CN101652811A - 信息记录介质以及信息记录介质的评价方法 - Google Patents

Abstract

本发明的信息记录介质是具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

Description

信息记录介质以及信息记录介质的评价方法

技术领域

【0001】

本发明涉及对在光盘等信息记录介质中记录的记录标记(mark)和空白(space)的振幅比进行规定的方法。尤其涉及可通过根据记录线密度适应性变更该规定方法来将上述记录介质的记录品质控制在规定范围内、并容易地进行光盘装置的记录再现互换的方法。

背景技术

【0002】

例如，在对一次写入型光盘(CD-R、DVD-R、BD-R)及可擦写型光盘(CD-RW、DVD-RW、BD-RE)采用激光来记录信息的光盘驱动器(光盘装置)中，保证在该光盘上记录的信息的记录品质是最重要的课题。但是，在光盘上记录的信息的记录品质受记录该信息时的驱动器的使用环境及温度等各种状况影响，并且，还因为光盘的种类以及产品的偏差等种种状况而发生变动。即，如果没有以与信息记录时的各种状况对应的激光记录功率来写入信息，就无法正确地写入该信息，之后发生无法读出该信息或在读出时不是正确内容这样的不良现象。

【0003】

因此，在光盘装置中，为了使在光盘中记录的信息的记录品质稳定化，在光盘中记录信息之前，求出信息记录时的最优记录激光功率。例如，有进行功率校准后求出信息记录时的最优记录激光功率的方式(OptimumPower Control(最优功率控制)：简称为OPC)。在该OPC中，针对光盘上的功率校准区域(简称为「PCA」)使激光功率进行多级变化来记录规定信息，检测与再现了该记录的各个信息时的RF信号的基准电平C相对的振幅的最大值(峰值：peak value)A1和最小值(谷值：bottom value)A2，并根据下式(1)，利用该最大值A1和最小值A2来求出β值。

β＝(A1+A2)/(A1-A2)    …式(1)

【0004】

然后，将求出的β值为规定值时的激光功率设定为记录时的最优记录激光功率，并利用该最优记录激光功率在光盘的记录区域中记录信息(例如，参照专利文献1)。

【0005】

另外，在该OPC中，针对光盘上的功率校准区域使激光功率进行多级变化来记录规定信息，并检测与再现了该记录的各个信息时的RF信号的基准电平D相对的最大值(峰值)B1和最小值(谷值)B2，并根据下式(2)，利用该最大值B1和最小值B2来求出调制度值。

(调制度)＝(B1-B2)/B2    …式(2)

【0006】

然后，将求出的调制度值为规定值时的激光功率设定为记录时的最优记录激光功率，并利用该最优记录激光功率在光盘的记录区域中记录信息(例如，参照专利文献2)。

【0007】

图17是示出用于求出上述β值以及调制度值的RF信号110与上述参数之间的关系的图。用于求出β值的基准电平C是RF信号的全振幅(totalamplitude)的平均电平，是与通过了规定频带设定的HPF的电平等价的振幅电平。以该基准电平C为基准，求出RF信号的振幅的最大值A1和RF信号的振幅的最小值A2，β值通过上述式(1)来求出。

【0008】

用于求出调制度值的基准电平D是作为用于测定RF信号的振幅的基准的DC电平，例如，是与消除激光时的电平等价的振幅电平。以该基准电平D为基准，求出RF信号的振幅的最大值B1和RF信号的振幅的最小值B2，调制度值通过上述式(2)来求出。

【0009】

采用如β或调制度这样的信号测定指标来求出最优的记录激光功率，由此防止了在光盘中记录的信息的记录品质恶化。

【0010】

举BD的情况为具体例，采用图19和图20对记录线密度进行说明。在BD中也与DVD同样，将记录数据作为物理变化的标记列记录在光盘上。该标记列中长度最短的标记为最短标记132，在BD25GB记录容量的情况下，其物理长度是0.149um(微米)。这相当于DVD的约1/2.7，这样即使改变光学系统的波长参数(405nm)和NA参数(0.85)来提高激光的分辨率，也接近于光束可识别记录标记的界限即光学分辨率的界限。图19是对记录在磁道(track)131上的标记列照射光束的状况。针对BD根据上述光学系统参数，光点133的直径约为0.39um左右。在以光学系统构造不变的状态下提高记录线密度时，记录标记相对于点径较小，从而再现的分辨率差。

【0011】

利用光束再现记录标记时的再现信号振幅随着记录标记变短而降低，在光学分辨率的界限处为零。将该记录标记的周期的倒数称为空间频率，将空间频率与信号振幅的关系称为OTF(Optical Transfer Function：光学传递函数)。信号振幅随着空间频率变高而近似直线地降低，将为零的再现的界限称为OTF截止(cutoff)。

【0012】

图20示出在BD25GB记录容量时的OTF与最短标记之间的关系。BD的最短标记相对于OTF截止在80％时接近OTF截止。另外还可知，最短标记的再现信号振幅在约10％时非常小。当BD的最短标记OTF截止、即成为再现信号振幅几乎是零的记录容量时，在BD中约相当于31GB。当最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率时，达到激光分辨率的界限或超过该界限，再现信号的振幅变小，从而成为SNR急剧恶化的区域。

【0013】

接着，作为规定记录品质的指标，说明非对称评价指标和β评价指标。

【0014】

图18示出最长标记/空白(8T)和最短标记/空白(2T)的再现信号振幅电平的状况，是表示用于计算非对称评价指标值的参数的定义的图。在作为记录区域的反射率比未记录区域的反射率小的记录介质的情况下，8T空白的再现信号振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A8H，8T标记的再现信号振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A8L，2T空白的再现信号振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A2H，2T标记的振幅电平定义为从基准电平0开始的再现信号振幅A2L，非对称评价指标值(ASYM)利用下式(3)来求出。

【数1】

$\mathrm{ASYM}=\frac{\frac{A8H+A8L}{2}-\frac{A2H+A2L}{2}}{A8H-A8L}$ …式(3)

【0015】

根据该指标值，可规定最短标记/空白(2T)的再现信号振幅中心以及最长标记/空白(8T)的再现信号振幅中心相对最长标记/空白(8T)的再现信号的全振幅发生多少DC偏移。为了保证记录品质在规定的以上，而限制以非对称评价指标值(ASYM)在规定范围内的方式进行记录。例如，限制为-0.1≤ASYM≤0.1。

【专利文献1】日本特开第3259642号公报

【专利文献2】日本特开2006-147125号公报

【非专利文献1】图解蓝光盘读本(ブル一レイデイスク読本)欧姆公司

【0016】

但是，当记录线密度提高、最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率时，就超过光学分辨率、再现信号的振幅变小或受码间干涉的影响成为不超过基准电平的电平的再现信号振幅。由此，在超过规定的记录线密度的区域中，存在无法适当求出非对称评价指标值的情况。即，存在无法利用非对称评价指标值来适当地规定记录品质、无法将上述记录介质的记录品质控制在规定范围内、无法稳定地保持光盘装置的记录再现互换的情况。

发明内容

【0017】

本发明的信息记录介质具有记录信息的信息记录层，其中，采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

【0018】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0019】

在某实施方式中，限制与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的振幅和与空白对应的再现信号的振幅之比，使上述评价指标的值在规定的范围内。

【0020】

在某实施方式中，将与上述记录标记对应的再现信号的振幅和与上述空白对应的再现信号的振幅之比限制成如下的限制中的任意一种：上述评价指标的值为-0.10以上这样的限制；上述评价指标的值为+0.15以下这样的限制；以及上述评价指标的值为-0.10以上且+0.15以下这样的限制。

【0021】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，其中包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0022】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域。

【0023】

在某实施方式中，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息。

【0024】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，上述记录容量是25千兆字节。

【0025】

在某实施方式中，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的通道比特(channel bit)长的信息。

【0026】

在某实施方式中，上述信息记录层具有BCA区域以及导入区域，上述导入区域包含PIC区域，在上述BCA区域或上述PIC区域中记录上述关于记录密度的信息。

【0027】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含从上述BCA区域或上述PIC区域中再现上述关于记录密度的信息的步骤。

【0028】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有：基准层，其是配置在距上述信息记录介质的光照射面最远位置的信息记录层；第1信息记录层，其是比上述基准层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及第1中间层，其是配置在上述基准层与上述第1信息记录层之间的中间层；上述基准层包含存储上述关于记录密度的信息的区域。

【0029】

在某实施方式中，上述信息记录介质还具有：第2信息记录层，其是比上述第1信息记录层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及第2中间层，其是配置在上述第1信息记录层与上述第2信息记录层之间的中间层；上述第1中间层的幅度大于上述第2中间层的幅度。

【0030】

在某实施方式中，上述信息记录层含有同心圆状或螺旋状的磁道，在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

【0031】

在某实施方式中，上述最短标记长TM与最短空白长TS相加的长度TM+TS不足238.2nm。

【0032】

在某实施方式中，上述信息记录层能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，在将上述调制的基准周期设为T时，最短标记长为2T，最短空白长为2T。

【0033】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＞λ÷(2NA)，在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

【0034】

本发明的信息记录介质具有记录信息的信息记录层，其中，在上述信息记录层中按照规定的调制规则，形成被限制为从xT至yT的长度的记录标记(T是上述调制的基准周期，x以及y是满足x＜y的自然数)，采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

【0035】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与xT标记和xT空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0036】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光，生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0037】

在某实施方式中，在上述信息记录层中采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

【0038】

在某实施方式中，能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，上述规定的调制规则是1-7调制规则。

【0039】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率低于OTF截止频率，在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

【0040】

本发明的信息记录介质具有记录信息的信息记录层，其中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是高于上述第1记录密度的第2记录密度的情况下，采用根据全再现波形的能量中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0041】

在某实施方式中，将空间频率与信号振幅的关系定义为OTF，将随着上述空间频率变高而近似直线降低至零的再现的界限定义为OTF截止，在上述信息记录层中所记录的最短标记的空间频率低于OTF截止频率时，采用上述第1评价指标进行评价，在上述信息记录介质中所记录的最短标记的空间频率为OTF截止频率附近或高于OTF截止频率时，采用上述第2评价指标进行评价。

【0042】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0043】

在某实施方式中，是用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质的方法，其中，在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标来评价上述信息记录介质。

【0044】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

【0045】

在某实施方式中的再现方法用于再现利用上述评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0046】

本发明的评价方法用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其中，在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度时，采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度时，采用根据全再现波形的能量中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

【0047】

在某实施方式中的再现方法用于再现利用上述评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0048】

根据本发明，在光盘等记录信息介质中，在抖动(jitter)评价指标有用的、最短标记为比OTF截止频率充分低的频率的记录线密度的区域中，将以2T振幅作为基准的非对称指标值使用于记录品质的规定中，从而能够提供稳定的记录介质。另外，在抖动评价指标不成立且PR12221ML的评价指标有用的、最短标记为OTF截止频率附近或超过该频率的频率的记录线密度的区域内，将以全波形的能量中心为基准的β指标值使用于记录品质的规定中，从而能够提供稳定的记录介质。此外，记录品质不仅依赖于与上述非对称指标或β指标值相关的记录功率，还非常依赖于记录波形的形状。在与记录波形的形状相关的记录品质的规定中，可使用抖动指标值或PR12221ML的评价指标。这样，因为是利用数值来规定记录介质中记录的记录品质，所以通过根据该记录线密度采用适当的方法进行规定，就可稳定地保持光盘装置的互换性。

