CN101592596B - 一种分光光度计的自动光门装置 - Google Patents

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本发明系一种科学分析实验仪器——分光光度计的改良部件结构,特别是涉及分光光度计在使用前需进行自动调“0%τ”和调“100%τ”的校验机构。一种分光光度计的自动光门装置,包括位于样品室(7)旁的接受暗室(4),接受暗室(4)中由光栅的光束射入方向依次设置的双面凸透镜(6)和光电接收器(4),在所述双面凸透镜(6)和光电接收器(4)之间,设置一块可上下移动的永久磁铁(13),在永久磁铁(13)的上方设置电磁线圈(12),永久磁铁(13)下部连接光门(15),光门(15)的下方为定位座(16)。本技术方案使用方便,操作迅速、自动化程度高,准确度强,不失一种有实用价值的分光光度计自动开机校验机构。

Description

一种分光光度计的自动光门装置
(一)技术领域
本发明系一种科学分析实验仪器——分光光度计的改良部件结构,特别是涉及分光光度计在使用前需进行自动调“0%τ”和调“100%τ”的校验机构。
(二)背景技术
公知,分光光度计能在紫外-可见-红外光谱区域内对样品物质作定性和定量分析,是理化实验室常用的光谱分析仪器之一,采用先进的闪耀光栅单色器,具有波长精度高,单色性好,杂散光低等优点,采用微机测量系统,τ-A转换精度高,并有自动调整0%和调整100%,浓度因子设定、浓度直读,并可选择串行数据打印机进行数据打印功能。广泛应用于医药卫生,临床检验,生物化学,石油化工,环境保护,质量控制等部门。手动或自动调整“0”“100”,可直接消除比色皿配对误差。测量读数准确性高,重现性和稳定性佳,有些型号有浓度直读,线性回归,定时打印,GOTOλ以及光谱扫描高级功能等优点。
在现有的分光光度计中,为保证仪器测试的准确性,先要调试满度,再调零后再调试满度,往往需要多次反复操作。在分光光度计中调节仪器暗电流0%T和100%T一般采用以下结构和方式:
在分光光度计的前部位设置一个样品室,样品室大约为15厘米宽和25长呈矩形的一个暗盒,样品室上方设置一块翻盖用于遮挡来自外界的光线,样品室的居中位置通常放置一个与测试光束方向垂直的单个或四个比色皿架空腔,比色皿架空腔内中既可放置待测试的样件的比色皿,也可放置调试校验用的黑体或空缺——什么也不放,测试光源从一侧射入,“经过”比色皿架后,在另一侧一个接受暗室中依次设置双面凸透镜和光电接收器。
由于仪器在调试零或满度时,测试的样品是放置在样品室约15厘米宽的空腔居中位置的一个比色皿架空腔内,黑体样块离发射出的右侧光束位置较远,在工作7厘米以上,而在左侧接受暗室的接受反光镜距离也在7厘米以上,由于光的衍射作用,即使样品室和接受暗室均为黑色,但是由于较长的射出距离和接受距离,终究会出现误差。有时在长距离的阻挡测试中还有“漏光”现象发生,在实际调试使用中,经常是在第一个循环,在比色皿架空腔内不放置任何样品,仪器在此状态将显示值设置为“0”,然后调试满度状态,即将黑体插入比色皿架空腔内,阻挡了光束的穿过,此时计算机将此状态的分光光度计将显示值设置为“100”。但是再校验一遍,拔去黑体,使比色皿架为空状态,照理分光光度计将显示值设置为“0”,然而并非显示“0”,而是围绕“0”范围的一个数值,同样方法再校验“100”,也不再显示“100”,而是在“100”附近的一个数,必须进行多次反复调试才会逐渐逼近直至最终到达“0”和“100”,经长期使用,至少需两次100%T和一次0%T调试。
