CN101753212A - 小封装可插拔收发器时序参数的检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种小封装可插拔收发器时序参数的检测装置及检测方法，该装置包含有测试板、被测模块、标准模块、单片机及上位机，测试板上留有两个插槽，一个插接被测模块，另一个插接标准模块，被测模块的发射端通过光纤连接到标准模块的接收端，被测模块的接收端通过光纤连接到标准模块的发射端，测试板上并插接单片机，单片机分为控制型单片机与总线型单片机，被测模块与标准模块的时序引脚分别通过测试板与控制型单片机的输入/输出端口电连接，控制型单片机通过串行总线与总线型单片机电连接，总线型单片机通过测试板上的USB转换芯片和串口转换芯片实现与上位机实时通信。本发明可实现自动化测试、操作简单且测量精度高的效果。

Description

小封装可插拔收发器时序参数的检测装置及检测方法

技术领域

本发明有关一种模块时序参数的检测装置及方法，尤其是指一种能准确且自动地对SFP(Small Form-factor Pluggable transceiver，小封装可插拔收发器)模块的时序参数的检测装置及检测方法。

背景技术

SFP模块是一种小型的热插拔光收发模块，其安装于千兆以太网模块的SFP插槽中，用于提供与其他交换机和服务器的千兆位连接，SFP模块时序参数的合理的范围大小对于光线链路减少故障的发生有着至关重要的作用，因此对于SFP模块的时序参数检测也尤为重要。同时，MSA(MultiSource Agreement，多源协议)协议为确保来自不同供应商光器件产品的互用，MSA协议INF-8074i对SFP模块的时序有严格的规定。目前对SFP模块时序参数的测试方法是采用一台示波器和一块测试板，将被测模块插入测试板的SFP模块插槽中，并将示波器的两个探头点在测试板上相应的焊盘上，通过手工拨动开关，使触发信号发生跳变，继而触发相应的状态检测引脚，反映在示波器上就是一个探头的上升沿(或下降沿)到另一个探头的下降沿(或上升沿)的时间间隔。目前对SFP模块时序参数测试的整个系统比较复杂，且需要人工操作，有时需要两人协作才能完成时序测试，测试中存在操作不规范以及容易引入误差的缺陷。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种智能化、且能精确测试的小封装可插拔收发器模块时序参数的检测装置及检测方法。

为达到上述目的，本发明提供一种小封装可插拔收发器模块时序参数的检测装置，其包含有测试板、被测模块、标准模块、单片机及上位机，测试板上留有两个插槽，一个插接被测模块，另一个插接标准模块，被测模块的发射端通过光纤连接到标准模块的接收端，被测模块的接收端通过光纤连接到标准模块的发射端，测试板上并插接单片机，单片机分为控制型单片机与总线型单片机，被测模块与标准模块的时序引脚分别通过测试板与控制型单片机的输入/输出端口电连接，控制型单片机通过串行总线与总线型单片机电连接，总线型单片机通过测试板上的USB转换芯片和串口转换芯片实现与上位机实时通信。

控制型单片机的输入/输出端口为P0端口，被测模块的关断发射控制引脚、发射端故障报错引脚及接收端信号丢失指示引脚与标准模块的关断发射控制引脚和接收端信号丢失指示引脚分别一一对应电连接P0端口的各管脚，被测模块的电源开关和光电二极管阳极开关通过插接于测试板上的电源管理芯片分别一一对应电连接到控制型单片机的P0端口中的各管脚。

本发明还提供一种对SFP模块时序参数的检测方法，该检测方法包括有：

对被测模块的关断发射时间参数的检测；

对被测模块的开启发射时间参数的检测；

对被测模块的初始化时间参数的检测；

对被测模块的发射故障报错时间参数的检测；

对被测模块的发射端复位时间参数的检测；

对被测模块的接收端无信号告警时间参数的检测；

对被测模块的接收端有信号告警解除时间参数的检测；

通过上位机的程序控制控制型单片机的管脚的电平跳变，同时打开控制型单片机的计时器开始计时，直到检测到控制型单片机的指定引脚电平跳变为计数结束，这个时间值再通过修正即可得到被测模块的时序参数值，所述上位机的程序是基于图形化编程语言开发的控制程序。

