CN101922952A - 电磁流量计的无芯导管及其制作方法 - Google Patents

电磁流量计的无芯导管及其制作方法 Download PDF

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郝宝珍
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Abstract

一种电磁流量计的无芯导管及其制作方法,涉及流量计技术领域,所解决的是现有流量计的测量头测量精度及防潮能力低,而且制造工艺复杂、制造成本高的技术问题。该无芯导管包括管体、励磁线圈和电极组,所述电极组安装于管体下端,所述励磁线圈与电极组串接,其特征在于:所述管体是聚脲弹性树脂管体,所述励磁线圈封装于管体的内外管壁之间。本发明提供的无芯导管,能提高流量计的测量精度,而且成本低廉。

Description

电磁流量计的无芯导管及其制作方法
技术领域
本发明涉及流量计的技术,特别是涉及一种电磁流量计的无芯导管及其制作方法的技术。
背景技术
电磁流量计是一种流量仪表,使用时将其测量头插入管道特定位置,即可测量该位置的局部流量。
现有电磁流量计的测量头导管的管体都由非导磁金属材料制成,管体的下端装有电极组,管体内腔中装有与电极组串接的励磁线圈;现有的电磁流量计的测量头导管具有以下缺陷:1)励磁线圈与管体之间会由于被测管道的震动而产生相对位移,从而影响到励磁线圈所产生的磁场的对称性和稳定性,进而影响测量精度;2)现有测量头导管在潮湿环境使用时,外界的潮湿气体(或水份)会渗漏至励磁线圈,使其绝缘性能降低而不能正常工作。3)现有测量头导管的管体都为金属管体,不但材料成本高,而且其内壁必须附有防腐涂层,因此制造工艺比较复杂,制作成本也较高。
发明内容
针对上述现有技术中存在的缺陷,本发明所要解决的技术问题是提供一种测量精度高,防潮能力强,制造工艺简单,而且制造成本低廉的电磁流量计的无芯导管及其制作方法。
为了解决上述技术问题,本发明所提供的一种电磁流量计的无芯导管,包括管体、励磁线圈和电极组,所述电极组安装于管体下端,所述励磁线圈与电极组串接,其特征在于:所述管体是聚脲弹性树脂管体,所述励磁线圈封装于管体的内外管壁之间。
本发明所提供的电磁流量计的无芯导管的制作方法,其特征在于,具体步骤如下:
1)将励磁线圈与电极组串接;
2)将励磁线圈放置于管体的制作模具的内外管壁之间,并使电极组位于管体的制作模具的下端;
3)采用离心浇注法或喷涂法将聚脲弹性树脂注入管体的制作模具中;
4)等聚脲弹性树脂固化成形后从模具中取出测量头,测量头制作即告完毕。
本发明提供的电磁流量计的无芯导管及其制作方法,由于励磁线圈封装于管体的内外管壁之间,因此励磁线圈与管体之间不会产生相对位移,能保证励磁线圈所产生的磁场的对称性和稳定性,提高测量精度;而且在潮湿环境使用时,外界的潮湿气体(或水份)也不会渗漏至励磁线圈,能保证励磁线圈的绝缘性能,具有很强的防潮能力;另外,由于管体由聚脲弹性树脂制成,因此不需要在其内壁涂附防腐涂层,能简化制造工艺、降低制作成本。
附图说明
图1是本发明实施例的电磁流量计的无芯导管的径向剖视图;
图2是本发明实施例的电磁流量计的无芯导管的轴向剖视图。
具体实施方式
以下结合附图说明对本发明的实施例作进一步详细描述,但本实施例并不用于限制本发明,凡是采用本发明的相似结构及其相似变化,均应列入本发明的保护范围。
如图1-图2所示,本发明实施例所提供的一种电磁流量计的无芯导管,包括管体1、励磁线圈2和电极组3,所述电极组3安装于管体1下端,所述励磁线圈2与电极组3串接,其特征在于:所述管体1是聚脲弹性树脂管体,所述励磁线圈2封装于管体1的内外管壁之间。
本发明实施例所提供的电磁流量计的无芯导管的制作方法,其特征在于,具体步骤如下:
1)将励磁线圈2与电极组3串接;
2)将励磁线圈2放置于管体1的制作模具的内外管壁之间,并使电极组3位于管体1的制作模具的下端;
3)采用离心浇注法或喷涂法将聚脲弹性树脂注入管体1的制作模具中;
4)等聚脲弹性树脂固化成形后从模具中取出测量头,测量头制作即告完毕。
本发明实施例用于通径较小的流量计时,其管体可采用离心浇注法整体浇注而成。
本发明实施例用于通径较大的流量计时,其管体可采用喷涂法整体喷涂而成。

Claims (2)

1.一种电磁流量计的无芯导管,包括管体、励磁线圈和电极组,所述电极组安装于管体下端,所述励磁线圈与电极组串接,其特征在于:所述管体是聚脲弹性树脂管体,所述励磁线圈封装于管体的内外管壁之间。
2.根据权利要求1所述的电磁流量计的无芯导管的制作方法,其特征在于,具体步骤如下:
1)将励磁线圈与电极组串接;
2)将励磁线圈放置于管体的制作模具的内外管壁之间,并使电极组位于管体的制作模具的下端;
3)采用离心浇注法或喷涂法将聚脲弹性树脂注入管体的制作模具中;
4)等聚脲弹性树脂固化成形后从模具中取出测量头,测量头制作即告完毕。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
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RJ01 Rejection of invention patent application after publication
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