附图说明

【0049】

图1是表示使本发明实施方式的光盘介质中的记录线密度提高度时的RF信号的振幅参数的定义的图。

图2(A)～(C)是表示使本发明实施方式的光盘介质中的记录线密度提高且变更记录功率进行记录的区域的RF信号的图。

图3是表示本发明实施方式中的由RLL(1，7)记录码和均衡方式PR(1，2，2，2，1)规定的状态转移规则的图。

图4是与本发明实施方式中的图3所示的状态转移规则对应的格子图的图。

图5是本发明实施方式中的表1所示的PR均衡理想波形的例图。

图6是本发明实施方式中的表2所示的PR均衡理想波形的例图。

图7是本发明实施方式中的表3所示的PR均衡理想波形的例图。

图8是存在采用了图7所示的PR均衡理想波形的DC变动时的再现波形的例图。

图9是表示本发明实施方式中的光盘介质的区域结构的图。

图10A是表示本发明实施方式中的光盘装置结构的框图。

图10B是表示本发明实施方式中的数据记录再现电路的框图。

图11是表示本发明实施方式的光盘1的物理结构的图。

图12(A)是表示25GB的BD的例图，(B)是比25GB的BD高记录密度的光盘的例图。

图13是表示对记录在磁道上的标记列照射光束的状况的图。

图14是表示在为25GB记录容量时的OTF与最短记录标记之间的关系的图。

图15是表示最短标记(2T)的空间频率比OTF截止频率高且2T的再现信号的振幅为0的例子的图。

图16A是表示光盘400的区域结构的图。

图16B(1)是表示现有记录密度的光盘A以及更高记录密度的光盘B的信息记录层的结构的图，(2)以及(3)是分别表示光盘A以及光盘B的导入区域420的具体结构的图。

图16C是表示多层的相变化薄膜盘的结构例的图。

图17是表示用于求出本发明实施方式的光盘介质中的β和调制的RF信号的振幅参数的定义的图。

图18是表示用于求出本发明实施方式的光盘介质中的非对称的RF信号的振幅参数的定义的图。

图19是表示记录在磁道上的标记列和光束径之间的关系的图。

图20是表示空间频率与OTF之间的关系的图。

符号说明

【0050】

900光盘介质

901光头

902马达

903伺服电路

904磁道地址再现电路

905CPU

906数据记录再现电路

906a PRML处理部

906b 3T标记振幅检测部

906c 3T空白振幅检测部

906d 8T标记振幅检测部

906e 8T空白振幅检测部

907数据地址再现电路

910BCA区域

920导入区域

930用户区域

940导出区域

921PIC区域

922PCA区域

923INFO区域

具体实施方式

【0051】

(实施方式1)

在本发明的第1的实施方式中，对规定记录介质的记录品质的方法进行说明。

【0052】

图1是示出图18所示的最长标记/空白(8T)和最短标记/空白(2T)的再现信号振幅电平的状况，特别示出再现了以33GB记录密度记录到BD媒介上的区域时的状况的例子。所谓最长标记/空白的再现信号振幅电平是指在再现了最长标记和最长空白的组合时所得到的再现信号的振幅电平。所谓最短标记/空白的再现信号振幅电平是指在再现了最短标记与最短空白的组合时所得到的再现信号的振幅电平。

【0053】

参照图1，x区域的最短标记/空白(2T)的再现信号振幅电平表示没有由于OTF而出现再现信号振幅。例如，是再现了2T标记空白的连续区域的情况下。y、z区域表示没有进一步由于码间干涉而出现再现信号振幅。例如，是再现了8T空白2T标记8T空白或8T标记2T空白8T标记的区域的情况下。当这样提高记录线密度时，与图18的2T振幅电平A2H相当的再现信号振幅电平存在多个A2_2和A2_4，与图18的2T振幅电平A2L相当的再现信号振幅电平存在多个A2_1和A2_3，因此无法求出非对称评价指标值。

【0054】

另一方面，图2(A)、(B)、(C)是示出最长标记/空白(8T)和最短标记/空白(2T)的再现信号振幅电平状况的图，是示出用于计算β评价指标值的参数定义的图。在作为记录区域的反射率比未记录区域的反射率小的记录介质的情况下，8T空白的振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A1，8T标记的振幅电平定义为从基准电平0开始开始的振幅A2，基准电平0是再现波形的能量中心。例如，再现波形的能量中心是通过使信号通过规定频带的HPF(High Pass Filter：高通滤波器)而求出的。β评价指标值(β)是利用上式(1)来求出的。

【0055】

根据该指标值可规定能量中心电平相对最长标记/空白的(8T)的全振幅发生多少DC偏移。图2(A)示出相对于基准电平标记振幅和空白振幅近似相等的状况，根据上式(1)算出β为0。另一方面，图2(B)相对于(A)示出再现了降低记录功率来记录的区域时的波形的状况。在此情况下，相对于基准电平，标记振幅比空白振幅大，根据上式(1)算出具有负号的β。同样，图2(C)相对于(A)示出再现了提高记录功率来记录的区域时的波形的状况。在此情况下，相对于基准电平，标记振幅比空白振幅小，根据上式(1)算出具有正号的β。这样，β指标与再现了改变记录功率来记录的区域时的信号品质相关，因此用作记录功率调整的目标值。例如，采用β指标值的记录功率调整方法被记载到特开平9-161272号公报中。

【0056】

β指标值是以再现波形全能量中心为基准来测定最长标记和最长空白的振幅比的评价指标，所以是不受伴随着上述高密度化的最短标记的振幅恶化影响的指标。这里，所谓标记的振幅是指再现了标记时的再现信号的振幅，所谓空白的振幅是指再现了空白时的再现信号的振幅。

【0057】

在再现已记录的信号的处理中，当最短标记的振幅中心相对于最长标记/空白的(8T)的全振幅没有进入规定范围内时，有无法解调已记录的数字信号、无法稳定地保持光盘装置互换性的情况。尤其在通过抖动指标来规定记录品质的系统中，必需是产生规定以上的2T振幅这样的记录状态以及再现状态。例如，在BD规格的25GB密度下，成为通过采用了设限均衡器(Limit equalizer)的抖动值来规定媒介的特性的规格，为了规定2T的记录品质，而需要以2T的AC振幅为基准的非对称评价值在规定范围内的规定。关于采用设限均衡器的抖动测定指标的说明被记载于非专利文献1(图解蓝光盘读本)中，所以在此省略说明。

【0058】

另一方面，在最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该截止频率的频率的记录线密度中，无法使用采用了上述设限均衡器的抖动测定指标。虽然在上述中进行了说明，但抖动测定指标是在有规定以上的2T振幅的条件下成立的指标。因此，使用以2T振幅为基准的非对称指标值是没有意义的。

【0059】

关于再现以最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率的记录线密度进行记录的记录标记的方法，高次的PRML方式是有用的。例如PR12221ML方式。该方式是预先考虑了码间干涉的影响，以不是2T振幅的情况为前提的再现方法，因此2T振幅是不重要的。但是，在PRML方式中，如果是再现标记和空白的振幅比有较大差异的波形，则再现性能有时会明显恶化。这是因为PRML方式是以标记和空白的对称性为前提来译码再现波形的方式。因此，在2T振幅基准下不需要规定其对称性，但可以通过在全波形的能量中心将标记和空白比(β)限制在规定范围内，来保持适合PRML方式的记录品质。例如，如果规定为β是-0.2≤β≤0.2范围的可记录的记录介质，则能够保持记录品质。

【0060】

这样，在抖动评价指标有用的、最短标记为比OTF截止频率充分低的频率的记录线密度的区域内，可通过在记录品质的规定中使用作为2T振幅的基准的非对称指标值，来提供稳定的记录介质。

【0061】

另外，在抖动评价指标不成立而PR12221ML的评价指标有用的、最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率的记录线密度的区域内，可通过在记录品质的规定中使用以全波形的能量中心为基准的β指标值，来提供稳定的记录介质。

【0062】

此外，记录品质不仅依赖于与上述非对称指标或β指标值相关的记录功率，还主要依赖于记录波形的形状。与记录波形的形状相关的记录品质的规定可使用抖动指标值或PR12221ML的评价指标。这样，因为是以数值的方式来规定记录介质中记录的记录品质，所以通过根据该记录线密度，采用适当的方法来进行规定，就能够稳定地保持光盘装置的互换性。

【0063】

接着，说明在最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率的记录线密度的区域，例如举BD规格为例，将记录线密度设为33GB，作为再现信号处理采用PR12221ML方式来再现或评价信息记录介质时的β容许范围的考虑方法。上述说明了在具有采用2T振幅的非对称指标值的记录线密度区域内无用。这里在采用了PR12221ML方式的再现信号处理中，采用β指标将记录品质规定在规定范围内是有用的，为了保证记录品质，对应该规定哪个范围进行说明。

【0064】

首先，对PR12221ML的再现信号处理进行说明。

【0065】

在具体的光盘装置中，在再现系统的信号处理中采用PR12221ML方式，在记录码中采用RLL(1，7)码等Run Length Limited码。首先，采用图3、图4，对PR12221ML进行简单说明。

【0066】

PR12221ML通过与RLL(1，7)的组合将译码部的状态数限制到10，其状态转移的通路(path)数为16，再现电平为9电平。图3示出用于说明PRML的状态转移图，示出PR12221ML的状态转移规则。图中进行如下表述：将某时刻的状态S(0，0，0，0)设为S0，将状态S(0，0，0，1)设为S1，将状态S(0，0，1，1)设为S2，将状态S(0，1，1，1)设为S3，将状态S(1，1，1，1)设为S4，将状态S(1，1，1，0)设为S5，将状态S(1，1，0，0)设为S6，将状态S(1，0，0，0)设为S7，将状态S(1，0，0，1)设为S8，将状态S(0，1，1，0)设为S9，从而表现出10个状态。这里，括弧中所示的“0”或“1”表示时间轴上的信号系列，表示从各个状态向下一时刻的状态转移的可能性处于哪种状态。另外，当针对时间轴展开其状态转移图时取得图4所示的格子图。

【0067】

在如图4所示的PR12221ML的状态转移中，当从某时刻的规定状态向其他时刻的规定状态转移时有无数个可获得两个状态转移的状态转移图形(状态的组合)。当关注于限定在某一时刻范围中且特别容易产生误差的图形时，在PR12221ML的情况下可归纳为表1、2、3所示。

