CN102032983A - 一种ccd探测器标定方法及装置 - Google Patents

一种ccd探测器标定方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102032983A
CN102032983A CN2009100240396A CN200910024039A CN102032983A CN 102032983 A CN102032983 A CN 102032983A CN 2009100240396 A CN2009100240396 A CN 2009100240396A CN 200910024039 A CN200910024039 A CN 200910024039A CN 102032983 A CN102032983 A CN 102032983A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ccd detector
attenuator
energy
integrating sphere
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2009100240396A
Other languages
English (en)
Inventor
赵建科
李霞
陈永权
赛建刚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS
Original Assignee
XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS filed Critical XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS
Priority to CN2009100240396A priority Critical patent/CN102032983A/zh
Publication of CN102032983A publication Critical patent/CN102032983A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

本发明涉及一种CCD探测器标定方法及装置,该装置包括激光器、衰减器、积分球以及能量探测器,能量探测器设置在积分球上,衰减器设置在激光器和积分球之间,激光器、衰减器和积分球三者位于同一光路上。本发明提出的激光参数测量CCD探测器性能标定的方法及装置,解决了激光参数测量CCD探测器性能参数标定的问题,该装置能够有效的标定CCD的性能参数并且能够给出修正系数,很好的保证激光参数测量的准确性。

Description

一种CCD探测器标定方法及装置
技术领域
本发明涉及一种CCD探测器标定方法及装置,尤其涉及一种激光参数测量用CCD探测器性能标定方法及其标定装置。
背景技术
随着神光三主机装置大科学工程深入开展,对激光性能参数测量诊断显得越来越重要。激光性能参数测量诊断所用的探测器全部为CCD成像探测器。由于神光三激光波长主要为351nm和1053nm,对于CCD探测器来说响应比较低,性能参数将会下降,直接影响神光三主机装置激光性能参数测量的准确性。目前标定CCD探测器有两方法,一种方法用激光器和楔形镜的组合,只对CCD探测器动态范围测量,其它关键参数如均匀性、响应度、信噪比等无法测量,且测量精度低。另一种方法用积分球均匀白光光源测试,与实际使用的激光波长不符,导致CCD探测器标定的参数与实际参数相差很大。用上述两种标定方法,会使CCD探测器测量激光参数的可信度大大降低。
发明内容
为了解决背景技术中所存在的技术问题,本发明提出了一种激光参数测量CCD探测器性能标定的方法及装置,解决了激光参数测量CCD探测器性能参数标定的问题,该装置能够有效的标定CCD的性能参数并且能够给出修正系数,很好的保证激光参数测量的准确性。
本发明的技术解决方案是:一种CCD探测器标定装置,其特征在于:该装置包括激光器、衰减器、积分球以及能量探测器,所述能量探测器设置在积分球上,所述衰减器设置在激光器和积分球之间,激光器、衰减器和积分球三者位于同一光路上。
该装置还包括可变光阑,所述可变光阑设置在者积分球上,与衰减器位于同一光路上。
上述衰减器、CCD探测器以及能量探测器均连接于采集与控制计算机。
上述能量探测器前设置有相应波长的带通滤光片,所述能量探测器通过控制卡和采集与控制计算机连接。
上述衰减器是由可变狭缝或不同透过率的衰减片组成的。
上述能量探测器在351nm波段是硅(si)探测器,在1053nm波段是铟镓砷(INGaAa)探测器。
一种基于该CCD探测器标定装置的标定方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:
(1)将CCD探测器安装在积分球上,将CCD探测器曝光时间、增益设置到正常工作状态;
(2)开启激光器,计算机控制衰减器转动到光能透过最大的位置,计算机采集CCD探测器图像并处理图像;
(3)按一定步距控制衰减器转动,减少能量,采集探测器图像和能量探测器数据,当CCD探测器图像灰度的输出值达到暗电流的值时,停止采集;
(4)将在不同能量下采集到的图像数据按最小二乘法进行线性拟合处理,可得到CCD探测器响应度、信噪比、动态范围、响应线性度和均匀性修正系数参数。
在上述标定方法中,计算机采集CCD探测器临界饱和图像时,用计算机控制衰减器转动,使CCD探测器图像灰度的最大值达到饱和时的95%,采集此时的CCD探测器图像和能量探测器数据。
本发明的优点是:
1、本发明采用激光器、衰减器、能量探测器和积分球组合标定CCD探测器,可以准确标定CCD探测器响应度、信噪比、动态范围、响应线性度等关键参数;
2、在输入不同能量的情况下,用最小二乘法对采集的数据进行处理,可以得到CCD探测器的均匀性修正系数和响应的暗电流噪声;
3、本发明提供的标定装置,利用不同的激光波长,可以准确的测量神光三激光参数测量用CCD探测器在不同波长的响应率;
4、本发明提供的标定装置中加入了可变光阑,可以减少外界杂光对CCD探测器性能标定的影响,提高CCD探测器标定的精度;
5、利用本发明标定CCD探测器性能,数据采集、处理由计算机完成,稳定性高、重复性好,测量结果置信度高;
6、本发明使CCD探测器标定的自动化程度大幅度提高,适用于批量化检验,节省了劳动力和成本。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
具体实施方式
参见图1,本发明提供的CCD探测器标定装置包括激光器1、衰减器2、积分球3、可变光阑4、能量探测器5、采集与控制计算机6,激光器电源8,激光器1、衰减器2、积分球3依次设置在平台7上,调节激光器1和衰减器2的高度一样,激光器1要求功率短期内稳定,并且波长可以变化,具体根据实际需求定制。衰减器2由可变狭缝或不同透过率的衰减片组成,用来衰减激光能量。积分球3使进入的光束多次反射后达到均匀。可变光阑4设在积分球上或者衰减器2和积分球3之间,用来消除外界杂光的影响。能量探测器5设置在积分球3上,探测积分球3内光束的能量;能量探测器5在351nm波段选用硅(si)探测器,在1053nm波段选用铟镓砷(INGaAa)探测器,能量探测器5前配有相应波长带通滤光片,能量探测器5用控制卡和计算机6连接。衰减器2、CCD探测器9、能量探测器5都与计算机6相连接,计算机6控制衰减器2的工作,并采集CCD探测器9和能量探测器5的数据。通过计算机6的控制,衰减器2可以转动,从而透过的激光能量会根据位置不同而改变,这样用计算机6可以直接控制,得到不同的能量下的数据。
工作时将CCD探测器9安装在积分球3上,将CCD探测器9曝光时间、增益设置到正常工作状态,开启激光器1,计算机6控制衰减器2转动到光能透过最大的位置,计算机6采集CCD探测器9图像并处理图像。如果图像饱和,用计算机6控制衰减器2转动,使CCD探测器9图像灰度的最大值达到饱和时的95%,采集此时的CCD探测器9的图像和能量探测器数据。按一定步距控制衰减器2转动,减少能量,采集探测器图像和能量探测器数据。当CCD探测器9图像灰度的最大值达到暗电流的值时,停止采集。将采集到的图像数据按最小二乘法进行处理,可得到CCD探测器9的响应度、信噪比、动态范围、响应线性度和均匀性修正系数等参数。

