CN101976157A

CN101976157A - 判断触碰位置的方法

Info

Publication number: CN101976157A
Application number: CN 201010517277
Authority: CN
Inventors: 曾泓玮; 白承丘; 曾淑雯; 卓恩宗
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2010-10-19
Filing date: 2010-10-19
Publication date: 2011-02-16
Anticipated expiration: 2030-10-19
Also published as: CN101976157B

Abstract

一种判断触碰位置的方法，适于一光学式触控面板，其中光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器，而此方法包括：读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号；根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码，并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码；以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算，藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。

Description

判断触碰位置的方法

技术领域

本发明是有关于一种触控技术，且特别是有关于一种于光学式触控面板上判断触碰位置的方法。

背景技术

随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，为了达到操作更人性化的目的，许多信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入装置，转变为使用触控面板作为输入装置。目前，触控面板大致可区分为电阻式触控面板、电容式触控面板、声波式触控面板、电磁式触控面板及光学式触控面板等。

以光学式触控面板为例，已有部分的光学式触控面板导入不可见光光源与不可见光感测器来辅助判断使用者于触控面上的定位。更清楚来说，当使用者的手指接触到触控面时，所导入的不可见光源所发出的不可见光光束会反射。如此一来，位于手指与触控面的接触点下方的不可见光感测器就会接收到一感测信号，藉以判断出使用者于光学式触控面板的触碰位置。然而，当外界环境光过强时，此类的光学式触控面板就很容易发生误操作。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种判断触碰位置的方法，其可使光学式触控面板不易受到环境光的影响而发生误操作。

本发明提供一种判断触碰位置的方法，适于一光学式触控面板，其中光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器，而此方法包括：读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号；根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码，并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码；以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算，藉以获得多个逻辑运算值来判断一使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。

基于上述，在本发明的判断触碰位置的方法中，通过将转换自可见光感测器的感测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就可准确地判断出使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来，不但可使触碰位置的判断不易受到外界环境光的影响，而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发生误操作的机率。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。

图2为本发明一实施例的光学式触控面板上视示意图。

图3为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。

图4为本发明一实施例的平均滤波方法示意图。

图5为本发明一实施例的修补机制方法示意图。

图6中示出本发明一实施例的可见光感测器的感测信号转换为第一二进制码的示意图。

图7中示出本发明一实施例的不可见光感测器的感测信号转换为第二二进制码的示意图。

图8、图9、图10为本发明一实施例的感测信号转换为二进制码，并且进行与运算的示意图。

图11为本发明一实施例的转换二进制码与进行与运算的硬件架构示意图。

图12为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。

[主要元件标号说明]

100：光学式触控面板

110：背光源

112、114：发光元件

120：下偏光板

130：薄膜晶体管阵列基板

140：显示介质层

150：彩色滤光片

160：上偏光板

S_v、S₁、S_vb、S_1b：感测器

S₁：触控面

L、L’：光束

P、R_t、R_S、R、R_e：区域

V_v、V_U、V_D、V_L、V_R、V’、V_i、：模拟转数字信号

V_th1、V_th2、V_th3：设定参数

B₁、B₂：二进制码

C：逻辑运算值

F：手指

H：手

具体实施方式

图1为本发明一实施例的判断触碰位置方法所适用的光学式触控面板示意图。请参照图1，在本实施例中，光学式触控面板100可包括多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光的感测器S_v与不可见光的感测器S₁。举例而言，光学式触控面板100可包括4×4个以矩阵方式排列的可见光的感测器S_v与4×4个以矩阵方式排列的不可见光的感测器S_i，且各可见光的感测器S_v与不可见光的感测器S₁相对应。较佳地是，各相对的可见光的感测器S_v与不可见光的感测器S₁位于同一像素区域P内，如图2中所示。

请参照图1，在本实施例中，光学式触控面板100还可包括背光源110。此背光源110可具有可见光发光元件112与不可见光发光元件114。可见光发光元件112适于向触控面S_t(也是显示面)发出一可见光光束L以供显示之用。不可见光发光元件114适于向触控面S_t发出一不可见光光束L’以供判断触碰位置之用。

