CN102710570B - 调制方式检测方法及终端 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供调制方式检测方法及终端。本发明实施例通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定,或者对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及信号调制技术,尤其涉及调制方式检测方法及终端。
背景技术
在干扰受限的通信系统,例如:码分多址(Code Division MultipleAccess,简称CDMA)系统中,接收端设备可以通过如下方式检测接收到的调制信号的调制方式,从而能够利用所述调制方式,进行信号重构,能够进一步清除干扰信号。现有的调制方式检测技术通常是均衡后的信号进行能量直方图的统计,根据各调制方式的标准能量分布直方图峰值所在域的特点,对实际观测星座点落在各域内的点数进行判决,由此判定调制方式。
然而,所述检测方法具有较高的识别率,会使得检测的虚警较高,从而导致了检测的准确性的降低。
发明内容
本发明实施例提供调制方式检测方法及终端,用以降低检测的虚警,提高检测的准确性。
一方面提供了一种调制方式检测方法,包括:
对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径;
根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式。
另一方面提供了一种调制方式检测方法,包括:
对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
另一方面提供了一种终端,包括:
生成单元,用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
第一确定单元,用于根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径;
计算单元,用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
第二确定单元,用于根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式。
另一方面提供了一种终端,包括:
生成单元,用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
第一确定单元,用于根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
计算单元,用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
第二确定单元,用于确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
第三确定单元,用于根据所述第二确定单元确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
由所述技术方案可知,本发明实施例通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定,或者对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图;
图2为本发明另一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图;
图3为本发明另一实施例提供的终端的结构示意图;
图4为本发明另一实施例提供的终端的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的技术方案可以应用于正交相移键控(Quadrature Phase ShiftKeying,简称QPSK)调制方式、包含16种符号的正交幅度调制(QuadratureAmplitude Modulation,简称QAM)即16QAM调制方式、包含32种符号的QAM即64QAM调制方式或包含64种符号的QAM即64QAM调制方式中的任意两种或者几种。
图1为本发明一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图,如图1所示,本实施例的调制方式检测方法可以包括:
101、对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
例如:具体可以调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行能量(进行参数的平方处理)统计,生成所述调制信号的能量直方图。
102、根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
其中,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。详细描述可以参见现有技术中相关的内容,此处不再赘述。
在本实施例的一个可选实施方式中,在102中,
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式一;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式二。或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式一;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式二。
在本实施例的一个可选实施方式中,还可以进一步结合两种不同方式,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,详细描述可以参见相关内容,此处不再赘述。
在102中,可以分别确定每个直方图对应的每个调制方式的聚类点。对于一个直方图来说,可以每次搜索该直方图中的一个峰值,进而再确定搜索到的峰值对应的聚类点。例如:具体可以采用减法聚类计算法,搜索到一个峰值,并确定该峰值对应的聚类点之后,将以该峰值位置为中心在所述预设聚类半径的范围之内的样点置0,再继续搜索另一个峰值,循环执行所述步骤。
103、根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数(Cluster Function,简称C函数)值;
例如:可以根据计算获得所述直方图对应的每个调制方式的C函数值。其中,
f()是分段函数,
详细描述可以参见现有技术中的相关内容,此处不再赘述。
104、根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式。
所述101~104的执行主体可以为接收端设备。
在本实施例的一个可选实施方式中,执行101~104的条件可以是当信噪比大于预先设置的阈值,即当信噪比大于预先设置的阈值时,接收端设备才对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,并执行后续步骤。
本实施例中,通过对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,进而根据以所述直方图的至少一个峰值位置为中心在预设聚类半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,并根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值,使得根据所述所有调制方式的聚类函数值,能够确定所述调制信号所采用的调制方式。采用本实施例的技术方案,通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
在本发明另一实施例的一个可选实施方式中,在104中,首先,可以确定所述所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;然后,则根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
例如:如果QPSK调制方式的C函数值最大,那么,当峰值位置在理论聚类点位置(P_QPSK)的判决范围,即[P_QPSK-R_QPSK,P_QPSK+R_QPSK],其中,R_QPSK为允许偏移量,之内时,才能够确定所述调制信号所采用的调制方式为QPSK调制方式;当峰值位置在理论聚类点位置(P_QPSK)的判决范围,即[P_QPSK-R_QPSK,P_QPSK+R_QPSK],其中,R_QPSK为允许偏移量,之外时,则不能够确定所述调制信号所采用的调制方式为QPSK调制方式,需要重新执行101~104。
