CN101691996A - 一种护套圆度检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种护套圆度检测系统及方法，该检测系统包括：光源部分，光束整形部分和感测部分。光源部分为激光光源；光束整形部分由一扩束镜和一凸透镜组成；感测部分由CCD和计算机处理器构成。检测步骤如下：调整各装置位于同一水平轴线上，将被测护套装于凸透镜两倍焦距外；开启激光光源部分，通过扩束镜调整激光束使其发射平行光光束；开启感测部分感测光强度信号，并测出被测工件的圆度。其优点是：精度高，效率高，可大大提高测量的精度和效率。

Description

一种护套圆度检测系统

技术领域

本发明涉及一种硒鼓内磁辊护套圆度的检测系统及方法。

背景技术

磁辊护套虽然是硒鼓上的一个很小的零部件，但其圆度对打印质量的影响很大，因此对其圆度检测精确度要求很高。市场上现有设备测定磁辊护套圆度的设备是护套跳动仪，此设备一般采用接触式测量，之间相互摩擦对护套造成损害，而且读数不稳定，精确度较低，影响硒鼓的打印质量，并且检测速度较慢。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测量准确、适用于精密测量的护套圆度测量系统及方法。

本发明圆度测量系统与方法利用凸透镜成像的原理：光源发出的光经扩束镜整形后照射到护套上，将护套置于凸透镜前二倍焦距之外，在护套的后方将会得到一个缩小的倒立的实像，此实像的明暗条纹将会反映护套的圆度及厚度情况，把这个实像使用CCD进行接收，传入计算机中，直接显示护套圆度情况，从而判断护套圆度的好坏。

一种护套圆度检测系统，用以对一待测工件圆度进行检测，该检测系统包括：一光源部分，一光束整形部分及一感测部分，光束整形部分及感测部分，该三部分中心位于同一中心线上，其中光束整形部分位于中间。

其中该光源部分可发射单色激光光束，该光束整形部分用以对激光圆度和平行度进行调整，该感测部分用以接收所成图像，感测处理成像圆环情况，且工件轴线与激光光束同轴。

该测量方法主要包括以下步骤：将被测工件装于凸透镜a下；开启单色光源部分，用扩束镜调整光束平行度，使其对被测工件发射平行光束；接着开启感测部分，感测部分感测激光光强度信号，并测出被测工件的圆度。

该方法检测过程中工件始终不接触测量系统，可避免使工件表面会因摩擦而导致受损，另外，利用凸透镜成像进行精确与快速的测量，因此大大提高测量精度和效率。

附图说明

图1是本发明圆度测量系统剖析图；

图2是本发明圆度测量系统示意图；

图3是护套厚度的投影示意图；

1为光源部分，2光束整形部分，3为感测部分，4为扩束镜，5为凸透镜a，6为被测护套，7为凸透镜b，8为CCD接收器，9为计算机处理器。

请参阅图1和图2，该圆度测量系统包括：一光源(激光器)部分1，一光束整形部分2和感测部分3。光源部分1为单色激光器，可发射单色激光束；光束整形部分2由扩束镜4、凸透镜a5组成，扩束镜4位于光束整形部分靠近激光部分的位置，凸透镜a5位于靠近感测部分的位置，用以对激光束准直度调整同时对被测护套成像；感测部分3由凸透镜b7、CCD接收器8和计算机处理器9构成，CCD接收器8将采集护套经凸透镜5后的成像圆环，将检测信号发送到计算机处理部分，处理部分直接显示护套圆度情况，完成护套圆度检测。

请参阅图3，圆度较好的护套所成图像将是比较光滑均匀的明暗圆环，如果护套圆度有缺陷会出现投影圆环圆度不好现象。

具体实施方式

打开单色激光光源1，使其发射激光光束，调整光束整形部分2，光束经扩束镜4调整变成平行光，然后经过凸透镜a5，光束变成发散光，均匀照射到被测护套6上；将被测护套6装于水平装置上置于凸透镜a5两倍焦距外，将CCD感测装置8置于被测护套6后面，使被测护套6、CCD感测装置8的轴心与光源位于同一水平线上；开启感测部分3，把凸透镜5所成的像通过CCD8采集，信号传输到电脑，再通过电脑显示出来，这样就能直观的检测被测护套6的圆度。

Claims (3)

1.一种护套圆度检测系统，其特征在于：该检测系统包括光源部分，光束整形部分及感测部分，该三部分的中心位于同一中心线上，其中光束整形部分位于中间。

2.根据权利要求1所述的护套圆度检测系统，其特征在于：光束整形部分由一扩束镜和一凸透镜组成，扩束镜位于光束整形部分靠近激光部分的位置，凸透镜位于靠近感测部分的位置。

3.根据权利要求1所述的护套圆度检测系统，其特征在于检测步骤如下：

a.将被测护套装于凸透镜下；

b.开启单色光源部分，用扩束镜调整光束平行度，使其对被测护套发射平行光束；

c.开启感测部分，感测部分感测激光光强度信号，并测出被测护套的圆度。

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