CN102402343A - 光学触控系统 - Google Patents
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Abstract
一种光学触控系统,包括一基板、至少一感测器、一运算单元以及一解析单元。基板具有一触控区。至少一感测器用以撷取触控区的一全尺寸图像,全尺寸图像包括接近至少一感测器的光轴的一中间区域图像及一侧边区域图像。运算单元用以在一正常模式下,对中间区域图像进行取样得到一中间压缩图像,并传送中间压缩图像及侧边区域图像。解析单元用以对中间压缩图像及侧边区域图像进行分析以得到一触控点坐标。
Description
技术领域
本发明涉及一种光学触控系统,且特别涉及一种具有可变解析度的光学触控系统。
背景技术
由于触控屏幕的操作方便且富直觉性,因此,触控屏幕大量地被应用于各种电子产品,例如是手持式电子装置、桌上型计算机或提款机。目前,触控屏幕可根据感测原理区分为电阻式、电容式、超音波式及光学式触控屏幕。以光学式触控屏幕而言,光学式触控屏幕利用使用者的手指或者是触控笔等物体位于触控区内时,光源所发出的部分的光线被物体遮挡。如此一来,根据感测器所接收到的图像,可判断得到物体在触控区中的触控点坐标。
然而,随着技术的进步,触控屏幕的解析度越来越高。对应于解析度越高的触控屏幕,由于其具有高像素数量,故要得到触控点坐标的运算量以倍数成长。如此一来,将导致整体系统运算的负荷过高,而使得成本提升。因此,如何优化整体光学触控系统以提升整体效能并有效控制成本,乃为相关业者努力的课题之一。
发明内容
本发明涉及一种光学触控系统,针对具不同光学畸变的区域以不同的放大率处理,故得以优化整体光学触控系统。
根据本发明的第一方面,提出一种光学触控系统,包括一基板、至少一感测器、一运算单元以及一解析单元。基板具有一触控区。至少一感测器用以撷取触控区的一全尺寸图像,全尺寸图像包括接近至少一感测器的光轴的一中间区域图像及一侧边区域图像。运算单元用以在一正常模式下,对中间区域图像进行取样得到一中间压缩图像,并传送中间压缩图像及侧边区域图像。解析单元用以对中间压缩图像及侧边区域图像进行分析以得到一触控点坐标。
为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特举优选实施例,并配合附图,作详细说明如下:
附图说明
图1绘示依照本发明优选实施例的光学触控系统的示意图。
图2A绘示依照本发明优选实施例的在正常模式中感测器像素的一例的示意图。
图2B绘示依照本发明优选实施例的在高解析度模式中感测器像素的一例的示意图。
【主要元件符号说明】
100:光学触控系统
110:基板
115:触控区
115A:中间区域图像
115B:侧边区域图像
122、124:感测器
130:运算单元
140:解析单元
具体实施方式
本发明提出一种光学触控系统,针对具不同光学畸变的区域以不同的放大率处理,故得以利用可变的解析度优化整体光学触控系统的运算效能。
请参照图1,其绘示依照本发明优选实施例的光学触控系统的示意图。光学触控系统100包括一基板110、二感测器122及124、一运算单元130以及一解析单元140。在本实施例虽以二感测器122及124为例进行说明,然实际上并不对感测器的个数做限制。在基板110上,可通过例如导光条或反射镜等多个光学元件定义出一触控区115。二感测器122及124的感测范围至少涵盖此触控区115。
感测器122及124用以撷取触控区115的一全尺寸图像,此全尺寸图像会包括接近感测器122及124的光轴的一中间区域图像115A及一侧边区域图像115B。其中,接近光轴的区域在感测器中对应配置的像素较多。此外,远离光轴的侧边区域图像115B的光学畸变(optical distortion)会大于接近光轴的中间区域图像115A的光学畸变。基于上述的光学特性,本实施例对中间区域图像115A及侧边区域图像115B进行不同的处理。
在一正常模式中,运算单元130对中间区域图像115A进行取样得到一中间压缩图像,并传送中间压缩图像及侧边区域图像115B给解析单元140。请参照图2A,其绘示依照本发明优选实施例的在正常模式中感测器像素之一例的示意图。在图2A中,感测器中央段数目较多的像素(高解析度)对应到中间区域图像115A,感测器两端数目较少的像素(低解析度)对应到侧边区域图像115B。