Claims (9)

1.一种CCD探测器标定装置,其特征在于:该装置包括激光器、衰减器、积分球以及能量探测器,所述能量探测器设置在积分球上,所述衰减器设置在激光器和积分球之间,激光器、衰减器和积分球三者位于同一光路上。
2.根据权利要求1所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:该装置还包括可变光阑,所述可变光阑设置在积分球上,与衰减器位于同一光路上。
3.根据权利要求1所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:该装置还包括可变光阑,所述可变光阑设置在衰减器和积分球之间,与衰减器位于同一光路上。
4.根据权利要求1所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:所述衰减器、CCD探测器以及能量探测器均连接于采集与控制计算机。
5.根据权利要求4所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:所述能量探测器前设置有相应波长的带通滤光片,所述能量探测器通过控制卡和采集与控制计算机连接。
6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:所述衰减器是由可变狭缝或不同透过率的衰减片组成的。
7.根据权利要求6所述的CCD探测器标定装置,其特征在于:所述能量探测器在351nm波段是硅(si)探测器,在1053nm波段是铟镓砷(INGaAa)探测器。
8.一种基于该CCD探测器标定装置的标定方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:
(1)将CCD探测器安装在积分球上,将CCD探测器曝光时间、增益设置到正常工作状态;
(2)开启激光器,计算机控制衰减器转动到光能透过最大的位置,计算机采集CCD探测器图像并处理图像;
(3)按一定步距控制衰减器转动,减少能量,采集探测器图像和能量探测器数据,当CCD探测器图像灰度的最大值达到暗电流的值时,停止采集;
(4)将采集到的图像数据按最小二乘法进行处理,可得到CCD探测器响应度、信噪比、动态范围、响应线性度和均匀性修正系数参数。
9.根据权利要求8所述的CCD探测器标定方法,其特征在于:所述标定方法在计算机采集CCD探测器图像饱和时,用计算机控制衰减器转动,使CCD探测器图像灰度的最大值达到饱和时的95%,采集此时的CCD探测器图像和能量探测器数据。
CN2009100240396A 2009-09-25 2009-09-25 一种ccd探测器标定方法及装置 Pending CN102032983A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2009100240396A CN102032983A (zh) 2009-09-25 2009-09-25 一种ccd探测器标定方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2009100240396A CN102032983A (zh) 2009-09-25 2009-09-25 一种ccd探测器标定方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102032983A true CN102032983A (zh) 2011-04-27

