CN102857303B - 一种射频拉远单元测试信号生成的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种射频拉远单元测试信号生成的方法及装置，用以节省RRU测试过程中的测试资源。该方法，包括：在当前测试模式下接收输出信号消息；根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值；根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子，使所述RRU根据所述下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。

Description

一种射频拉远单元测试信号生成的方法及装置

技术领域

本发明涉及网络通讯技术领域，特别涉及一种射频拉远单元测试信号生成的方法及装置。

背景技术

射频拉远单元(RemoteRadioUnit，RRU)是一种新型的分布式网络覆盖模式，它将大容量宏蜂窝基站集中放置在可获得的中心机房中，基带部分集中处理，采用光纤将基站中的射频模块拉到远端射频单元，分置于网络规划所确定的站点上，从而节省了常规解决方案所需要的大量机房；同时通过采用大容量宏基站支持大量的光纤拉远，可实现容量与覆盖之间的转化。

RRU生产出来后，需进行上行接收数据的测试，测试通过后才能投入使用。目前的测试过程包括：信号源仪表直接将测试信号通过射频线缆发送到待测试RRU的射频接收端，待测试RRU对接收的测试信号进行解码操作及相关性能测试，从而完成上行接收数据的测试。信号源仪表产生的测试信号一般为固定模式的信号。

可见，在测试过程中，待测试RRU对接收的测试信号的需求是固定的，即信号源仪表仅需产生固定模式的信号。而信号源仪表一般具有多种功能，能产生多种不同模式的信号。这样，大批量生成出RRU后，为了提高生产测试速度需要大量的信号源仪表，而每个信号源仪表仅输出固定模式的信号，这就造成信号源资源的浪费。

发明内容

本发明实施例提供一种射频拉远单元测试信号生成的方法及装置，用以节省RRU测试过程中的测试资源。

本发明实施例提供一种射频拉远单元测试信号生成方法，包括：

在当前测试模式下接收输出信号消息；

根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值；

根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子，使所述RRU根据所述下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。

本发明实施例提供一种射频拉远单元测试信号生成的装置，包括：

接收单元，用于在当前测试模式下接收输出信号消息；

配置单元，用于根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值，以及根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子；

射频射频拉远单元RRU，用于根据下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。

本发明实施例中，RRU测试信号生成的装置在当前测试模式下接收输出信号消息，并根据所述输出信号消息设置射频拉远单元RRU的参数，使RRU生成与当前测试模式对应的测试信号，即通过对RRU的配置，使其能够产生测试RRU的固定模式的信号，即生成测试信号。这样，由RRU组成的RRU测试信号生成的装置，可以充当RRU测试过程中信号源，从而不需要现有技术中功能复杂的信号源仪表，极大的节省了RRU测试过程中的测试资源。

附图说明

图1为本发明实施例中RRU测试信号生成的装置的架构图；

图2为本发明实施例中RRU测试单板的定标环境的示意图；

图3为本发明实施例中RRU测试单板的定标流程图；

图4为本发明实施例中RRU测试单板的测试应用环境的示意图；

图5为本发明实施例中RRU测试单板生成测试信号的流程图。

具体实施方式

由于RRU具有发射信号的能力，因此，本发明实施例中，对已测试完毕的RRU进行配置，使其能够产生测试RRU的固定模式的信号，即生成测试信号。这样，由RRU组成的RRU测试信号生成的装置，可以充当RRU测试过程中信号源，从而不需要现有技术中功能复杂的信号源仪表，极大的节省了RRU测试过程中的测试资源。

本发明实施例中RRU测试信号生成的装置可用RRU测试单板表示，参见图1，该装置包括：接收单元100，配置单元200以及RRU300，其中，

接收单元100，用于在当前测试模式下接收输出信号消息。

配置单元200，用于根据输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值，以及根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置RRU中编程器件的功率因子。

