CN102262181A - 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置 - Google Patents

基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102262181A
CN102262181A CN2011101984714A CN201110198471A CN102262181A CN 102262181 A CN102262181 A CN 102262181A CN 2011101984714 A CN2011101984714 A CN 2011101984714A CN 201110198471 A CN201110198471 A CN 201110198471A CN 102262181 A CN102262181 A CN 102262181A
Authority
CN
China
Prior art keywords
coil
support
compensating
drive coil
structural member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011101984714A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102262181B (zh
Inventor
刘兰荣
张卫
韩贵胜
王晓燕
范亚娜
石立新
刘涛
王亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Baoding Tianwei Group Co Ltd
Original Assignee
Baoding Tianwei Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Baoding Tianwei Group Co Ltd filed Critical Baoding Tianwei Group Co Ltd
Priority to CN 201110198471 priority Critical patent/CN102262181B/zh
Publication of CN102262181A publication Critical patent/CN102262181A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102262181B publication Critical patent/CN102262181B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置，属于电磁测量技术领域。技术方案是将功率分析仪串联在激励线圈侧，并利用功率分析仪采集激励线圈上的电压信号，测量激励线圈的损耗；测量线圈损耗时，将被测结构件拿掉，测量电路中只连接激励线圈和补偿线圈；测量线圈和结构件总损耗时，将补偿线圈从被测区域移开，只测量激励线圈和被测结构件的总损耗。本发明的积极效果是：解决了线圈损耗和结构件损耗难以分离的问题，将补偿线圈放置在活动支架上，通过轮组件移动补偿线圈的位置，方便测量过程中补偿线圈位置调整；除被测结构件外，其它构件制作材料均为非铁磁材料，排除了试件之外铁磁材料对测量结果的影响。