对被测模块的关断发射时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，即开启被测模块发射光功率，光由被测模块的发射端经过光纤到达标准模块的接收端，并加入程序延时，然后将与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置高，即关闭被测模块，并开启计时器，打开中断程序扫描与标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去标准模块的接收端无信号告警时间就是被测模块实际的关闭参数值。

对被测模块的开启发射时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置为高电平，即关闭被测模块，加入程序延时，然后将与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置低，即开启被测模块发射光功率，并开启计时器，打开中断程序扫描与标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去标准模块的接收端有信号告警解除时间就是被测模块实际的开启发射时间参数值。

对被测模块的初始化时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，然后使与被测模块的电源开关连接的控制型单片机的管脚置为高电平，即开启电源管理芯片，为被测模块上电，并开启计时器，光经过光纤到达标准模块的接收端，打开中断程序扫描与标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去标准模块的接收端有信号告警解除时间就是被测模块实际的初始化时间参数值。

对被测模块的发射故障报错时间参数的检测方式为：

将被测模块的光电二极管阳极开关引脚引到测试板上，上位机的程序控制与被测模块的光电二极管阳极开关连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，加入程序延时，然后使与被测模块的光电二极管阳极开关连接的控制型单片机的管脚置为高电平，并开启计时器，打开中断程序扫描与被测模块的发射端故障报错引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间即被测模块的发射故障报错时间参数值。

对被测模块的发射端复位时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，并按照发射故障报错时间参数的测试步骤使被测模块的发射端故障报错引脚变为高电平并且锁定高状态，然后将与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置高，并打开中断程序扫描与被测模块的发射端故障报错引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，程序延时1us，然后将与被测模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置低，如果检测到与被测模块的发射端故障报错引脚连接的控制型单片机的管脚的下降沿电平跳变，则延时时间就是实际被测模块的发射端复位时间参数值；如果没有发生下降沿跳变，使延时时间累加1us，直到扫描到与被测模块的发射端故障报错引脚连接的控制型单片机的管脚下降沿电平跳变，则延时时间即为被测模块的发射端复位时间参数值。

对被测模块的接收端无信号告警时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与标准模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置低，开启标准模块发射光功率，光由标准模块的发射端经过光纤到达被测模块的接收端，加入程序延时，然后将与标准模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置高关闭标准模块，并开启计时器，打开中断程序扫描与被测模块的接收端信号丢失指示引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器计时时间减去标准模块的关断发射时间就是被测模块实际的接收端无信号告警时间参数值。

对被测模块的接收端有信号告警解除时间参数的检测方式为：

上位机的程序控制与标准模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚，使该管脚置高，关闭标准模块，加入程序延时，然后将与标准模块的关断发射控制引脚连接的控制型单片机的管脚置低开启标准模块发射光功率，并开启计时器，光由标准模块的发射端经过光纤到达被测模块的接收端，打开中断程序扫描与被测模块的接收端信号丢失指示引脚连接的控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器，计时器计时时间减去标准模块的开启发射时间就是被测模块实际的接收端有信号告警解除时间参数值。

