CN102053235A - 一种电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统及其校验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统及其校验方法,该方法包括步骤:a:将电子式电流互感器与标准电流互感器串联,通过升流器施加一次测试电流于标准电流互感器和被测电子式电流互感器上;b:标准电流互感器二次电流信号经模数转换后变为数字量传输至电子式互感器稳态校验系统的分析处理单元;c:电子式电流互感器输出的数字量经过光电转换后通过以太网线与电子式互感器稳态校验系统主机相连;d:电子式互感器稳态校验系统将采集到的标准电压信号数字量与电子式互感器输出的数字量经分析处理单元进行分析处理,得出试品的校验值。利用本发明的方法可实现现场电子式电流互感器的稳态校验,且校验精度高、速度快、效率高。
Description
技术领域
本发明涉及互感器技术领域,尤其涉及一种电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统及其校验方法。
背景技术
电子式电流互感器在安装完毕投运前一般要进行现场稳态精度校验,运行若干年后进行预防性试验或检修时,通常也要进行稳态精度校验。
传统的电流互感器输出为模拟信号,其稳态校验系统进行的是模拟量与模拟量之间的校验。而电子式电流互感器的输出为数字信号,在现场稳态校验时需进行数字量与模拟量的校验。由于电子式电流互感器和传统互感器在原理、输出方式上都发生了重大的改变,现有的针对传统电流互感器的校验方法已无法在电子式电流互感器上运用
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统及其校验方法。
本发明的发明目的是通过以下技术方案实现的。
一种电子式互感器的现场稳态精度校验系统,包括:分析处理单元、模拟量采样单元、数字量采样单元和结果显示单元;
模拟量采样单元用于将采集到的标准电流互感器产生的标准电压信号进行模数转换;
数字量采样单元用于采集电子式互感器输出的数字量经光电转换后的信号,并发送给分析处理单元;
分析处理单元用于对采集到的标准电压信号数字量与电子式电流互感器输出的数字量进行分析处理,并将校验结果通过结果显示单元实时显示出来。
其中,还包括文件输出单元,文件输出单元用于在测试完成后将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值自动保存为文本文件。
其中,还包括同步信号发生器,该同步信号发生器用于产生高精度的秒脉冲,所述模拟信号采样单元和电子式互感器二次转换器接收到高精度的秒脉冲后可以进行同步采集,使采样成为时间相干的一组数据,供后续分析。。
一种如上所述的电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统的校验方法,包括步骤:
a:将电子式电流互感器与标准电流互感器串联,通过升流器施加一次测试电流于标准电流互感器和被测电子式电流互感器上;
b:标准电流互感器二次电流信号经模数转换后变为数字量传输至电子式互感器稳态校验系统的分析处理单元;
c:电子式电流互感器输出的数字量经过光电转换后通过以太网线与电子式互感器稳态校验系统主机相连;
d:电子式互感器稳态校验系统将采集到的标准电压信号数字量与电子式互感器输出的数字量经分析处理单元进行分析处理,得出试品的校验值。
其中,所述步骤b具体包括:标准电流互感器二次电流通过标准电流电压转换器后产生一个小的标准电压信号;小的标准电压信号经位于电子式互感器稳态校验系统内部的模拟量采样单元进行模数转换。
其中,所述小的标准电压信号值为1~10V。
其中,步骤d中所述校验值包括比差、角差和频率。
其中,步骤d之后还包括将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值自动保存为文本文件。
其中,还包括对比差值和角差值进行分析,得出校验误差值。
本发明实施例与现有技术相比,有益效果在于:本发明将电子式电流互感器与标准电流互感器串联,通过将标准电流互感器小的标准电压信号经A/D采样后变成数字信号,与互感器输出的数字信号进行比较,得到电子式互感器的比差和角差。利用本发明的方法可实现现场电子式电流互感器的稳态校验,且校验精度高、速度快、效率高。
附图说明
图1是本发明电子式电流互感器现场稳态精度校验方法示意图。
图2是本发明同步信号发生器的同步信号示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1所示,本发明电子式电流互感器现场稳态校验方法示意图,在检测中的工作过程为:
(1)将电子式电流互感器、标准电流互感器等测试设备按图1所示接线串联在一起;
(2)通过现场升流设备施加一次测试电流至额定值;
