CN102063260A - 一种屏幕显示方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种屏幕显示方法及装置，包括：提示用户选择采样方式，在接收到用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距，按照各像素点调整后的点距，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。本发明采用动态调整显示屏像素点距的方式，使用户正面平视显示屏所能观看到的像素点距缩小，而使需要斜视才能看到的两边显示屏的像素点距增大，形成一个轻微弧度的效果，他人从两边观看显示屏，这个弧度效果就会被放大，视野会落到这个弧度上，产生失真的感觉，从而达到防止窥视的效果。

Description

一种屏幕显示方法及装置
技术领域
本发明涉及移动终端设备，尤其涉及一种屏幕显示方法及装置。
背景技术
科技发展日新月异，自计算机诞生以来，其与人们生活的联系已越来越紧密，但是因计算机体积和用电的问题，无法实现空间、地域和时间均无任何限制地使用，这就推动了移动终端技术的发展，移动终端的功能日益强大，已经能够基本实现计算机的功能。但是，移动终端也存在着自身的缺陷，由于显示屏的尺寸有限，限制了移动终端的更大发展。鉴于此，移动互联网设备(Mobile Internet Device，MID)应运而生。
MID是比智能移动终端屏幕更大，比上网本更易携带的一种终端，主要满足用户随时随地上网、随时随地处理业务以及便于携带的需要，它能够提高用户的办事效率。
由于MID需要满足人们随时随地的使用需求，因此，不可避免地要在公共场合使用，由于屏幕的视角不受限制，用户的保密资料、信息就有可能被别有用心的人窥视窃取，因此，在使用过程中如何保证资料的安全性，就成为了一个必须解决的问题。
在现有技术中，可以通过将屏幕的可视角度缩小，或者根据传感器检测设备和使用者之间相对位置的变化，来调整屏幕的位置和可视范围，来防止资料、信息的被窥视，但，上述方法中MID的屏幕必须是可调整视角屏幕，或者必须带有传感器，因此，并不适用于所有MID，不具有广泛的适用性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种屏幕显示方法及装置，保护屏幕显示的内容的安全性，防止他人窥视。
为解决上述技术问题，本发明的一种屏幕显示方法，包括：
提示用户选择采样方式，在接收到用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距，按照各像素点的调整后的点距，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。
进一步地，该方法还包括：
所述提示用户选择采样方式时，还提示用户输入点距偏移值；所述从屏幕上选择参考原点时，还选择调整点；
所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：采用所述点距偏移值、参考原点的坐标值和调整点的坐标值，针对所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。
进一步地，所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000021
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
进一步地，所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000022
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
进一步地，所述使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：
分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。
进一步地，一种屏幕显示装置，包括：数据获取模块、调整模块和屏幕显示模块，其中：
所述数据获取模块，用于提示用户选择采样方式，并接收用户选择的采样方式；
所述调整模块，用于在所述数据获取模块接收到所述用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距；
所述屏幕显示模块，用于在所述调整模块调整屏幕上各像素点的点距后，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。
进一步地，所述数据获取模块，还用于在提示用户选择采样方式时，提示用户输入点距偏移值，并接收用户输入的点距偏移值；
所述调整模块，还用于在从屏幕上选择参考原点时，选择调整点，所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距包括：采用所述数据获取模块接收到的点距偏移值，以及所选取的参考原点的坐标值和调整点的坐标值，为所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。
进一步地，所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000031
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
进一步地，所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000032
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
进一步地，所述调整模块使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距时，分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。
综上所述，本发明采用动态调整显示屏像素点距的方式，使用户正面平视显示屏所能观看到的像素点距缩小，而使需要斜视才能看到的两边显示屏的像素点距增大，形成一个轻微弧度的效果，由于用户是从正面中间观看显示屏，这个轻微的弧度不会对其观看产生影响，而他人从两边观看显示屏，这个弧度效果就会被放大，视野会落到这个弧度上，产生失真的感觉，从而达到防止窥视的效果。
附图说明
图1为本发明实施方式屏幕显示方法的流程图；
图2为本发明实施方式中线性采样方式的示意图；
图3为本发明实施方式中抛物线采样方式的示意图；
图4为本发明实施方式的屏幕显示装置的架构图。
具体实施方式
本实施方式的屏幕显示方法通过动态调整屏幕上像素点的点距，在观看角度较大时，使屏幕显示产生失真的效果，实现对屏幕显示内容的保护。
图1所示为本实施方式的屏幕显示方法，包括：
步骤101：接收用户输入的点距偏移值及用户选择的采样方式；
点距是指显示屏上相邻像素点之间的距离，我们通常看到的画面是由许多的像素点所形成的，画质的细腻度就是由点距来决定的。本实施方式中用户可以根据需要，选择点距偏移值的大小，点距偏移值越小，则屏幕两侧的失真度越低，反之，点距偏移值越大，则屏幕两侧的失真度越高。
采样方式包括线性采样和抛物线(二次方)采样。
步骤102：根据点距偏移值，生成用户所选采样方式的采样函数；
采样函数表示调整前后点距的变化，获取到点距偏移值和采样方式后，需要选取两个像素点，参考原点和调整点，参考原点的点距始终保持不变，仍为原始点距，参考原点和调整点为计算采样函数提供计算数据，采用参考原点和调整点的坐标值，以及点距偏移值计算采样函数的斜率和截距。
下面分别介绍不同采样方式的采样函数的计算方法：
1、线性采样：
采样函数
Figure BDA0000042918570000051
其中，d为调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为参考原点与调整点之间的距离；b为点距偏移值；c为原始点距减点距偏移值，线性采样的示意图如图2所示。