【0068】

【表1】

【0069】

【表2】

【0070】

【表3】

【0071】

各表中示出表示从起始状态合流的状态的轨跡的状态转移、有可能经由该状态过渡的两个记录系列、有可能经由该状态过渡的两个理想再现波形、两个理想再现波形的欧几里德距离。欧几里德距离表示两个理想再现波形之差的平方和。当判断两个波形的可能性时，如果该值大，则更容易区别，因此判断错误的可能性低。另一方面，如果该值小，则难以区别有可能性的两个波形，所以判断错误的可能性高。即，欧几里德距离大的图形是误差难以发生的图形，欧几里德距离小的图形是误差容易发生的图形。

【0072】

表1是能够取得两个状态转移的状态转移图形的欧几里德距离为14的情况，有18种。该图形相当于光盘波形的沿(edge)(标记与空白的切换)部分。换言之，是沿的1比特移动误差(shift error)的图形。作为例子，对图4所示的状态转移规则中的S0(k-5)至S6(k)时的转移通路进行说明。此时的一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，1，1，1，0，0”而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为4T空白以上长度的空白、3T标记、2T空白以上长度的空白。将其作为图5的A通路波形示出。图5～图7中横轴表示记录系列的每1时刻的采样时间，纵轴表示再现电平。虽然在上述中提到过，但在PR12221ML的情况下表示：理想的再现电平是9电平，是0电平～8电平的9电平。另一方面，另一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，0，1，1，0，0”而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为5T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白以上长度的空白。将其作为图5的B通路波形示出。该表1中欧几里德距离为14的图形的特征是必需含有一个沿信息(零交叉点)。

【0073】

表2是欧几里德距离为12的情况，有18种。该图形是在2T标记或2T空白的移动误差中有2比特误差的图形。作为例子，对图4所示的状态转移规则中的S0(k-7)～S0(k)时的转移通路进行说明。但是，在图4中，仅显示到k-5的时间。此时的一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0”而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为4T空白以上长度的空白、2T标记、5T空白以上长度的空白。将其作为图6的A通路波形示出。另一方面，另一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，0，1，1，0，0，0，0“而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为5T空白以上长度的空白、2T标记，4T空白以上长度的空白。将其作为图6的B通路波形示出。该表2中欧几里德距离为12的图形的特征是必需含有两个2T的上升以及下降沿信息。

【0074】

表3是欧几里德距离为12的情况，有18种。该图形是在2T标记和2T空白连续的位置有3比特误差的图形。作为例子，对图4示出的状态转移规则中的S0(k-9)～S6(k)时的转移通路进行说明。但是，在图4中仅示到k-5的时间。此时的一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，1，0，0”而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为4T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白、3T标记、2T空白以上长度的空白。将其作为图7的A通路波形示出。另一方面，另一个通路，在记录系列转移至“0，0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，0，0”而被检测出的情况下，当认为处于再现数据的“0”是空白部分、“1”是标记部分的记录状态时，成为5T空白以上长度的空白、2T标记、2T空白、2T标记、2T空白以上长度的空白。将其作为图7的B通路波形示出。该表3中欧几里德距离为12的图形的特征是至少包含三个沿信息。

【0075】

这样可知，PR12221ML方式不需要最短标记以及空白(在此例中相当于2T)的振幅，但与全波形相对的2T的DC振幅非常重要。尤其，表2、3中欧几里德距离为12的图形是与2T的再现相关的图形，2T的振幅被定义为与全波形的中心位置对应。在图5～图7的图中，全波形的中心位置相当于信号电平4。因此，如果再现为在2T的DC振幅中有变动的波形，则易于被错认为PR12221ML的解调结果。该2T的DC振幅变动的大小即表示β评价值的绝对值变动大小。当将光盘系统可稳定再现的比特误差速率(bit shift rate)设为3E-4时，考虑各种再现压力、各种记录压力(伴随着记录的沿偏移、记录功率变动的SNR恶化等)等，记录标记与空白的振幅比、即与2T的DC变动紧密相关的β评价值的容许范围例如为-0.15≤β≤0.15。这仅是一例，可依据系统再现以及记录的裕量(margin)分配的考虑方法而不同。

【0076】

针对β评价值的容许范围，采用图8来进一步说明具体的计算例。图8是在上述图7的2T连续的图形(欧几里德距离为12的图形)中附加了有2T的DC变动的再现波形的例图。▲虚线的再现波形是在A通路波形以维特比译码(Viterbi decoding)被判定为正确的情况下，在接近B通路波形的一侧有DC变动，更易于被错认为是B通路波形的DC变动的例子。为了使模式简单，而从A通路波形同样地给与-0.7的DC变动。当采用式(4)来计算欧几里德距离(12)的检测窗口的几％时，该DC变动约为47％。

【数2】

…式(4)

【0077】

在式(4)中，PathA以及PathB是表3图形的9个采样的PR均衡理想值，S是与表3的规定图形对应的9个采样的再现波形。

【0078】

当超过50％时，被理想地判定为B通路波形。当采用图8上的A1以及A2和上式(1)来计算此时的β评价值时，约为0.2。虽然始终是同样的DC变动模式的情况，但为了不将A通路波形错认为是B通路波形，至少需要使β评价值为0.2以下。

【0079】

接着，可以将PR12221ML的评价指标定义为记录标记和空白的振幅比偏移，为了测定PR12221ML的评价指标，需要相对于再现波形取得PLL同步并实施规定的信号处理。因此，存在在记录品质非常差的波形下无法测定的情况。还有，也存在不具有上述PR12221ML的评价指标测定环境的情况，这样即使在提高了记录线密度的情况下，也需要进一步模拟的评价指标。由此，通过规定还考虑了PR12221ML的再现界限的β评价值，能够规定在PR12221ML方式下可再现的范围，并能够将上述记录介质的记录品质控制在规定范围内，从而可稳定地保持光盘装置的记录再现互换。

【0080】

此外，上述PRML方式仅是一例，在其他PRML方式中本发明也是有用的。

【0081】

此外，在根据记录线密度来测定β时，因为将哪个标记以及空白长视为最大以及最小振幅发生了变化，所以作为检测处理，该处理不同。例如，在BD规格的25GB密度下，作为最大振幅的标记以及空白长是5T左右，但在BD中，在以33GB的密度进行了记录的情况下，作为最大振幅的标记以及空白长为7T左右。由此，为了检测最大以及最小振幅需要根据记录线密度来变更其处理。

【0082】

例如，为了以模拟处理的方式检测再现信号振幅，采用上行应答(riseresponse)和下行应答(fall response)的平衡来检测最大以及最小振幅，在上述方式中，为了使该应答特性始终相同，只要记录线密度发生变更，就需要根据其容量变化量来变更应答特性。

【0083】

(实施方式2)

这里，采用图9以及图10A来说明本发明实施方式中的光盘介质与光盘装置的结构。

【0084】

光盘介质900包含记录层。可通过在记录层形成记录标记，在光盘介质900中记录数据。在光盘介质900中同心圆状地形成磁道。

【0085】

光盘介质900包含BCA(Burst Cutting Area)区域910、导入区域920、用户区域930、和导出区域940。

【0086】

BCA区域910预先记录有条型码状的信号，在每一个盘中含有媒介识别用的固有编号、著作权信息、盘特性信息。在该盘特性信息中包含有上述所说明的涉及本发明的记录膜层数及地址管理方法的识别信息。

【0087】

用户区域930构成为用户可记录数据。在用户区域930中例如记录用户数据。在用户数据中例如包含音频数据以及图像数据。

【0088】

导入区域920与用户区域930不同，没有构成为用户可记录数据。导入区域920包含PIC(Permanent Information and Control data)区域921、OPC(Optimum Power Calibration)区域(也称为PCA区域)922、和INFO区域923。

【0089】

在PIC区域921中含有盘特性信息。在该盘特性信息中记录有上述所说明的涉及本发明的记录膜层数、地址管理方法的识别信息、及访问参数。访问参数例如是与用于在光盘介质900中形成/删除多个记录标记的激光功率有关的参数、以及与用于记录多个记录标记的记录脉冲宽度有关的参数。

【0090】

PCA区域922是用于记录或再现测试数据(test data)的区域。在测试数据的记录或再现中，访问光盘介质900的光盘装置进行访问参数的调整(例如，记录功率及脉冲宽度等的调整)。

【0091】

在INFO区域923中，由访问光盘介质900的装置来记录必要的用于用户区域930的管理信息及用户区域930的缺陷管理的数据。

【0092】

本发明中的记录品质规定方法根据记录线密度来变更其处理方法以及规定方法，由此可在规定范围内记录上述用户区域930中所记录的记录品质。其结果，能够稳定地保持光盘装置的记录再现互换。

【0093】

接着，对按照记录线密度来测定记录品质的光盘装置进行说明。

【0094】

图10A是表示本发明实施方式中的光盘装置1000的框图。在图10A中，光盘装置具有：光头901、马达902、伺服电路903、磁道地址再现部904、CPU905、数据记录再现部906、激光驱动部907，该装置是从已设置的光盘介质900中再现数据或记录数据的装置。

【0095】

在再现光盘介质900的情况下，对光盘介质900的信息记录层照射光束。接收来自信息记录层的反射光，根据所接收的光来生成与信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号。

【0096】

光盘介质900具有记录数据的磁道，根据磁道上的地址格式(addressformat)来记录地址值。磁道弯曲地形成，通过弯曲的频率或相位调制来记录地址值。

【0097】

光头901对光盘介质900照射光束，并一边扫描磁道一边检测来自光盘介质900的反射光量，然后输出电信号。

【0098】

马达902使光盘介质900以指定的转速进行旋转。

【0099】

伺服电路903从上述电信号中提取与光束向磁道会聚的状态相对应的伺服误差信号，采用伺服误差信号进行控制，以使光头901在磁道中光束的会聚状态、磁道的扫描状态成为最优状态。另外，最优地控制照射光束的光盘介质900上的半径位置以及马达902的转速。

【0100】

磁道地址再现部(磁道地址再现电路)904从上述电信号中提取与光盘介质900的磁道弯曲对应的摆动(wobble)信号，从摆动信号中解调预先记录在磁道上的地址值。另外，还进行磁道上的块单位以及子块单位的同步位置的检测。

【0101】

CPU905获得由磁道地址再现电路904解调的地址值，并检索向伺服电路903指示进行数据的记录以及再现的块，在检索到的块位置中对数据记录再现电路906发出记录动作、再现动作的指示。

【0102】

数据记录再现部(数据记录再现电路)906在从CPU905接受数据记录的指示时，实施对记录数据附加纠错码(error-correction code)、按照规定的格式附加数据地址、和数据调制处理，来生成记录信号，根据磁道地址再现电路904所检测到的同步位置的定时，采用激光驱动电路907来控制光头901的光束强度，以使针对所指定的块将与记录信号相对应的标记记录在磁道上，由此来进行数据记录。

【0103】

在从CPU905接受数据再现的指示时，根据磁道地址再现电路904所检测到的同步位置的定时，在指定的块内，从上述电信号中提取与光盘介质900的磁道上所记录的标记相对应的数据信号，并根据数据信号进行与上述记录动作的数据调制相应的数据解调，此外还进行纠错处理，之后输出再现数据。

