CN102043696A - 电子产品测试程序引导系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种电子产品测试程序引导方法。该方法包括:为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序;测试脚本生成模块根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。通过本发明提供的电子产品测试程序引导系统,为每个电子产品生成一个测试脚本,在该测试脚本的引导下按照预先设定的启动顺序启动相应的测试程序完成对电子产品的某个功能的测试,节约了测试时间。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域,尤其涉及一种电子产品测试程序引导系统及方法。
背景技术
随着电子技术的发展,许多电子产品集成的功能越来越多,在电子产品的量产过程中需要对其进行各种功能测试,大多数功能的测试的方法是为待测电子产品编写一些测试程序,然而每一种产品可能有多种型号,每一种型号的测试项目可能不一样,每个测试项目所需要的测试程序都可能是不一样的,当出现上述情况时,测试人员需要手动查找并执行相应的测试程序完成对相应测试项目的测试,查找的过程浪费时间。
发明内容
鉴于以上内容有必要提供一种电子产品测试程序引导系统,该系统运行于计算机中。该系统包括:测试流程创建模块,用于为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序;测试脚本生成模块,用于根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
鉴于以上内容还有必要提供一种电子产品测试程序引导方法。该方法包括:(a)为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序;(b)测试脚本生成模块根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
通过本发明提供的电子产品测试程序引导系统,为每个电子产品生成一个测试脚本,在该测试脚本的引导下按照预先设定的启动顺序启动相应的测试程序完成对电子产品的某个功能的测试,节约了测试时间。
附图说明
图1是本发明电子产品测试程序引导系统的应用环境的示意图。
图2是测试流程的数据信息包含的内容的示意图。
图3是电子产品测试程序引导方法的流程图。
具体实施方式
如图1所示,是本发明电子产品测试程序引导系统的应用环境的示意图。该电子产品测试程序引导系统20(以下简称该系统20)运行于计算机2中,该系统20包括测试流程创建模块201、测试脚本生成模块202、及执行模块203。
所述测试流程创建模块201用于为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,请参考图2所示,是测试流程的数据信息包含的内容的示意图。所述测试流程数据信息包括待测电子产品名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序。
所述测试脚本生成模块202,用于根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
所述执行模块,用于当待测电子产品的测试脚本被触发后,根据上述设定的该待测电子产品所包含的测试项目、每个测试项目所需要的测试程序的名称、每个测试程序的路径及启动顺序启动测试程序完成对待测电子产品的测试。
如图3所示,是本发明电子产品测试程序引导方法。
步骤S202,通过测试流程创建模块201为某个待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程数据信息包括待测电子产品名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序。
步骤S204,测试脚本生成模块202根据上述设定完成后的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
在上述步骤完成后,当某个待测电子产品的测试脚本被触发后,执行模块203根据上述设定的该待测电子产品所包含的测试项目、每个测试项目所需要的测试程序的名称、每个测试程序的路径及启动顺序启动测试程序完成对待测电子产品的测试。
为了更进一步说明本发明电子产品测试程序引导方法的实施效果,以下以电脑主板内存的基准电压范围的测试来进行说明。
假如需要对两种型号的内存进行测试,两种型号的内存的测试程序是不一样的,但使用的测试机台是一样的。同一种型号的内存的测试又分为高负载和低负载下的测试,分别需要两个测试程序,对应一个测试脚本。这样测试人员需要根据待测内存的型号去选择合适的测试程序,并将该测试程序启动运行,浪费时间。
通过本发明电子产品测试程序引导系统新建针对每个型号的内存的测试流程的数据信息并生成对应每个型号的内存的测试脚本。设定好后,每次对某个型号的内存进行基准电压范围的测试时,只需要触发运行对应该型号的内存的测试脚本,即可在该测试脚本的引导下按照设定的顺序启动相应的测试程序完成对该型号的内存的基准电压范围的测试。
应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (4)
1.一种电子产品测试程序引导系统,该系统运行于计算机中,其特征在于,该系统包括:
测试流程创建模块,用于为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序;
测试脚本生成模块,用于根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
2.如权利要求1所述的电子产品测试程序引导系统,其特征在于,该系统还包括执行模块,用于当待测电子产品的测试脚本被触发后,根据上述设定的该待测电子产品所包含的测试项目、每个测试项目所需要的测试程序的名称、每个测试程序的路径及启动顺序启动测试程序完成对待测电子产品的测试。
3.一种电子产品测试程序引导方法,其特征在于,该方法包括:
(a)为待测电子产品创建测试流程并设定该测试流程的数据信息,所述测试流程的数据信息包括待测电子产品的名称,该待测电子产品包括的测试项目、每个测试项目所需的测试程序、每个测试程序的路径及启动顺序;
(b)测试脚本生成模块根据上述设定的测试流程数据信息生成该待测电子产品的测试脚本。
4.如权利要求3所述的电子产品测试程序引导方法,其特征在于,该方法还包括:
当待测电子产品的测试脚本被触发后,根据上述设定的该待测电子产品所包含的测试项目、每个测试项目所需要的测试程序的名称、每个测试程序的路径,按照每个测试程序设定的启动顺序完成对待测电子产品的测试。
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CN2009103086516A CN102043696A (zh) | 2009-10-22 | 2009-10-22 | 电子产品测试程序引导系统及方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108572312A (zh) * | 2018-04-12 | 2018-09-25 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) | SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板 |
CN109918309A (zh) * | 2019-03-15 | 2019-06-21 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) | 电子产品测试方法、装置、系统和存储介质 |
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2009
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