在本实施例中，光学式触控面板100可进一步地包括下偏光板120、薄膜晶体管阵列基板130、显示介质层140、彩色滤光片150以及上偏光板160。下偏光板120配置于背光源110上方。薄膜晶体管阵列基板130配置于下偏光板120上方，此薄膜晶体管阵列基板130可具有上述的不可见光的感测器S₁、可见光的感测器S_v、多个(薄膜)晶体管(未绘示)、多条数据线(未绘示)以及多条扫描线(未绘示)。彩色滤光片150配置于薄膜晶体管阵列基板130上方。显示介质层140配置于薄膜晶体管阵列基板130与彩色滤光片150之间。上偏光板160配置于彩色滤光片150上方。

然而，本实施例的判断触碰位置的方法并不仅限于适用在上述的光学式触控面板100的结构中。亦即：任何包括可见光与不可见光感测器的光学式触控面板，本实施例的判断触碰位置的方法就适用。

基于上述，图3为本发明一实施例的判断触碰位置的方法流程图。请参照图3，此方法至少适用于图1的光学式触控面板100，且其包括：读取每一可见光与不可见光感测器的感测信号(步骤S301)；根据第一设定参数转换每一可见光感测器的感测信号为第一二进制码，并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光感测器的感测信号为第二二进制码(步骤S302)；以及将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行一与运算(步骤S303)，藉以获得多个逻辑运算值来判断使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。

更清楚来说，可见光感测器S_v与不可见光感测器S_i的感测信号V_v、V₁可能会受其它信号(例如输入数据线的信号)干扰而产升噪声(noise)。因此，在本实施例的判断触碰位置方法中，可以在读取每一可见光感测器S_v与不可见光感测器S₁的感测信号时，通过平均滤波手段来消除每一可见光感测器S_v与不可见光感测器S₁的感测信号V_v、V₁的噪声。

举例而言，当光学式触控面板100的数据写入方式为点反转(dotinversion)时，可将光学式触控面板100中的每一可见光感测器的感测信号V_v(例如512单位的模拟转数字信号)平均滤波为与其相邻的上下左右四个可见光感测器的感测信号V_U、V_D、V_L、V_R(例如510、525，525、510单位的模拟转数字信号)的平均V’(例如516单位的模拟转数字信号)，而有效地消除可见光感测器S_v的感测信号V_v的噪声，如图4中所示。当然，亦可通过相同的方式以将不可见光感测器S₁的感测信号V_i的噪声有效地消除。然，本发明不限于此，在其它实施例中，亦可通过其它有效的滤除噪声的手段来消除可见光感测器S_v的感测信号V_v与不可见光感测器S₁的感测信号V₁的噪声。

值得一提的是，消除可见光感测器S_v的感测信号V_v与不可见光感测器S₁的感测信号V₁的噪声并不限于在读取感测信号V_v、V₁时进行。在其它实施例中，亦可在读取感测信号V_v、V₁后，转换感测信号V_v、V₁之前，进行消除可见光感测器感S_v的测信号V_v以及不可见光感测器S₁的感测信号V₁的噪声。一且端视实际设计需求而论。

另外，在光学式触控面板100的制造过程中，可能会产生缺陷(defect)，进而造成可见光感测器S_v与不可见光感测器S₁的损毁。亦即：部分的可见光感测器S_v与不可见光感测器S_i无法产生感测信号V_v、V₁。因此，本实施例的判断触碰位置的方法更可以在转换每一可见光感测器S_v的感测信号V_v与不可见光感测器S₁的感测信号V₁之前，针对已损毁的可见光感测器S_v与不可见光感测器S₁的感测信号V_v、V₁进行一修补机制。

