CN102122167A - 基于anybus-s的profinet远程i/o控制装置 - Google Patents
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Abstract
一种具有短路保护与自诊断功能的基于ANYBUS-S的PROFINET远程I/O控制装置,包括:PROFINET接口单元,完成微控制器对ANYBUS-S的初始化并与PROFINET进行数据通信;I/O接口单元,通过8255进行单片机I/O口扩展,通过光耦隔离和AD、DA转换电路完成外围数字量和模拟量数据的处理;短路保护与自诊断单元,在I/O接口单元电路中发生短路时,断开电源给予短路保护,并将短路过程中的诊断数据传送给PROFINET接口单元。本发明的远程I/O装置具有短路保护与自诊断功能,可在接口负载发生短路时断开电源并提供自诊断信息,当短路故障排除后自动恢复工作。
Description
技术领域
本发明涉及工业以太网技术领域,尤其是涉及一种具有短路保护和自诊断功能的、用于PROFINET远程I/O控制的装置。
背景技术
作为一种新兴的工业控制网络,PROFINET正在得到更多更广泛的应用,但是它还有很多方面还处于待研究或正在研究阶段,尤其是关于接口的开发。目前,关于PROFINET的研究大多是在第三方接口(类似于网关)的开发中,而且也仅仅有HMS、赫优讯等少数几家公司推出了第三方接口模块。作为PROFINET的开发者,西门子公司推出的是成型的、面向应用的产品,没有太多的二次研究和开发价值。因为PROFINET作为刚刚推出的通信标准,并且在其它现场总线和DCS几乎占领全部市场的情况下,还没有达到大多数人的认可。它的开发成本和周期比较大,也是目前阻碍它发展的主要瓶颈。
发明内容
本发明的目的是提供一种具有短路保护与自诊断功能的基于ANYBUS-S的PROFINET远程I/O控制装置,使该装置具有短路保护与自诊断功能,可以在电路发生短路的情况下及时断开电源,避免因冲击电流而烧毁,并提供自诊断信息,方便维护人员进行装置的故障监控和排查;当短路故障排除后装置自动恢复正常工作,本发明具有重大的实际意义。
本发明提供的具有短路保护与自诊断功能的基于ANYBUS-S的PROFINET远程I/O控制装置,包括:
PROFINET接口单元,用于与PROFINET工业以太网之间进行数据交换,该接口单元通过控制其内部的ANYBUS-S模块的数据总线和地址总线等,完成ANYBUS-S模块的初始化,利用ANYBUS-S模块内嵌的PROFINET IO协议栈,通过Step7设置模块的IP地址、设备名和I/O大小,实现上位网络和下位I/O的数据交换,完成与PROFINET的通信,同时实现与I/O接口单元的数据交换;
I/O接口单元:与PROFINET接口单元连接,通过光耦隔离和AD、DA转换电路完成外围数字量和模拟量数据的处理;同时通过内部的输出短路保护与自诊断单元,在负载发生短路时,断开电源给予短路保护,并将短路过程中的诊断数据传送给PROFINET接口单元,待短路故障排除后,电路自动恢复工作。
优选地,所述PROFINET接口单元包括有:
微处理器AT89S52:控制ANYBUS-S模块的数据总线、地址总线,通过信箱信息的配置,完成ANYBUS-S模块的初始化和数据交换;此外,微处理器也与I/O接口单元相连,处理由I/O接口单元传送来的I/O数据;同时检测电路中是否有短路信号,即检测短路保护与自诊断单元是否工作,并将诊断信息发送到上位PLC;
ANYBUS-S模块:分别与微处理器和PROFINET连接,内嵌PROFINET IO协议栈,通过Step7设置模块的IP地址、设备名和I/O大小,且在微处理器AT89S52的控制下,完成与PROFINET的通信。
锁存器:连接在微处理器和ANYBUS-S模块之间,微处理器通过锁存器对地址进行锁存,来分别控制ANYBUS-S模块的地址总线和数据总线,完成对模块的初始化;
所述I/O接口单元包括有:
DO电路:与PROFINET接口单元连接;所述的DO电路包括一个8255接口电路、光耦和一个输出短路保护与自诊断单元,该8255接口电路的I/O端口通过光耦连接输出短路保护与自诊断单元,来完成与现场装置的隔离、信号转换以及输出负载是否发生短路的诊断和诊断信号的传递。用于将扩展芯片8255的输出信号通过光耦的隔离和电平转换控制现场装置;通过设置一片8255为输出状态,并利用光耦TLP521-4、电阻和三极管的放大作用设计的信号隔离电路,实现了16路外围数字量的输出;
DI电路:与PROFINET接口单元连接,所述的DI电路包括一个8255接口电路,该8255接口电路的I/O端口通过光耦来完成与现场装置的隔离和信号转换;用于将现场装置的信号经过光耦传递到另一片扩展芯片8255的输入端;通过设置另一片8255为输入状态,并利用光耦TLP521-4和电阻等等设计了信号隔离电路,实现了16路外围数字量的输入;