由于正常模式适用于一般操作,而一般操作不需要很多的像素即可达到所需的触控准度(例如4mm探针),因此对于感测器中央段的像素可采用跳点取像素值进行解析。亦即,运算单元130对中间区域图像115A进行取样得到中间压缩图像。其中,中间压缩图像的放大率至少大于侧边区域图像115B的放大率达1.5倍。如此一来,中间压缩图像所包含的数据量减少但不会影响到后续的图像解析动作。
在正常模式中,运算单元130传输至解析单元140的图像包括完整的侧边区域图像115B及经过取样而缩小数据量的中间压缩图像。解析单元140对中间压缩图像及侧边区域图像115B进行分析即可得到一触控点坐标。由于针对具不同光学畸变的区域以不同的放大率处理,故有效地降低整体系统运算的负荷量。
此外,当光学触控系统100应用于诸如手写辨识输入或是画图等用途时,其需要较多的像素来达到所需的触控准度(例如2mm探针)。而通常只有中间区域图像115A能满足如此的触控准度要求,侧边区域图像115B则无法满足。是故,在一高解析度模式下,运算单元130对侧边区域图像115B进行取样得到一侧边压缩图像,并传送中间区域图像115A及侧边压缩图像至解析单元140。请参照图2B,其绘示依照本发明优选实施例的在高解析度模式中感测器像素的一例的示意图。在图2B中,感测器中央段数目较多的像素(高解析度)对应到中间区域图像115A,感测器两端数目较少的像素(低解析度)对应到侧边区域图像115B。
由于侧边区域图像115B无法满足高解析度模式所需的触控准度,因此对于感测器侧边的像素可采用跳点取像素值进行解析。亦即,运算单元130对侧边区域图像115B进行取样得到侧边压缩图像。如此一来,侧边压缩图像所包含的数据量减少但不会影响到后续的图像解析动作。更有甚者,侧边区域图像115B可被忽略而使得侧边压缩图像的数据量降到最少。
在高解析度模式中,运算单元130传输至解析单元140的图像包括完整的中间区域图像115A及经过取样而缩小数据量的侧边压缩图像。解析单元140对中间区域图像115A及侧边压缩图像进行分析即可得到一触控点坐标。如果是对该侧边区域图像115B忽略,则可仅传送该中间区域图像至该解析单元,该解析单元对该中间区域图像进行分析以得到该触控点坐标。由于针对具不同光学畸变的区域以不同的放大率处理,故有效地降低整体系统运算的负荷量。
本发明上述实施例所公开的光学触控系统,具有多项优点,以下仅列举部分优点说明如下:
本发明的光学触控系统,针对具不同光学畸变的区域以不同的放大倍率处理,故得以针对不同的用途而在不同的模式弹性地改变解析度,有效地降低整体系统运算的数据量,优化整体系统效能。
综上所述,虽然本发明已以一优选实施例公开如上,然其并非用以限定本发明。本本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰。因此,本发明的保护范围当视所附权利要求书所界定者为准。
Claims (5)
1.一种光学触控系统,包括:
一基板,具有一触控区;
至少一感测器,用以撷取该触控区的一全尺寸图像,该全尺寸图像包括接近该至少一感测器的光轴的一中间区域图像及一侧边区域图像;
一运算单元,用以在一正常模式中,对该中间区域图像进行取样得到一中间压缩图像,并传送该中间压缩图像及该侧边区域图像;以及
一解析单元,用以对该中间压缩图像及该侧边区域图像进行分析以得到一触控点坐标。
2.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该侧边区域图像的光学畸变大于该中间区域图像的光学畸变。
3.如权利要求1所述的光学触控系统,其中在该正常模式下,该中间压缩图像的放大率至少大于该侧边区域图像的放大率达1.5倍。
4.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该运算单元还用于一高解析度模式中,对该侧边区域图像进行取样得到一侧边压缩图像,并传送该中间区域图像及该侧边压缩图像至该解析单元,该解析单元对该中间区域图像及该侧边压缩图像进行分析以得到该触控点坐标。
5.如权利要求1所述的光学触控系统,其中该运算单元还用于一高解析度模式中,对该侧边区域图像忽略,传送该中间区域图像至该解析单元,该解析单元对该中间区域图像进行分析以得到该触控点坐标。
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