更清楚来说，请参照图5，在本实施例中，可依据部分未损毁的可见光感测器S_v的感测信号V_v来修补已损毁的可见光感测器S_vb的感测信号，以及依据部分未损毁的不可见光感测器S₁的感测信号V₁来修补已损毁的不可见光感测器S_ib的感测信号。较佳地是，以邻近于已损毁的可见光感测器S_vb的可见光感测器S_v的感测信号V_v来修补已损毁的可见光感测器S_vb的感测信号，并且以邻近于已损毁的不可见光感测器S_ib的不可见光感测器S₁的感测信号V₁来修补已损毁的不可见光感测器S_1b的感测信号。

举例而言，若在光学式触控面板100的制造过程中产生线缺陷(linedefect)，而造成某一行的已损毁的可见光感测器与S_vb与不可见光感测器S_1b的感测信号V_v、V₁无法产生的情形(如图5中所示)。此时，可运用位于已损毁的可见光感测器S_vb左右两侧的未损毁的可见光感测器S_v的感测信号V_v进行内插(interpolation)，藉以获得一内插值，并以此内插值当作已损毁的可见光感测器S_vb的感测信号V_v。同样地，可运用位于已损毁的不可见光感测器S_1b左右两侧的未损毁的不可见光感测器S₁的感测信号V₁进行内插，藉以获得一内插值，并以此内插值当作已损毁的不可见光感测器S_1b的感测信号V₁。如此一来，即便光学式触控面板100在其制造过程中产生缺陷，仍可顺利地读取所有可见光感测器S_v与不可见光感测器S_i的感测信号V_v、V_i，藉以作为判断触碰位置的依据。

于本实施例中，在读取完每一可见光感测器S_v与不可见光感测器S₁的感测信号V_v、V₁之后，即可根据第一设定参数V_th1转换每一可见光的感测器S_v的感测信号V_v为第一二进制码B₁(binary code)，并且根据第二与第三设定参数V_th2、V_th3转换每一不可见光的感测器S_i的感测信号V₁为第二二进制码B₂(binary code)。

图6中示出本发明一实施例的可见光感测器S_v的感测信号V_v转换为第一二进制码B₁的示意图。请参照图6，举例而言，当可见光感测器S_v的感测信号V_v大于或等于第一设定参数V_th1(例如为500单位的模拟转数字信号，500ADC)(但并不限制于此)时，则可见光感测器S_v的感测信号V_v会被转换为例如逻辑“0”的第一二进制码B₁。另外，当可见光的感测器S_v的感测信号V_v小于第一设定参数V_th1(例如为500单位的模拟转数字信号，500ADC)时，则可见光感测器S_v的感测信号V_v会被转换为例如逻辑“1”的第一二进制码B₁。

另一方面，图7中示出本发明一实施例的不可见光感测器S₁的感测信号V₁转换为第二二进制码B₂的示意图。请参照图7，举例而言，当不可见光感测器S₁的感测信号V₁小于或等于第二设定参数V_th2或者大于或等于第三设定参数V_th3时，则不可见光的感测器S_i的感测信号V_i会被转换为例如逻辑“0”的第二二进制码B₂。另外，当不可见光的感测器S₁的感测信号V_i大于第二设定参数V_th2且小于第三设定参数V_th3时，则不可见光的感测器S₁的感测信号V₁会被转换为例如逻辑“1”的第二二进制码B₂。

于此，图8为本发明一实施例的感测信号V_v、V₁转换为二进制码(binarycode)B₁、B₂，并且进行与运算(AND operation)的示意图。请同时参照图6～图8，举例而言，在一低环境光强度(例如400流明)的环境下，当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域R_t时，此触碰区域R_t下的可见光感测器S_v的感测信号V_v例如为150单位～200单位的模拟转数字信号(150ADC～200ADC)。依照图6所示，此触碰区域R_t下的可见光感测器S_v的感测信号V_v会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B₁(在图8中以黑色代表)。