再例如:如果16QAM调制方式的C函数值最大,那么,当峰值位置A在理论聚类点位置(P_16QAM1)的判决范围,即[P_16QAM1-R_16QAM1,P_16QAM1+R_16QAM1],其中,R_16QAM1为允许偏移量,之内,以及当峰值位置B在理论聚类点位置(P_16QAM2)的判决范围,即[P_16QAM2-R_16QAM2,P_16QAM2+R_16QAM2],其中,R_16QAM2为允许偏移量,之内时,才能够确定所述调制信号所采用的调制方式为16QAM调制方式;当峰值位置A在理论聚类点位置(P_16QAM1)的判决范围,即[P_16QAM1-R_16QAM1,P_16QAM1+R_16QAM1],其中,R_16QAM1为允许偏移量,之外,或者当峰值位置B在理论聚类点位置(P_16QAM2)的判决范围,即[P_16QAM2-R_16QAM2,P_16QAM2+R_16QAM2],其中,R_16QAM2为允许偏移量,之外时,则不能够确定所述调制信号所采用的调制方式为16QAM调制方式,需要重新执行101~104。
采用本实施例的技术方案,通过对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,能够进一步剔除一些不满足条件的聚类点,从而进一步降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
图2为本发明另一实施例提供的调制方式检测方法的流程示意图,如图2所示,本实施例的调制方式检测方法可以包括:
201、对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
202、根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
203、根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数(Cluster Function,简称C函数)值;
例如:可以根据计算获得所述直方图对应的每个调制方式的C函数值。其中,
f()是分段函数,
详细描述可以参见现有技术中的相关内容,此处不再赘述。
204、确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
205、根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
例如:如果QPSK调制方式的C函数值最大,那么,当峰值位置在理论聚类点位置(P_QPSK)的判决范围,即[P_QPSK-R_QPSK,P_QPSK+R_QPSK],其中,R_QPSK为允许偏移量,之内时,才能够确定所述调制信号所采用的调制方式为QPSK调制方式;当峰值位置在理论聚类点位置(P_QPSK)的判决范围,即[P_QPSK-R_QPSK,P_QPSK+R_QPSK],其中,R_QPSK为允许偏移量,之外时,则不能够确定所述调制信号所采用的调制方式为QPSK调制方式,需要重新执行201~205。
再例如:如果16QAM调制方式的C函数值最大,那么,当峰值位置A在理论聚类点位置(P_16QAM1)的判决范围,即[P_16QAM1-R_16QAM1,P_16QAM1+R_16QAM1],其中,R_16QAM1为允许偏移量,之内,以及当峰值位置B在理论聚类点位置(P_16QAM2)的判决范围,即[P_16QAM2-R_16QAM2,P_16QAM2+R_16QAM2],其中,R_16QAM2为允许偏移量,之内时,才能够确定所述调制信号所采用的调制方式为16QAM调制方式;当峰值位置A在理论聚类点位置(P_16QAM1)的判决范围,即[P_16QAM1-R_16QAM1,P_16QAM1+R_16QAM1],其中,R_16QAM1为允许偏移量,之外,或者当峰值位置B在理论聚类点位置(P_16QAM2)的判决范围,即[P_16QAM2-R_16QAM2,P_16QAM2+R_16QAM2],其中,R_16QAM2为允许偏移量,之外时,则不能够确定所述调制信号所采用的调制方式为16QAM调制方式,需要重新执行201~205。
所述201~205的执行主体可以为接收端设备。
在本实施例的一个可选实施方式中,执行201~205的条件可以是当信噪比大于预先设置的阈值,即当信噪比大于预先设置的阈值时,接收端设备才对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,并执行后续步骤。
本实施例中,通过对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,进而根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,并根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值,使得通过确定所述所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值,并根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,能够确定所述调制信号所采用的调制方式。采用本实施例的技术方案,通过对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
在本发明另一实施例的一个可选实施方式中,在202中,具体可以根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。其中,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。详细描述可以参见现有技术中相关的内容,此处不再赘述。
例如:当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式一;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式二。或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式一;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,即方式二。
在本实施例的一个可选实施方式中,还可以进一步结合两种不同方式,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,详细描述可以参见相关内容,此处不再赘述。
采用本实施例的技术方案,通过对位于以每个直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数进行判定,能够进一步剔除一些不满足条件的聚类点,从而进一步降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
需要说明的是:对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
在所述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
图3为本发明另一实施例提供的终端的结构示意图,如图3所示,本实施例的终端可以包括生成单元31、第一确定单元32、计算单元33和第二确定单元34。其中,生成单元31用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;第一确定单元32用于根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径;计算单元33用于根据第一确定单元32确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;第二确定单元34用于根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式。
在本实施例的一个可选实施方式中,第一确定单元32具体可以
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
在本实施例的一个可选实施方式中,第一确定单元32还可以进一步结合两种不同方式,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,详细描述可以参见相关内容,此处不再赘述。
在本实施例的一个可选实施方式中,生成单元31具体可以当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图。
本实施例中,通过生成单元对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,进而由第一确定单元根据以所述直方图的至少一个峰值位置为中心在预设聚类半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,并由计算单元根据第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值,使得第二确定单元根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,能够确定所述调制信号所采用的调制方式。采用本实施例的技术方案,通过第一确定单元对以每个直方图的至少一个峰值位置为中心在预设聚类半径的范围之内的样点数进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
在本发明另一实施例的一个可选实施方式中,第二确定单元34具体可以确定所述所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;然后,根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
