CN102982536B - 处理图像的方法和设备 - Google Patents

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    • G09G5/00Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/10Intensity circuits

Abstract

本发明提供了处理图像的方法和设备。该方法包括:确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,掩膜以当前帧图像中的第一像素点为中心,该至少一个块是对当前帧图像进行划分得到的,该块包括多个像素点;确定至少一个块中的每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数;确定至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值;根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值。本发明实施例能够在节省资源的同时,提高图像处理速度。

Description

处理图像的方法和设备
技术领域
本发明涉及图像领域,并且具体地,涉及处理图像的方法和设备。
背景技术
由于显示设备的动态范围的不足,常常导致捕获到的图像无法完美显示,当暗部细节被显示时亮部细节就会丢失,当亮部细节被显示时暗部细节就会丢失,暗部细节和亮部细节往往不能同时显示。
为了获得较好的图像效果,目前常用的处理方法有局部调整法,即使用掩膜对图像进行处理,这样处理的图像细节呈现好,局部对比度高,但是该方法需要对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此复杂度高,占用资源大,严重降低了图像处理速度。
发明内容
本发明实施例提供处理图像的方法和设备,能够在节省资源的同时,提高图像处理速度。
第一方面,提供了一种处理图像的方法,包括:确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,该掩膜以该当前帧图像中的第一像素点为中心,该至少一个块是对该当前帧图像进行划分得到的,该块包括多个像素点;确定该至少一个块中的每个块的像素均值,并根据该每个块的像素均值确定该每个块对应的灰度映射曲线函数;确定该至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值;根据该每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值、该每个块对应的灰度映射曲线函数以及该第一像素点的原始像素值,确定该第一像素点的调整像素值。
结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,确定该至少一个块中的每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数包括:获取与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值;将该与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为该每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
结合第一方面,在第二种可能的实现方式中,确定该至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数包括:对该每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定该每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
结合第一方面,在第三种可能的实现方式中,确定该至少一个块中的每个块的像素均值,根据该每个块的像素均值确定该每个块对应的灰度映射曲线函数,包括:确定该至少一个块中的每个块的像素均值;当每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;当每个块的像素均值大于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;该曲线函数TRC1和曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式或第一方面的第二种或第一方面的第三种可能的实现方式,在第四种可能的实现方式中,按照以下等式确定该第一像素点的调整像素值pout
p out = Σ i = 1 n p r ( b i ) × T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示该至少一个块的数目,n为正整数,pin表示该第一像素点的原始像素值,bi表示该至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数所对应的输出值。
第二方面,提供了一种处理图像的设备,包括:第一确定单元,用于确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,该掩膜以该当前帧图像中的第一像素点为中心,该至少一个块是对该当前帧图像进行划分得到的,该块包括多个像素点;第二确定单元,用于确定该至少一个块中的每个块的像素均值,并根据该每个块的像素均值确定该每个块对应的灰度映射曲线函数;第三确定单元,用于确定该至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值;第四确定单元,与第一确定单元、第二确定单元和第三确定单元连接,用于根据该每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值、该每个块对应的灰度映射曲线函数以及该第一像素点的原始像素值,确定该第一像素点的调整像素值。
结合第二方面,在第一种可能的实现方式中,该第二确定单元具体用于获取与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值;将该与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为该每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
结合第二方面,在第二种可能的实现方式中,该第二确定单元具体用于对该每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定该每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
结合第二方面,在第三种可能的实现方式中,第二确定单元具体用于确定至少一个块中的每个块的像素均值;当每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;当每个块的像素均值大于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;曲线函数TRC1和曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式或第二方面的第二种或第二方面的第三种可能的实现方式,在第四种可能的实现方式中,第四确定单元具体用于按照以下等式确定该第一像素点的调整像素值pout
p out = Σ i = 1 n p r ( b i ) × T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示该至少一个块的数目,n为正整数,pin表示该第一像素点的原始像素值,bi表示该至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数所对应的输出值。