【0104】

另外，数据记录再现电路906具备根据再现信号来检测抖动指标、伴随PRML处理的评价指标、非对称指标、调制度指标、以及β指标的电路。在利用上述实施方式所说明的方法来求出记录条件的情况下，根据再现信号来检测抖动指标、伴随PRML处理的评价指标、非对称指标、调制度指标、以及β指标，并向CPU905输出其检测结果。

【0105】

激光驱动部(激光驱动电路)907根据从数据记录再现电路906输出的激光发光波形图形来控制光头901的激光发光动作。

【0106】

由于在上述实施方式的说明中对抖动指标、伴随PRML处理的评价指标、非对称指标、调制度指标、以及β指标进行了详细叙述，所以这里省略说明。

【0107】

以下，说明根据记录线密度来变更记录标记和空白的振幅比的测定方法，再现已记录的区域，并测定上述抖动指标、伴随PRML处理的评价指标、非对称指标、调制度指标、以及β指标的光盘装置的动作。

【0108】

首先，再现光盘中预先记录的记录条件。

【0109】

CPU905对伺服电路903指示，使光头901向PIC区域移动，采用数据记录再现电路906来再现包含记录条件的PIC信息。

【0110】

在根据PIC条件判断记录线密度为25GB/层时，使光头901向PCA区域移动，在将马达902设定为规定转速后，采用数据记录再现电路906以及激光驱动电路907，利用特定的记录条件来记录特定的记录图形。采用数据记录再现电路906来再现该记录的区域，并检测抖动指标、调制度指标、及非对称指标。根据其检测的结果，CPU905算出最优的记录功率。作为记录功率的算出方法的例子，在专利文献2(日本特开2006-147125号公报)中有记载。采用该求出的记录条件进行尝试记录，再现该区域，检测抖动指标以及非对称指标，如果该检测结果在规定范围内，则判断为记录品质保持在规定以上，然后结束求出记录条件的动作，CPU905对伺服电路903进行指示使光头901向用户区域移动，采用数据记录再现电路906开始用户数据的记录。

【0111】

另一方面，当根据PIC条件判断记录线密度为33GB/层时，使光头901向PCA区域移动，在将马达902设定为规定转速后，采用数据记录再现电路906以及激光驱动电路907，利用特定的记录条件来记录特定的记录图形。采用数据记录再现电路906来再现该记录的区域，并检测PRML指标、调制度指标、及β指标。根据其检测的结果，CPU905算出最优的记录功率。作为记录功率的算出方法的例子，在专利文献2(日本特开2006-147125号公报)中有记载。采用该求出的记录条件进行尝试记录，再现该区域，检测PRML指标以及β指标，如果该检测结果在规定范围内，则判断为记录品质保持在规定以上，然后结束求出记录条件的动作，CPU905对伺服电路903进行指示使光头901向用户区域移动，采用数据记录再现电路906开始用户数据的记录。

【0112】

此外，该动作例仅为一例，不用于限定本发明。根据记录线密度来测定对应的适合再现信号处理方式的记录标记和空白的振幅比是重要的。在此例中，在记录线密度是25GB/层的情况下，再现信号处理选择现有的以二进制为基础的再现信号处理，与其对应测定抖动指标。另外，因为以抖动指标来规定记录品质，所以利用以最短标记和空白的振幅中心为基准进行测定的记录标记和空白的振幅比、即非对称指标来进一步规定记录品质，由此能够执行将记录品质保持在规定范围内的记录，并使光盘装置的互换性稳定化。

【0113】

另一方面，在记录线密度为33GB/层时，再现信号处理选择以PR12221ML方式为基础的再现信号处理，与其对应，测定PR12221ML指标。另外，因为以PR12221ML指标规定记录品质，所以利用以全波形的能量中心为基准进行测定的记录标记和空白的振幅比、即β指标来进一步规定记录品质，由此能够执行将记录品质保持在规定范围内的记录，并使光盘装置的互换性稳定化。

【0114】

此外，本发明光盘装置的构成要素可作为集成电路即LSI来实现。光盘装置具备的构成要素能分别单片化，也能够以包含一部分或全部的方式单片化。

【0115】

这里将集成电路称为LSI，但根据集成度的不同，有时也称为IC、LSI、超级LSI(super LSI)、超LSI(ultra LSI)。

【0116】

另外，本发明的集成电路不限于LSI，可通过专用电路或通用处理器来实现。在LSI制造后能够利用可编程的FPGA(Field Programmable GateArray：现场可编程门阵列)、以及可重新构成LSI内部的电路元件的连接和设定的可重构处理器(re-configurable processor)。

【0117】

此外，如果利用半导体技术进步或派生的其他技术替换LSI的集成电路化技术问世，当然，可以采用这个技术进行功能块的集成化。另外，生物技术的适应等也存在可能性。

【0118】

(实施方式3)

这里，提供新的非对称测定方法，并对将记录的标记和空白的振幅的中心比规定在规定范围内使光盘装置的互换性稳定化的方法进行说明。

【0119】

非对称是通过最短标记/空白的再现信号振幅的中心(2T振幅中心)和最大数据标记/空白的再现信号振幅的中心(8T振幅中心)之比来规定的。在上述课题中，由于当最短标记的频率处于OTF截止附近或超过时无法检测振幅，从而难以适当地测定最短标记/空白的振幅中心。在本发明中，根据记录线密度来变更测定非对称的基准标记长，并规定记录的标记和空白的长度比。

【0120】

将比OTF截止频率低的频率的标记长、以及最短的标记/空白的振幅中心规定为短标记侧的基准。在25GB/Layer蓝光(Blu-ray)规格中，短标记侧的基准是2T，但在实现33GB/Layer的情况下，变更为以3T为基准。在25GB/Layer中，理想的2T标记长约是0.149[um(微米)]。在33GB/Layer中，理想的3T标记长约是0.169[um]，比25GB/Layer中的2T基准的标记长稍大，但可以检测出大致相同的振幅，可以测定适当的振幅中心。在25GB/Layer中因为是抖动规定的信号品质规定，所以需要将用记录码表现的最短标记的振幅中心以及振幅规定在规定范围内。这是因为2T最短标记的振幅中心以及振幅对抖动指标给与很大的影响。另一方面，当成为最短标记的频率处于OTF截止附近的记录线密度时，在再现系统中必需是PRML信号处理。尤其，在PR12221ML方式中，2T振幅不是重要的，2T的振幅中心值给再现性能带来非常大的影响。2T的振幅中心值受比振幅充分的2T大的T、和发生频度多的3T的影响很大。由此，如果规定为没有规定3T的振幅中心与最大振幅中心之比，则可以确保PR12221ML方式的品质，可以稳定地实现光盘装置的互换性。这里，OTF截止频率附近的频率例如是OTF截止频率的0.9倍～1倍的频率。

【0121】

此外，使用图10B来说明采用了33GB/Layer密度下的3T中心振幅测定的非对称测定方法。根据高密度记录的波形来适当测定3T振幅的中心值是困难的。这是因为，在2T标记以及2T空白邻接的情况下，由于码间干涉，邻接的标记/空白受到很大的影响。因此，检测出利用PRML信号处理将再现信号译码为「0」、「1」的二进制数据后的数据，并进而根据该数据检测出再现信号所包含的3T标记、3T空白、8T标记、8T空白的振幅，由此能够高精度地检测各标记的振幅。图10B示出其检测电路的一例。在图10A的数据记录再现电路906中包含：图10B所示的PRML处理部906a、3T标记振幅检测部906b、3T空白振幅检测部906c、8T标记振幅检测部906d、和8T空白振幅检测部906e。PRML处理部906a根据再现信号实施维特比译码处理，生成「0」、「1」这二进制数据。906b～906e的各标记/空白的振幅检测部根据PRML处理部906a的二进制数据来检测再现信号的规定位置(规定标记长的振幅位置)，在各个部中检测振幅的平均值，并将平均值输出至CPU905。在CPU905中实施求出非对称的计算，求出非对称评价指标值。根据最长标记/空白(8T)、和比OTF截止频率高的最短标记/空白(3T)的再现信号振幅电平来计算非对称评价指标值。在图12中对根据2T振幅和8T振幅计算非对称的方法进行了说明。这里，进行取代2T振幅使用3T振幅的非对称计算。计算方法与式(3)相同。在记录区域的反射率比未记录区域的反射率小的记录介质中，8T空白的振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A8H，8T标记的振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A8L，3T空白的振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A3H，3T标记的振幅电平定义为从基准电平0开始的振幅A3L，非对称评价指标值(ASYM)由下式(5)求出。

【数3】

$\mathrm{ASYM}=\frac{\frac{A8H+A8L}{2}-\frac{A3H+A3L}{2}}{A8H-A8L}$ …式(5)

【0122】

根据该指标值可规定比OTF截止频率高的最短标记/空白(3T)的振幅中心以及最长标记/空白的(8T)的振幅中心相对最长标记/空白的(8T)的全振幅发生多少DC偏移，为了确保记录品质在规定以上，可限制以非对称评价指标值(ASYM)在规定范围内的方式进行记录。例如，设-0.1≤ASYM≤0.1，只要记载在能够利用PRML信号处理来保持再现品质的范围内既可。

【0123】

如上所述，本发明根据记录线密度(通道比特(channel bit)长)来适应性地变更规定记录标记和空白的对称性的指标，本发明说明了在实施方式1以及2中从规定2T振幅中心与8T振幅中心之比的非对称指标值变更为β指标值，在实施方式3中从规定2T振幅中心与8T振幅中心之比的非对称指标值变更为规定3T振幅中心与8T振幅中心之比的非对称指标值的情形。

【0124】

这里，在式(3)及式(5)的说明中，采用记录区域的反射率比未记录区域的反射率小的记录介质(HTL：High to Low)的情况进行了说明。另一方面，在未记录区域的反射率比记录区域的反射率小的记录介质(LTH：Low toHigh)的情况下，振幅电平的关系与HTL的情况相反。即，在LTH盘的情况下，在式(3)(或式(5))中，

振幅A8H可定义为从基准电平0开始的8T标记的振幅电平，

振幅A8L可定义为从基准电平0开始的8T空白的振幅电平，

振幅A2H(或A3H)可定义为从基准电平0开始的2T(或3T)标记的振幅电平，

振幅A2L(或A3L)可定义为从基准电平0开始的2T(或3T)空白的振幅电平。

【0125】

即，所谓非对称即使在HTL或LTH的任意一个中也能够通过xT标记与xT空白的振幅中心、和yT标记与yT空白的振幅中心之间的关系来算出(x，y为满足x＜y的自然数)。在信息记录层中根据规定的调制规则来形成限制为xT～yT长度的记录标记。T是调制的基准周期。