借由本发明SFP模块时序参数的检测装置及方法，可以实现自动化测试，操作简单，测量精度高，同时大大节省了测试所需的设备及人力。

附图说明

图1为本发明小封装可插拔收发器时序参数的检测装置原理图；

图2为本发明中SFP模块的关断发射时间与开启发射时间的时序图；

图3为本发明中SFP模块的初始化时间的时序图；

图4为本发明中SFP模块的发射故障报错时间的时序图；

图5为本发明中SFP模块的发射端复位时间的时序图；

图6为本发明中SFP模块的接收端无信号告警时间与接收端有信号告警解除时间的时序图。

具体实施方式

为便于对本发明的检测方法与检测装置及能达到的效果有更进一步的了解，现配合附图并举较佳实施例详细说明如下。

如图1所示，本发明的用于实现SFP模块时序检测方法的装置，其包括有测试板1，被测模块SFP_DUT，标准模块SFP_STD，单片机及上位机5。本发明中测试板1上留有两个SFP插槽，一个插接被测模块SFP_DUT，另一个插接标准模块SFP_STD，测试板1上并插接有所述单片机，该单片机分为控制型单片机40与总线型单片机41。被测模块SFP_DUT与标准模块SFP_STD的时序引脚分别通过测试板1与控制型单片机40的I/O(Input/Output，输入/输出)端口电连接，本发明中的被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT为关断发射控制引脚，当该引脚置高电平时，被测模块SFP_DUT关闭，当该引脚置低电平时，被测模块SFP_DUT开启；被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_FAULT_DUT为发射端故障报错引脚，当发射光功率产生故障时，该引脚置为高电平；被测模块SFP_DUT的时序引脚RX_LOS_DUT为接收端信号丢失指示引脚，当该引脚为高电平时表示被测模块SFP_DUT没有接收到光信号，当该引脚为低电平时表示被测模块SFP_DUT接收到光信号；标准模块SFP_STD的时序引脚TX_DISABLE_STD与RX_LOS_STD同被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT与RX_LOS_DUT定义相同，被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT、TX_FAULT_DUT及RX_LOS_DUT与标准模块SFP_STD的时序引脚TX_DISABLE_STD和RX_LOS_STD分别通过测试板1一一对应电连接控制型单片机40I/O端口中的各管脚，另外被测模块SFP_DUT的电源开关Vcc和PD+(光电二极管阳极)开关引脚FAULT_occur_DUT通过电源管理芯片6也分别一一对应电连接到该控制型单片机40的I/O口。被测模块SFP_DUT的电源开关Vcc和PD+开关采用电源管理芯片，PD+开关是SFP模块内激光器发射组件(TOSA)的一个引脚，PD+连接激光器发射组件内的光电二极管的正极，PD+开关需要焊接到SFP模块内部PCB的一个相应焊盘上，并与SFP模块内的驱动芯片相连，PD+开关用于检测激光器发射组件的Laser Diode(激光二极管)的发射光功率，若PD+开关与电源开关Vcc短路，就意味着激光二极管发射异常，驱动芯片就会使SFP模块的TX_FAULT(发射端故障报错引脚)置为高电平。本发明中的电源管理芯片6的型号为NTJD4152P，其开启发射时间小于10ns。被测模块SFP_DUT的发射端TX通过光纤20连接到标准模块SFP_STD的接收端RX，被测模块SFP_DUT的接收端RX通过光纤30连接标准模块SFP_STD的发射端TX。

本发明中与被测模块SFP_DUT及标准模块SFP_STD通信的控制型单片机40采用51系列单片机中的C8051F330，其具有电平的跳变沿的捕捉能力，它作为测试系统的核心芯片。总线型单片机41采用51系列单片机中的C8051F311，其作为IIC(Inter-Integrated Circuit，串行总线)主机，该总线型单片机41通过串行总线IIC实现与被测模块SFP_DUT、标准模块SFP_STD及控制型单片机40的通信，总线型单片机41通过测试板1上的USB转换芯片10和串口转换芯片11实现与上位机5实时通信。因SFP模块是遵循IIC总线协议的，上位机5具有USB和RS232串口两种接口，但是没有IIC总线接口，因此总线型单片机41承担被测模块SFP_DUT、标准模块SFP_STD和控制型单片机40与上位机5的通讯协议转换的功能。上位机5的界面程序控制控制型单片机40的相应端口置高或者置低，以及捕捉相应控制型单片机40端口的电平跳变沿。并且通过控制型单片机40的计时器计算出两个电平跳变的间隔，然后上报到上位机5，再减除标准模块SFP_STD引入的固定偏差，就是实际被测模块SFP_DUT的时序参数值。本发明中的USB转换芯片10采用CP2102，其集成度很高，体积小，功能强大，串口转换芯片11采用MAX3222E，其具有低功耗、高数据速率等特性。