另外，在光学式触控面板100中被使用者手指F遮蔽但未触碰的阴影区R_S，其下的可见光感测器S_v的感测信号V_v例如为50单位的模拟转数字信号(50ADC)。依照图6所示，此阴影区R_S下的可见光感测器S_v的感测信号V_v会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B₁(在图8中以黑色代表)。再者，在光学式触控面板100中未被使用者手指F遮蔽或触碰的环境光区R，其下的可见光感测器S_v的感测信号V_v例如为100单位的模拟转数字信号(100ADC)。依照图6所示，此环境光区R下的可见光感测器S_v的感测信号V_v会被转换为逻辑“1”的第一二进制码B₁(在图8中以黑色代表)。

与此同时，触碰区域R_t下的不可见光感测器S_i的感测信号V_i例如为120～150单位的模拟转数字信号(120ADC～150ADC)。依照图7所示，此触碰区域R₁下的不可见光感测器S₁的感测信号V_i会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B₂(在图8中以黑色代表)。另外，阴影区R_S下的不可见光感测器S_i的感测信号V₁例如为小于(100)单位的模拟转数字信号((100)ADC)。依照图7所示，此阴影区R_S下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B₂(在图8中以白色代表)。再者，环境光区R下的不可见光感测器S₁的感测信号V_i例如为小于(100)单位的模拟转数字信号((100)ADC)。依照图7所示，此环境光区R下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B₂(在图8中以白色代表)。

在获得所有感测信号V_v、V_i分别对应的二进制码B₁与B₂后，将所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行一与运算(AND operation)，便可获得图8中的逻辑运算值字段的多个逻辑运算值C(黑色代表0，白色代表1)。由图8可知，逻辑运算值C为“1”的区域(黑色区域)即为使用者手指F实质上触碰的区域；而逻辑运算值C为“0”的区域(白色区域)即为使用者手指F未触碰的区域。换句话说，依据所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行一与运算(AND operation)所获得的逻辑运算值C，就可判断使用者于光学式触控面板100上所触碰的区域。

相似的，图9为本发明一实施例的感测信号V_v、V₁转换为二进制码(binarycode)B₁、B₂，并且进行与运算(AND operation)的示意图。请同时参照图6、图7与图9，举例而言，在一中环境光强度(例如2000流明)的环境下，当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域R_t时，此触碰区域R_t下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁例如为120～150单位的模拟转数字信号(120ADC～150ADC)。依照图7所示，此触碰区域R_t下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B₂(在图9中以黑色代表)。

另外，在光学式触控面板100中被使用者手指F遮蔽但未触碰的阴影区R_S，其下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁例如为80单位的模拟转数字信号(80ADC)。依照图7所示，此阴影区R_S下的不可见光的感测器S₁的感测信号V₁会被转换为逻辑“0”的第二二进制码B₂(在图9中以白色代表)。然而，因此时的环境光强度较强，使得环境光区R下的不可见光感测器S₁接收到较多来自环境光的不可见光，从而使得环境光区R下的不可见光感测器S₁的感测信号V_i较大，例如为120～150单位的模拟转数字信号(120～150ADC)。依照图7所示，此环境光区R下的不可见光的感测器S_i的感测信号V_i会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B₂(在图9中以黑色代表)。

值得注意的是，此时若仅依上述所有由不可见光感测器S₁的感测信号V₁转换来的第二二进制码B₂，去判断使用者手指F触碰的区域，则会发生误判的情形。更明白地说，若依上述的所有第二二进制码B₂去判断使用者手指F实质上触碰的区域，则会将使用者手指F实质上触碰的区域R_t及未触碰的环境光区R皆判断为使用者手指F接触的区域，进而使得光学式触控面板100发生误操作。

但，在本实施例中，可通过将所有第一二进制码B₁(以图8所述及的方式来获取)与所有第二二进制码B₂进行与运算，藉以获得多个逻辑运算值C来有效地判断使用者于光学式触控面板100上所触碰的区域。更清楚地说，通过所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂的与运算，可将对应环境光区R的逻辑“1”的第二二进制码B₂变成“0”的逻辑运算值C。以至于，此时逻辑运算值C为1的区域(黑色区域)即正确地代表出使用者实质上触碰的区域。换句话说，通过此将所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行与运算的操作，可有效地降低环境光的影响，从而正确地计算出使用者实质上触碰的区域，进而降低光学式触控面板100发生误操作的机率。