【0126】

这里，在x是与最短标记的长度相当的码长、y是与最长标记的长度相当的码长的情况下，成为规定了最短标记与最短空白的振幅中心、和最长标记与最长空白的振幅中心之比的非对称。另外，在此情况下，次最短标记表示为(x+1)标记，次最短空白表示为(x+1)空白。

【0127】

此外，在x是与次最短标记的长度相当的码长的情况下，成为规定了次最短标记与次最短空白的振幅中心、和最长标记与最长空白的振幅中心之比的非对称。

【0128】

所谓次最短标记是仅比最短标记长的标记。例如，在最短标记长是2T的情况下，次最短标记长是3T。同样，所谓次最短空白是仅比最短空白长的空白。例如，在最短空白长是2T的情况下，次最短空白长是3T。

【0129】

另外，作为式(3)或式(5)的非对称评价指标值(ASYM)的范围，例如是-0.1≤ASYM≤0.1，但其只是一例，不仅限于此。例如，在式(3)或式(5)中，作为非对称评价指标值(ASYM)的范围，可以是-0.10以上。或者可以是+0.15以下。或者还可以是-0.10以上且+0.15以下。

【0130】

根据本实施方式，在信息记录层的记录密度是第1记录密度(例如25GB)的情况下，采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心、以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标，来评价信息记录介质。另外，在信息记录层的记录密度是更高的第2记录密度(例如33GB)的情况下，采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心、以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标，来评价信息记录介质。并且，限制与信息记录层所记录的记录标记对应的再现信号的振幅和与空白对应的再现信号的振幅之比，以使这些值在规定范围内。

【0131】

如上所述，与记录标记对应的再现信号的振幅和与空白对应的再现信号的振幅之比可以被限制为：例如评价指标的值为-0.10以上这样的限制；评价指标的值为+0.15以下这样的限制；和评价指标的值为-0.10以上且+0.15以下这样的限制中的任意1种。

【0132】

此外，在以上实施方式中说明了可记录数据的光盘及与其相对的光盘装置(例如记录器)的例子，非对称评价或β评价等的评价本身不是必须有记录动作，所以可以是预先记录数据的再现专用型光盘及与其相对的光盘装置(播放器、再现ROM盘的记录器等)。

【0133】

另外，这里对记录密度进行说明。

【0134】

图11示出本发明实施方式的光盘1的物理结构。在圆盘状的光盘1中，例如以同心圆状或螺旋状形成大量磁道2，在各磁道2中形成有细致区分的大量扇区(sector)。此外，如后所述，在各磁道2中以预定的尺寸块3为单位来记录数据。

【0135】

本发明实施方式的光盘1与现有光盘(例如25GB的BD)相比，扩展了每一信息记录层的记录容量。通过提高记录线密度来实现记录容量的扩展，例如，可通过进一步缩短光盘所记录的记录标记的标记长来实现。这里，所谓「提高记录线密度」表示缩短通道比特长。所谓该通道比特就是相当于基准时钟的周期T(利用规定的调制规则记录标记时的调制的基准周期T)的长度。

【0136】

此外，光盘1可以是多层化。但以下为了简便说明，而仅言及一个信息记录层。

【0137】

此外，在设置有多个信息记录层的情况下，即使设置于各信息记录层的磁道的幅度相同时，也可以按照每一层使标记长一致地变化，按照每一层使记录线密度不同。

【0138】

磁道2按照数据的每记录单位64kB(千字节)来划分块，且顺次分配块地址值。块被分割成规定长度的子块，由3个子块来构成1块。子块从前到后顺次分配0～2的子块编号。

【0139】

接着，参照图12、图13以及图14来说明记录密度。

【0140】

图12(A)表示25GB的BD的例子。在BD中，激光123的波长是405nm，物镜220的数值孔径(Numerical Aperture；NA)是0.85。

【0141】

DVD也同样，在BD中，记录数据作为物理变化的标记列120、121记录到光盘的磁道2上。在该标记列中，将长度最短的称为「最短标记」。在图中，标记121是最短标记。

【0142】

在25GB记录容量中，最短标记121的物理长度是0.149um。这相当于DVD的约1/2.7，即使改变光学系统的波长参数(405nm)和NA参数(0.85)来提高激光的分辨率，也接近光束可识别记录标记的界限、即光学分辨率的界限。

【0143】

图13示出对磁道上所记录的标记列照射光束的状况。在BD中，通过上述光学系统参数，使光点30成为约0.39um左右。在不改变光学系统的构造使记录线密度提高的情况下，由于对于光点30的点径，记录标记相对较小，因此再现的分辨率变差。

【0144】

例如图12(B)示出比25GB的BD高记录密度的光盘的例子。即使在该盘中，激光123的波长是405nm，物镜220的数值孔径(NumericalAperture；NA)是0.85。在该盘的标记列125、124中，最短标记125的物理长度是0.1115um。当与图12(A)比较时，点径相同约是0.39um，另一方面，记录标记相对小且标记间隔也变得狭窄，因此再现的分辨率变差。

【0145】

利用光束再现了记录标记时的再现信号的振幅随着记录标记变短而降低，在光学分辨率的界限处为零。将该记录标记的周期的倒数称为空间频率，将空间频率与信号振幅的关系称为OTF(Optical Transfer Function)。信号振幅随着空间频率变高而近似直线地降低，将成为零的再现的界限频率称为OTF截止(cutoff)。

【0146】

图14示出25GB记录容量下的OTF与最短记录标记的关系。BD的最短标记的空间频率相对OTF截止是80％左右，接近于OTF截止。另外可知，最短标记的再现信号的振幅也非常小，是可检测的最大振幅的约10％左右。当BD的最短标记成为OTF截止、即成为再现信号振幅几乎是零的记录容量时，在BD中约相当于31GB。当最短标记的再现信号的频率处于OTF截止频率附近或超过该频率的频率时，有时会达到激光分辨率的界限或超过该界限，从而成为再现信号的振幅变小、SN比急剧恶化的区域。

【0147】

因此，假定为图12(B)的高记录密度光盘的记录线密度适合于再现信号的最短标记的频率为OTF截止频率附近的情况(还包括虽然是OTF截止频率以下、但不显著低于OTF截止频率的情况)至为OTF截止频率以上的情况。作为记录容量，在为OTF截止频率附近的情况下，例如假定为约29GB(例如，29GB±0.5GB或29GB±1GB等)，或29GB以上，或约30GB(例如，30GB±0.5GB或30GB±1GB等)，或30GB以上，或约31GB(例如，31GB±0.5GB或31GB±1GB等)，或31GB以上，或约32GB(例如，32GB±0.5GB或32GB±1GB等)，或32GB以上，在为OTF截止频率以上的情况下，例如假定为约32GB(例如，32GB±0.5GB或32GB±1GB等)，或32GB以上，或约33GB(例如，33GB±0.5GB或33GB±1GB等)，或33GB以上，或约33.3GB(例如，33.3GB±0.5GB或33.3GB±1GB等)，或33.3GB以上，或约34GB(例如，34GB±0.5GB或34GB±1GB等)，或34GB以上，或约35GB(例如，35GB±0.5GB或35GB±1GB等)，或35GB以上等。这里，当记录密度为33.3GB时利用3层可实现约100GB(99.9GB)，当为33.4GB时利用3层可实现100GB以上(100.2GB)。虽然这相当于25GB的BD为4层时的记录容量，但在多层化中还伴随有各记录层中的再现信号振幅的降低(SN比的恶化)以及多层杂散光(来自邻接记录层的信号)的影响等。因此，通过成为约33.3GB或其以上的记录密度，可抑制这样的影响，即，利用更少的层数(3层)就能够实现约100GB(～100GB以上)。

【0148】

图15示出最短标记(2T)的空间频率高于OTF截止频率、且2T的再现信号振幅为0的例子。最短比特长的2T空间频率是OTF截止频率的1.12倍。

【0149】

另外，高记录密度的盘B中的波长、数值孔径和标记/空白长的关系如下所述。

【0150】

在将最短标记长设为TMnm、最短空白长设为TSnm时，最短标记长+最短空白长P是TM+TSnm。在17调制的情况下，为P＝2T+2T＝4T。当采用激光波长λ(405nm±5nm，即400～410nm)、数值孔径NA(0.85±0.01即0.84～0.86)、最短标记+最短空白长P这三个参数时，基准T变小直到P≤λ/2NA为止，此时空间频率超过OTF截止频率。

【0151】

与NA＝0.85、λ＝405时的OTF截止频率相当的基准T为：

T＝405/(2×0.85)/4＝59.558nm。

【0152】

此外，相反，在P＞λ/2NA的情况下，空间频率低于OTF截止频率。

【0153】

此外，使最短标记长TM与最短空白长TS相加的长度TM+TS例如不足238.2nm。

【0154】

这样，即使提高了记录线密度，也由于光学分辨率的界限而导致SN比恶化。于是，因信息记录层的多层化而引起的SN比恶化在系统裕量(system margin)的观点下，有时是不能允许的。尤其如上所述，从最短记录标记的频率超过OTF截止频率的附近开始SN比恶化变得显著。

【0155】

以上，比较了最短标记的再现信号的频率和OTF截止频率之后，对记录密度进行了叙述，在进入更高记录密度的情况下，可通过次最短标记(再次最短标记的再现信号的频率，次最短标记以上的记录标记的再现信号的频率)与OTF截止频率之间的关系，根据和以上相同的原理，来设定分别对应的记录密度(记录线密度、记录容量)。

【0156】

接着，参照图16A，对本实施方式中的光盘400的结构进行详细说明。

【0157】

图16A示出光盘400的区域结构。

【0158】

光盘400包含信息记录层。通过在信息记录层中形成记录标记，来在光盘400上记录数据。在光盘400中可同心圆状地形成磁道。

【0159】

光盘400包含：BCA(Burst Cutting Area)区域410、导入区域420、用户区域430、和导出区域440。

【0160】

BCA区域410预先记录有条型码状的信号，并包含依据每一张盘而不同的媒介识别用的固有编号、著作权信息及盘特性信息。在该盘特性信息中含有信息记录层的层数及地址管理方法的识别信息。作为上述盘特性信息例如包含表示信息记录层的层数本身的信息、与许可层数相应的规定的比特信息、关于记录密度的信息。作为关于记录密度的信息例如举出：表示光盘的记录容量的信息、表示通道比特长(记录线密度)的信息。

【0161】

另外，关于该记录密度的信息的存储位置在再现专用型盘的情况下，考虑了BCA区域以及/或记录数据(凹凸坑)的内部(记录为在数据中附加的数据地址)等。在一次写入型或可重写型的可擦写型光盘的情况下，考虑了BCA区域、以及/或PIC区域、以及/或摆动(记录为与摆动重叠的副信息)等。关于记录密度的信息可以是表示信息记录层中的记录容量的信息。另外，关于记录密度的信息可以是表示信息记录层中的通道比特长的信息。关于记录密度的信息例如可记录在BCA区域910或PIC区域921中，当再现关于记录密度的信息时，从这些区域中再现。