Description

基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置
技术领域
本发明涉及一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置，属于电磁测量技术领域。
背景技术
目前，电磁装置结构件杂散损耗测量的技术难点在于将被试构件中的损耗从所测得的总损耗中分离，是由于被试构件从测量装置中移去后线圈漏磁场发生了变化。现有的杂散损耗测量方法，尚不能准确地将线圈损耗和结构件损耗分离。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置，解决了线圈损耗和结构件损耗分离的问题。
本发明的技术方案为：
基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，包含激励线圈、补偿线圈、功率分析仪、变频电源、被测结构件，激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上，激励线圈与补偿线圈中通入大小相等的电流，功率分析仪串联在激励线圈侧，变频电源同时给激励线圈和补偿线圈供电。
被测结构件结构尺寸是指该结构件的长和宽。激励线圈结构尺寸是指激励线圈的轴向长度和辐向宽度。
本发明设有底板、轨道、被测结构件支架、激励线圈支架、补偿线圈支架，激励线圈固定在底板上，底板上装有轨道、被测结构件支架和激励线圈支架，补偿线圈放置在补偿线圈支架上，补偿线圈支架放置在轨道上，激励线圈放置在激励线圈支架上，被测结构件放置在被测结构件支架上。
所说的轨道、补偿线圈支架和底板均为绝缘非铁磁材料。
激励线圈和补偿线圈均由两个结构尺寸完全相同的方线圈组成，绕线方式为连续式。
被测结构件支架上设有调节螺丝，用来调整被测结构件的高度。
补偿线圈的位置可以通过改变补偿线圈支架在轨道上的位置来调整。
轨道外侧装有定位标尺，用于补偿线圈调整位置。
激励线圈和补偿线圈之间的距离是激励线圈和被测结构件之间距离的两倍；本发明还设有支撑绝缘件和线圈骨架，激励线圈和补偿线圈中间用支撑绝缘件和线圈骨架支撑。
激励线圈支架、补偿线圈支架和被测结构件支架上均放置加强板，用于加固支架。
补偿线圈支架的底板下面装有轮组件，可以减小补偿线圈支架和轨道之间的摩擦力，方便移动补偿线圈；补偿线圈支架上，装有线圈撑条、绝缘垫块、挡板，用于固定线圈位置；补偿线圈支架上设有开孔，用于线圈散热。
基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法，将功率分析仪串联在激励线圈侧，并利用功率分析仪采集激励线圈上的电压信号，测量激励线圈的损耗；测量线圈损耗时，将被测结构件拿掉，测量电路中只连接激励线圈和补偿线圈；测量线圈和结构件总损耗时，将补偿线圈从被测区域移开，只测量激励线圈和被测结构件的总损耗。
激励线圈和补偿线圈通过激励线圈支架和补偿线圈支架固定，激励线圈支架固定在底板上，补偿线圈支架下面装有轮组件，轮组件放置在轨道上；测量线圈损耗时，激励线圈和补偿线圈位置对称放置。
测量结构件损耗时，被测结构件距离激励线圈位置是激励线圈和补偿线圈之间距离的1/2，被测结构件位置通过调节螺丝调整。
更具体的步骤如下：
①首先进行空载测量，即测量电路中只有激励线圈和补偿线圈，调整补偿线圈的位置使其与激励线圈的位置呈对称结构；
②调节变频电源频率和电压幅值，直到功率分析仪显示测量所需的电流波形，记录此时激励线圈的有功功率Pn；
③移开补偿线圈，电路中只保留激励线圈，并将被测结构件放置于被测结构件支架上，调节变频电源的频率和电压，直到功率分析仪显示的电流波形和步骤②中显示的波形一致，记录此时系统的有功功率Pt；
④测结构件的损耗为Ps＝（Pt－Pn）；
⑤改变电源频率和电流幅值，重复上述步骤，得到不同频率，不同电流幅值作用下被测结构件的损耗。
本发明通过设置漏磁通补偿线圈使在被试构件移去前后的激励线圈漏磁场保持不变。先用激励线圈和补偿线圈测量线圈损耗（相当于空载），再用激励线圈和被测结构件测量总损耗（相当于负载），通过做差将线圈损耗和被测结构件损耗分离。