AI电路:与PROFINET接口单元连接,包括一个A/D接口电路,A/D接口电路在PROFINET接口单元中的微控制器AT89S52的控制下,用于将四路模拟输入信号经过A/D接口电路转换成数字量;AT89S52的ALE经过利用74HC74设计的四分频电路接到ADC0809的CLOCK端,为后者的A/D转换提供时钟信号;P2.7和单片机的读写控制端/RD和/WR经两个或非门,控制了A/D转换的启动和数据读取;ADC0809的转换结束信号EOC通过一个非门接到单片机的INT1,供后者检查转换是否结束并电泳中断子程序;ADC0809共有8路的模拟量输入通道,这里选择了IN1、IN2、IN3和IN4实现了4路模拟量的输入;
AO电路:与PROFINET接口单元连接,包括一个D/A接口电路,D/A接口电路在PROFINET接口单元中的微控制器AT89S52的控制下,用于将D/A接口电路转换出的模拟量输出到现场的装置或设备,完成两路模拟信号的输出。D/A芯片AD7528有两路模拟量输出电路,它的写控制端直接与AT89S52的/WR相连;它的片选端/CS和DACA/B分别接P2.4和P2.5,以选择输出到哪一条模拟量通道;每一条通道的输出还需要利用运算放大器对每一路的输出进行处理,才能作为最终的输出。
所述输出短路保护与自诊断单元包括有:
主要使用的器件是P沟道的MOSFET SI9433、三极管8050、无触点型继电器(HSR)和发光二极管。
继电器线圈接8050的集电极,并且SI9433的栅极经继电器的常闭触点接地,发光二极管接继电器的常开触点。同时,AT89S52检测发光二极管是否点亮,以判定是否发生短路,并将检测到的结果通过ANYBUS-S模块传递到PROFINET网络侧。
在负载正常工作时,MOSFET导通,8050截止,继电器线圈不带电;负载发生短路时,8050导通,继电器线圈带电,常闭触点打开,常开触点闭合,SI9433截止,避免了短路电流的冲击,发光二极管点亮,指示发生了短路故障。
在不需要下电的情况下,排查短路故障,负载又恢复正常工作后,8050截止,继电器线圈失电,发光二极管灭掉,SI9433变为导通。
本发明的优点和有益效果:
本发明利用ANYBUS-S模块,设计了用于工业以太网PROFINET、且具有短路保护和自诊断功能的远程I/O控制装置,该装置可以在接口电源发生短路的情况下及时断开电源,避免因短路电流而烧毁,并提供自诊断信息,方便维护人员进行装置的故障监控和排查,当短路故障排除后装置自动恢复正常工作。有了ANYBUS-S模块对现场通信的支持,使得PROFINET将在更多的领域得到更为广泛的应用。实践证明,ANYBUS-S模块是使现场装置或设备与PROFINET互连的最佳方法之一,也是在智能节点构造中具有较高应用实效的设备,具有重大的实际意义。
附图说明
图1 为系统的总体框图;
图2 为硬件电路中,PROFINET接口单元电路图;
图3为I/O接口单元中,利用8255扩展输入通道和其中一路数字量输入电路图;
图4 为I/O接口单元中,利用8255扩展输出通道和其中一路数字量输出电路图;
图5 为I/O接口单元中,AT89S52和ADC0809的接口电路,即四路模拟输入通道的电路图;
图6为I/O接口单元中,AT89S52与AD7528的电路连接图,即两路模拟输出通道的电路图;
图7为短路保护电路和自诊断单元原理图。
具体实施方式
图1为系统的总体框图。其中,单元1为PROFINET接口单元,单元2为数字量输入电路,单元3为数字量输出电路,单元4为模拟量输入电路,单元5为模拟量输出电路。在各个部分的电源端口,接短路保护电路。虚框内的范围为设计的远程I/O,它接入PROFINET工业以太网。
本系统为以ANYBUS-S模块为核心,通过微控制器AT89S52设计的控制系统控制模块,完成其初始化功能,并将远程I/O接入PROFINET网络。这些远程I/O包括16路DI、16路DO、4路AI和2路AO。从上述框图中可以看出,系统的设计可分为三部分,第一部分为单片机控制ANYBUS-S模块,它是整个系统的核心,决定了系统工作是否正常或稳定等等;第二部分为远程I/O部分,这部分主要处理了数字量和模拟量,它属于系统的下位部分;最后一部分是网络侧,即PROFINET的组态和编程部分,它组成了系统的上位部分。
图2为硬件电路中,PROFINET接口部分的电路原理图,即图1中的单元1。 ANYBUS-S PN IO模块中的34pin接口包括数据总线、地址总线、控制总线以及串行通信接口等等,其中它的串行通信接口只有在硬件升级中使用到,因此在这里的设计中没有涉及到。数据总线D0~D7共8位,依次接于单片机的P0~P7;地址总线A0~A11共12位,但是由于模块中DPRAM的数据空间只有2K,即需要11位地址总线,则它的低8位接单片机P0口经74HC573锁存后的输出,A8~A10接P2.0~P2.2,A11接Vcc即可;控制总线有/BUSY、/IRQ等等,接单片机的INIT0和INIT1。