如图2至图6所示，SFP模块的时序参数有七种，分别为关断发射时间(t_off)、开启发射时间(t_on)、初始化时间(t_init)、发射故障报错时间(t_fault)、发射端复位时间(t_reset)、接收端无信号告警时间(t_loss_on)及接收端有信号告警解除时间(t_loss_off)，标准模块SFP_STD的以上时序参数值都是已知的。如图2所示，t_off是从TX_DISABLE(关断发射控制引脚)的上升沿到发射光功率关闭(即传输信号(Tranxmitted Signal)置为低电平)的时间段，此时TX_FAULT(发射端故障报错引脚)为低电平，规定要求t_off小于10us；t_on是从TX_DISABLE的下降沿到发射光功率开启(即传输信号(TranxmittedSignal)置为高电平)的时间段，此时TX_FAULT为低电平，规定要求t_on小于1ms；如图3所示，t_init是从模块上电到发射光功率开启的时间段，此时TX_DISABLE为低电平，规定要求t_init小于300ms；如图4所示，t_fault是从发生故障(即Occurrence of Fault置为高电平)到产生TX_FAULT的时间段，此时TX_DISABLE为低电平，规定要求t_fault小于100us；如图5所示，t_reset定义为发生故障后TX_FAULT一直处于锁定状态，这个时候需要TX_DISABLE经过一个低高低的过程，使TX_FAULT解除，规定要求t_reset大于10us；如图6所示，t_loss_on是从接收无光功率(即Occurrence of loss变为高电平)到RX_LOS(接收端信号丢失指示引脚)变为高电平的时间段，规定要求t_loss_on小于100us；t_loss_off是从接收到光功率(即Occurrence of loss变为低电平)到RX_LOS变为低电平的时间段，规定要求t_oss_off小于100us。

如图1所示，被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT、TX_FAULT_DUT及RX_LOS_DUT分别与控制型单片机40的P0端口的管脚P0.3、P0.4、P0.5电连接，被测模块SFP_DUT的电源开关Vcc和PD+开关FAULT_occur_DUT通过插接于测试板1上的电源管理芯片6分别与控制型单片机40的P0端口的管脚P0.6和P0.2电连接，标准模块SFP_STD的时序引脚TX_DISABLE_STD和RX_LOS_STD分别与控制型单片机40的P0端口的管脚P0.1和P0.0电连接。通过上位机5的程序控制控制型单片机40的管脚的电平跳变，同时打开控制型单片机40的计时器开始计时，直到检测到控制型单片机40的指定引脚电平跳变为计数结束，这个时间值再通过修正即可得到被测模块SFP_DUT的时序。上位机5的程序是基于图形化编程语言LabView(LaboratoryVirtual Instrument Engineering Workbench，实验室虚拟仪器工程平台)开发的控制程序，通过串口或USB接口向单片机发送将要对哪个通道进行测试的指令，单片机收到命令后，就对其自身的引脚进行实现相应功能的初始化设置，包括配置功能寄存器、特定管脚的电平置位、开启计数器、打开中断程序等。被测模块SFP_DUT各时序参数值的检测过程如下所述：