本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,并根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,而无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时,提高图像处理速度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的处理图像的方法的示意性流程图。
图2是根据本发明实施例的处理图像的一个例子的示意图。
图3是根据本发明实施例的灰度映射曲线函数的一个例子的示意图。
图4是根据本发明实施例的灰度映射曲线函数的另一例子的示意图。
图5是根据本发明实施例的处理图像的设备的示意框图。
图6是根据本发明另一实施例的处理图像的设备的示意框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都应属于本发明保护的范围。
图1是根据本发明实施例的处理图像的方法的示意性流程图。图1的方法由处理图像的设备执行。
110,确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,该掩膜以当前帧图像中的第一像素点为中心,该至少一个块是对当前帧图像进行划分得到的,块包括多个像素点。
本发明实施例中,当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,可以包括被掩膜全部覆盖的块和被掩膜部分覆盖的块。
可选地,作为另一实施例,在步骤110之前,可对当前帧图像进行划分。例如,可以根据当前帧图像的质量等实际情况,将当前帧图像划分为多个块,可以是均匀地划分,也可以是不均匀地划分,本发明实施例对此不作限定。块可以包括多个像素点。
第一像素点为当前需要处理的像素点。掩膜以第一像素点为中心,掩膜的尺寸可以根据当前帧图像的质量等实际情况确定。
120,确定至少一个块中的每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。
可选地,作为另一实施例,上述步骤120可以进一步包括:
确定至少一个块中的每个块的像素均值;当每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;当每个块的像素均值大于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;曲线函数TRC1和曲线函数TRC2可用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
例如,第一阈值可以为64。当块的像素均值小于或者等于64时,可以确定该块对应的灰度映射曲线函数为用于调整图像的暗部区域的曲线函数TRC1。当块的像素均值大于64时,可以确定该块对应的灰度映射曲线为用于调整图像的亮部区域的曲线函数TRC2。
像素均值为像素值的平均值。灰度映射曲线函数可参照现有技术进行确定,例如,可以根据当前帧图像的质量等信息,对基本的S形曲线函数进行调整,得到灰度映射曲线函数。灰度映射曲线函数可以包括两个曲线函数,也可以包括三个曲线函数或者更多,本发明实施例对此不作限定。例如,灰度映射曲线函数可以包括两个曲线函数,分别用于调整图像的暗部区域(例如可以是曲线函数TRC1)和亮部区域(例如可以是曲线函数TRC2)。或者,灰度映射曲线函数可以包括三个曲线函数,分别用于调整图像的暗部区域、中间区域和亮部区域。暗部区域、中间区域和亮部区域可以根据像素值进行划分。
可选地,作为一个实施例,可获取与每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值,将与每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为每个块的像素均值,根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。
当前帧图像的划分方式可与前一帧图像的划分方式相同,这样可调用前一帧图像的数据信息确定当前帧图像中被掩膜覆盖的每个块的像素均值,即与当前帧图像中被掩膜覆盖的每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值,作为当前帧图像中被掩膜覆盖的每个块的像素均值。这样,能够直接调用前一帧图像的信息对当前帧图像进行处理,无需额外的缓冲器(Buffer),从而能够节省资源,并能够提高图像处理速度,而且便于硬件实现。
可选地,作为另一实施例,可对每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定每个块的像素均值,根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。
130,确定该至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值。
140,根据每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值。
第一像素点的调整像素值可以是指对第一像素点的原始像素值经过处理后得到的像素值,例如在步骤140中,可以根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值和每个块对应的灰度映射曲线函数,对第一像素点的原始像素值进行处理,从而得到第一像素点的调整像素值。
可选地,作为另一实施例,可以按照以下等式确定第一像素点的调整像素值pout
p out = Σ i = 1 n p r ( b i ) × T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示被掩膜覆盖的至少一个块的数目,n为正整数,pin表示第一像素点的原始像素值,bi表示至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数所对应的输出值。
应理解,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。例如,步骤120可以在步骤130之后执行,也可以与步骤130同时执行。
现有技术中在使用掩膜进行图像处理时,需要对掩膜内的像素点进行归一化处理,再根据归一化的结果确定当前需要处理的像素点的调整像素值,因此计算复杂度高,占用资源大,图像处理速度低。而本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的每个块,根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,就无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时提高图像处理速度,并且便于硬件实现。此外,本发明实施例中,由于是基于每个块的统计特征值进行图像处理的,例如每个块的像素均值,每个块对应的灰度映射曲线函数,而且掩膜的尺寸也可以根据当前帧图像的情况进行确定,因此可以通过调整掩膜所覆盖的块的数目来模拟第一像素点的邻域的大小,使得图像处理过程中具有灵活性,从而能够保证图像处理效果。
本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,并根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,而无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时,提高图像处理速度,并且便于硬件实现。
下面将结合具体的例子详细描述本发明实施例。应注意,这些例子是为了帮助本领域技术人员更好地理解本发明实施例,而非限制本发明实施例的范围。
图2是根据本发明实施例的处理图像的一个例子的示意图。
如图2所示,图像210可以为当前帧图像。第一像素点P1为当前需要处理的像素点。
图像210可以被划分为多个块,例如在图2中,图像210可以被划分为6*6=36块。
