次数。
具体举例来说，假设15天内，待校验模拟实时时钟与标准北京时间相比，总误差时间16秒，可推算出待校验模拟实时时钟每秒误差时间内计数器的1秒内计数误差次数为148次，即16秒÷（15天X 24小时/天X 3600秒/小时）X 12 000 000 次/秒 = 148次/秒；此时，将待校验模拟实时时钟的计数器1秒内的假定翻转计数次数重新设定为11 999 852次，即12 000 000次/秒–148次/秒 = 11 999 852次/秒；将该假定的翻转计数次数重复步骤（2），如此循环，直到待校验模拟实时时钟15天内的误差时间与标准北京时间为零为止，最终获取含标准计数次数的MCU计数器作为标杆。
步骤S20：根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
其中，可以将标杆做成治具的形式，用治具的一个顶针顶在待校验的MCU的计数器的测试点上。标杆发送第一次脉冲给待校验的MCU的计数器，同时标杆的自身计数器开始计数，待校验的MCU的计数器接收到第一次脉冲后也开始计数。当达到一定测试时间后标杆给待校验的MCU的计数器发送第二次脉冲，同时标杆自身的计数器停止计数，待校验的MCU的计数器接收到第二次脉冲后也停止计数。通过获取待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数，并将所述标杆的标准翻转计数次数减去待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数得到待校验MCU的计数器1秒内的计数误差，最后将所述标准翻转计数次数减去计数误差得到待校验MCU的计数器每次翻转的计数次数。
在具体计算过程中，例如，假设待校验的MCU的计数器模拟实时时钟的测定计数次数为 719 999 460次，标杆的测定计数次数为720 000 000次，反复进行比对测试的时间为1min，那么可计算出待确定Timer的1秒误差：（720 000 000-719 999 460）/60 = 9，跟据Timer原理，可以确定出待校验实时时钟的Timer的翻转计数次数为：12 000 000-9 =11 999 991。
进一步的，根据待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数相应调节待校验MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
在上述实施例中，待校验好的MCU的计数器完成一次翻转对应的时间为1秒，计数器翻转后重新从零开始计数，如此循环反复。其中，MCU的计数器每完成一次翻转，秒钟变量的数值增加1并不断进行累加；当秒钟变量数值大于59后进行归零，同时分钟变量的数值增加1并不断进行累加；当分钟变量数值大于59后进行归零，同时小时变量的数值增加1并不断进行累加；当小时变量的数值大于23后进行归零，最终得到模拟实时时钟功能的MCU的计数器。
上述实施例通过将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。通过对待校验的MCU计数器进行精准校验，经校验后的MCU的计数器模拟实时时钟功能可以与硬件RTC模组精度相媲美，完全可以实现MCU的计数器对模拟硬件RTC模组的替代。
本发明进一步提出一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置。
参阅图2，图2为本发明一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置的较佳实施例的结构示意图。
本实施例中，一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置具体包括：
标杆模块01，用于将标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
获取模块02，用于获取所述标杆的标准翻转计数次数；
调节模块03，用于根据获取模块获取的所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
标杆模块01用于将标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数，其中标杆为任意一个MCU计数器制作而成，调节模块03，根据获取模块02获取的所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
其中，调节模块03还用于根据所述其他待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数调节待校验的MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
本实施例中，将任意一个MCU的计数器制作成标杆，以及根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数的具体过程可参照上述实施例，在此不再赘述。
应当理解的是，本发明可用其他的不违背本发明的精神或主要特征的具体形式来概述。因此，无论从哪一点来看，本发明的上述实施例只能认为是对本发明的说明而不能限制本发明，权利要求书指出了本发明的范围，而上述的说明并未指出本发明的范围，因此在与本发明的权利要求书相当的含义和范围内的任何改变，都应认为是包括在权利要求书的范围内。
Claims (7)
1.一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置，其特征在于，包括：
标杆模块，用于将标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
获取模块，用于获取所述标杆的标准翻转计数次数；
调节模块，用于根据获取模块获取的所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
2.根据权利要求1所述的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验装置，其特征在于，所述调节模块还用于根据所述其他待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数调节待校验的MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
3.一种模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，其特征在于：包括以下具体步骤：
将任意一个MCU的计数器制作成标杆，且将所述标杆的计数器每次翻转的计数次数作为标准翻转计数次数；
根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数。
4.根据权利要求3所述的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，其特征在于，所述根据所述标杆的标准翻转计数次数对其他待校验的MCU的计数器进行校验，确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数的步骤之后还包括：
根据所述其他待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数调节其自身MCU的计数器，使得待校验的MCU的计数器完成一次翻转的时间与所述标杆的计数器完成一次翻转的时间一致。
5.根据权利要求4所述的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，其特征在于，所述标杆的制作步骤包括：
（1）取一待校验的MCU的计数器为待校验标杆，且预先设置所述待校验标杆的计数器1秒内的假定翻转计数次数；
（2）将所述待校验标杆与标准时间进行比对一定时长，获取所述待校验标杆的总误差秒数，并计算出所述待校验标杆的校正翻转计数次数；
（3）将所述校正翻转计数次数作为所述待校验标杆的计数器1秒内的假定翻转计数次数，重复执行步骤（2）及（3），直到所述总误差秒数为零时，确定该待校验标杆为标杆，并将所述校正翻转计数次数作为所述标杆的标准翻转计数次数。
6.根据权利要求5所述的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，其特征在于，步骤（2）中，所述计算包括：将所述总误差秒数除以一定时长的总秒数再乘以所述假定翻转计数次数，得出所述待校验标杆1秒内的平均计数次数误差，用所述假定翻转计数次数减去平均计数次数误差，得到所述待校验标杆的校正翻转计数次数。
7.根据权利要求3所述的模拟实时时钟的MCU的计数器的校验方法，其特征在于，所述确定其它待校验的MCU的计数器每次翻转的计数次数的方法包括以下具体步骤：
所述标杆发送第一次脉冲给待校验MCU的计数器，同时所述标杆的计数器开始计数，待校验MCU的计数器接收到第一次脉冲后也开始计数；
所述标杆到达预定的测试时间后给待校验MCU的计数器发送第二次脉冲，同时所述标杆的计数器停止计数，待校验MCU的计数器接收到第二次脉冲后也停止计数；
获取所述待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数，将所述标杆的标准翻转计数次数减去待校验MCU的计数器的每秒内的计数次数得到待校验MCU的计数器1秒内的计数误差，最后将所述标准翻转计数次数减去计数误差得到待校验MCU的计数器每次翻转的计数次数。
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