【0162】

用户区域430构成为用户可记录任意的数据。在用户区域430中例如记录有用户数据。在用户数据中例如包含音频数据以及图像(视频图像)数据。

【0163】

导入区域420与用户区域430不同，没有构成为用户可记录任意的数据。导入区域420包含：PIC(Permanent Information and Control data)区域421、OPC(Optimum Power Calibration)区域422和INFO区域423。

【0164】

在PIC区域421中含有盘特性信息。在该盘特性信息中记录有如上述所说明的信息记录层的层数、地址管理方法的识别信息、访问参数。访问参数例如是与用于在光盘400中形成/删除多个记录标记的激光功率有关的参数、以及与用于记录多个记录标记的记录脉冲宽度有关的参数。

【0165】

此外，在本实施方式中，在BCA区域410以及PIC区域421的任意一个中都存储有盘特性信息。不过，这只是例子，本发明不仅限于此例。例如可以是BCA区域、PIC区域、记录数据的内部、摆动中、或这些任意2个以上的区域等。此外，如果将相同的盘特性信息分别记录在多个位置，则可以从任意一个中读出。由此能够确保盘特性信息的可靠性。另外，即使盘种类是未知的，也能够通过在光盘装置中将盘特性信息存储在预先定位的这些区域上，来可靠地知晓该盘的信息记录层的层数等。

【0166】

此外，当存在多个信息记录层时，配置有盘特性信息的信息记录层(基准层)例如可以是位于与光头相距最远的位置的层，换言之，可以是位于与激光入射侧的表面(光照射面)相距最远的位置(最深的位置)的层。在比基准层更靠光照射面侧配置的信息记录层与基准层之间设置有中间层。基准层包含存储关于记录密度的信息的区域。

【0167】

另外，为了获得与仅对应于BD的过去机种的互换性，而希望按照记录线密度来变更磁道地址格式，以使上述基准层的盘特性信息与现有的不发生改变。

【0168】

以下，参照图16B来更详细地说明这点。

【0169】

图16B(1)示出现有记录密度的盘A以及更高记录密度的盘B的信息记录层的结构，图16B(2)以及(3)分别示出盘A以及盘B的导入区域420的具体结构。

【0170】

图16B(1)示出某光盘的信息记录层。从内周侧(附图的左侧)开始顺次配置有箝位区域、BCA区域410、导入区域420、用户数据区域430。

【0171】

图16B(2)示出盘A的基准层的导入区域420的具体配置例。PIC区域421从半径位置22.2mm开始具有规定的半径距离A。图16B(3)示出盘B的基准层的导入区域420的具体配置例。PIC区域421从半径位置22.2mm开始具有规定的半径距离B。在此特征点是：盘B的PIC区域421的半径距离B与盘A的PIC区域421的半径距离A相同。

【0172】

在光盘B中单纯提高记录线密度且在PIC区域421中记录信息时，通道比特长变短，因此可以认为与其对应PIC区域421的半径距离B也能够变短。但是，在盘B的PIC区域421内存储对光盘访问重要的信息，PIC区域421需要能够安全地再现。例如，使光头机械地高精度地移动到预定位置上读出PIC区域421的信息的光盘驱动器在PIC区域421的半径距离变短时有可能无法进行再现。为了维持与这样的驱动的下位互换，还优选半径距离B与半径距离A相同。

【0173】

这里，作为使半径距离B与半径距离A相同的方法，例如考虑了以下两个方法。第1种方法是关于盘B的PIC区域，以不是盘B的记录线密度而是与盘A相同的记录线密度进行记录。此时，即使在导入区域内，也有根据区域记录线密度发生变化的情况。第2种方法是以盘B的记录线密度来增加PIC区域所记录的信息的反复记录次数的方法。因为在PIC区域中记录的信息是重要的信息，所以为了确保可靠性而反复进行记录，但在这样的情况下，记录线密度缩小，通过增加反复次数(例如从5次增加至7次)可以保持与现有的半径距离A相等。

【0174】

OPC区域422是用于记录或再现测试数据的区域。在测试数据的记录或再现中，向光盘400访问的光盘装置进行访问参数的调整(例如，记录功率及脉冲宽度等的调整)。

【0175】

在INFO区域423中记录有对于向光盘400访问的装置所需的用户区域430的管理信息及用户区域430的缺陷管理用的数据。

【0176】

图16C示出多层的相变化薄膜盘的结构例。图示的光盘由(n+1)层的信息记录层502构成。当具体说明该构成时，在光盘中从激光505入射侧的表面开始顺次层叠有盖层501、(n+1)片信息记录层(Nn～L0层)502、以及聚碳酸酯基板500。另外，在(n+1)片信息记录层502的层之间插入作为光学缓冲材料工作的中间层503。

【0177】

这里，与基准层邻接的中间层的幅度可以大于其他中间层的幅度。在盘特性信息的识别之前，光盘装置对与上述基准层不同的层进行对焦以及跟踪(tracking)，在读入地址信息的情况下，有时层信息以及块地址信息的配置不同，这样存在对地址位置误判别的可能性。为了避免这个，要确保上述基准层与其他层的中间层大于其他层之间的中间层，这样可防止层判别的误判别。例如从激光方向观察，与BD的2层对应的基准层的L0层构成在约100um深度的位置上，L1层构成在约75um的位置上。在本发明中，为了防止误引入到L1层，可以将构成在L1层以后的接近于激光侧的记录层构成为比75um更靠近激光侧。例如，L1层是70um的位置(但是，当极端增大基准层与L1层之间的中间层的幅度(厚度)时，难以充分地确保L2层以后的中间层的幅度。因此，需要既不误引入到L1层又能够确保其他层的中间层的幅度这样的平衡)。

【0178】

此外，本发明的光盘装置的构成要素可实现为集成电路即LSI。光盘装置具有的构成要素能分别单片化，也能够以包含一部分或全部的方式单片化。

【0179】

这里，将集成电路称为LSI，但根据集成度的不同还可以称为IC、LSI、超级LSI、超LSI。

【0180】

另外，本发明的集成电路不限于LSI，可通过专用电路或通用处理器来实现。在LSI制造后能够利用可编程的FPGA(Field Programmable GateArray)、以及可重新构成LSI内部的电路元件的连接和设定的可重构处理器。

【0181】

此外，如果利用半导体技术进步或派生的其他技术置换LSI的集成电路化技术问世，当然，可以采用这个技术进行功能块的集成化。另外，生物技术的适应等也存在可能性。

【0182】

最后，作为本发明光盘的一例，对BD(蓝光盘)进行简单的补充说明。关于蓝光盘的主要光学常数和物理格式被公开到「蓝光盘读本」(「ブル一レイデイスク読本」)(欧姆公司出版)及蓝光协会的主页(http：//www.blu-raydisc.com/)所记载的白皮书(whitepaper)中。

【0183】

在BD中采用波长405nm(如果将误差范围的容许值设为±5nm则是400～410nm)的激光以及NA＝0.85(如果将误差范围的容许值设为±0.01则是0.84～0.86)的物镜。磁道间距是0.32μm，记录层设有1层或2层。记录层的记录面是从激光入射侧起具有单面1层或单面2层的结构，从BD的保护层表面到记录面的距离是75μm～100μm。记录信号的调制方式利用了17PP调制，被记录的标记的最短标记长(2T标记)是0.149μm(通道比特长：T是74.50nm)。记录容量是单面单层25GB(或27GB)(更详细地说是25.025GB(或27.020GB))或单面2层50GB(或54GB)(更详细地说是50.050GB(或54.040GB))。

【0184】

通道时钟频率在BD标准转送速率(1X)中是66MHz(通道比特速率66.000Mbit/s)，在BD4x的转送速率中是264MHz(通道比特速率264.000Mbit/s)，在BD6x的转送速率中是396MHz(通道比特速率396.000Mbit/s)，在BD8X的转送速率中是528MHz(通道比特速率528.000Mbit/s)。标准线速度(基准线速度，1X)是4.917m/sec。

【0185】

关于保护层(盖层)的厚度，为了抑制伴随着数值孔径提高、焦点距离变短、且由倾斜(tilt)所引起的点失真的影响，而设置相对于DVD的0.6mm更薄的保护层，例如可以将介质的总厚度1.2mm左右中的保护层厚度设为10～200μm(更具体地说，在1.1mm左右的基板上，如果是单层盘则为0.1mm左右的透明保护层，如果是二层盘则是0.075mm左右保护层上0.025mm左右的中间层(SpacerLayer))。如果是三层以上的盘则保护层以及/或中间层的厚度变得更薄。

【0186】

另外，为了防止对这样薄的保护层造成伤害，可以在保持区域(ClampArea)的外侧或内侧设置突起部。尤其在设置到保持区域内侧的情况下，除了可防止对保护层的伤害之外，还由于在盘的中心孔附近部分有突起部，而减轻了由于突起部重量平衡而导致的对旋转轴(马达)的负担，为了使光头能够访问处于保持区域外侧的信息记录区域而在保持区域的内侧设置突起部，由此可以避免突起部与光头的冲突。

【0187】

然后，在设置到保持区域内侧的情况下，例如，外径120mm的盘中的具体位置可以如下地设置。假设在中心孔的直径为15mm、保持区域为直径23mm～33mm的范围内时，在中心孔与保持区域之间、即直径15mm～23mm的范围内设有突起部。此时，可以距中心孔设置某程度的距离(例如，可以与中心孔的边缘端相距0.1mm以上(或/以及0.125mm以下))。另外，可以设置距保持区域某程度的距离(例如，与保持区域的内端相距0.1mm以上(或/以及0.2mm以下))。另外，还可以设置中心孔边缘端与保持区域内端双方相隔某程度的距离(作为具体的位置，例如可以在直径17.5mm～21.0mm的范围内设置突起部)。此外，作为突起部的高度，可考虑难以对保护层造成伤害和易于提起的平衡后来决定，但如果过高也许会发生其他问题，所以例如可设置为从保持区域起0.12mm以下的高度。

【0188】

另外，关于多层层叠的结构，例如，在从保护层侧入射激光来再现以及/或记录信息的单面盘中，当记录层为二层以上时，在基板与保护层之间设置多个记录层，但可以如下地构成在此情况下的多层构造。即，在与光入射面相隔规定距离的最里侧的位置上设置基准层(L0)，以从基准层向光入射面侧增加层的方式进行层叠(L1，L2，…，Ln)，另外，使从光入射面到基准层的距离与从单层盘中的光入射面到记录层的距离相同(例如0.1mm左右)等。这样与层数无关将到达最里层的距离设为恒定，因此可保持关于向基准层访问的互换性，另外虽然最里层最受倾斜的影响，但不用随着层数的增加而增加到达最里层的距离，所以能够抑制伴随层数增加的倾斜影响的增加。通过将先前所述的存储有盘特性信息和其中所包含的关于记录密度的信息的区域至少设置在基准层上，即使读出这些信息也能够保持互换性。