掩膜220可以以第一像素点P1为中心,尺寸可以根据图像210的质量等参数进行确定。例如,在图2中,掩膜220的尺寸可以为200*200,因此可以覆盖16个块,包括被掩膜220全部覆盖的块和被掩膜220部分覆盖的块,其中,被掩膜220全部覆盖的块包括块6、块7、块10和块11,被掩膜220部分覆盖的块包括块1至块4,块5、块8、块9、块12以及块13至块16。
对第一像素点P1的像素值的处理过程可以如下:
(1)确定被掩膜覆盖的每个块的像素均值。
例如,可以对每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定每个块的像素均值。
此外,也可以将与块1至块16分别对应的前一帧图像中的块的像素均值作为块1至块16各自的像素均值。例如,前一帧图像中每个块的像素均值可以是在处理前一帧图像时确定的,并存储在双倍速率(Double Data Rate,DDR)同步动态随机存储器(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM)中。因此,可以从DDR SDRAM中获取与块1至块16分别对应的前一帧图像中的块的像素均值,作为块1至块16各自的像素均值。这样,不仅能够保证图像处理的效果,而且无需额外的缓冲器,能够节省资源,并能够提高图像处理速度。
假设所确定的块1至块16的像素均值分别是:16、36、22、88、230、163、120、222、0、66、192、206、163、255、255和99。
(2)根据块1至块16的像素均值,分别确定块1至块16对应的灰度映射曲线函数。
图3是根据本发明实施例的灰度映射曲线函数的一个例子的示意图。灰度映射曲线函数可参照现有技术进行确定。如图3所示,该灰度映射曲线函数包括曲线函数TRC1和曲线函数TRC2。曲线函数TRC1可用于调整暗部区域,曲线函数TRC2可用于调整亮部区域。暗部区域和亮部区域的划分可以如下:
0<像素值≤64,暗部区域;
64<像素值≤255,亮部区域。
根据块1至块16的像素均值,可以分别确定块1至块16对应的曲线函数。
例如,块1的像素均值为16,属于暗部区域,那么块1对应曲线函数TRC1。块2至块16对应的曲线函数的确定方式类似,为了避免重复,此处不再赘述。
图4是根据本发明实施例的灰度映射曲线函数的另一例子的示意图。如图4所示,该灰度映射曲线函数可以包括曲线函数TRC3、曲线函数TRC4和曲线函数TRC5。曲线函数TRC3可用于调整暗部区域,曲线函数TRC4可用于调整中间区域,曲线函数TRC5可用于调整亮部区域。暗部区域、中间区域和亮部区域的划分可以如下:
0<像素值≤64,暗部区域;
64<像素值≤192,中间区域;
192<像素值≤255,亮部区域。
根据块1至块16的像素均值,可以分别确定块1至块16所对应的曲线函数。例如,块1的像素均值为16,属于暗部区域,那么块1对应曲线函数TRC3。块4的像素均值为88,属于中间区域,那么块4对应曲线函数TRC4。其它块对应的曲线函数的确定方式类似,为了避免重复,此处不再赘述。
(3)确定块1至块16中每个块被掩膜220覆盖的部分的面积与掩膜220的面积的比值。
例如,如图3所示,块1被掩膜220覆盖的部分的面积为x1*y1,则块1被掩膜220覆盖的部分的面积与掩膜220的面积的比值Pr(块1)=(x1*y1)/(200*200);块2被掩膜220覆盖的部分的面积与掩膜220的面积的比值Pr(块2)=(x2*y1)/(200*200)。块3至块16被掩膜220覆盖的部分的面积与掩膜220的面积的比值的确定方式类似,为了避免重复,此处不再赘述。
(4)确定第一像素点P1的调整像素值Pout
假设第一像素点P1的原始像素值为Pin,根据图3的灰度映射曲线函数的例子,第一像素点P1的调整像素值Pout可以按照下述等式确定:
Pout=Pr(块1)*TRC1(Pin)+Pr(块2)*TRC1(Pin)+Pr(块3)*TRC1(Pin)+Pr(块4)*TRC2(Pin)+…+Pr(块16)*TRC2(Pin)。
其中,TRC1(Pin)可以表示当输入值为Pin时,曲线函数TRC1所对应的输出值。TRC2(Pin)可以表示当输入值为Pin时,曲线函数TRC2上所对应的输出值。
本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,并根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,而无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时,提高图像处理速度,并且便于硬件实现。
图5是根据本发明实施例的处理图像的设备的示意框图。图5的设备500包括第一确定单元510、第二确定单元520、第三确定单元530和第四确定单元540。设备500的例子可以是解码器或图像信号处理器,此外,设备500还可以是其它形态的产品,本发明实施例对此不作限定。
第一确定单元510确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,该掩膜以该当前帧图像中的第一像素点为中心,该块是对该当前帧图像进行划分得到的,该块包括多个像素点。第二确定单元520确定至少一个块中的每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。第三确定单元530确定每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值。第四确定单元540与第一确定单元510、第二确定单元520和第三确定单元530相连接,根据每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及该第一像素点的原始像素值,确定该第一像素点的调整像素值。
本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,并根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,而无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时,提高图像处理速度,并且便于硬件实现。
设备500的其它功能和操作可参照上面图1至图4的方法实施例的过程,为了避免重复,此处不再赘述。
可选地,作为一个实施例,第二确定单元520可获取与每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值,将与每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。
可选地,作为另一实施例,第二确定单元520可对每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定每个块的像素均值,并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数。
可选地,作为另一实施例,第二确定单元520可确定至少一个块中的每个块的像素均值;当每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;当每个块的像素均值大于第一阈值时,确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;曲线函数TRC1和曲线函数TRC2可用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
可选地,作为另一实施例,第四确定单元540可按照以下等式确定第一像素点的调整像素值pout
p out = &Sigma; i = 1 n p r ( b i ) &times; T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示至少一个块的数目,n为正整数,pin表示第一像素点的原始像素值,bi表示至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数所对应的输出值。