1、检测t_off时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使管脚P0.3(即被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT)置低，即开启被测模块SFP_DUT发射光功率，光由被测模块SFP_DUT的发射端TX经过光纤20到达标准模块SFP_STD的接收端RX，并加入程序延时。然后P0.3置高，即关闭被测模块SFP_DUT，并开启计时器，打开中断程序扫描管脚P0.0(即标准模块SFP_STD的时序引脚RX_LOS_STD)的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器。这个时间包括管脚P0.3置高到被测模块SFP_DUT完全关闭的时间和无光接收后标准模块SFP_STD的时序引脚RX_LOS_STD形成跳变的时间，即是t_off_DUT(即被测模块SFP_DUT的t_off参数值)和t-loss-on_STD(即标准模块SFP_STD的t-loss-on参数值)之和，这个值减去t-loss-on_STD就是被测模块SFP_DUT实际的t_off时序参数值。

2、检测t_on时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使管脚P0.3(即被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT)置高，即关闭SFP_DUT，加入程序延时。然后管脚P0.3置低即开启被测模块SFP_DUT发射光功率，并开启计时器，打开中断程序扫描管脚P0.0(即标准模块SFP_STD的时序引脚RX_LOS_STD)状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器。这个时间包括管脚P0.3置低到被测模块SFP_DUT完全开启的时间和标准模块SFP_STD接收光功率后到其时序引脚RX_LOS_STD形成跳变的时间，即是t_on_DUT(SFP_DUT的t_on参数值)和t-loss-off_STD(SFP_STD的t-loss-off参数值)之和，这个值减去t-loss-off_STD就是被测模块SFP_DUT实际的t_on时序参数值。

3、检测t_init时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使管脚P0.3(即被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_DISABLE_DUT)置低，然后使管脚P0.6置高开启电源管理芯片，为被测模块SFP_DUT上电，并开启计时器，光经过光纤20到达标准模块SFP_STD的接收端RX，打开中断程序扫描管脚P0.0(即标准模块SFP_STD的时序引脚RX_LOS_STD)状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器。这个时间包括被测模块SFP_DUT的初始化时间和标准模块SFP_STD接收光功率后到其时序引脚RX_LOS_STD形成跳变的时间，即是t-init_DUT(SFP_DUT的t-init参数值)和t-loss-off_STD(SFP_STD的t-loss-off参数值)之和，这个值减去t-loss-off_STD就是被测模块SFP_DUT实际的t-init时序参数值。

4、检测t_fault时序参数

将被测模块SFP_DUT的PD+引脚引到测试板上，上位机5的程序控制使控制型单片机C8051F330的管脚P0.2(即被测模块SFP_DUT的PD+开关引脚FAULT_occur_DUT)置低，加入程序延时，然后使管脚P0.2置高并开启计时器，打开中断程序扫描管脚P0.4(即被测模块SFP_DUT的时序引脚TX_FAULT_DUT)的状态，直到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间即被测模块SFP_DUT的t_fault时序参数值。

5、检测t_reset时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使其管脚P0.3(即被测模块SFP_DUT的引脚TX_DISABLE_DUT)置低，并按照测试t-fault的步骤使被测模块SFP_DUT的引脚TX_FAULT_DUT变为高电平并且锁定高状态，然后将单片机管脚P0.3置高，并打开中断程序扫描管脚P0.4(即被测模块SFP_DUT的引脚TX_FAULT_DUT)的状态，程序延时T(T＝1us)，然后将管脚P0.3置低，如果检测到管脚P0.4(TX_FAULT_DUT)的下降沿电平跳变，则T就是实际被测模块SFP_DUT的t_reset测试值；如果没有发生下降沿跳变，增加程序延时时间使T+1，直到扫描到管脚P0.4(TX_FAULT_DUT)下降沿电平跳变，延时时间即为被测模块SFP_DUT的t_reset测试值。