【0189】

另外，关于点的进行方向/再现方向，例如，即可以是在全部层中相同，即在全部层中从内周方向向外周方向、或在全部层中从外周方向向内周方向这样的平行通路，也可以是相反通路(在将基准层(L0)设为从内周侧向外周侧的方向时，L1是从外周侧向内周侧的方向，L2是从内周侧向外周侧的方向，即，Lm(m为0以及偶数)是从内周侧向外周侧的方向，Lm+1是从外周侧向内周侧的方向(或，Lm(m为0以及偶数)是从外周侧向内周侧的方向，Lm+1是从内周侧向外周侧的方向)这样地每当切换层时再现方向相反)。

【0190】

接着，对记录信号的调制方式进行简单叙述。在将数据(原有的源数据(source data)/调制前的二进制数据)记录到记录介质中时，分割为规定的尺寸，并将分割为规定尺寸的数据进一步分割为规定长度的帧，按照每一帧插入规定的同步码(sync.code)/同步码系列(帧同步区域：frame sync.area)。分割成帧的数据被记录为按照与记录介质的记录再现信号特性一致的规定调制规则进行调制的数据码系列(帧数据区域)。

【0191】

这里作为调制规则可以是限制标记长的RLL(Run Length Limited)编码方式等，表述为RLL(d，k)的情况表示在1与1之间出现的0是最小d个、最大k个(d以及k是满足d＜k的自然数)。例如在d＝1、k＝7的情况下，当将T设为调制的基准周期时，成为最短2T、最长8T的记录标记以及空白。另外还可以是在RLL(1，7)调制中进一步增加了以下的[1][2]特征的1-7PP调制。所谓1-7PP的“PP”是Parity preserve/Prohibit Repeated MinimumTransition Length的缩写，[1]最初的P即Parity preserve表示调制前的信源数据比特“1”的个数的奇偶(即Parity)和与其对应的调制后比特图形“1”的个数的奇偶一致，[2]后方的P即Prohibit Repeated Minimum TransitionLength表示限制调制后的记录波形上的最短标记以及空白的反复次数(具体地说，将2T的反复次数限制为最大6次)的结构。

【0192】

另一方面，在插入帧间的同步码/同步码系列中不适用前述的规定调制规则，所以可包含由该调制规则约束的码长以外的图形。该同步码/同步码系列因为决定再现记录的数据时的再现处理定时，所以可包含如下这样的图形。

【0193】

从容易与数据码系列进行识别这样的观点出发，在数据码系列中可包含不出现的图形。例如，是数据码系列所包含的比最长标记/空白长的标记或空白、及该标记与空白的反复。在调制方式是1-7调制的情况下，标记及空白的长度被限制在2T～8T中，所以是比8T长的9T以上的标记或空白、及9T标记/空白的反复等。

【0194】

从容易地进行同步引入等处理的观点出发，可以包含使标记/空白转移较多发生的图形。例如，是数据码系列所包含的标记/空白中的比较短的标记或空白及该标记和空白的反复。在调制方式是1-7调制方式的情况下，是作为最短的2T标记或空白、2T标记/空白的反复、作为次最短的3T的标记或空白、3T标记/空白的反复等。

【0195】

当假设将包含前述的同步码系列和数据码系列的区域称为帧区域、将包含多个(例如31个)该帧区域的单位称为地址单元(Address Unit)时，在某地址单元中，可以将该地址单元的任意帧区域所包含的同步码系列和该任意帧区域以外的帧区域所包含的同步码系列的码间距离设为2以上。这里所谓码间距离表示在对两个码系列进行了比较的情况下，码系列中的不同比特的个数。这样通过将码间距离设为2以上，即使由于再现时的噪声影响等而引起一个读出系列的1比特移动误差，也没有误识别为另一个。另外，可以将位于该地址单元开头的帧区域所包含的同步码系列和位于开头以外的帧区域所包含的同步码系列的码间距离设为2以上，由此，可以容易地识别出是否是开头位置、是否是地址单元的结尾位置。

【0196】

此外，码间距离含有在NRZ记录时NRZ表述了码系列、在NRZI记录时NRZI表述了码系列的码间距离的意思。因此，当采用了RLL调制的记录时，所谓该RLL表示在NRZI的记录波形上限制高电平或低电平信号持续的个数，因此表示NRZI表述中的码间距离是2以上这样的情况。

【0197】

另外，关于向光学的信息记录介质的记录方式，在介质中形成了槽，且形成槽部、槽和槽之间的槽间部，由此具有在槽部记录、在槽间部记录、或在槽部与槽间部双方中记录的各种方式。这里，将在槽部与槽间部中的从光入射面观察为凸部的一侧进行记录的方式称为On-Groove方式，将从光入射面观察为凹部的一侧进行记录的方式称为In-Groove方式。在本发明中，作为记录方式可以是On-Groove方式、In-Groove方式、或许可两方式中任意一种的方式。

【0198】

此外，在许可两方式中任意一种的方式的情况下，该介质为了能够容易地识别是哪种记录方式，可以将表示是On-Groove方式还是In-Groove方式的记录方式识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的记录方式识别信息。在此情况下，可将各层的记录方式识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(L0)或最近的层、或在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的记录方式识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的记录方式识别信息。

【0199】

另外，作为记录记录方式识别信息的区域，有BCA(Burst CuttingArea)、盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，在再现专用区域中磁道间距有时比数据记录区域广)、以及摆动(与摆动重叠着记录)等，可以记录在任意一个区域、任意多个区域或全部区域中。

【0200】

另外，关于摆动的开始方向可以通过On-Groove方式和In-Groove方式来成为相反。即，如果在On-Groove方式中摆动的开始方向是从盘的内周侧开始的情况，则在In-Groove方式中摆动的开始方向从盘的外周侧开始(或，如果是在On-Groove方式中摆动的开始方向是从盘的外周侧开始的情况，则在In-Groove方式中摆动的开始方向是从盘的内周侧开始)。这样，因为以On-Groove方式和In-Groove方式使摆动的开始方向相互相反，所以无论是哪种方式都能够使跟踪的极性相同。这是因为在On-Groove方式中，在从光入射面观察为凸部的一侧进行记录，与此相对在In-Groove方式中，在从光入射面观察为凹部的一侧进行记录，所以假设在两者的槽深度相同时，跟踪极性为相反关系。因此，两者摆动的开始方向也相互相反，由此能够使跟踪极性相同。

【0201】

上述的In/On-Groove方式与在介质中形成槽的可擦写型介质相关，但即使是再现专用型介质也能够适用同样的考虑方法。即在再现专用型介质的情况下，信息以凸点(emboss)/凹凸坑这样的形状进行记录，但作为该坑的形成方式，将从光入射面观察形成为凸部的坑的方式称为On-Pit方式，将从光入射面观察形成为凹部的坑的方式称为In-Pit方式，在本发明中，作为坑的形成方式可以为On-Pit方式、In-Pit方式、或许可两方式中任意一种的方式。

【0202】

另外，在许可两方式中任意一种的方式的情况下，该介质为了能够容易地识别是哪种记录方式，可以将表示是On-Pit方式还是In-Pit方式的坑形成方式识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的坑形成方式识别信息。在此情况下，可将各层的坑形成方式识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(L0)或最近的层、或在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的坑形成方式识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的坑形成方式识别信息。

【0203】

另外，作为记录坑形成方式识别信息的区域，有BCA(Burst CuttingArea)及光盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，磁道间距有时比数据记录区域广)等，可以记录在任意一个区域或两方的区域中。

【0204】

另外，关于光学信息记录介质的记录膜的特性，基于记录部分与未记录部分的反射率的关系有以下的两个特性。即，未记录部分比已记录部分高反射率(High-to-Low)的HtoL特性、和未记录部分比已记录部分低反射率(Low-to-High)的LtoH特性。在本发明中，作为介质的记录膜特性有HtoL、LtoH、或许可任意一方的特性。

【0205】

另外，在许可任意一方的特性的情况下，为了能够容易地识别是哪种记录膜特性，可以将表示是HtoL还是LtoH的记录膜特性识别信息记录到介质中。针对多层介质可记录各层的记录膜特性识别信息。在此情况下，可将各层的记录膜特性识别信息统一记录到基准层(从光入射面看为最远一侧的层(L0)或最近的层、或在启动时被决定为最初访问的层等)，可以在各层上记录仅与该层相关的记录膜特性识别信息，或可以在各层上记录与全部层相关的记录膜特性识别信息。

【0206】

另外，作为记录记录膜特性识别信息的区域，有BCA(Burst CuttingArea)、盘信息区域(处于数据记录区域的内周侧或/以及外周侧、主要存储控制信息的区域，此外，在再现专用区域中磁道间距有时比数据记录区域广)、以及摆动(与摆动重叠着记录)等，可以记录在任意一个区域、任意多个区域或全部区域中。

【0207】

如以上说明，本发明的信息记录介质是具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

【0208】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0209】

在某实施方式中，限制与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的振幅和与空白对应的再现信号的振幅之比，使上述评价指标的值在规定的范围内。

【0210】

在某实施方式中，将与上述记录标记对应的再现信号的振幅和与上述空白对应的再现信号的振幅之比限制成如下的限制中的任意一种：上述评价指标的值为-0.10以上这样的限制；上述评价指标的值为+0.15以下这样的限制；以及上述评价指标的值为-0.10以上且+0.15以下这样的限制。

【0211】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，其包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光，生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0212】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域。

【0213】

在某实施方式中，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息。

【0214】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，上述记录容量是25千兆字节。

【0215】

在某实施方式中，上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的通道比特长的信息。

【0216】

在某实施方式中，上述信息记录层具有BCA区域以及导入区域，上述导入区域包含PIC区域，在上述BCA区域或上述PIC区域中记录上述关于记录密度的信息。

【0217】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含从上述BCA区域或上述PIC区域中再现上述关于记录密度的信息的步骤。

【0218】

在某实施方式中，上述信息记录介质具有：基准层，其是配置在距上述信息记录介质的光照射面最远位置的信息记录层；第1信息记录层，其是比上述基准层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及第1中间层，其是配置在上述基准层与上述第1信息记录层之间的中间层；上述基准层包含存储上述关于记录密度的信息的区域。

【0219】

在某实施方式中，上述信息记录介质还具有：第2信息记录层，其是比上述第1信息记录层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及第2中间层，其是配置在上述第1信息记录层与上述第2信息记录层之间的中间层；上述第1中间层的幅度大于上述第2中间层的幅度。

【0220】

在某实施方式中，上述信息记录层含有同心圆状或螺旋状的磁道，在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

【0221】

在某实施方式中，上述最短标记长TM与最短空白长TS相加的长度TM+TS不足238.2nm。

【0222】

在某实施方式中，上述信息记录层能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，在将上述调制的基准周期设为T时，最短标记长为2T，最短空白长为2T。

【0223】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＞λ÷(2NA)，在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

【0224】

本发明的信息记录介质具有记录信息的信息记录层，其中，在上述信息记录层中按照规定的调制规则，形成被限制为从xT至yT的长度的记录标记(T是上述调制的基准周期，x以及y是满足x＜y的自然数)，采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