(3)标准电流互感器二次电流通过标准电流/电压转换器转换后产生一个1V~10V范围的小的标准电压信号
(4)小的标准电压信号经位于电子式互感器稳态校验系统主机内部的模拟采样单元进行模数转换;
(5)电子式电流互感器输出的数字量经过光电转换后通过以太网线与电子式互感器稳态校验系统主机相连;
(6)电子式互感器稳态校验系统将采集到的标准电压信号数字量与电子式电流互感器输出的数字量通过时序同步处理经LABVIEW虚拟仪器系统进行分析处理,将校验的结果包括比差、角差、频率等实时显示出来,并在测试完成后将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值自动保存为文本文件;
进行数据记录:记录试品的比差和角差的平均值;
进行结果判定:对比差值和角差值进行分析,判定数据是否符合国标《GB/T20840.8电子式电流互感器》中精度等级的规定范围;
(7)将升流设备输出电流降低至零,测试完成后解除接线。
本发明还提供一种电子式互感器稳态校验系统,如图1所示,包括:分析处理单元、模拟量采样单元、数字量采样单元、同步信号发生器、结果显示单元、文件输出单元;
模拟量采样单元用于将采集到的标准电流互感器产生的小的标准电压信号进行模数转换;
数字量采样单元用于采集电子式互感器输出的数字量经光电转换后的信号,并发送给分析处理单元;
分析处理单元用于对采集到的标准电压信号数字量与电子式电流互感器输出的数字量进行分析处理,并将校验结果包括比差、角差、频率等通过结果显示单元实时显示出来;并在测试完成后将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值经文件输出单元自动保存为文本文件。
同步信号发生器用于产生高精度的秒脉冲,同步信号如图2所示(其中,时钟频率:1Hz;脉冲持续时间th>10μs;脉冲间隔tl>500ms),模拟信号采样单元和电子式互感器二次转换器接收到高精度的秒脉冲后可以进行同步采集,使采样成为时间相干的一组数据,供后续分析。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统,其特征在于,包括:分析处理单元、模拟量采样单元、数字量采样单元和结果显示单元;
模拟量采样单元用于将采集到的标准电流互感器产生的标准电压信号进行模数转换;
数字量采样单元用于采集电子式互感器输出的数字量经光电转换后的信号,并发送给分析处理单元;
分析处理单元用于对采集到的标准电压信号数字量与电子式电流互感器输出的数字量进行分析处理,并将校验结果通过结果显示单元实时显示出来。
2.如权利要求1所述的电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统,其特征在于,还包括文件输出单元,文件输出单元用于在测试完成后将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值自动保存为文本文件。
3.如权利要求1所述的电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统,其特征在于,还包括同步信号发生器;该同步信号发生器用于产生高精度的秒脉冲,所述模拟信号采样单元和电子式互感器二次转换器接收到高精度的秒脉冲后可以进行同步采集,使采样成为时间相干的一组数据,供后续分析。
4.一种如权利要求1所述的电子式电流互感器的现场稳态精度校验系统的校验方法,其特征在于,包括步骤:
a:将电子式电流互感器与标准电流互感器串联,通过升流器施加一次测试电流于标准电流互感器和被测电子式电流互感器上;
b:标准电流互感器二次电流信号经模数转换后变为数字量传输至电子式互感器稳态校验系统的分析处理单元;
c:电子式电流互感器输出的数字量经过光电转换后通过以太网线与电子式互感器稳态校验系统主机相连;
d:电子式互感器稳态校验系统将采集到的标准电压信号数字量与电子式互感器输出的数字量经分析处理单元进行分析处理,得出试品的校验值。
5.如权利要求4所述的校验方法,其特征在于,所述步骤b具体包括:标准电流互感器二次电流通过标准电流电压转换器后产生一个小的标准电压信号;小的标准电压信号经位于电子式互感器稳态校验系统内部的模拟量采样单元进行模数转换。
6.如权利要求5所述的校验方法,其特征在于,所述小的标准电压信号值为1~10V。
7.如权利要求4所述的校验方法,其特征在于,步骤d中所述校验值包括比差、角差和频率。
8.如权利要求7所述的校验方法,其特征在于,步骤d之后还包括将比差的最大值、最小值和平均值,角差的最大值、最小值和平均值自动保存为文本文件。
9.如权利要求8所述的校验方法,其特征在于,还包括对比差值和角差值进行分析,得出校验误差值。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20110511 |