CN102799516A - 一种大规模集成电路测试人力成本管理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于大规模集成电路设计验证的电子设计自动化领域,特别涉及一种大规模集成电路设计验证测试人力成本管理方法。本发明对测试过程中,人力成本受限和追求快速最大功能覆盖率指标之间的矛盾问题,解决管理者如何分配每项测试改进的量化指标,才能达到人力成本的最佳利用,使得测试的功能覆盖率快速达到最高。本发明将功能覆盖率和磁盘用量信息建模为时间的幂函数,基于几何规划方法得出最大功能覆盖率的最优解γ*和γ*关于约束βiγ*0≤βi≤1的灵敏度
Description
技术背景
本发明属于大规模集成电路(VLSI)设计验证的电子设计自动化(EDA)领域,特别涉及一种大规模集成电路测试的人力成本管理方法。
背景技术
VLSI设计的验证工作对于保证芯片的功能正确性具有非常重要的意义,在VLSI的设计过程中,回归测试贯穿始终。VLSI设计一般以RTL代码描述,当RTL代码进行了少量改动时,要重复运行已有的全部测试以确保本次修改没有引入设计错误。对于复杂的、含多个RTL模块的VLSI设计,多个验证人员参与回归测试的编写,回归测试较多,为快速达到整体100%的功能覆盖率指标,要求测试人员对每个测试进行多次改进,当然每次测试的改进需要投入人力成本,而实际的人力成本是受限的,不可能无限制多。由此存在着下面的问题:在某个状态下,管理者如何确定优先改进哪个测试,改进到何种程度,才能使得在人力成本受限的情况下,测试的整体功能覆盖率指标改进的最高,也就是使得有限的人力资源达到最佳的利用,可见测试人力资源的全局规划显得十分重要。
目前的状况是,缺乏全局的测试人力成本管理方法,无法合理分配可用的测试人力成本,无法高效地改进测试过程。要求每个测试人员尽全力改进,而缺少每个模块改进程度的量化指标,浪费了很多测试人力资源。
发明内容
本发明针对上述问题的缺点,提出了一种大规模集成电路测试的人力成本管理方法,此方法可以充分利用有限的人力资源,合理分配每项测试的改进程度,使人力资源达到最佳的利用,避免了人力资源分配不合理导致的浪费,进而加快测试快速达到整体100%的功能覆盖率指标。
本发明的方法实现步骤如下:
3)当对RTL代码进行少量改动时,由设计人员提供一组加权参数βi(i=1,2,…,N),一般取作0≤βi≤1,表示某模块与本次RTL代码改动的相关程度。对于明显不相关的模块,可设置βi为很小,相关程度越大取值越大。
4)管理者给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S。
5)用凸优化软件包求解下述几何规划问题(求解算法具有多项式时间复杂性):
s.t. (i=1,2,…,N)
t1+t2+…+tN≤T
得到最大的功能覆盖率γ*和每个测试的最优运行时间同时,凸优化求解软件给出了最优解γ*关于各个约束的灵敏度,特别地,对于N个覆盖率约束βiγ(i=1,2,…,N),以(i=1,2,…,N)表示最优解γ*关于约束βiγ*(i=1,2,…,N)的灵敏度。
6)由几何规划理论可知,当N个覆盖率约束βiγ*分别放松到ξi时,也就是βiγ*≥ξi(i=1,2,…,N),这时整体的最大功能覆盖率将从γ*变大到其中为常数且ρ>0。可见,改进的最大功能覆盖率是关于单个测试的改进值ξi的实数幂项的积。将每项测试的人力成本量化建模为其中εi,δi分别为正实数和实数,由测试人员向管理者给出εi,δi的参考值,管理者根据提供的参考值和实际情况最终决定εi,δi取值。总的人力成本上限C由管理者决定,最优人力资源管理问题可表述为以下几何规划:
s.t.ξi≤βiγ*(i=1,2,…,N)
7)根据第6步求得的每项测试需改进的量化指标的最优解ξi *,由此管理者将测试任务分配给测试人员,测试人员进行测试改进,其结果是使ci,xi变大,变大为 其中 为大于1的实数。测试改进程度 是否满足要求,可由下式判断
具体实施例
下面针对一个含有5个模块、每个模块对应1个回归测试的RTL设计,演示发明方法的实现过程。
1)显然N=5,其功能覆盖率数据拟合得到的参数ci,xi为:(10.3,0.31),(922,0.29),(9.65,0.27),(9.03,0.28),(10.1,0.26)。
2)同样运行各个回归测试,收集磁盘用量信息,得到其拟合参数si,yi分别为:(15.2,0.15),(14.3,0.12),(14.8,0.14),(14.6,0.11),(15.5,0.13)。
3)对RTL代码进行了少量的改动,设计人员提供的一组加权参数βi为:0.95,0.95,0.9,0.9,1,说明改动主要集中在模块5,功能上对模块1和模块2的影响较大,对模块3和模块4的影响较弱。
4)管理者给出可用的总计算时间上限T=16000s及总磁盘用量上限S=210GB。
5)用凸优化软件包求解最大覆盖率几何规划问题,得到了最大功能覆盖率为95.75%,而对应的每个测试的最优运行时间为:1126.5s,2679.6s,3324.4s,3154.5s,5715.1s。最优解γ*=95.75%对应5个约束βiγ*(i=1,2,…,5)的灵敏度为:0.0622,0.1581,0.2107,0.1928,0.3762。
6)由管理者根据测试人员提供的参数εi,δi值和实际工程情况进行综合权衡考虑,最终管理者确定每个测试的人力成本系数εi,δi为:(1,1),(1.5,1),(2,1),(0.5,1),(1,1),管理者确定总人力成本上限C=6.1,求解几何规划得到最大功能覆盖率为99.34%,优化变量ξi *为:90.96%,90.96%,86.18%,79.47%,90.52%。
Claims (1)
1.一种大规模集成电路测试人力成本管理方法,此方法的实现步骤为:
3)RTL代码进行少量改动时,由设计人员提供一组加权参数βi(i=1,2,…,N),取作0≤βi≤1,表示模块与本次RTL代码改动的相关程度;
4)管理者给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S;
5)用凸优化软件包求解几何规划问题:
s.t.(i=1,2,…,N)
t1+t2+…+tN≤T
得到最大的功能覆盖率γ*和每个测试的最优运行时间给出了最优解γ*关于各个约束的灵敏度,对于N个覆盖率约束βiγ(i=1,2,…,N),最优解γ*关于约束βiγ*(i=1,2,…,N)的灵敏度记为(i=1,2,…,N);
6)当βiγ*≥ξi(i=1,2,…,N),整体的最大功能覆盖率将从γ*变大到其中为常数且ρ>0,将每项测试的人力成本建模为其中εi,δi分别为正实数和实数,由测试人员向管理者给出εi,δi的参考值,管理者根据提供的参考值和实际情况最终决定εi,δi取值,总的人力成本上限C由管理者决定,最优人力资源管理问题表述为以下几何规划:
s.t.ζi≤βiγ*(i=1,2,…,N)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201110137754.8A CN102799516B (zh) | 2011-05-21 | 2011-05-21 | 一种大规模集成电路测试人力成本管理方法 |
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Country Status (1)
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CN1804808A (zh) * | 2005-01-14 | 2006-07-19 | 安捷伦科技有限公司 | 优化测试顺序的方法 |
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