CN102866432A - 一种检测晶片的调节装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测晶片的调节装置,该装置包括:2个调节螺钉1、1个固定螺钉2、1个激光器3、1个接收器4。其特征在于:激光器3的激光随着调节螺钉1的松动而变化方向,此装置要先调整调节螺钉1,两个调节螺钉1交换调节,直至激光器3的激光在无晶片的情况下,接收器4接收到激光。就表明调节螺钉1调整完毕,在拧紧固定螺钉2。固定螺钉2用来固定此调节装置。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测晶片的调节装置,在检测机械手上是否有无晶片的调节装置中得到充分的应用。
背景技术
离子注入机是一种通过引导杂质注入半导体晶片,从而改变晶片的传导率的设备,其中,杂质注入的深度和密度的均匀性都直接决定了注入晶片的品质。在晶片传送的过程中,我们采用机械手臂来传送晶片,首先晶片是放在片库的晶片盒子里,需要通过机械手将晶片取出来放到片库中,其次,在等到机械手把片库中的晶片取出来,当在机械手腔中时,系统需要检测机械手臂上是否有晶片,此时激光器发出激光,接收器判断是否接收到激光,若接收到激光,表示机械手上无晶片,进入等待过程,接收器没有接收到激光时,则有晶片在机械手上,进入相应下一步的操作。判断机械手上是否有晶片对于下一步的操作是非常重要的,通过判断是否有晶片来决定机械手臂是否传送晶片。
发明内容
本发明通过以下技术方案实现:
1.一种检测晶片的调节装置,包括:2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。其特征在于,
其中所述调节螺钉(1)用来调节激光座子的位置。激光座位置决定激光器(3)发出的激光,当调节螺钉旋转到特定的位置,激光在无晶片的情况下,接收器接收到激光的位置。
2.一种检测晶片的调节装置,包括:2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。其特征在于,
其中所述固定螺钉(2)固定整个调节装置,当调节螺钉确定之后,拧紧固定螺钉。此调节装置安装完毕。
附图说明
图1是本发明的一种检测晶片的发射调节装置结构图。
图2是本发明的一种检测晶片的接收装置结构图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步详细描述:
该装置包括:2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。此装置中激光器(3)的激光随着调节螺钉(1)的松动而变化方向,首先调整调节螺钉(1),两个调节螺钉(1)交换调节,直至激光器(3)的激光在无晶片的情况下,接收器(4)接收到激光。就表明调节螺钉(1)调整完毕,其次在拧紧固定螺钉(2)。固定螺钉(2)用来固定此调节装置。固定激光器座子。
本发明的特定实施例已对发明内容做了详尽说明。对本领域一般技术人员而言,在不背离本发明原理的前提下对它所做的任何显而易见的改动,都构成对本发明专利的侵犯,将承担相应的法律责任。
Claims (3)
1.一种检测晶片的调节装置,其特征在于:该装置包括:2个调节螺钉(1)、1个固定螺钉(2)、1个激光器(3)、1个接收器(4)。其特征在于:激光器(3)的激光随着调节螺钉(1)的松动而变化方向,此装置要先调整调节螺钉(1),两个调节螺钉(1)交换调节,直至激光器(3)的激光在无晶片的情况下,接收器(4)接收到激光。就表明调节螺钉(1)调整完毕,在拧紧固定螺钉(2)。固定螺钉(2)用来固定此调节装置。
2.权利要求1的检测晶片的调节装置,其中所述的一种检测晶片的调节装置,调整调节螺钉(1),两个调节螺钉(1)交换调节,直至激光器(3)的激光在无晶片的情况下,接收器(4)接收到激光。
3.权利要求2的调节螺钉(1)装置能简单可靠的调节激光位置,而固定螺钉(2)用来固定整个调节装置。
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CN2011101864553A CN102866432A (zh) | 2011-07-05 | 2011-07-05 | 一种检测晶片的调节装置 |
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Addressee: Zhongkexin Electronic Equipment Co., Ltd., Beijing Document name: Notification that Application Deemed to be Withdrawn |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130109 |