CN102645776A - 老化炉和老化方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种老化炉和老化方法。该老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,所述炉体与所述保温室连通,所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度,所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度,所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理,所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。

Description

老化炉和老化方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术,特别涉及一种老化炉和老化方法。
背景技术
液晶显示器是目前常用的平板显示器,其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,简称:TFT-LCD)是液晶显示器中的主流产品。
液晶显示面板是液晶显示器的重要部件,液晶显示面板在组装完成之后,需要进行老化处理。通常采用老化炉对液晶显示面板进行老化处理。
现有技术中,老化炉通常采用单一的炉体结构,即:老化炉仅包括单一的炉体,该炉体可以对批量的液晶显示面板进行老化处理。但是,由于现有技术中的老化炉仅具备单一的炉体,因此其仅具备对液晶显示面板进行老化处理的功能,而无法对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
发明内容
本发明提供一种老化炉和老化方法,用以使老化炉实现对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
为实现上述目的,本发明提供一种老化炉,包括:保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,所述炉体与所述保温室连通,所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度,所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度,所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理,所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。
进一步地,所述测试温度为老化温度,所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。
进一步地,所述加热器位于所述保温室内。
进一步地,所述温控装置位于所述保温室内。
进一步地,所述保温室由保温板围设而成。
进一步地,所述保温室的一侧开设有保温门,所述保温门用于当所述保温室在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时关闭。
进一步地,所述炉体内设置有用于承载所述液晶显示面板的面板架,当所述保温室对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时将所述面板架从所述炉体内拉出使所述面板架位于所述保温室内。
进一步地,所述炉体的数量为两个,两个所述炉体相对设置于所述保温室的两侧。
为实现上述目的,本发明还提供了一种老化方法,所述方法基于老化炉,所述老化炉包括:保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,所述炉体与所述保温室连通,所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度,所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度;
所述方法包括:
所述炉体对液晶显示面板进行老化处理;
所述保温室在测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。
进一步地,所述测试温度为老化温度,所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。
本发明具有以下有益效果:
本发明提供的老化炉和老化方法,包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,炉体与保温室连通,加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度,温控装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度,炉体用于对液晶显示面板进行老化处理,保温室用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试,从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种老化炉的结构示意图;
图2为本发明实施例二提供的一种老化方法的流程图;
图3为本发明中老化方法的示意图之一;
图4为本发明中老化方法的示意图之二。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案,下面结合附图对本发明提供的老化炉和老化方法进行详细描述。
图1为本发明实施例一提供的一种老化炉的结构示意图,如图1所示,该老化炉包括:保温室11、加热器13、温控装置14和至少一个炉体12,炉体12与保温室11连通,加热器13用于对保温室11进行加热以使保温室11的温度为测试温度,温控装置14用于对保温室11的温度进行测量并根据测量结果控制加热器13工作以使保温室11的温度为测试温度,炉体12用于对液晶显示面板进行老化处理,保温室11用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。例如:老化测试可包括亮点测试、Mura测试和/或功能性不良测试等。
本实施例中,炉体12的数量为两个,两个炉体12相对设置于保温室11的两侧。保温室11和两个炉体12结合为一体从而形成老化炉。本实施例以老化炉包括两个炉体12为例对技术方案进行描述,在实际应用中还可根据需要采用其它数量个炉体12,此处不再一一列举。
优选地,保温室11可在测试温度下根据预先设定的时间间隔对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。例如:预先设定的时间间隔可以为15min。
优选地,测试温度为老化温度,该老化温度为炉体12对液晶显示面板进行老化处理时的温度。
本实施例中,加热器13可位于保温室11内。
温控装置14可位于保温室11内或者保温室11外。本实施例中,温控装置14优选地位于保温室11内。
本实施例中,保温室11由保温板111围设而成。
本实施例中,保温室11的一侧开设有保温门112。保温门112用于当保温室11在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试时关闭。具体地,保温板111上可设置滑轨113,保温门112安装于滑轨113上,保温门112沿滑轨113移动以实现开启或关闭。图1中所示的保温门112处于关闭状态。在实际应用中,还可以采用其它结构的保温门,此处不再一一列举。
本实施例中,炉体12内可设置有用于承载液晶显示面板的面板架(Rack)15,当保温室11对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试时将面板架15从炉体12内拉出使面板架15位于保温室11内,从而使保温室11可在测试温度下对面板架15上承载的液晶显示面板进行老化测试。在实际应用中可采用人工方式对液晶显示面板进行老化测试,如图1所示,由操作人员16在保温室11中执行对液晶显示面板进行老化测试的操作。需要说明的是:液晶显示面板在本发明提供的各附图中均未具体画出。
本实施例中,炉体12内设置有加热器17。加热器17对炉体12进行加热以使炉体12的温度为对液晶显示面板进行老化处理时的温度。进一步地,炉体12内还设置有温控装置18,温控装置18对炉体12的温度进行测量得出测量结果,并根据该测量结果控制加热器17对炉体12进行加热以使炉体的温度为老化温度。