Family

ID=43886171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2009100240396A Pending CN102032983A (zh) 2009-09-25 2009-09-25 一种ccd探测器标定方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102032983A (zh)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102508144A (zh) * 2011-10-26 2012-06-20 西安电子科技大学 测量ccd芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法
CN102636257A (zh) * 2012-04-28 2012-08-15 中国科学院西安光学精密机械研究所 基于胶片的激光光强响应范围测量装置及测量方法
CN102721528A (zh) * 2011-12-31 2012-10-10 北京滨松光子技术股份有限公司 一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法
CN103292980A (zh) * 2013-05-17 2013-09-11 中国科学院上海光学精密机械研究所 光电探测器直线度和面响应均匀性的测量装置
CN103398836A (zh) * 2013-08-16 2013-11-20 上海集成电路研发中心有限公司 光电转换器件的光电测试系统
CN103499434A (zh) * 2013-09-30 2014-01-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种ccd性能参数自动标定装置及方法
CN104125456A (zh) * 2014-07-15 2014-10-29 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种ccd器件系统增益测量装置及方法
CN104634449A (zh) * 2015-02-12 2015-05-20 南京理工大学 微光iccd信噪比测试系统及测试方法
CN109187437A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 安徽省大气探测技术保障中心 前向散射能见度仪线性度检测装置
CN111982814A (zh) * 2020-08-25 2020-11-24 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种光谱仪波长定标装置
CN113945276A (zh) * 2021-10-25 2022-01-18 中国科学院光电技术研究所 一种探测器线性度标定方法
CN114609073A (zh) * 2022-05-10 2022-06-10 安徽中科谱康科技有限公司 一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102508144A (zh) * 2011-10-26 2012-06-20 西安电子科技大学 测量ccd芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法
CN102721528A (zh) * 2011-12-31 2012-10-10 北京滨松光子技术股份有限公司 一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法
CN102636257A (zh) * 2012-04-28 2012-08-15 中国科学院西安光学精密机械研究所 基于胶片的激光光强响应范围测量装置及测量方法
CN103292980B (zh) * 2013-05-17 2015-07-29 中国科学院上海光学精密机械研究所 光电探测器直线度和面响应均匀性的测量装置
CN103292980A (zh) * 2013-05-17 2013-09-11 中国科学院上海光学精密机械研究所 光电探测器直线度和面响应均匀性的测量装置
CN103398836A (zh) * 2013-08-16 2013-11-20 上海集成电路研发中心有限公司 光电转换器件的光电测试系统
CN103499434A (zh) * 2013-09-30 2014-01-08 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种ccd性能参数自动标定装置及方法
CN103499434B (zh) * 2013-09-30 2016-03-02 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种ccd性能参数自动标定装置及方法
CN104125456A (zh) * 2014-07-15 2014-10-29 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种ccd器件系统增益测量装置及方法
CN104634449A (zh) * 2015-02-12 2015-05-20 南京理工大学 微光iccd信噪比测试系统及测试方法
CN109187437A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 安徽省大气探测技术保障中心 前向散射能见度仪线性度检测装置
CN109187437B (zh) * 2018-09-11 2023-12-22 安徽省大气探测技术保障中心 前向散射能见度仪线性度检测装置
CN111982814A (zh) * 2020-08-25 2020-11-24 合肥泰禾光电科技股份有限公司 一种光谱仪波长定标装置
CN113945276A (zh) * 2021-10-25 2022-01-18 中国科学院光电技术研究所 一种探测器线性度标定方法
CN114609073A (zh) * 2022-05-10 2022-06-10 安徽中科谱康科技有限公司 一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置
CN114609073B (zh) * 2022-05-10 2022-07-29 安徽中科谱康科技有限公司 一种高强度光谱的测量方法、系统和光谱测量装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102032983A (zh) 一种ccd探测器标定方法及装置
CN1988418B (zh) 一种对光模块进行自动定标的方法
CN104634449B (zh) 微光iccd信噪比测试系统及测试方法
US10345098B2 (en) Measurement method and measurement device
CN102486402B (zh) 一种测量脉冲激光能量的方法及系统
CN105424185A (zh) 一种计算机辅助的全波段光谱仪波长标定方法
CN103245414B (zh) 一种单色仪与成像光谱仪的交叉光谱定标装置及方法
CN108982061B (zh) 自动化点源透过率杂散光测试系统及方法
RU2705767C1 (ru) Устройство и способ измерения спектральной чувствительности радиометра большого диаметра
CN107063456B (zh) 原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法
CN108957426A (zh) 一种激光雷达光电探测系统探测性能测试方法及装置
CN107356914A (zh) 一种星载激光雷达探测器校准系统
CN201540197U (zh) 一种ccd探测器标定装置
CN201051012Y (zh) 低杂散光快速光谱仪
CN106404189A (zh) 测量太赫兹光束参数的方法
US11828905B2 (en) Dual line diode array device and measurement method and measurement device for particle velocity
CN102042873B (zh) 基于光场均匀性传递的平行光场强度均匀性的认定方法及系统
CN108227044B (zh) 一种基于双线阵的雨滴测量装置及方法
CN112987021B (zh) 一种飞行时间法和结构光法相融合的结构光三维成像系统及方法
CN103968943B (zh) 一种光纤光谱仪信噪比的精确测量方法
CN202133468U (zh) 一种用于测量脉冲激光能量的系统
CN202676595U (zh) 一种基于热透镜效应的二维成像装置
CN109632087B (zh) 适用于成像亮度计的现场标定方法及成像亮度计标定装置
CN105676098B (zh) 一种ccd响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法
CN208902265U (zh) 适用于星载宽谱段相机的光谱定标系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20110427