6、检测t_loss_on时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使管脚P0.1(即标准模块SFP_STD的引脚TX_DISABLE_STD)置低，开启标准模块SFP_STD发射光功率，光由标准模块SFP_STD的发射端TX经过光纤30到达被测模块SFP_DUT的接收端RX，加入程序延时，然后将管脚P0.1置高关闭标准模块SFP_STD，并开启计时器，打开中断程序扫描管脚P0.5(即被测模块SFP_DUT的引脚RX_LOS_DUT)的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器。这个时间包括管脚P0.1置高到标准模块SFP_STD完全关闭的时间和无光后被测模块SFP_DUT的引脚RX_LOS_DUT形成跳变的时间，即是t_off_STD(即标准模块SFP_STD的t_off参数值)和t-loss-on_DUT(即被测模块SFP_DUT的t-loss-on参数值)之和，这个值减去t_off_STD就是被测模块SFP_DUT实际的t-loss-on时序参数值。

7、检测t_loss_off时序参数

上位机5的程序控制控制型单片机C8051F330使管脚P0.1(即标准模块SFP_STD的引脚TX_DISABLE_STD)置高，关闭标准模块SFP_STD，加入程序延时，然后P0.1置低开启标准模块SFP_STD发射光功率，并开启计时器，光由标准模块SFP_STD的发射端TX经过光纤到达被测模块SFP_DUT的接收端，打开中断程序扫描管脚P0.5(即被测模块SFP_DUT的引脚RX_LOS_DUT)状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器。这个时间包括管脚P0.1置低到标准模块SFP_STD完全开启的时间和被测模块SFP_DUT接收光功率后到其引脚RX_LOS_DUT形成跳变的时间，即是t_on_STD(即标准模块SFP_STD的t_on参数值)和t-loss-off DUT(即被测模块SFP_DUT的t-loss-off参数值)之和，这个值减去t_on_STD就是被测模块SFP_DUT实际的时间t_loss_off时序参数值。

本发明中所涉及到的SFP模块、单片机、电源管理芯片及测试板均属于市售产品，在此不作详述。

本发明对SFP模块的时序检测方法，可以实现自动化测试，操作简单，大大节省了测试所需的设备及人力。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种小封装可插拔收发器时序参数的检测装置，其特征在于，其包含有测试板、被测模块、标准模块、单片机及上位机，所述测试板上留有两个插槽，一个插接所述被测模块，另一个插接所述标准模块，所述被测模块的发射端通过光纤连接到所述标准模块的接收端，所述被测模块的接收端通过光纤连接到所述标准模块的发射端，所述测试板上并插接所述单片机，所述单片机分为控制型单片机与总线型单片机，所述被测模块与所述标准模块的时序引脚分别通过所述测试板与所述控制型单片机的输入/输出端口电连接，所述控制型单片机通过串行总线与所述总线型单片机电连接，所述总线型单片机通过所述测试板上的USB转换芯片和串口转换芯片实现与所述上位机实时通信。

2.如权利要求1所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测装置，其特征在于，所述控制型单片机的输入/输出端口为P0端口，所述被测模块的关断发射控制引脚、发射端故障报错引脚及接收端信号丢失指示引脚与所述标准模块的关断发射控制引脚和接收端信号丢失指示引脚分别一一对应电连接所述P0端口的各管脚，所述被测模块的电源开关和光电二极管阳极开关通过插接于所述测试板上的电源管理芯片分别一一对应电连接到所述控制型单片机的P0端口中的各管脚。

3.一种根据权利要求2所述的检测装置对小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，该检测方法包括有：

对所述被测模块的关断发射时间参数的检测；

对所述被测模块的开启发射时间参数的检测；

对所述被测模块的初始化时间参数的检测；

对所述被测模块的发射故障报错时间参数的检测；

对所述被测模块的发射端复位时间参数的检测；

对所述被测模块的接收端无信号告警时间参数的检测；

对所述被测模块的接收端有信号告警解除时间参数的检测；

其特征在于，通过所述上位机的程序控制所述控制型单片机的管脚的电平跳变，同时打开所述控制型单片机的计时器开始计时，直到检测到所述控制型单片机的指定引脚电平跳变为计数结束，这个时间值再通过修正即可得到所述被测模块的时序参数值，所述上位机的程序是基于图形化编程语言开发的控制程序。