本实施例提供的老化炉包括保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,炉体与保温室连通,加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度,温控装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度,炉体用于对液晶显示面板进行老化处理,保温室用于在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试,从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试;本实施例提供的老化炉仅需增设保温室即可实现对液晶显示面板进行老化测试,从而提高了老化炉的设备利用率,并降低了生产成本。
本发明实施例二提供了一种老化方法,该方法基于老化炉,该老化炉包括:保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,炉体与保温室连通,加热器用于对保温室进行加热以使保温室的温度为测试温度,温控装置用于对保温室的温度进行测量并根据测量结果控制加热器工作以使保温室的温度为测试温度。对老化炉的具体描述可参见上述实施例一,此处不再赘述。图2为本发明实施例二提供的一种老化方法的流程图,如图2所示,该方法包括:
步骤101、炉体对液晶显示面板进行老化处理。
图3为本发明中老化方法的示意图之一,如图3所示,在炉体12对液晶显示面板进行老化处理之前,保温室11中的加热装置13处于停止加热状态,保温门112打开,使保温室11的温度为室温。操作人员16进入保温室11,拉出面板架15,将液晶显示面板放置于面板架15之上。
图4为本发明中老化方法的示意图之二,如图4所示,操作人员16将面板架15关闭以使面板架15位于炉体12内,而后操作人员16退出保温室11。此时,炉体12内的加热装置17对炉体12进行加热,使炉体12的温度达到对液晶显示面板进行老化处理时的温度。炉体12开始对液晶显示面板进行老化处理。
步骤102、保温室在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
当需要对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试时,保温门112关闭,保温室11内的加热器13对保温室11进行加热,使保温室11的温度达到测试温度,该测试温度为老化温度。如图1所示,操作人员16身着冰袋服通过保温门112进入保温室11并关闭保温门112;操作人员16拉出面板架15,并对面板架15上承载的老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。此时,由于保温室11的温度(即:测试温度)为老化温度,因此在对液晶显示面板进行老化测试时液晶显示面板的温度仍然可以保持为老化温度。
本实施例提供的老化方法包括炉体对液晶显示面板进行老化处理,保温室在测试温度下对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试,从而使老化炉通过保温室实现了对老化处理过程中的液晶显示面板进行老化测试。
可以理解的是,以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式,然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言,在不脱离本发明的精神和实质的情况下,可以做出各种变型和改进,这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种老化炉,其特征在于,包括:保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,所述炉体与所述保温室连通,所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度,所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度,所述炉体用于对液晶显示面板进行老化处理,所述保温室用于在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。
2.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述测试温度为老化温度,所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。
3.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述加热器位于所述保温室内。
4.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述温控装置位于所述保温室内。
5.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述保温室由保温板围设而成。
6.根据权利要求1或5所述的老化炉,其特征在于,所述保温室的一侧开设有保温门,所述保温门用于当所述保温室在所述测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时关闭。
7.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述炉体内设置有用于承载所述液晶显示面板的面板架,当所述保温室对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试时将所述面板架从所述炉体内拉出使所述面板架位于所述保温室内。
8.根据权利要求1所述的老化炉,其特征在于,所述炉体的数量为两个,两个所述炉体相对设置于所述保温室的两侧。
9.一种老化方法,其特征在于,所述方法基于老化炉,所述老化炉包括:保温室、加热器、温控装置和至少一个炉体,所述炉体与所述保温室连通,所述加热器用于对所述保温室进行加热以使所述保温室的温度为测试温度,所述温控装置用于对所述保温室的温度进行测量并根据测量结果控制所述加热器工作以使所述保温室的温度为所述测试温度;
所述方法包括:
所述炉体对液晶显示面板进行老化处理;
所述保温室在测试温度下对老化处理过程中的所述液晶显示面板进行老化测试。
10.根据权利要求9所述的老化方法,其特征在于,所述测试温度为老化温度,所述老化温度为所述炉体对所述液晶显示面板进行老化处理时的温度。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103995371A (zh) * 2014-05-30 2014-08-20 苏州优备精密电子有限公司 抽拉式液晶面板老化设备
WO2018205348A1 (zh) * 2017-05-11 2018-11-15 惠科股份有限公司 一种高温测试设备及高温测试系统
WO2018205347A1 (zh) * 2017-05-11 2018-11-15 惠科股份有限公司 一种台车、老化测试设备及老化测试系统

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101238406A (zh) * 2005-08-04 2008-08-06 萧富壬 用于液晶显示屏的后组模段老化室
JP2008249347A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Nec Lcd Technologies Ltd エージング装置
KR100875907B1 (ko) * 2007-11-13 2008-12-26 주식회사 쏠리스 중앙열풍공급수단이 구비된 에이징 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101238406A (zh) * 2005-08-04 2008-08-06 萧富壬 用于液晶显示屏的后组模段老化室
JP2008249347A (ja) * 2007-03-29 2008-10-16 Nec Lcd Technologies Ltd エージング装置
KR100875907B1 (ko) * 2007-11-13 2008-12-26 주식회사 쏠리스 중앙열풍공급수단이 구비된 에이징 장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103995371A (zh) * 2014-05-30 2014-08-20 苏州优备精密电子有限公司 抽拉式液晶面板老化设备
WO2018205348A1 (zh) * 2017-05-11 2018-11-15 惠科股份有限公司 一种高温测试设备及高温测试系统
WO2018205347A1 (zh) * 2017-05-11 2018-11-15 惠科股份有限公司 一种台车、老化测试设备及老化测试系统

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