RRU300，用于根据下行数控衰减器的值，以及编程器件的功率因子生成与当前测试模式对应的测试信号。

可见，RRU测试单板在当前测试模式下接收到输出信号消息后，根据该输出信号消息配置RRU的相关参数，使该RRU生成测试RRU过程中所需要的固定模式的信号，即测试信号。

根据上述单元搭建完RRU测试单板后，该RRU测试单板包括三种工作模式，分别为初始模式、定标模式，以及测试信号生成模式，即测试模式。

其中，RRU测试单板启动后，接收到复位信息后，将RRU复位，此时，RRU处于初始状态。复位信号可以是后台软件系统发送的，也可是用户设置的。后台软件系统与RRU测试单板的接收单元100连接。这样，接收单元100接收到复位消息后，配置单元200配置RRU300的相关参数，使其处于初始状态，包括：设置数控衰减器的值、以及编程器件的功率因子等相关参数。

编程器件包括：现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray，FRGA)，或复杂可编程逻辑器件(ComplexProgrammableLogicDevice，CPLD)。

当初始使用RRU测试单板，或者外部环境发生了改变，在使用该RRU测试单板之前，该RRU测试单板需要进行定标操作，通过定标，RRU测试单板保存了不同信号制式下与每个幅度对应的参考频点与补偿增益的对应关系，即保存了参考频点与补偿增益的对应关系。RRU测试单板的定标环境如图2所示，包括：后台软件系统，时钟系统，频谱仪，以及RRU测试单板。其中，后台软件系统与RRU测试单板的接收单元连接，时钟系统控制RRU测试单板的时隙，而RRU测试单板产生的标定信号发送给频谱仪，频谱仪测试接收到的标定信号的实际功率。

在该定标环境下，其定标的具体过程参见图3，包括：

步骤301：RRU测试单板接收后台系统发送的定标指示，配置定标应用环境。

这里，RRU测试单板根据定标指示，打开RRU通道使能开关，调制RRU发送的信号的制式，并设置RRU的编程器件的功率因子，例如：设为0，2，或其他值。

RRU测试单板可生成不同制式的信号，即测试信号包括：单音信号，或，调制信号。因此，RRU测试单板生成的测试信号不同，定标指示也不同。定标指示也包括：单音信号定标指示，或调制信号定标指示。这样，当RRU测试单板接收到单音信号定标指示时，调制RRU发送的信号的制式为单音信号制式；当RRU测试单板接收到调制信号标定指示时，调制RRU发送的信号的制式为调制信号制式。

步骤302：RRU测试单板接收后台软件系统发送的幅值设置信息。

这里，RRU测试单板的接收单元100接收后台软件系统发送的输出信号幅值设置信息。

步骤303：RRU测试单板根据幅值设置信息，将RRU中下行数控衰减器的值配置为设定值。

数控衰减器的值与幅值一一对应，因此，RRU测试单板的配置单元200根据输出信号幅值设置信息，将RRU300中下行数控衰减器的值配置为与该输出信号幅值设置信息中幅值对应的设定值。

步骤304：RRU测试单板接收后台软件系统发送的参考频点设置消息。

同样，RRU测试单板的接收单元100接收后台软件系统发送的参考频点设置消息。

步骤305：RRU测试单板根据参考频点设置消息，设置RRU中的本振和中频。

这里，RRU测试单板的配置单元200根据参考频点的设置消息，设置RRU中的本振和中频。即根据输参考频点设置消息的参考频点，先计算出本振，然后根据参考频点以及本振，得到中频。

步骤306：RRU测试单板中RRU根据设置的下行数控衰减器的值，编程器件的功率因子，本振以及中频，生成标定信号并发送。

标定信号包括：单音信号或调制信号。即步骤306生成的标定信号的制式，已经在步骤301中调制了。

步骤307：频谱仪对接收标定信号进行测试，获得标定信号的实际功率，并反馈给后台软件系统。

步骤308：后台软件系统接收到标定信号的实际功率后，计算标定信号的实际功率与标定信号的理想功率的差值，获得参考频点的补偿增益，并发给RRU测试单板。

标定信号的理想功率即后台软件发送的幅值设置信息中的幅度。

步骤309：RRU测试单板接收参考频点的补偿增益，并保存参考频点与补偿增益的对应关系。

至此，完成了该参考频点的定标过程。重复步骤304-309，可以完成其他参考频点的定标过程，当所有的参考频点的定标过程完成后，即完成了该幅度信号的定标过程；而重复步骤302-309，即可完成其他幅度信号的定标过程。

通过上述定标过程，RRU测试单板中保存了每种测试信号制式下与每个幅度分别对应的参考频点与补偿增益的对应关系。

当RRU测试单板被标定后，就可使用该RRU测试单板进行测试，即该RRU测试单板就可生成测试信号。这样，RRU测试单板被标定后，可从初始模式进入测试模式，或，从定标模式进入测试模式。

该RRU测试单板的测试模式应用环境参见图4，包括：后台软件系统，时钟系统，RRU测试单板，以及待测试RRU。其中，后台软件系统与RRU试单板的接收单元连接，时钟系统控制RRU测试单板以及待侧RRU的时隙，而RRU测试单板产生的测试信号发送给待测RRU。

在该测试模式应用环境中生成测试信号的过程如图5所示，包括：

步骤501：在当前测试模式下，RRU测试单板接收输出信号消息。

测试模式包括：单音信号测试模式，或，调制信号测试模式。因此，当前测试模式为单音信号测试模式，或，调制信号测试模式。

一般，RRU测试单板的接收单元从后台软件系统接收输出信号消息。该输出信号消息包括：工作频点和幅度。

步骤502：RRU测试单板根据输出信号消息中的幅度，设置RRU中下行数控衰减器的值。

数控衰减器的值与幅值一一对应，因此，RRU测试单板的配置单元根据输出信号消息中的幅度，设置射RRU中下行数控衰减器的值。

步骤503：RRU测试单板根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益。

这里，RRU测试单板定标过程中，已经保存了参考频点与补偿增益的对应关系，其中，不同的信号制式，对应关系不同，并且，同一信号制式下，不同的信号幅度，对应关系也不同。

因此，首先将与当前测试模式对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第一对应关系，然后将第一对关系中，与输出信号消息中的幅度对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第二对应关系，最后根据第二对应关系，获取输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益。

若该第二对应关系的参考频点中包括工作频点，则可直接该工作频点对应的第一补偿增益。

若该第二对应关系的参考频点中不包括工作频点，则从该第二对应关系中，分别确定与工作频点相邻的前一个参考频点和前一个参考频点对应的补偿增益，以及与工作频点相邻的后一个参考频点和所述后一个参考频点对应的补偿增益；软后，根据下述公式获得所述工作频点对应的第一补偿增益，

$G_{\mathrm{Freq}\_\mathrm{work}}=\frac{G_{\mathrm{Freq}\_B}-G_{\mathrm{Freq}\_F}}{{\mathrm{Freq}}_B-{\mathrm{Freq}}_F}*({\mathrm{Freq}}_w-{\mathrm{Freq}}_F)+G_{\mathrm{Freq}\_F};$

其中，G_{Freq_work}表示第一补偿增益，Freq_w表示工作频点，Freq_F表示与工作频点相邻的前一个参考频点，G_{Freq_F}表示与前一个参考频点对应的补偿增益，Freq_B表示与工作频点相邻的后一个参考频点，G_{Freq_B}表示与后一个参考频点对应的补偿增益。

步骤504：RRU测试单板根据获得的第一补偿增益，设置RRU中编程器件的功率因子。

这里，编程器件为FPGA，因此，设置FPGA的功率因子。

步骤505：RRU测试单板的RRU根据上述的下行数控衰减器的值，以及编程器件的功率因子生成与当前测试模式对应的测试信号。

即若当前测试模式是单音信号测试模式，则生成的测试信号为单音信号；若当前测试模式是调制信号测试模式，则生成的测试信号为调制信号。

至此，RRU测试单板生成了该工作频点的测试信号。这样，RRU测试单板将该测试信号发送给待测试的RRU，待测试RRU对接收的测试信号进行解码操作及相关性能测试，从而完成行接收数据的测试。

本发明实施例中，RRU测试单板的当前测试模式是需设置的，因此，在生成测试信号之前，这里在步骤501之前，还包括：RRU测试单板接收测试模式信息，并根据该测试模式信息，配置RRU的寄存器。其中，测试模式信息包括：单音信号测试模式信息，或调制信号测试信息。

当测试模式信息为调制信号测试模式信息时，此时，当前测试模式为调制信号测试模式，生成的测试信号为调制信号，需要将发送时隙设置在TD-SCDMA的上行时隙，这样才能够在待测试的RRU中的上行时隙进行信号检测。因此，当测试模式信息为调制信号测试模式信息时，

配置所述RRU的寄存器包括：配置时隙开关，将发送时隙设置为测试信号的上行时隙。

上述实施例中，输出信号消息，测试模式信息，幅值设置信息，以及参考频点设置消息，都是后台软件系统发送给RRU测试单板的，但是本发明实施例不限于此，输出信号消息，测试模式信息，幅值设置信息，以及参考频点设置消息中一种或多种，还可以其他的方式发送给RRU测试单板，例如：在RRU测试单板上手动设置。

上述RRU测试单板即RRU测试信号生成的装置的具体结构如图1所示，该装置中生成测试信号的过程中，其中，

接收单元100，用于在当前测试模式下接收输出信号消息。

配置单元200，用于根据输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值，以及根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置RRU中编程器件的功率因子。

RRU300，用于根据下行数控衰减器的值，以及编程器件的功率因子生成与当前测试模式对应的测试信号。

该装置生成测试信号之前，接收单元100，还用于接收测试模式信号；配置单元200，还用于根据所述测试模式信息，配置所述RRU的寄存器。

该配置单元200，还用于配置RRU的时隙开关，将发送时隙设置为测试信号的上行时隙。

该装置对已测试完毕的RRU的具体配置中，

该配置单元200，具体用于将与所述测试模式对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第一对应关系，将所述第一对应关系中，与所述输出信号消息中的幅度对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第二对应关系，根据所述第二对应关系中，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益。

并且，配置单元200从所述第二对应关系中，确定所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益具体包括：

从所述参考频点与补偿增益之间的第二对应关系中，分别确定与所述工作频点相邻的前一个参考频点对应的补偿增益，以及与所述工作频点相邻的后一个参考频点对应的补偿增益；

根据下述公式获得所述工作频点对应的第一补偿增益，

$G_{\mathrm{Freq}\_\mathrm{work}}=\frac{G_{\mathrm{Freq}\_B}-G_{\mathrm{Freq}\_F}}{{\mathrm{Freq}}_B-{\mathrm{Freq}}_F}*({\mathrm{Freq}}_w-{\mathrm{Freq}}_F)+G_{\mathrm{Freq}\_F};$

其中，G_{Freq_work}表示第一补偿增益，Freq_w表示工作频点，Freq_F表示与工作频点相邻的前一个参考频点，G_{Freq_F}表示与所述前一个参考频点对应的补偿增益，Freq_B表示与工作频点相邻的后一个参考频点，G_{Freq_B}表示与所述后一个参考频点对应的补偿增益。

该装置还需进行定标，定标过程中，

接收单元100，还用于在定标应用环境中接收幅值设置信息，参考频点设置消息，以及参考频点的补偿增益，其中，所述补偿增益是RRU生成的标定信号的理想功率与测试所述标定信号获得的实际功率之间的差值。

配置单元200，还用于根据接收幅值设置信息，将所述RRU中下行数控衰减器的值配置为设定值，根据接收的参考频点设置消息，设置所述RRU中本振和中频，以及保存参考频点与补偿增益的对应关系；

RRU300，还用于生成标定信号并发送。

上述实施例中，测试信号包括：单音信号或调制信号。但是本发明实施例不限于此，测试信号还可包括：TDD-LTE制式的信号，或者，用于系统测试中对一些器件、产品的性能指标测试的信号。

本发明实施例中，RRU测试信号生成的装置在当前测试模式下接收输出信号消息，根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值，以及根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子，使所述RRU根据所述下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。这样，利用RRU组成的RRU测试信号生成的装置，可以充当RRU测试过程中信号源，从而不需要现有技术中功能复杂的信号源仪表，极大的节省了RRU测试过程中的测试资源，降低了生成成本。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种射频拉远单元测试信号生成的方法，其特征在于，包括：

在当前测试模式下接收输出信号消息；

根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值；

根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子，使所述RRU根据所述下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在当前测试模式下接收输出信号消息之前还包括：

接收测试模式信息，并根据所述测试模式信息，配置所述RRU的寄存器。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述测试模式信息为调制信号测试模式信息，所述配置所述RRU的寄存器包括：

配置RRU的时隙开关，将发送时隙设置为测试信号的上行时隙。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益包括：

将与所述测试模式对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第一对应关系；

将所述第一对应关系中，与所述输出信号消息中的幅度对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第二对应关系；

根据所述第二对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述从所述第二对应关系中，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益包括：

从所述第二对应关系中，分别确定与所述工作频点相邻的前一个参考频点对应的补偿增益，以及与所述工作频点相邻的后一个参考频点对应的补偿增益；

根据下述公式获得所述工作频点对应的第一补偿增益，

其中，G_{Freq_work}表示第一补偿增益，Freq_w表示工作频点，Freq_F表示与工作频点相邻的前一个参考频点，G_{Freq_F}表示与所述前一个参考频点对应的补偿增益，Freq_B表示与工作频点相邻的后一个参考频点，G_{Freq_B}表示与所述后一个参考频点对应的补偿增益。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考频点与补偿增益的对应关系的保存过程包括：

在定标应用环境中根据接收的幅值设置信息，将所述RRU中下行数控衰减器的值配置为设定值；

根据接收的参考频点设置消息，设置所述RRU中本振和中频，使所述RRU生成标定信号并发送；

接收参考频点的补偿增益，并保存参考频点与补偿增益的对应关系，其中，所述补偿增益是所述标定信号的理想功率与测试所述标定信号获得的实际功率之间的差值。

7.一种射频拉远单元测试信号生成的装置，其特征在于，包括：

接收单元，用于在当前测试模式下接收设置的输出信号消息；

配置单元，用于根据所述输出信号消息中的幅度，设置射频拉远单元RRU中下行数控衰减器的值，以及根据保存的参考频点与补偿增益的对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益，并根据获得的第一补偿增益，设置所述RRU中编程器件的功率因子；

射频拉远单元RRU，用于根据下行数控衰减器的值，以及所述编程器件的功率因子生成与所述当前测试模式对应的测试信号。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述接收单元，还用于接收测试模式信息；

所述配置单元，还用于根据所述测试模式信息，配置所述RRU的寄存器。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，

所述配置单元，还用于配置RRU的时隙开关，将发送时隙设置为测试信号的上行时隙。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述配置单元，具体用于将与所述测试模式对应的参考频点与补偿增益之间的对应关系确定为第一对应关系，将所述第一对应关系中，与所述输出信号消息中的幅度对应的参考频点与补偿增益之间的的对应关系确定为第二对应关系，根据所述第二对应关系，获取所述输出信号消息中的工作频点对应的第一补偿增益。

11.如权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述接收单元，还用于在定标应用环境中接收幅值设置信息，参考频点设置消息，以及参考频点的补偿增益，其中，所述补偿增益是RRU生成的标定信号的理想功率与测试所述标定信号获得的实际功率之间的差值；

所述配置单元，还用于根据接收幅值设置信息，将所述RRU中下行数控衰减器的值配置为设定值，根据接收的参考频点设置消息，设置所述RRU中本振和中频，以及保存参考频点与补偿增益的对应关系；

所述RRU，还用于生成标定信号并发送。