4.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的关断发射时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，即开启所述被测模块发射光功率，光由所述被测模块的发射端经过光纤到达所述标准模块的接收端，并加入程序延时，然后将与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置高，即关闭所述被测模块，并开启计时器，打开中断程序扫描与所述标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去所述标准模块的接收端无信号告警时间就是所述被测模块实际的关闭参数值。

5.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的开启发射时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置为高电平，即关闭所述被测模块，加入程序延时，然后将与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置低，即开启所述被测模块发射光功率，并开启计时器，打开中断程序扫描与所述标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去所述标准模块的接收端有信号告警解除时间就是所述被测模块实际的开启发射时间参数值。

6.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的初始化时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，然后使与所述被测模块的电源开关连接的所述控制型单片机的管脚置为高电平，即开启所述电源管理芯片，为所述被测模块上电，并开启计时器，光经过光纤到达所述标准模块的接收端，打开中断程序扫描与所述标准模块的接收端信号丢失指示引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间减去所述标准模块的接收端有信号告警解除时间就是所述被测模块实际的初始化时间参数值。

7.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的发射故障报错时间参数的检测方式为：

将所述被测模块的光电二极管阳极开关引脚引到所述测试板上，所述上位机的程序控制与所述被测模块的光电二极管阳极开关连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，加入程序延时，然后使与所述被测模块的光电二极管阳极开关连接的所述控制型单片机的管脚置为高电平，并开启计时器，打开中断程序扫描与所述被测模块的发射端故障报错引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器的计时时间即所述被测模块的发射故障报错时间参数值。

8.如权利要求7所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的发射端复位时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置为低电平，并按照所述发射故障报错时间参数的测试步骤使所述被测模块的发射端故障报错引脚变为高电平并且锁定高状态，然后将与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置高，并打开中断程序扫描与所述被测模块的发射端故障报错引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，程序延时1us，然后将与所述被测模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置低，如果检测到与所述被测模块的发射端故障报错引脚连接的所述控制型单片机的管脚的下降沿电平跳变，则延时时间就是实际所述被测模块的发射端复位时间参数值；如果没有发生下降沿跳变，使延时时间累加1us，直到扫描到与所述被测模块的发射端故障报错引脚连接的所述控制型单片机的管脚下降沿电平跳变，则延时时间即为所述被测模块的发射端复位时间参数值。

9.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的接收端无信号告警时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述标准模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置低，开启所述标准模块发射光功率，光由所述标准模块的发射端经过光纤到达所述被测模块的接收端，加入程序延时，然后将与所述标准模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置高关闭所述标准模块，并开启计时器，打开中断程序扫描与所述被测模块的接收端信号丢失指示引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现上升沿电平跳变，关闭计时器，计时器计时时间减去所述标准模块的关断发射时间就是所述被测模块实际的接收端无信号告警时间参数值。

10.如权利要求3所述的小封装可插拔收发器时序参数的检测方法，其特征在于，对所述被测模块的接收端有信号告警解除时间参数的检测方式为：

所述上位机的程序控制与所述标准模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚，使该管脚置高，关闭所述标准模块，加入程序延时，然后将与所述标准模块的关断发射控制引脚连接的所述控制型单片机的管脚置低开启所述标准模块发射光功率，并开启计时器，光由所述标准模块的发射端经过光纤到达所述被测模块的接收端，打开中断程序扫描与所述被测模块的接收端信号丢失指示引脚连接的所述控制型单片机的管脚的状态，直到捕捉到该管脚出现下降沿电平跳变，关闭计时器，计时器计时时间减去所述标准模块的开启发射时间就是所述被测模块实际的接收端有信号告警解除时间参数值。

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