本发明的积极效果是：（1）本发明为将线圈损耗和结构件损耗分离，提出一种磁通补偿法，利用补偿线圈和结构件对激励线圈漏磁通影响相同的原理，分别测量线圈损耗和线圈加结构件总损耗，通过做差，得到结构件的损耗。解决了线圈损耗和结构件损耗难以分离的问题；（2）本发明将补偿线圈放置在活动支架上，通过轮组件移动补偿线圈的位置，方便测量过程中补偿线圈位置调整；（3）本发明将激励线圈和补偿线圈设计成方线圈，有利于计算软件对分析模型进行处理；（4）本发明除被测结构件外，其它构件制作材料均为非铁磁材料，排除了试件之外铁磁材料对测量结果的影响。
附图说明
图1为本发明原理示意图； 
图2为本发明结构示意图； 
图3为本发明补偿线圈活动支架结构示意图；
图中：1、被测结构件  2、激励线圈  3、补偿线圈  4、轨道  5、定位标尺  6、补偿线圈支架  7、支撑绝缘件  8、线圈骨架  9、底板  10、被测结构件支架  11、调节螺丝  12、补偿线圈支架底板  13、加强板  14、激励线圈支架  15、线圈撑条  16、轮组件  17、开孔  18、绝缘垫块  19、档板、20、变频电源  21、功率分析仪。
具体实施方式
下面结合附图，通过实施例对本发明做进一步说明。
参照附图1，通过变频电源电压，测量不同频率，不同电流幅值情况下，的线圈损耗和被测结构件的损耗。线圈损耗测量过程中激励线圈反相串联（或并联）、补偿线圈保持与激励线圈联结方式相同，并保证整个测试过程中所有线圈中电流大小始终相等。线圈和被测结构件总损耗测量过程中保持激励线圈的联结方式和电流频率及幅值与线圈损耗测量时一致。
具体的测量方法为：
①首先进行空载测量，即测量电路中只有激励线圈和补偿线圈，如图1（a）所示，调整补偿线圈的位置使其与激励线圈的位置呈对称结构；
②调节变频电源20频率和电压幅值，直到功率分析仪21显示测量所需的电流波形，记录此时激励线圈的有功功率Pn；
③移开补偿线圈，电路中只保留激励线圈，并将被测结构件放置于被测结构件支架上，如图1（b）所示，调节变频电源的频率和电压，直到功率分析仪显示的电流波形和步骤②中显示的波形一致，记录此时系统的有功功率Pt；
④被测结构件的损耗为Ps＝（Pt－Pn）；
⑤改变电源频率和电流幅值，重复上述步骤，得到不同频率，不同电流幅值作用下被测结构件的损耗。
参照附图1、2、3，基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，包含激励线圈2、补偿线圈3、功率分析仪21、变频电源20、被测结构件1，激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上，激励线圈与补偿线圈中通入大小相等的电流，功率分析仪串联在激励线圈侧，变频电源同时给激励线圈和补偿线圈供电。
本发明设有底板9、轨道4、被测结构件支架10、激励线圈支架14、补偿线圈支架6，激励线圈固定在底板上，底板上装有轨道、被测结构件支架和激励线圈支架，补偿线圈放置在补偿线圈支架上，补偿线圈支架放置在轨道上，激励线圈放置在激励线圈支架上，被测结构件放置在被测结构件支架上。
所说的轨道、补偿线圈支架和底板均为绝缘非铁磁材料；激励线圈和补偿线圈均由两个结构尺寸完全相同的方线圈组成，绕线方式为连续式。
被测结构件支架上设有调节螺丝11，用来调整被测结构件的高度。
补偿线圈的位置可以通过改变补偿线圈支架在轨道上的位置来调整。
轨道外侧装有定位标尺5，用于补偿线圈调整位置。
激励线圈和补偿线圈之间的距离是激励线圈和被测结构件之间距离的两倍。本发明还设有支撑绝缘件7和线圈骨架8，激励线圈和补偿线圈中间用支撑绝缘件和线圈骨架支撑；固定线圈支架、补偿线圈支架和被测结构件支架上均放置加强板13，用于加固支架。
补偿线圈支架的底板下面装有轮组件16，可以减小补偿线圈支架和轨道之间的摩擦力，方便移动补偿线圈；补偿线圈支架上，装有线圈撑条15、绝缘垫块18、挡板19，用于固定线圈位置；补偿线圈支架上设有开孔17，用于线圈散热。
用尼龙板制成底板9；用尼龙制成激励线圈支架14和活动线圈支架6，支架上放置线圈撑条15和绝缘垫块18；活动线圈支架6下面安装轮组件16，并将其放置在轨道4上，轨道4外侧放置定位标尺5；将激励线圈2和补偿线圈3分别放置在激励线圈支架14和活动线圈支架6上，活动支架6上放置挡板19，激励线圈内用绝缘支撑件7和线圈骨架8支撑，将被测结构件1放置在被测结构件支架10上，调整调节螺丝11的位置使被测结构件水平，用尼龙板制成加强板13将10加固。

