CN101797589A - 一种新型结构的同位素测厚仪探头 - Google Patents

一种新型结构的同位素测厚仪探头 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种新型结构的同位素测厚仪探头，包括外套1、电离室2、前置放大板4、信号接头6，在外套1与电离室2之间有一内套3，内套3与外套1的内腔之间有间隙，内套3与外套1均紧固在固定板7上；在外套1侧壁上部的通孔上安装有一气嘴5。当压缩空气从外套1上的气嘴5进入到内套3与外套1的内腔之间的间隙后，由于压缩空气膨胀后吸热，保证了内套3周围的温度相对稳定，从而使得内套3内部的电离室2和前置放大板4等电子原器件在工作时的环境温度较低，不易损坏或出现失常，从而保证了测量精度，也延长了探头的使用寿命。

Description

一种新型结构的同位素测厚仪探头
技术领域
本发明涉及轧制钢板(带)的厚度测量装置的探头，尤其涉及一种同位素测厚仪的射线接收探头。
背景技术
为了提高钢板(带)的轧制质量，我国许多轧钢企业在板(带)生产线上采用了同位素测厚仪或X射线测厚仪，对钢板(带)轧制实现在线连续测量分析。在同位素测厚仪中，探头是接收同位素发射的射线进而分析被检测的钢板(带)厚度的关键部件。由于钢板(带)生产过程中温度较高，导致同位素测厚仪的探头在工作时其内部的电子原器件受高温影响而损坏或者出现失常而影响测量精度，同时也缩短了探头的使用寿命；另外，探头受到钢板(带)生产过程中振动的影响，易使测量精度产生偏差；同时，钢板(带)轧制时出现的断带，会造成探头的损坏，从而影响生产，加大了生产成本。
发明内容
本发明所要解决的问题是提供一种新型结构的同位素测厚仪探头，使其内部的电子原器件不易受钢板(带)生产过程中温度的影响，从而提高测量精度，同时延长探头的使用寿命。
本发明的同位素测厚仪探头包括外套1、电离室2、前置放大板4、信号接头6，在外套1与电离室2之间有一内套3，内套3与外套1的内腔之间有间隙，内套3与外套1均紧固在固定板7上；在外套1侧壁上部的通孔上安装有一气嘴5。
当压缩空气从外套1上的气嘴5进入到内套3与外套1的内腔之间的间隙后，由于压缩空气膨胀后吸热，保证了内套3周围的温度相对稳定，从而使得内套3内部的电离室2和前置放大板4等电子原器件在工作时的环境温度较低，不易损坏或出现失常，从而保证了测量精度，也延长了探头的使用寿命。同时，压缩空气还可以将钢板(带)上的其他杂质吹去，进一步提高了测量精度。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的介绍：
图1是本发明探头的结构示意图；
图2是现有探头的结构示意图。
具体实施方式
从图1可知，本发明的同位素测厚仪探头包括外套1、电离室2、前置放大板4、信号接头6，在外套1与电离室2之间有一内套3，内套3与外套1的内腔之间有间隙，内套3与外套1均紧固在固定板7上；在外套1侧壁上部的通孔上安装有一气嘴5。
当压缩空气从外套1上的气嘴5进入到内套3与外套1的内腔之间的间隙后，由于压缩空气膨胀后吸热，保证了内套3周围的温度相对稳定，从而使得内套3内部的电离室2和前置放大板4等电子原器件在工作时的环境温度较低，不易损坏或出现失常，从而保证了测量的精度，也延长了探头的使用寿命。同时，这种冷却方式相对于油冷或水冷的方式，降低了生产成本。
作为本发明的一种优选方式，内套3底部的外侧与外套1的内腔之间的间隙L为0.20-0.30mm。这样，当压缩空气从间隙内吹出时，由于间隙从大变小，使得风力变大、风速变快，从而将钢板(带)上的其他杂质吹去，进一步提高了测量精度。
作为本发明的一种优选方式，在内套3内有一电气固定板10，电离室2与前置放大板4通过电气固定板10连成一体，电气固定板10通过弹簧8与固定板7相连，使得电离室2与内套3的底平面之间有一定的间隙。这样，当钢板(带)生产过程中轧机发生振动时，内套3内的电离室2和前置放大板4等电子原器件可以通过弹簧8在内套3内做一定的往复运动，从而避免受到轧机振动的影响，进一步提高了检测精度。选用弹簧8时，要使其处于最大拉伸量时，电离室2与内套3的底平面之间仍存在间隙。
作为本发明的一种优选方式，前置放大板4可以通过电路板与高压模块9集成一体。
作为本发明的一种优选方式，内套3凹陷在外套1的内腔中，其底平面高于外套1的底平面。这样，当钢板(带)生产过程中出现断带情况时，断带只会对外套1产生损坏，从而有效地保护内套3及其内部的电子原器件，延长了探头的使用寿命。

Claims (5)

1.一种新型结构的同位素测厚仪探头，包括外套(1)、电离室(2)、前置放大板(4)、信号接头(6)，其特征是：在所述的外套(1)与电离室(2)之间有一内套(3)，内套(3)与外套(1)的内腔之间有间隙，内套(3)与外套(1)均紧固在固定板(7)上；在外套(1)侧壁上部的通孔上安装有一气嘴(5)。
2.根据权利要求1所述的同位素测厚仪探头，其特征是：所述的内套(3)底部的外侧与外套(1)的内腔之间的间隙L＝0.20-0.30mm。
3.根据权利要求1或2所述的同位素测厚仪探头，其特征是：所述的内套(3)凹陷在外套(1)的内腔中，其底平面高于外套(1)的底平面。
4.根据权利要求1所述的同位素测厚仪探头，其特征是：在内套(3)内有一电气固定板(10)，电离室(2)与前置放大板(4)通过电气固定板(10)连成一体，电气固定板(10)通过弹簧(8)与固定板(7)相连，使得电离室(2)与内套(3)的底平面之间有一定的间隙。
5.根据权利要求1或4所述的同位素测厚仪探头，其特征是：所述的前置放大板(4)通过电路板与高压模块(9)集成一体。
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