CN102110513B - 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路 - Google Patents

一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路 Download PDF

Info

Publication number
CN102110513B
CN102110513B CN 201010589378 CN201010589378A CN102110513B CN 102110513 B CN102110513 B CN 102110513B CN 201010589378 CN201010589378 CN 201010589378 CN 201010589378 A CN201010589378 A CN 201010589378A CN 102110513 B CN102110513 B CN 102110513B
Authority
CN
China
Prior art keywords
magnetic
permanent magnet
shimming plate
magnetic circuit
magnetic resonance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 201010589378
Other languages
English (en)
Other versions
CN102110513A (zh
Inventor
陆荣生
吴卫平
易红
倪中华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Southeast University
Original Assignee
Southeast University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Southeast University filed Critical Southeast University
Priority to CN 201010589378 priority Critical patent/CN102110513B/zh
Publication of CN102110513A publication Critical patent/CN102110513A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102110513B publication Critical patent/CN102110513B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

本发明涉及一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路,包括依次排列的第一永磁体,第一匀场板,第二匀场板,第二永磁体,第一匀场板与第二匀场板之间留有间隙构成工作气隙,第一永磁体和第二永磁体的磁极方向相同,并通过导磁体连接。本发明磁路体积微小,制造和维护成本低廉,工作区域内产生的磁场场强高、磁场均匀度好,能够较好的满足原子核磁共振显微检测芯片的需求。