除此之外，图10为本发明一实施例的感测信号V_v、V₁转换为二进制码(binary code)B₁、B₂，并且进行与运算(AND operation)的示意图。请同时参照图6、图7与图10，举例而言，在一高环境光强度(例如5000流明)的环境下，当使用者手指F触碰光学式触控面板100的一触碰区域R_t时，此触碰区域R_t下的不可见光感测器S₁的感测信号V_i例如为130～160单位的模拟转数字信号(130ADC～160ADC)。依照图7所示，此触碰区域R_t下的不可见光感测器S₁的感测信号V_t会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B₂(在图10中以黑色代表)。然而，因此时的环境光强度很强，使得使用者手指F边缘(未与光学式触控面板100触碰)下的区域R_e接收到较多来自环境光的不可见光，进而使得区域R_e下的不可见光感测器S₁的感测信号V₁较大，例如为130～160单位的模拟转数字信号(130～160ADC)。依照图7所示，此区域R_e下的不可见光感测器S₁的感测信号V_i亦会被转换为逻辑“1”的第二二进制码B₂(在图10中以黑色代表)。

相似地，此时若依上述所有由不可见光感测器S₁的感测信号V₁转换来的第二二进制码B₂，去判断使用者手指接触的区域，则会发生误判的情形。更详细地说，若依上述所第二二进制码B₂去判断使用者手指F接触的区域，则会将使用者手指F触碰区域R_t及使用者手指F边缘(未与光学式触控面板100触碰)下的区域R_e皆判断使用者手指F实质上触碰的区域，进而使得光学式触控面板100发生误操作。

但，即使在高环境光强度下，本实施例亦可通过将所有第一二进制码B₁(以图8所述及的方式来获取)与所有第二二进制码B₂进行与运算，藉以有效地降低环境光的影响，从而正确地判断使用者实质上触碰的区域。进一步地说，即使在环境光发生巨大变化的情形下，本实施例仍可依据所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行与运算所获得的逻辑运算值C以正确地判断出使用者实质上触碰的区域，藉以大幅地降低环境光的影响。

在此值得一提的是，在本实施例中，上述的转换可见光感测器S_v的感测信号V_v为第一二进制码B₁、转换不可见光感测器S₁的感测信号V₁为第二二进制码B₂、将所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行与运算的步骤的操作可通过软件的形式来达成，但本发明不以此为限，亦即在其它实施例中，可通过如图11所示的硬件架构来完成上述步骤的操作。更清楚来说，可以利用比较器CP1来转换可见光感测器S_v的感测信号V_v为第一二进制码B₁；利用比较器CP2来转换不可见光感测器S₁的感测信号V₁为第二二进制码B₂；以及利用与非门(NAND gate)与反向器(inverter)以将所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行与运算，从而输出逻辑运算值C。

此外，在将所有第一二进制码B₁与所有第二二进制码B₂进行与运算以判断出使用者实质上触碰区域后，可进一步地对此触碰区域进行一中心点运算(步骤S304)，藉以获得使用者于光学式触控面板100上所触碰的位置的一触碰参数。在本实施例中，例如可利用连通区域标定(conneted componentlabeling)方法进行中心点运算。然，本发明不限于此，在其它实施例中，亦可利用其它合适的方法进行中心点运算。而在对触碰区域进行中心点运算之后，可进一步地判断此触碰区域是否大于一预设区域(步骤S305)。当判断出触碰区域大于预设区域时(亦即“是”)，则将具有逻辑“1”的所有逻辑运算值C设定为逻辑“0”(步骤S306)，否则(亦即“否”)输出触碰参数(步骤S307)以使光学式触控面板100进行相应的运作。