图3为I/O接口单元中,一路数字输入电路的信号隔离电路,即图1中的单元2。利用一片8255进行单片机I/O扩展,它扩展了数字量的输入通道。它的数据总线和读写控制总线分别与单片机相应的引脚相连,地址端口分别接单片机P2.6和P2.7,用于确定是属于控制字还是端口选择。由于系统要求分别有16路DI,因此只用到了8255的A组和B组端口。外围装置或者设备的高低电平来控制8255的某一位为“1”或“0”。信号隔离电路工作原理如下:当外围装置或设备为高电平时,光耦输入侧的发光二极管截止,光耦无输出,8255为“1”; 当装置或PLC为低电平时,光耦输入侧的发光二极管导通,光耦有输出,8255为“0”。
图4为I/O单元中,数字量输出电路的信号隔离电路,即图1中的单元3。这片8255的连接与上图相同,只是片选端接在单片机不同的引脚而已。光耦输入侧,8255的某个口的高低电平控制光耦另一侧的通或断。其中,8255高电平时,发光二极管截止,光耦无输出,+24V通过5.1K电阻接8050的基极,三极管导通,电路有输出;8255低电平时,发光二极管导通,光耦有输出,这样导致8050截止,电路无输出。
图5为I/O接口电路,模拟量输入的电路,即模/数转换部分的电路原理图,它部分是图1中的单元4。它的地址总线直接依次与单片机的P0口相连;利用74HC74芯片的两个D触发器构成了一个四分频的电路,输入为单片机的ALE端口,输出接ADC0809的CLOCK,为芯片的工作提供时钟频率;EOC接反相器(74LS04)后接INT1,用来单片机查询转换是否结束;芯片的模拟通道选择端ADDA、ADDB和ADDC接P1.0~P1.2,用来选择是哪一条通道来进行转换;P2.7和收发控制端/WR和/RD经74LS02(或非门)芯片分别输出到OE和START/ALE端,用来控制转换开始和读取转换后的和数据;参考电压选择为+5V。最后,为了在PCB设计时排线方便,选取了IN3~IN6作为四路模拟量的输入通道。
图6为I/O单元中,模拟量输出,即AD7528与单片机的连接示意图。它是图1中的单元5。AD7528的数据端DB0~DB7接单片机P0口,并上拉2K电阻,输入数字量来进行数/模转换;写控制端与单片机/WR相连,用来控制数字量写入的时刻;/C和DAC/A/B依次接P2.4和P2.5,这样可以通过模拟单片机对外部存储器进行写操作,控制选择哪一模拟通道进行转换,给后续的编程带来便利。
这部分电路的重点在于对输出的处理上,即利用运算放大器分别对两路模拟量的输出进行I/V。AD7528是一个电流型输出的芯片,而本设计要求模拟输出是在0V~5V之间,因此设计合理的运放电路就变得尤为重要。在本设计中,使用运放LM324设计了输出的处理电路。
图7为短路保护电路和自诊断单元原理图,它接于供电电源,当电路发生短路故障时用于对其进行保护。电路工作原理如下:负载正常时,三极管发射极电位大于基极电位,处于截止状态,继电器线圈不带电,P沟道MOSFET(SI9433)栅极经继电器常闭触点接地而导通,负载上电,并且MOSFET压降很小,Vcc几乎全部加到负载上。负载发生短路时,三极管基极-发射极电压超过0.7V而导通,继电器线圈带电,常闭触点打开,导致MOSFET截止,这样形成了继电器-三极管形成的主电路,并且这条电路的电流很小,只有几个mA,避免了冲击电流给负载带来的危害。
在不用下电的情况下,当负载恢复正常时,三极管发射极电位升高从而导致三极管重新截止,继电器线圈失电,它的常闭触点闭合,MOSFET由截止变为导通,主电路又被切换到MOSFET—负载上来。这样,当负载发生故障时,电路将通过切换进行保护;而在故障排除后,电路又能在不用下电的情况自动回复工作。
综上所述,与现有技术相比较,本发明提供了一种具有短路保护与自诊断功能的PROFINET 远程I/O,其具有短路保护与自诊断功能,可以在接口电源发生短路的情况下及时断开电源,避免因短路电流而烧毁,并提供自诊断信息,方便维护人员进行装置的故障监控和排查,当短路故障排除后装置自动恢复正常工作,具有重大的实际意义。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种具有短路保护与自诊断功能的基于ANYBUS-S的PROFINET远程I/O控制装置,其特征在于该装置包括:
PROFINET接口单元:用于与PROFINET工业以太网之间进行数据交换;该接口单元通过控制其内部的ANYBUS-S 模块的数据总线和地址总线,完成ANYBUS-S模块的初始化,利用ANYBUS-S PN IO模块内嵌的PROFINET IO协议栈,通过Step7设置模块的IP地址、设备名和I/O大小,实现上位网络和下位I/O的数据交换,完成与PROFINET的通信,同时实现与I/O接口单元的数据交换;