Description

一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路
技术领域
本发明涉及一种核磁共振检测磁路,具体涉及一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路。
背景技术
原子核磁共振检测方法与基于光学、电化学、质谱分析等检测技术相比,由于能够识别未知粒子的分子结构、观察生物粒子的新成代谢过程,特别是检测过程中对生物粒子的非破坏性,正成为微流体环境下生物粒子检测的一项重要使能技术,并由此诞生了原子核磁共振显微检测芯片这一门新兴学科。但是传统的核磁共振检测设备体积庞大,制造和维护成本昂贵,难以与微流控生医芯片相集成,其主要原因是缺乏一种适用于原子核磁共振显微检测芯片的微型磁路。
原子核磁共振显微检测芯片由于专门用于微量样品的检测,其对磁路的要求是:①磁路的场强要高且磁场的均匀性要好;②磁路体积和重量较小,以降低整个芯片的制作成本;③磁路结构开放性好,工作区域易于与芯片其它部件相匹配且便于检测过程中对样品的操纵。
虽然单边核磁共振磁路相比于传统的核磁共振磁路其体积大为缩小,但是该种磁路产生的磁场强度偏小,主要应用于单边便携式核磁共振仪用于非破坏性检测大尺度物体,而应用于原子核磁共振显微检测芯片时过小的场强难以满足芯片对信号检测的高灵敏度要求。
发明内容
本发明的目的是提供一种场强高、均匀性好的用于核磁共振显微检测芯片的磁路。
本发明的具体方案是:一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路,包括从左到右依次排列的第一永磁体,第一匀场板,第二匀场板,第二永磁体,第一匀场板与第二匀场板之间留有间隙构成工作气隙,第一永磁体和第二永磁体的磁极方向相同,并通过导磁体连接。
为了提高永磁体材料的利用率,根据不同工作环境的需要,所述的第一永磁体和第二永磁体为长方体、圆柱体、正方体或者椭圆柱。
为了提高工作气隙内的磁场强度,所述的第一永磁体和第二永磁体由小永磁体拼接组成。
为了增加工作气隙内均匀磁场范围,并提高磁场强度,第一匀场板与第二匀场板的形状不相似。所述的第一匀场板为内凹形成凹口的圆柱体、长方体、正方体或者椭圆柱,第二匀场板为形状规则的圆柱体、长方体、正方体或者椭圆柱;第一匀场板也可以为由形状规则的圆柱体、长方体、正方体或者椭圆柱与圆环、矩形环、正方形环或者椭圆形环组合而成,环的截面形状可以为矩形、正方形、梯形等。匀场板的材料可以选用电工纯铁、坡莫合金、冷轧钢或者其它具有高磁导率的材料。
为了提高工作气隙内的磁场强度,所述的凹口设有倾斜角,角度的大小根据工作气隙的大小及形状进行调整。
为了便于加工安装,提高其适用性,所述的导磁体由三部分构成,与第一永磁体外侧磁极连接的第一导磁体,与第二永磁体的外侧磁极连接的第二导磁体和连接第一导磁体和第二导磁体的第三导磁体,导磁体的材料可以选用电工纯铁、坡莫合金、冷轧钢或者其它具有高磁导率的材料。
本发明提供的用于核磁共振显微检测芯片的磁路中,第一永磁体和第二永磁体产生磁场,工作气隙用于放置样品,第一匀场板和第二匀场板用于增强工作气隙中磁场均匀度和强度。本发明磁路体积微小,制造和维护成本低廉,工作区域内产生的磁场场强高、磁场均匀度好,能够较好的满足原子核磁共振显微检测芯片的需求。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图2是本发明的y正方示意图。
图3是本发明的x负方向示意图。
图4是本发明的磁路坐标y=0时x-z坐标平面内磁场强度等高线图。
图5是本发明的磁路坐标z=0时x-y坐标平面内磁场强度等高线图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作更进一步的说明。
如图1-3所示的用于核磁共振显微检测芯片的磁路,包括依次排列的第一永磁体101,第一匀场板201,第二匀场板202,第二永磁体102,第一匀场板201与第二匀场板202之间留有间隙构成工作气隙401,第一永磁体101和第二永磁体102左右两侧电磁极相反,分别为S极和N极,并通过导磁体连接。其中,第一永磁体101和第二永磁体102选用钕铁硼制成长方体结构,图1中箭头方向是磁化方向;第一匀场板201为内凹形成凹口301的矩形薄板,凹口301存在一个大小为θ的倾斜角度,第二匀场板202为形状规则的矩形薄板,第一匀场板201和第二匀场板202的材料可选用电工纯铁,也可以选用坡莫合金、冷轧钢或者其它具有高磁导率的材料;导磁体由三部分构成,与第一永磁体101的S极连接的第一导磁体501,与第二永磁体102的N极连接的第二导磁体502和连接第一导磁体501和第二导磁体502的第三导磁体503,导磁体的材料可选用电工纯铁,也可以选择坡莫合金、冷轧钢或者其它具有高磁导率的材料。
图4-5分别为本发明磁路坐标y=0时x-z坐标平面内磁场强度等高线图和坐标z=0时x-y坐标平面内磁场强度等高线图,从图中可以看出工作气隙401内存在较大范围的高强度均匀磁场。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出:对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路,其特征在于:所述磁路包括从左到右依次排列的第一永磁体(101),第一匀场板(201),第二匀场板(202),第二永磁体(102),第一匀场板(201)与第二匀场板(202)之间留有间隙构成工作气隙(401),第一永磁体(101)和第二永磁体(102)的磁极方向相同,并通过导磁体连接;
所述的第一匀场板(201)为内凹形成凹口(301)的圆柱体、长方体、正方体或者椭圆柱,所述的第二匀场板(202)为形状规则的圆柱体、长方体、正方体或者椭圆柱。
2.按权利要求1所述的用于核磁共振显微检测芯片的磁路,其特征在于:所述的第一永磁体(101)和第二永磁体(102)为长方体、圆柱体、正方体或者椭圆柱。
3.按权利要求1或2所述的用于核磁共振显微检测芯片的磁路,其特征在于:所述的第一永磁体(101)和第二永磁体(102)由小永磁体拼接组成。
4.按权利要求1所述的用于核磁共振显微检测芯片的磁路,其特征在于:所述的凹口(301)设有倾斜角。
5.按权利要求1所述的用于核磁共振显微检测芯片的磁路,其特征在于:所述的导磁体由三部分构成,与第一永磁体(101)外侧磁极连接的第一导磁体(501),与第二永磁体(102)外侧磁极连接的第二导磁体(502)和连接第一导磁体(501)和第二导磁体(502)的第三导磁体(503)。
CN 201010589378 2010-12-15 2010-12-15 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路 Expired - Fee Related CN102110513B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201010589378 CN102110513B (zh) 2010-12-15 2010-12-15 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201010589378 CN102110513B (zh) 2010-12-15 2010-12-15 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102110513A CN102110513A (zh) 2011-06-29
CN102110513B true CN102110513B (zh) 2013-07-31

Family

ID=44174640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201010589378 Expired - Fee Related CN102110513B (zh) 2010-12-15 2010-12-15 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102110513B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104299749B (zh) * 2014-10-24 2016-08-24 广东电网有限责任公司东莞供电局 一种产生静态梯度磁场的v形永磁体装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1401295A (zh) * 2001-08-29 2003-03-12 中国科学院武汉物理与数学研究所 一种用于核磁共振成象仪的永磁体
JP2006006936A (ja) * 2004-06-21 2006-01-12 General Electric Co <Ge> 磁界生成装置及びそのシミング方法
CN201886855U (zh) * 2010-12-15 2011-06-29 东南大学 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2275251Y (zh) * 1996-12-17 1998-02-25 中国科学院武汉物理与数学研究所 核磁共振分析仪永磁体

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1401295A (zh) * 2001-08-29 2003-03-12 中国科学院武汉物理与数学研究所 一种用于核磁共振成象仪的永磁体
JP2006006936A (ja) * 2004-06-21 2006-01-12 General Electric Co <Ge> 磁界生成装置及びそのシミング方法
CN201886855U (zh) * 2010-12-15 2011-06-29 东南大学 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路

Also Published As

Publication number Publication date
CN102110513A (zh) 2011-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102411130B (zh) 永磁体磁偏角测量装置及方法
CN103605089B (zh) 永磁材料室温和高温不合格产品的快速无损检测方法
CN111856354B (zh) 兼具宽量程与高灵敏度的磁传感器、其制备方法与使用方法
CN105280325A (zh) 一种用于核磁共振检测的多级无源匀场永磁磁体
CN108872892A (zh) 用于电机的永磁材料磁性能检测分析方法
CN201886855U (zh) 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路
CN103149544A (zh) 基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法
CN102024546A (zh) 一种用于恒定梯度场岩样分析仪的梯度永磁体
CN101782539B (zh) 一种基于核磁共振技术的微流控生物粒子检测芯片
CN102110513B (zh) 一种用于核磁共振显微检测芯片的磁路
CN202362440U (zh) 永磁体磁偏角测量装置
Nishio et al. More accurate hysteresis curve for large Nd–Fe–B sintered magnets employing a superconducting magnet-based vibrating sample magnetometer
CN106125021B (zh) 一种正交偏置磁场下导磁材料特性的测量方法
Huang et al. Observation of directional change of core field inside flux ropes within one reconnection diffusion region in the Earth’s magnetotail
CN203366892U (zh) 一种磁质子反冲谱仪用永磁装置
Nishio et al. Desirable measurement on accurate hysteresis curve for large Nd–Fe–B sintered magnets at elevated temperatures
Kitegi et al. Development of a PrFeB cryogenic undulator at NSLS-II
CN101833072B (zh) 一种基于永磁体实现磁场扫描的结构及方法
CN201536041U (zh) 一种用于全直径岩心分析仪的磁体
CN104569869B (zh) 磁传感器
CN109523686A (zh) 图像传感器
US11860127B2 (en) Eddy current probe based on Halbach array coil
CN117574737B (zh) 一种开放式常导磁共振磁体的设计方法
CN103091513B (zh) 强磁材料动态微磁结构观测装置及观测方法
Nguyen et al. Enhancement of Magnetic Field Strength and Gradient Produced by an Array of Micro-sized Parallelepiped Magnets

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130731

Termination date: 20151215

EXPY Termination of patent right or utility model