Claims (10)

1.一种基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于包含激励线圈（2）、补偿线圈（3）、功率分析仪（21）、变频电源（20）、被测结构件（1），激励线圈与补偿线圈结构尺寸和匝数以及导线规格完全相同，被测结构件结构尺寸大于激励线圈结构尺寸1.5倍以上，激励线圈与补偿线圈中通入大小相等的电流，功率分析仪串联在激励线圈侧，变频电源同时给激励线圈和补偿线圈供电。
2.根据权利要求1所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于设有底板（9）、轨道（4）、被测结构件支架（10）、激励线圈支架（14）、补偿线圈支架（6），激励线圈固定在底板上，底板上装有轨道、被测结构件支架和激励线圈支架，补偿线圈放置在补偿线圈支架上，补偿线圈支架放置在轨道上，激励线圈放置在激励线圈支架上，被测结构件放置在被测结构件支架上。
3.根据权利要求1或2所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于所说的轨道、补偿线圈支架和底板均为绝缘非铁磁材料；激励线圈和补偿线圈均由两个结构尺寸完全相同的方线圈组成，绕线方式为连续式。
4.根据权利要求2所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于被测结构件支架上设有调节螺丝（11），用来调整被测结构件的高度；轨道外侧装有定位标尺（5），用于补偿线圈调整位置。
5.根据权利要求1或2所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于激励线圈和补偿线圈之间的距离是激励线圈和被测结构件之间距离的两倍。
6.根据权利要求2所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于还设有支撑绝缘件（7）和线圈骨架（8），激励线圈和补偿线圈中间用支撑绝缘件和线圈骨架支撑；固定线圈支架、补偿线圈支架和被测结构件支架上均放置加强板（13），用于加固支架。
7.根据权利要求2所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置，其特征在于补偿线圈支架底板（12）下面装有轮组件（16），可以减小补偿线圈支架和轨道之间的摩擦力，方便移动补偿线圈；补偿线圈支架上，装有线圈撑条（15）、绝缘垫块（18）、挡板（19），用于固定线圈位置；补偿线圈支架上设有开孔（17），用于线圈散热。
8.基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法，其特征在于：将功率分析仪串联在激励线圈侧，并利用功率分析仪采集激励线圈上的电压信号，测量激励线圈的损耗；测量线圈损耗时，将被测结构件拿掉，测量电路中只连接激励线圈和补偿线圈；测量线圈和结构件总损耗时，将补偿线圈从被测区域移开，只测量激励线圈和被测结构件的总损耗。
9.根据权利要求8所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法，其特征在于更具体的步骤如下：
①首先进行空载测量，即测量电路中只有激励线圈和补偿线圈，调整补偿线圈的位置使其与激励线圈的位置呈对称结构；
②调节变频电源频率和电压幅值，直到功率分析仪显示测量所需的电流波形，记录此时激励线圈的有功功率Pn；
③移开补偿线圈，电路中只保留激励线圈，并将被测结构件放置于被测结构件支架上，调节变频电源的频率和电压，直到功率分析仪显示的电流波形和步骤②中显示的波形一致，记录此时系统的有功功率Pt；
④测结构件的损耗为Ps＝（Pt－Pn）；
⑤改变电源频率和电流幅值，重复上述步骤，得到不同频率，不同电流幅值作用下被测结构件的损耗。
10.根据权利要求8或9所述之基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法，其特征在于激励线圈和补偿线圈通过激励线圈支架和补偿线圈支架固定，激励线圈支架固定在底板上，补偿线圈支架下面装有轮组件，轮组件放置在轨道上；测量线圈损耗时，激励线圈和补偿线圈位置对称放置；测量结构件损耗时，被测结构件距离激励线圈位置是激励线圈和补偿线圈之间距离的1/2，被测结构件位置通过调节螺丝调整。
CN 201110198471 2011-07-15 2011-07-15 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置 Expired - Fee Related CN102262181B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110198471 CN102262181B (zh) 2011-07-15 2011-07-15 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110198471 CN102262181B (zh) 2011-07-15 2011-07-15 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102262181A true CN102262181A (zh) 2011-11-30
CN102262181B CN102262181B (zh) 2013-05-15

Family

ID=45008886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201110198471 Expired - Fee Related CN102262181B (zh) 2011-07-15 2011-07-15 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102262181B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102890188A (zh) * 2012-10-16 2013-01-23 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗试验方法
CN102944766A (zh) * 2012-09-24 2013-02-27 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗测试装置
CN103063930A (zh) * 2012-12-27 2013-04-24 保定天威集团有限公司 一种变压器结构件损耗和温升的测量系统及测量方法
CN106646283A (zh) * 2017-01-22 2017-05-10 保定天威保变电气股份有限公司 一种确定导磁构件杂散损耗的方法
CN107703439A (zh) * 2017-09-22 2018-02-16 郑州云海信息技术有限公司 一种自动化信号损耗测试装置
CN112305317A (zh) * 2020-11-12 2021-02-02 保定天威保变电气股份有限公司 一种交直流混合激励条件下结构件损耗测量方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5537946A (en) * 1978-09-08 1980-03-17 Mitsubishi Electric Corp Element and instrument for loss measurement
US20050024048A1 (en) * 2003-07-28 2005-02-03 Manring Edward B. Device and method for measuring transient magnetic performance
CN1880962A (zh) * 2005-06-17 2006-12-20 中国科学院电工研究所 用于高温超导磁体测试的补偿线圈装置
CN101373210A (zh) * 2007-08-23 2009-02-25 台达电子工业股份有限公司 磁性元件损耗的测量装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5537946A (en) * 1978-09-08 1980-03-17 Mitsubishi Electric Corp Element and instrument for loss measurement
US20050024048A1 (en) * 2003-07-28 2005-02-03 Manring Edward B. Device and method for measuring transient magnetic performance
CN1880962A (zh) * 2005-06-17 2006-12-20 中国科学院电工研究所 用于高温超导磁体测试的补偿线圈装置
CN101373210A (zh) * 2007-08-23 2009-02-25 台达电子工业股份有限公司 磁性元件损耗的测量装置