2、抛物线采样：
采样函数
Figure BDA0000042918570000052
其中，d为调整后的点距，x为像素点的横坐标，参数a、b和c与线性采样中的计算方法相同，抛物线采样的示意图如图3所示。
步骤103：根据采样函数重新计算每个像素点的点距；
生成采样函数后，分别将每个像素点的横坐标代入采样函数，得到每个像素点的新点距。需要注意，这些新点距都是相对于原始点距而言，因此会有至少一个像素点，其点距没有变化，该像素点为参考原点。
步骤104：根据重新计算的点距，以参考原点为基准确定每个像素点的新位置，根据每个像素点的新位置，重新显示屏幕。
图4所示为本实施方式的屏幕显示装置，包括：数据获取模块、调整模块屏幕显示模块，其中：
数据获取模块，用于提示用户选择采样方式和点距偏移值，并接收用户选择的采样方式和输入的点距偏移值；
调整模块，用于在数据获取模块接收到用户选择的采样方式和点距偏移值后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距；还用于在从屏幕上选择参考原点时，选择调整点，上述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距包括：采用数据获取模块接收到的点距偏移值，以及所选取的参考原点的坐标值和调整点的坐标值，为采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。
采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000053
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标a为参考原点与调整点之间的距离，a由参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去点距偏移值的结果。
采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为
Figure BDA0000042918570000061
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标a为参考原点与调整点之间的距离，a由参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去点距偏移值的结果。
调整模块使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距时，分别将屏幕上各像素点的横坐标代入采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。
屏幕显示模块，用于在调整模块调整屏幕上各像素点的点距后，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。
下面以屏幕分辨率为800x480的移动设备为例，说明本实施方式的方法，由于生成的新点距为对称分布，故只取屏幕的右半边做描述，由于每一行的像素调整情况均相同，故只选取第一行像素做描述，即像素点(400，0)～(800，0)这一行像素。假设原始点距为1，则用户可设置的点距偏移值为0～1，本实施方式中假设点距偏移值为0.6，采用线性采样，由于选取像素点(400，0)～(800，0)这一行，可选取参考原点A(600，0)，调整点B(800，0)。
线性采样的采样函数的公式为
Figure BDA0000042918570000062
其中，b＝0.6，a＝200，c＝0.4；得到采样函数后，则将像素点的横坐标依次代入，得到各个像素点的新点距值，确定点距后，以A点为参照点，计算每个像素点的新位置，重新显示屏幕。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块、各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们的多个模块或者步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种屏幕显示方法，包括：
提示用户选择采样方式，在接收到用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距，按照各像素点的调整后的点距，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：
所述提示用户选择采样方式时，还提示用户输入点距偏移值；所述从屏幕上选择参考原点时，还选择调整点；
所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：采用所述点距偏移值、参考原点的坐标值和调整点的坐标值，针对所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：
所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为
Figure FDA0000042918560000011
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于：
所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为
Figure FDA0000042918560000012
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距的步骤包括：
分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。
6.一种屏幕显示装置，包括：数据获取模块、调整模块和屏幕显示模块，其中：
所述数据获取模块，用于提示用户选择采样方式，并接收用户选择的采样方式；
所述调整模块，用于在所述数据获取模块接收到所述用户选择的采样方式后，从屏幕上选择参考原点，以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距；
所述屏幕显示模块，用于在所述调整模块调整屏幕上各像素点的点距后，重新确定各像素点的位置，并重新显示屏幕。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于：
所述数据获取模块，还用于在提示用户选择采样方式时，提示用户输入点距偏移值，并接收用户输入的点距偏移值；
所述调整模块，还用于在从屏幕上选择参考原点时，选择调整点，所述以参考原点为基准，按照用户选择的采样方式，调整屏幕上各像素点的点距包括：采用所述数据获取模块接收到的点距偏移值，以及所选取的参考原点的坐标值和调整点的坐标值，为所述采样方式计算采样函数，使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：
所述采样方式包含线性采样，该线性采样的采样函数为
Figure FDA0000042918560000021
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
9.如权利要求7所述的装置，其特征在于：
所述采样方式包含抛物线采样，该抛物线采样的采样函数为
Figure FDA0000042918560000022
其中，d为像素点的调整后的点距，x为像素点的横坐标，a为所述参考原点与调整点之间的距离，a由所述参考原点的坐标值和调整点的坐标值计算得到；b为所述点距偏移值；c为屏幕的原始点距减去所述点距偏移值的结果。
10.如权利要求8或9所述的装置，其特征在于：
所述调整模块使用该采样函数，调整屏幕上各像素点的点距时，分别将屏幕上各像素点的横坐标代入所述采样函数，计算得到屏幕上各像素点调整后的点距。
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