CN102752625A - 一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法，包括：利用待测试的摄像头模组在所述黑暗环境中拍摄一张照片；对照片进行RAW输出，得到每一个像素点的亮度值A_i，i＝1～M，M为所述摄像头模组全部像素的个数；计算整个摄像头模组所有像素点的亮度平均值B，

计算差值绝对值C_i，C_i＝|A_i-B|；将差值绝对值与标准值D做一一对比，每当其中有一个大于D，就对本次噪声计数N_t做加1的计算，其中N_t的初始值为0；计算出的本次噪点率H_t，

重复S次得到S个噪点率

t＝1～S；输出平均噪点率h，

。

Description

一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法

技术领域

本发明涉及手机和远程无线控制，具体涉及一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法，尤其应用于智能手机和被控制的计算机。

背景技术

目前，摄像头模组在手机、手持电脑以及笔记本电脑的应用越来越广泛。而对摄像头模组暗电流的测试，须要高精坚的精密仪器、设备以及环境，还没有一套简单、成本低且易行的方法或这样的方法被公开。这使得我们获得摄像头模组暗电流的参数仅限于摄像头模组厂给出来的计算估值，同时也使我们无法对摄像头模组暗电流方面的一致性无法评估。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是，如何提供一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法，能在低成本和简单易行的基础上满足人们基本测量需求。

本发明的技术问题这样解决：构建一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法，建立黑暗环境，包括以下步骤：

101)利用待测试的摄像头模组在所述黑暗环境中拍摄一张照片；

102)对本次拍摄的所述照片进行原始数据格式(RAW)输出，得到每一个像素点的亮度值A_i，其中正整数的像素个数计数i＝1～M，M为所述摄像头模组全部像素的个数；

103)计算整个摄像头模组所有像素点的亮度平均值B，

i＝1～M；

104)将每一个亮度值A_i与B做减法然后求绝对值得到M个差值绝对值C_i，C_i＝|A_i-B|，i＝1～M；

105)将全部差值绝对值C_i与设定好的标准值D做一一对比，i＝1～M，每当其中有一个差值绝对值大于D，就对本次噪声计数N_t做加1的计算，其中N_t的初始值为0；

106)计算出的本次噪点率H_t，

107)重复S次步骤101)～106)得到S个噪点率

正整数的拍摄次数计数t＝1～S；

108)输出平均噪点率h作为所述摄像头模组的暗电流噪声， $h=\frac{\mathrm{\Σ}{H}_t}{S},t=1~S.$

按照本发明提供的摄像头模组暗电流噪声的测试方法，D＝1～10，优选3。

按照本发明提供的摄像头模组暗电流噪声的测试方法，S＝1～1000，优选5。

本发明提供的摄像头模组暗电流噪声的测试方法，较现有技术具有以下优点：

1、能在短时间内用简单易用的方法计算出可以反映摄像头模组暗电流参数的平均噪点率；

2、能够量化和对比摄像头的暗电流参数，更加客观地做出选择和评价并对模组的优劣进行对比和评级；

3、使得在摄像头模组选型的过程中选择噪声更小，性价比更高的摄像头模组。

附图说明

下面结合附图和具体实施例进一步对本发明进行详细说明：

图1为本发明优选具体实施例中摄像头模组暗电流噪声的测试软件方法流程示意图。

具体实施方式

如图1所示，本发明优选具体实施例中，利用智能应用程序进行测试，其工作原理是：通过拍暗色环境下的照片，使得摄像头每个像素点都处于同一个层次的亮度环境下。此时每个像素点所感应出的亮度值的差异，便可以反映出摄像头模组暗电流造成的噪声影响。通过计算噪声严重的像素点的个数以及所占整体像素数的比例，得到平均噪点率，便可以对摄像头进行数量化的对比和评级，从而选择出暗电流噪声最低的模组。该程序的步骤具体如下：(以下正整数的像素个数计数i＝1～M，M为待测试的摄像头模组全部像素的个数)

步骤301：利用须要进行评比的摄像头在黑暗的环境中拍摄一张照片；

步骤302：照步骤301所拍摄的本次图片进行RAW输出，得到每一个像素点的亮度值A_i；

步骤303：将M个亮度值A_i全部求和，然后除以M，得出整个摄像头模组所有像素点的亮度平均值B。

公式为： $B=\frac{\mathrm{\Σ}{A}_i}{M},(i=1...M)$

步骤304：将每一个亮度值A_i与B做减法然后求绝对值得到M个差值绝对值C_i

公式为：C_i＝|A_i-B|(i＝1...M)

步骤305：将步骤304得到的M个差值绝对值C_i，与设定好的标准值D做一一对比，每当其中一个C大于D，就对本次噪声计数N_t做加1的计算，其中N_t的初始值为0.

步骤306：步骤305的M个比较计算做完后，得到最终的噪点数N_t。

步骤307：将最终得到的噪点数N_t与摄像头模组总像素数M做除法，再乘以100％，得到单次计算出的本次噪点率H_t，从步骤101至步骤307循环S次得到S个噪点率H_t，其中S为任意整数。

公式为： $H_t=\frac{N_t}{M}\×100\%,(t=1...S)$

步骤308：将这S个数值H_t全部求和，然后除以S，得出平均噪点率h。

公式为： $h=\frac{\mathrm{\Σ}{H}_t}{S},(t=1...S).$

本发明优选具体实施例中：标准值D设定为3。

最后，以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明权利要求的涵盖范围。

Claims (5)

1.一种摄像头模组暗电流噪声的测试方法，其特征在于，建立黑暗环境，以下正整数的像素个数计数i＝1～M，M为待测试的摄像头模组全部像素的个数，包括以下步骤：

101)利用所述摄像头模组在所述黑暗环境中拍摄一张照片；

102)对本次拍摄的所述照片进行RAW输出，得到每一个像素点的亮度值A_i；

103)计算整个摄像头模组所有像素点的亮度平均值B，

104)将每一个亮度值A_i与B做减法然后求绝对值得到M个差值绝对值C_i，C_i＝|A_i-B|；

105)将全部差值绝对值与设定好的标准值D做一一对比，每当其中有一个差值绝对值大于D，就对本次噪声计数N_t做加1的计算，其中N_t的初始值为0；

106)计算出的本次噪点率H_t，

107)重复S次步骤101)～106)得到S个噪点率H_t，

正整数的拍摄次数计数t＝1～S；

108)输出平均噪点率h作为所述摄像头模组的暗电流噪声， $h=\frac{\mathrm{\Σ}{H}_t}{S},t=1~S.$

2.根据权利要求1所述摄像头模组暗电流噪声的测试方法，其特征在于，D＝1～10。

3.根据权利要求2所述摄像头模组暗电流噪声的测试方法，其特征在于，D＝3。

4.根据权利要求1、2或3所述摄像头模组暗电流噪声的测试方法，其特征在于，S＝1～1000。

5.根据权利要求4所述摄像头模组暗电流噪声的测试方法，其特征在于，S＝5。

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