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《仪器仪表学报》 20071130 杨素梅等 "钢中杂散损耗的测量技术" 第2039-2044页 第28卷, 第11期 *
《河北工业大学学报》 19990430 杨庆新等 "磁损耗分离技术的实验研究" 第6-9页 第28卷, 第2期 *
杨庆新等: ""磁损耗分离技术的实验研究"", 《河北工业大学学报》, vol. 28, no. 2, 30 April 1999 (1999-04-30), pages 6 - 9 *
杨素梅等: ""钢中杂散损耗的测量技术"", 《仪器仪表学报》, vol. 28, no. 11, 30 November 2007 (2007-11-30), pages 2039 - 2044 *

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102944766A (zh) * 2012-09-24 2013-02-27 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗测试装置
CN102944766B (zh) * 2012-09-24 2014-10-29 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗测试装置
CN102890188A (zh) * 2012-10-16 2013-01-23 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗试验方法
CN102890188B (zh) * 2012-10-16 2015-03-04 浙江华电器材检测研究所 间隔棒能耗试验方法
CN103063930A (zh) * 2012-12-27 2013-04-24 保定天威集团有限公司 一种变压器结构件损耗和温升的测量系统及测量方法
CN106646283A (zh) * 2017-01-22 2017-05-10 保定天威保变电气股份有限公司 一种确定导磁构件杂散损耗的方法
CN106646283B (zh) * 2017-01-22 2019-01-11 保定天威保变电气股份有限公司 一种确定导磁构件杂散损耗的方法
CN107703439A (zh) * 2017-09-22 2018-02-16 郑州云海信息技术有限公司 一种自动化信号损耗测试装置
CN112305317A (zh) * 2020-11-12 2021-02-02 保定天威保变电气股份有限公司 一种交直流混合激励条件下结构件损耗测量方法
CN112305317B (zh) * 2020-11-12 2022-04-01 保定天威保变电气股份有限公司 一种交直流混合激励条件下结构件损耗测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102262181B (zh) 2013-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102262181B (zh) 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量方法及测量装置
CN102985838B (zh) 用于检测磁芯中的磁特征参量的方法和装置
CN101762797B (zh) 一种电工钢片二维磁特性单片测量系统及其测量方法
CN101666730A (zh) 测试空气弹簧振动特性的设备及使用该设备测试的方法
JP2017161538A (ja) 重量検出手段を有する輸送レールシステム
CN202189097U (zh) 基于漏磁通补偿的构件杂散损耗的测量装置
CN103149544B (zh) 基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法
CN104122516A (zh) 一种电工钢片磁致伸缩测量系统及方法
CN103576107A (zh) 一种测量整体磁致伸缩系数的方法及其装置
CN201488923U (zh) 测试空气弹簧振动特性的设备
CN105280325A (zh) 一种用于核磁共振检测的多级无源匀场永磁磁体
CN108919150A (zh) 一种立式三相柔性宽频旋转磁特性测量系统及测量方法
CN102156268A (zh) 磁性材料旋转磁化特性测量装置
CN101975932B (zh) 经颅磁刺激线圈三维磁场空间分布的测量方法及装置
CN208399665U (zh) 一种立式三相柔性宽频旋转磁特性测量系统
CN107807340B (zh) 一种硅钢叠片铁心性能模拟试验平台
CN101923152A (zh) 梯度计等效误差面积系数的室温标定方法
CN104198282A (zh) 力磁电多场耦合测量系统
Wolff-Fabris et al. High accuracy measurements of magnetic field integrals for the European XFEL undulator systems
Deng et al. Observation of the current-decay and force-variation of a flux-pumped HTS magnet subjected to traveling magnetic fields
CN104865031B (zh) 涡流补偿的双永磁管两端对称励磁圆柱形封闭磁场式低频振动校准台
CN104848937B (zh) 磁场跟踪补偿的双永磁管两端对称励磁圆柱形低频振动校准台
CN208672786U (zh) 多物理因素耦合作用电工钢片复杂磁特性测量装置
CN201732156U (zh) 经颅磁刺激线圈三维磁场空间分布的测量装置
CN103063930A (zh) 一种变压器结构件损耗和温升的测量系统及测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130515

Termination date: 20160715

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee