CN102103190A - 过流保护测试系统 - Google Patents

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谢玲玉
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies

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Abstract

一种过流保护测试系统,包括一开关电源、一与该开关电源相连的电子负载及一控制电路,所述控制电路在对所述开关电源进行过流保护测试时输出线性变化的电压给所述电子负载。本发明过流保护测试系统利用所述控制电路使输出至所述电子负载的电压呈线性变化,可提高测试准确度。

Description

过流保护测试系统
技术领域
本发明涉及一种过流保护测试系统,尤指一种测试时可控制电流线性变化的过流保护测试系统。
背景技术
电脑的开关电源是将交流电转换为电脑工作所需要的各路低压直流电源的转换器。在将开关电源应用于电脑之前,对开关电源进行各种测试验证是必不可少的环节。开关电源测试项目包括温升测试、OCP(Over Current Protection,过流保护)测试等。在对开关电源进行OCP测试时,会逐步提高输出至负载(测试专用的电子负载)的电流,以检测各元件的电流耐受值。为了使电流逐渐上升,传统的调节方法是通过旋转负载的旋钮手动调节负载的电阻值,从而调节负载的电流。然而,传统的调节方式无法保证负载的电阻值线性变化,从而使电流线性上升,使得测试结果很难符合测试要求。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种可控制电流线性变化的过流保护测试系统。
一种过流保护测试系统,包括一开关电源、一与该开关电源相连的电子负载及一控制电路,所述控制电路在对所述开关电源进行过流保护测试时输出线性变化的电压给所述电子负载。
相较于现有技术,本发明过流保护测试系统增加一控制电路使输出至所述电子负载的电压呈线性变化,从而可使电流输入至所述电子负载的电流呈线性变化,无需人工调节电子负载的阻值,可提高测试准确度。
附图说明
图1是一本发明较佳实施方式过流保护测试系统的组成图。
图2是图1中控制电路的具体电路图。
图3是图2中微控制器输出信号的占空比与输出至电子负载的电压的关系图。
主要元件符号说明
Figure G200910311614020091216D000011
Figure G200910311614020091216D000021
具体实施方式
请参阅图1,本发明较佳实施方式过流保护测试系统包括一接有交流电源10的开关电源20、一与所述开关电源20相连的电子负载30及一控制电路40。所述控制电路40控制输出线性变化的电压至所述电子负载30,所述电子负载30的阻值保持不变,因而可使流过所述电子负载30的电压呈线性变化,以符合对所述开关电源20进行OCP测试时电流变化的要求。
请参阅图2,所述控制电路40包括一微控制器(MCU)50,所述微控制器50可以是ATmega16L等型号的单片机。所述微控制器50包括PA0-PA7、PB0-PB7、PC0-PC7及PD0-PD7四组I/O接口。所述微控制器50的电源接口VCC及AVCC均接有+5V的工作电压。
所述微控制器50外接一测试模式选择按键52,所述测试模式选择按键52的一端与所述微控制器50的PB0接口相连,另一端接地,一第一电容C1与所述测试模式选择按键52并联。
所述测试模式选择按键52用于选择不同的测试模式,在本发明较佳实施方式中,可选择三种常用的测试模式,在不同的测试模式下,所述微控制器50输出的控制信号的占空比(每一周期内高电平持续时间的百分比)不同。例如,在第一种测试模式下,所述控制信号的占空比为1%;在第二种测试模式下,所述控制信号的占空比为50%;在第三种测试模式下,所述控制信号的占空比为99.9%。
所述微控制器50还外接一用于启动所述微控制器50的启动按键54,所述启动按键54的一端与所述微控制器50的PD2接口相连,另一端接地,一第二电容C2与所述启动按键54并联。
所述微控制器50的PD7接口通过一电阻R4外接一第一指示灯LED1,PC0接口通过一电阻R3外接一第二指示灯LED2,PC1接口通过一电阻R2外接一第三指示灯LED3,PC2接口通过一电阻R1外接一第四指示灯LED4。LED1、LED2、LED3分别用于指示三种不同的测试模式,LED4用于指示所述微控制器50的工作状态。在本发明较佳实施方式中,LED1、LED2、LED3为红色的指示灯,LED4为绿色的指示灯。
所述微控制器50的PC7接口通过一电阻R5连接至一LM358芯片60的第3引脚,LM358芯片60内部包括有两个独立的、高增益、内部频率补偿的双运算放大器,适合于电源电压范围很宽的单电源使用,也适用于双电源工作模式。所述LM358芯片60的第1引脚通过串联的电阻R7、R8与其第5引脚相连。电阻R8的两端分别接有一第三电容C3及一第四电容C4。所述LM358芯片60的第2引脚接有一+2.5V的电压信号,第8引脚接有一+5V的电压信号,因而使所述LM358芯片60在双电源模式下工作。所述LM358芯片60的第4引脚与所述微控制器50的接地引脚GND共同接地。所述LM358芯片60的第6引脚通过一电阻R6连接至其第7引脚。所述LM358芯片60的第7引脚可输出线性变化的电压至电子负载30。
在对所述开关电源20进行OCP测试时,按下所述启动按键54,使所述微控制器50开始工作,此时所述第四指示灯LED4发光。然后,按压所述测试模式选择按键52选择所需测试模式,对应的指示灯LED1、LED2或LED3发光,指示当前的测试模式,例如,按压一次所述测试模式选择按键52,可选择所述第一测试模式,LED1发光;按压两次所述测试模式选择按键52,可选择所述第二测试模式,LED2发光;按压三次所述测试模式选择按键52,可选择所述第三测试模式,LED3发光。所述微控制器50的PC7接口开始输出控制信号,所述控制信号的占空比与所述LM358芯片60的第7引脚输出电压Vout成正比(见图3),以保证输出至所述电子负载30的电压呈线性变化,从而保证在OCP测试时输入至电子负载30的电流呈线性变化,符合OCP测试时对电流变化的要求。

Claims (10)

1.一种过流保护测试系统,包括一开关电源及一与该开关电源相连的电子负载,其特征在于:所述过流保护测试系统还包括一控制电路,所述控制电路在对所述开关电源进行过流保护测试时输出线性变化的电压给所述电子负载。
2.如权利要求1所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述控制电路包括一微控制器,所述微控制器控制输出至所述电子负载的电压的大小。
3.如权利要求2所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述微控制器包括一控制信号输出接口,该控制信号输出接口输出的控制信号的占空比与输出至所述电子负载的电压值呈正比。
4.如权利要求3所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述微控制器接有一测试模式选择按键,在不同的测试模式下,所述微控制器输出的控制信号的占空比不同。
5.如权利要求4所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述微控制器接有多个用于指示测试模式的指示灯。
6.如权利要求3所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述控制电路还包括一芯片,所述芯片的一输入端与所述微控制器的控制信号输出接口相连,所述芯片的一输出端连接至所述电子负载。
7.如权利要求6所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述芯片包括两个独立的放大器。
8.如权利要求7所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述芯片在双电源的模式下工作。
9.如权利要求2所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述微控制器接有一用于启动所述微控制器的启动按键。
10.如权利要求2所述的过流保护测试系统,其特征在于:所述微控制器还接有一工作状态指示灯。
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PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
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