采用本实施例的技术方案,通过第二确定单元34对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,能够进一步剔除一些不满足条件的聚类点,从而进一步降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
图4为本发明另一实施例提供的终端的结构示意图,如图4所示,本实施例的终端可以包括生成单元41、第一确定单元42、计算单元43、第二确定单元44和第三确定单元45。其中,生成单元41用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;第一确定单元42用于根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;计算单元43用于根据第一确定单元42确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;第二确定单元44用于确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;第三确定单元45用于根据第二确定单元44确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
在本实施例的一个可选实施方式中,生成单元41具体可以当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图。
本实施例中,通过生成单元对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,进而由第一确定单元根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,并由计算单元根据第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值,使得通过第二确定单元确定所述所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值,并由第三确定单元根据第二确定单元确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,能够确定所述调制信号所采用的调制方式。采用本实施例的技术方案,通过第三确定单元对确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置进行判定,剔除了一些不满足条件的聚类点,从而降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
在本发明另一实施例的一个可选实施方式中,第一确定单元42具体可以根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。
例如:当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
在本实施例的一个可选实施方式中,第一确定单元42还可以进一步结合两种不同方式,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,详细描述可以参见相关内容,此处不再赘述。
采用本实施例的技术方案,通过第一确定单元对以每个直方图的至少一个峰值位置为中心在预设聚类半径的范围之内的样点数进行判定,能够进一步剔除一些不满足条件的聚类点,从而进一步降低了检测的虚警,并提高了检测的准确性。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (14)
1.一种调制方式检测方法,其特征在于,包括:
对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径;
根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式;
所述根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式,包括:
确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,包括:
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值,包括:
当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值。
4.一种调制方式检测方法,其特征在于,包括:
对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
根据确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值,包括:
当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,包括:
根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,包括:
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
8.一种终端,其特征在于,包括:
生成单元,用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
第一确定单元,用于根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径;
计算单元,用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
第二确定单元,用于根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值,确定所述调制信号所采用的调制方式;
所述第二确定单元用于:
确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
9.根据权利要求8所述的终端,其特征在于,所述第一确定单元用于
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
10.根据权利要求8或9所述的终端,其特征在于,所述生成单元用于
当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值。
11.一种终端,其特征在于,包括:
生成单元,用于对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值;
第一确定单元,用于根据所述直方图的至少一个峰值,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;
计算单元,用于根据所述第一确定单元确定的所述聚类点,计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值;
第二确定单元,用于确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值;
第三确定单元,用于根据所述第二确定单元确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置,确定所述调制信号所采用的调制方式。
12.根据权利要求11所述的终端,其特征在于,所述生成单元用于
当信噪比大于预先设置的阈值时,对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计,生成所述调制信号的直方图,所述直方图包括至少一个峰值。
13.根据权利要求11或12所述的终端,其特征在于,所述第一确定单元用于
根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点,所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。
14.根据权利要求13所述的终端,其特征在于,所述第一确定单元用于
当位于以所述峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时,则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点;或者
当位于以所述峰值位置为中心,并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时,或者,当位于以所述峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数,与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心,并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时,则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。
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