本发明实施例中,通过确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,并根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值,确定第一像素点的调整像素值,而无需对掩膜内的像素点进行归一化处理,因此能够在节省资源的同时,提高图像处理速度,并且便于硬件实现。
图6是根据本发明另一实施例的处理图像的设备的示意框图。
如图6所示,设备600一般包括至少一个处理器610,例如CPU,至少一个端口620,存储器630,和至少一个通信总线640。通信总线640用于实现这些装置之间的连接通信。处理器610用于执行存储器630中存储的可执行模块,例如计算机程序;可选地,设备600可包括用户接口650,用户接口650包括但不限于显示器,键盘和点击设备,例如鼠标、轨迹球(trackball)、触感板或者触感显示屏。存储器630可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory),例如至少一个磁盘存储器。
在一些实施方式中,存储器630存储了如下的元素,可执行模块或者数据结构,或者他们的子集,或者他们的扩展集:
操作系统632,包含各种系统程序,用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务;
应用模块634,包含各种应用程序,用于实现各种应用业务。
应用模块634中包括但不限于第一确定单元510、第二确定单元520、第三确定单元530和第四确定单元540。
应用模块632中各单元的具体实现参见图5所示实施例中的相应单元,在此不赘述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种处理图像的方法,其特征在于,包括:
确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,所述掩膜以所述当前帧图像中的第一像素点为中心,所述至少一个块是对所述当前帧图像进行划分得到的,所述块包括多个像素点;
确定所述至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数;
确定所述至少一个块中的每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值;
根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值,确定所述第一像素点的调整像素值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数,包括:
获取与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值;
将所述与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为所述每个块的像素均值;
根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数,包括:
对所述每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定所述每个块的像素均值;
根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数,包括:
确定所述至少一个块中的每个块的像素均值;
当所述每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;
当所述每个块的像素均值大于所述第一阈值时,确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;
所述曲线函数TRC1和所述曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值,确定所述第一像素点的调整像素值,包括:
按照以下等式确定所述第一像素点的调整像素值pout
p out = &Sigma; i = 1 n p r ( b i ) &times; T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示所述至少一个块的数目,n为正整数,pin表示所述第一像素点的原始像素值,bi表示所述至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数所对应的输出值。
6.一种处理图像的设备,其特征在于,包括:
第一确定单元,用于确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块,所述掩膜以所述当前帧图像中的第一像素点为中心,所述至少一个块是对所述当前帧图像进行划分得到的,所述块包括多个像素点;
第二确定单元,用于确定所述至少一个块中的每个块的像素均值,并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数;
第三确定单元,用于确定所述至少一个块中的每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值;
第四确定单元,与所述第一确定单元、所述第二确定单元和所述第三确定单元连接,用于根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值,确定所述第一像素点的调整像素值。
7.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述第二确定单元具体用于获取与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值;将所述与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为所述每个块的像素均值;并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
8.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述第二确定单元具体用于对所述每个块的全部像素点的像素值进行统计,确定所述每个块的像素均值;并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。
9.根据权利要求6所述的设备,其特征在于,所述第二确定单元具体用于确定所述至少一个块中的每个块的像素均值;当所述每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时,确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC1;当所述每个块的像素均值大于所述第一阈值时,确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;所述曲线函数TRC1和所述曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的设备,其特征在于,第四确定单元具体用于按照以下等式确定所述第一像素点的调整像素值pout
p out = &Sigma; i = 1 n p r ( b i ) &times; T RC b i ( p in ) ,
其中,n表示所述至少一个块的数目,n为正整数,pin表示所述第一像素点的原始像素值,bi表示所述至少一个块中的第i个块,pr(bi)表示第i个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值,表示当输入值为pin时,第i个块对应的灰度映射曲线函数上所对应的输出值。
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