【0225】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与xT标记和xT空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0226】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光，生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0227】

在某实施方式中，在上述信息记录层中采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

【0228】

在某实施方式中，能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，上述规定的调制规则是1-7调制规则。

【0229】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率低于OTF截止频率，在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

【0230】

本发明的信息记录介质具有记录信息的信息记录层，其中，在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，在上述信息记录层的记录密度是高于上述第1记录密度的第2记录密度的情况下，采用根据全再现波形的能量中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

【0231】

在某实施方式中，将空间频率与信号振幅的关系定义为OTF，将随着上述空间频率变高而近似直线降低至零的再现的界限定义为OTF截止，在上述信息记录层中所记录的最短标记的空间频率低于OTF截止频率时，采用上述第1评价指标进行评价，在上述信息记录介质中所记录的最短标记的空间频率为OTF截止频率附近或高于OTF截止频率时，采用上述第2评价指标进行评价。

【0232】

在某实施方式中的再现方法用于再现上述信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0233】

在某实施方式中的评价方法，用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其中，在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标来评价上述信息记录介质。

【0234】

在某实施方式中，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

【0235】

在某实施方式中的再现方法用于再现利用上述评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0236】

本发明的评价方法用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其中，在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度时，采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度时，采用根据全再现波形的能量中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

【0237】

在某实施方式中的再现方法用于再现利用上述评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：对上述信息记录层照射光束的步骤；接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

【0238】

另外，本发明某实施方式中的信息记录介质是具有记录信息的区域的光盘介质等信息记录介质。将空间频率与信号振幅的关系定义为OTF，将随着空间频率变高而近似直线降低至零的再现的界限定义为OTF截止。通过根据最短标记与最短空白的振幅中心和最长标记与最长空白的振幅中心之比求出的第1评价指标、以及根据全再现波形的能量中心和最长标记与最长空白的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价信息记录介质。

【0239】

本发明某实施方式的特征是在上述信息记录介质所记录的再现信号的最短标记频率低于OTF截止频率时，采用上述第1评价指标来限制上述信息记录介质所记录的记录标记与空白的振幅比。在上述信息记录介质所记录的再现信号的最短标记频率高于OTF截止频率的情况下，采用上述第2评价指标来限制上述信息记录介质所记录的记录标记与空白的振幅比。

【0240】

本发明某实施方式中的光盘装置是再现光盘介质等信息记录介质所记录的区域的再现信号的光盘装置。将空间频率与信号振幅的关系定义为OTF，将随着空间频率变高而近似直线降低至零的再现的界限定义为OTF截止。光盘装置具有：第1检测单元，其检测根据最短标记与最短空白的振幅中心和最长标记与最长空白的振幅中心之比求出的第1评价指标值；以及第2检测单元，其检测根据全再现波形的能量中心和最长标记与最长空白的振幅中心之比求出的第2评价指标值。

【0241】

在上述信息记录介质所记录的再现信号的最短标记频率低于OTF截止频率时，采用上述第1评价指标值来检测上述信息记录介质所记录的记录标记与空白的振幅比。在上述信息记录介质所记录的再现信号的最短标记频率高于OTF截止频率时，采用上述第2评价指标值来检测上述信息记录介质所记录的记录标记与空白的振幅比。

产业上的可利用性

【0242】

本发明可以在光盘等记录信息介质中提供如下的记录介质，即，在抖动评价指标有用的、最短标记为比OTF截止频率充分低的频率的记录线密度的区域中，将以2T振幅为基准的非对称指标值使用于记录品质的规定内，从而实现稳定。另外，还可以提供如下的记录介质，即，在抖动评价指标不成立且PR12221ML的评价指标有用的、最短标记处于OTF截止频率附近或成为超过该频率的频率的记录线密度的区域内，将以全波形的能量中心为基准的β指标值使用于记录品质的规定中，从而实现稳定。此外，记录品质不仅依赖于与上述非对称指标或β指标值相关的记录功率还非常依赖于记录波形的形状。在与记录波形的形状相关的记录品质的规定中可使用抖动指标值或PR12221ML的评价指标。这样还可以提供如下的光盘介质以及光盘装置，即，为了利用数值来规定记录介质所记录的记录品质，根据该记录线密度采用适当的方法进行规定，由此可实现稳定的记录再现互换。

Claims (31)

1.一种信息记录介质，具有记录信息的信息记录层，其中，

采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

2.根据权利要求1所述的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，

采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，

在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，

采用根据与次最短标记和次最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

3.根据权利要求1所述的信息记录介质，其中，

限制与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的振幅和与空白对应的再现信号的振幅之比，使上述评价指标的值在规定的范围内。

4.根据权利要求3所述的信息记录介质，其中，

将与上述记录标记对应的再现信号的振幅和与上述空白对应的再现信号的振幅之比限制成如下的限制中的任意一种：

上述评价指标的值为-0.10以上这样的限制；

上述评价指标的值为+0.15以下这样的限制；以及

上述评价指标的值为-0.10以上且+0.15以下这样的限制。

5.一种再现方法，用于再现权利要求1所述的信息记录介质，其中该再现方法包含以下步骤：

对上述信息记录层照射光束的步骤；

接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及

根据上述接收到的光，生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

6.根据权利要求1所述的信息记录介质，其中，

上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域。

7.根据权利要求6所述的信息记录介质，其中，

上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息。

8.根据权利要求2所述的信息记录介质，其中，

上述信息记录介质具有存储上述信息记录层的关于记录密度的信息的区域，

上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的记录容量的信息，

在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，上述记录容量是25千兆字节。

9.根据权利要求6所述的信息记录介质，其中，

上述关于记录密度的信息是表示上述信息记录层中的通道比特长的信息。

10.根据权利要求6所述的信息记录介质，其中，

上述信息记录层具有BCA区域以及导入区域，

上述导入区域包含PIC区域，

在上述BCA区域或上述PIC区域中记录上述关于记录密度的信息。

11.一种再现方法，用于再现权利要求10所述的信息记录介质，该再现方法包含从上述BCA区域或上述PIC区域中再现上述关于记录密度的信息的步骤。

12.根据权利要求6所述的信息记录介质，其具有：

基准层，其是配置在距上述信息记录介质的光照射面最远位置的信息记录层；

第1信息记录层，其是比上述基准层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及

第1中间层，其是配置在上述基准层与上述第1信息记录层之间的中间层，

上述基准层包含存储上述关于记录密度的信息的区域。

13.根据权利要求12所述的信息记录介质，其还具有：

第2信息记录层，其是比上述第1信息记录层更靠上述光照射面侧配置的信息记录层；以及

第2中间层，其是配置在上述第1信息记录层与上述第2信息记录层之间的中间层，

上述第1中间层的幅度大于上述第2中间层的幅度。

14.根据权利要求1所述的信息记录介质，其中，

上述信息记录层含有同心圆状或螺旋状的磁道，

在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

15.根据权利要求14所述的信息记录介质，其中，

上述最短标记长TM与最短空白长TS相加的长度TM+TS不足238.2nm。

16.根据权利要求1所述的信息记录介质，其中，

上述信息记录层能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，

在将上述调制的基准周期设为T时，最短标记长为2T，最短空白长为2T。

17.根据权利要求2所述的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，

含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＞λ÷(2NA)，

在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，

含有同心圆状或螺旋状的磁道，且在将照射到上述磁道的激光的波长设为λnm，将使上述激光会聚到上述磁道上的物镜的数值孔径设为NA，将上述磁道上所记录的最短标记长设为TMnm，将最短空白长设为TSnm时，成为(TM+TS)＜λ÷(2NA)。

18.一种信息记录介质，具有记录信息的信息记录层，其中，

在上述信息记录层中按照规定的调制规则，形成被限制为从xT至yT的长度的记录标记，其中，T是上述调制的基准周期，x以及y是满足x＜y的自然数，

采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标进行评价。

19.根据权利要求18所述的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，

采用根据与xT标记和xT空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，

在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，

采用根据与(x+1)T标记和(x+1)T空白对应的再现信号的振幅中心以及与yT标记和yT空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

20.一种再现方法，用于再现权利要求18所述的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：

对上述信息记录层照射光束的步骤；

接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及

根据上述接收到的光，生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

21.根据权利要求18信息记录介质，其中，

在上述信息记录层中采用长度互不相同的多种标记来记录信息，

再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

22.根据权利要求18所述的信息记录介质，其中，

能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，

上述规定的调制规则是1-7调制规则。

23.根据权利要求19所述的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，

采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率低于OTF截止频率，

在上述信息记录层的记录密度是上述第2记录密度的情况下，

采用长度互不相同的多种标记来记录信息，再现了上述多种标记中的至少任意一种时的再现信号的频率即空间频率为OTF截止频率附近、或高于OTF截止频率。

24.一种信息记录介质，具有记录信息的信息记录层，其中，

在上述信息记录层的记录密度是上述第1记录密度的情况下，

采用根据与最短标记和最短空白对应的再现信号的振幅中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标进行评价，

在上述信息记录层的记录密度是高于上述第1记录密度的第2记录密度的情况下，

采用根据全再现波形的能量中心以及与最长标记和最长空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标进行评价。

25.根据权利要求24所述的信息记录介质，其中，

将空间频率与信号振幅的关系定义为OTF，

将随着上述空间频率变高而近似直线降低至零的再现的界限定义为OTF截止，

在上述信息记录层中所记录的最短标记的空间频率低于OTF截止频率时，采用上述第1评价指标进行评价，

在上述信息记录介质中所记录的最短标记的空间频率为OTF截止频率附近或高于OTF截止频率时，采用上述第2评价指标进行评价。

26.一种再现方法，用于再现权利要求24所述的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：

对上述信息记录层照射光束的步骤；

接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及

根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

27.一种评价方法，用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，

采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的评价指标来评价上述信息记录介质。

28.根据权利要求27所述的评价方法，其中，

在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度的情况下，

采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，

在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度的情况下，

采用根据与3T标记和3T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

29.一种再现方法，用于再现利用权利要求27所述的评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：

对上述信息记录层照射光束的步骤；

接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及

根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

30.一种评价方法，用于评价具有记录信息的信息记录层的信息记录介质，其中，

在上述信息记录层中能够记录按照规定的调制规则进行了调制的多种标记，且将上述调制的基准周期设为T的情况下，

在上述信息记录层的记录密度是第1记录密度时，

采用根据与2T标记和2T空白对应的再现信号的振幅中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第1评价指标来评价上述信息记录介质，

在上述信息记录层的记录密度是比上述第1记录密度高的第2记录密度时，

采用根据全再现波形的能量中心以及与8T标记和8T空白对应的再现信号的振幅中心之比求出的第2评价指标来评价上述信息记录介质。

31.一种再现方法，用于再现利用权利要求30所述的评价方法来评价的信息记录介质，该再现方法包含以下步骤：

对上述信息记录层照射光束的步骤；

接收来自上述信息记录层的反射光的步骤；以及

根据上述接收到的光来生成与上述信息记录层中所记录的记录标记对应的再现信号的步骤。

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