I/O接口单元:与PROFINET接口单元连接,通过光耦隔离和AD、DA转换电路完成外围数字量和模拟量数据的处理;同时通过内部的输出短路保护与自诊断单元,在负载发生短路时,断开电源给予短路保护,并将短路过程中的诊断数据传送给PROFINET接口单元,待短路故障排除后,电路自动恢复工作。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述PROFINET接口单元的具体构成包括:
微处理器AT89S52:控制ANYBUS-S模块的数据总线、地址总线,通过信箱信息的配置,完成ANYBUS-S模块的初始化和数据交换;此外,微处理器也与I/O接口单元相连,处理由I/O接口单元传送来的I/O数据;同时检测电路中是否有短路信号,即检测短路保护与自诊断单元是否工作,并将诊断信息发送到上位PLC;
ANYBUS-S模块:分别与微处理器和PROFINET连接,内嵌PROFINET IO协议栈,通过Step7设置模块的IP地址、设备名和I/O大小,且在微处理器AT89S52的控制下,完成与PROFINET的通信;
锁存器:连接在微处理器和ANYBUS-S模块之间,微处理器通过锁存器对地址进行锁存,来分别控制ANYBUS-S模块的地址总线和数据总线,完成对模块的初始化。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,微处理器AT89S52的数据总线接锁存器74HC573和ANYBUS-S的8位数据输入端,并且锁存后的输出接ANYBUS-S的低8位地址端;同时,AT89S52的数据总线分别接于2片扩展芯片8255的D0~D7,并将地址最高的两位A15和A14接8255的控制端口A0和A1,完成对I/O端口的扩展。
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于所述的I/O接口单元包括:
DO电路:与PROFINET接口单元连接,用于将扩展芯片8255的输出信号通过光耦的隔离和电平转换控制现场装置;
DI电路:与PROFINET接口单元连接,用于将现场装置的信号经过光耦传递到另一片扩展芯片8255的输入端;
AI电路:与PROFINET接口单元连接,包括一个A/D接口电路,A/D接口电路在PROFINET接口单元中的微控制器AT89S52的控制下,将四路模拟输入信号转换成数字量,完成四路模拟信号的输入;
AO电路:与PROFINET接口单元连接,包括一个D/A接口电路,D/A接口电路在PROFINET接口单元中的微控制器AT89S52的控制下,用于将D/A接口电路转换出的模拟量输出到现场的装置或设备,完成两路模拟信号的输出。
5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述的DI电路包括一个8255接口电路,该8255接口电路的I/O端口通过光耦来完成与现场装置的隔离和信号转换;所述的DO电路包括一个8255接口电路、光耦和一个输出短路保护与自诊断单元,该8255接口电路的I/O端口通过光耦连接输出短路保护与自诊断单元,来完成与现场装置的隔离、信号转换以及输出负载是否发生短路的诊断和诊断信号的传递。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述的输出短路保护与自诊断单元连接电源两端,输出短路保护与自诊断单元电路的输出端接负载;输出短路保护与自诊断单元构成包括:Vcc接P沟道MOSFET SI9433漏极D,并通过电阻接栅极G,源极S接负载后接地;同时,无触点型继电器线圈作为NPN型三极管8050中集电极的负载,它有一个常开触点和常闭触点,其中SI9433栅极经常闭触点接地,常开触点接发光二极管和单片机P1.7,来显示是否发生短路故障并将诊断信号传递给单片机P1.7端口. MOSFET的截止或导通来控制短路故障是否被切断;当发生短路时,三极管导通,可使MOSFET截止,从而避免了短路电流给负载带来的冲击;
无触点型继电器(HSR),电路发生短路时,继电器线圈带电,造成8050导通,并且它的接于AT89S52端口的常开触点闭合,形成了短路故障信号,用于进行自诊断功能;
无触点型继电器线圈接8050的集电极,并且SI9433的栅极经继电器的常闭触点接地,发光二极管接继电器的常开触点;同时,AT89S52检测发光二极管是否点亮,以判定是否发生短路,并将检测到的结果通过ANYBUS-S模块传递到PROFINET网络侧。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20110713 |