更清楚来说，图12为本发明一实施例的光学式触控面板操作示意图。请参照图12，举例而言，当使用者整只手H置于光学式触控面板100的触控面S₁，且于步骤S305已判断出触碰区域(Area)大于前述预设区域(例如(50～70)％的触控面S_t的面积，但并不限制于此)，则此时具有逻辑“1”的所有逻辑运算值C会被设定为逻辑“0”，亦即视使用者未想对光学式触控面板100进行操作。换言之，当使用者并非真的要操作光学式触控面板100，而只是将手放置于光学式触控面板触控面S_t上时，光学式触控面板100便不会视使用者欲进行操作而发生误操作的情况。

综上所述，在本发明的判断触碰位置的方法中，通过将转换自可见光感测器的感测信号与不可见光感测器的感测信号的第一二进制码和第二二进制码进行一与运算后就可准确地判断出使用者于光学式触控面板上所触碰的位置。如此一来，不但可使触碰位置的判断不易受到外界环境光的影响，而且还可以降低光学式触控面板受环境光的影响而发生误操作的机率。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。

Claims

1.一种判断触碰位置的方法，适于光学式触控面板，其中该光学式触控面板内建有多个以矩阵方式排列且分别对应的可见光与不可见光的感测器，而该方法包括：

读取每一可见光与不可见光的感测器的感测信号；

根据第一设定参数转换每一可见光的感测器的感测信号为第一二进制码，并且根据第二与第三设定参数转换每一不可见光的感测器的感测信号为第二二进制码；以及

将所有第一二进制码与所有第二二进制码进行与运算，藉以获得多个逻辑运算值来判断使用者于该光学式触控面板上所触碰的位置。

2.根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法，其中当该多个逻辑运算值皆为逻辑“0”时，则表示该使用者并未于该光学式触控面板上进行触碰。

3.根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法，其中当该多个逻辑运算值中有部分为逻辑“1”时，则表示该使用者有于该光学式触控面板上进行触碰。

4.根据权利要求3所述的判断触碰位置的方法，其中具有逻辑“1”的所有逻辑运算值所对应的可见光与不可见光的感测器在该光学式触控面板上涵盖至少一触碰区域，而该方法还包括：

对该触碰区域进行中心点运算，藉以获得该使用者于该光学式触控面板上所触碰的位置的触碰参数。

5.根据权利要求4所述的判断触碰位置的方法，其中对该触碰区域进行该中心点运算之后，该方法还包括：

判断该触碰区域是否大于预设区域。

6.根据权利要求5所述的判断触碰位置的方法，其中当判断出该触碰区域大于该预设区域时，则将具有逻辑“1”的所有逻辑运算值设定为逻辑“0”，否则输出该触碰参数以致使该光学式触控面板进行相应的运作。

7.根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法，其中在读取每一可见光与不可见光的感测器的感测信号时，该方法还包括：

通过平均滤波手段来消除每一可见光与不可见光的感测器的感测信号的噪声。

8.根据权利要求1所述的判断触碰位置的方法，其中在转换每一可见光与不可见光的感测器的感测信号之前，该方法还包括：

对已损毁的可见光与不可见光的感测器的感测信号进行修补机制。

9.根据权利要求8所述的判断触碰位置的方法，其中该修补机制包括：

依据部分未损毁的可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的可见光的感测器的感测信号；以及

依据部分未损毁的不可见光的感测器的感测信号来修补已损毁的不可见光的感测器的感测信号。

10.根据权利要求9所述的判断触碰位置的方法，其中：

所述部分未损毁的可见光的感测器邻近于已损毁的可见光的感测器；以及

所述部分未损毁的不可见光的感测器邻近于已损毁的不可见光的感测器。

11.根据权利要求10所述的判断触碰位置的方法，其中：

修补过后的已损毁的可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的可见光的感测器的感测信号的内插值；以及

修补过后的已损毁的不可见光的感测器的感测信号至少为所述部分未损毁的不可见光的感测器的感测信号的内插值。