反复打开、关闭样品室翻盖,插入、抽出黑体样块,既麻烦又耽误时间影响测试工作效率。为此,有技术对此结构方案作了改进,在样品室的外面,针对比色皿架设置连动的拉杆,通过拉动在分光光度计箱体外部的拉杆手柄,可以改变比色皿架在样品室中的位置,在比色皿架一个空腔内预先放置一块黑体,通过拉动拉杆手柄可以实现一侧发出的光栅光束,在一个状态被黑体阻挡,在手柄处于另一状态时又处于“通过”,反复拉动手柄,逐渐逼近直至最终到达分光光度计的在透过率状态下的“0”和“100”。此方案虽然较原先的技术方案有所改进和进步,减少了操作翻、合盖板的动作,加快了高度校验速度,但是仍需多次反复拉动手柄、多次重复测试,仍要花费一定的时间。
总之,为准确的调试好仪器的100%T和0%T,现有技术需要至少调试两次100%T和一次0%T,有时因开机时间较短或操作不熟练会多次对仪器进行100%T和0%T调试,才能满足仪器的准确性,这在仪器操作中是比较烦琐,并且还存在的人为操作失误,有时因样品架定位不正确或样品室漏光而引起调试不准确。
(三)发明内容
本发明的目的,旨在提供一种在关闭样品室的翻盖情况下,不需要拉动拉杆手柄,能简单快速进行自动调零和调满度的机构。
本发明的目的是如此来实现的:
一种分光光度计的自动光门装置,包括位于样品室旁的接受暗室,接受暗室中由光栅的光束射入方向依次设置的双面凸透镜和光电接收器,其特征在于:
在所述双面凸透镜和光电接收器之间,设置一块可上下移动的永久磁铁,在永久磁铁的上方设置电磁线圈,永久磁铁下部连接光门,光门的下方为定位座。
所述电磁线圈由设置在分光光度计箱体上的开关连接电源。
所述光门为遮挡板,在遮挡板上开设通光孔。
采用本技术方案,平时光门和连为一体的永久磁铁因自重处于“下落”位置,使光门位于开启状态,即来自单色器的光线可通过光门上的通光孔直射在光电接收器上。当按下了“分光键”后,计算机自动进行第一次100%T的调整,完成后计算机随即发给电磁线圈电信号后,永久磁性棒2和光门1因右手螺旋定律沿着定位座4整体向上,光门1的遮挡板挡住了来自单色器的光线,计算机给予的电信号一直保持到调整0%T结束为止后,永久磁性棒2和光门1因失去电信号后因自重重新落下而恢复原位,光门打开后,计算机自动进行第两次100%T的调整,整个过程约3秒钟左右。按一个键能自动调零一次和调满度两次的技术本专利称为“分光键”。
本发明有益效果和优点是:本专利的创新点在于减少人为的操作误差和依靠人工重复进行两次调整100%T和一次0%T调整,通过按下“分光键”,完全依靠计算机发出的指令来一次完成仪器自动调整100%T和0%T的动作,使人员操作更简便、更快速。大大地提高了测试样品前调试仪器工作状态的时间。而从样品室外观和其他部位看不出任何的机械结构和装置,完全是安装在光电接收器盒内,其结构精细、微小。同时采用永久性磁棒能克服用铁棒做成的电磁铁充磁后的残磁等失灵现象,用微小的电流来驱动电磁线圈,不会对光电接收器产生干扰。在目前国内外没有此类相似的结构。
光门机构位于接受暗室中的双面凸透镜和光电接收器之间,能距离很近、效果很好地遮挡和透过来自单色器的光束,消除了现有技术长距离遮挡光线而产生衍射引起的测试误差。采用本技术方案,采用一次100%T和一次0%T调试即可满足技术要求,但是利用装置上光门自重的结构和自动控制程序,很方便地实现了两次100%T和一次0%T调试,更提高了调试的准确度。
本技术方案使用方便,操作迅速、自动化程度高,准确度强,不失一种有实用价值的分光光度计自动校验机构。
(四)附图说明
图1是现有技术分光光度计开机校验的机构,样品室翻盖呈打开状态的俯视示意图;
图2是现有技术分光光度计开机校验的机构,样品室翻盖打开,比色皿架空腔内针对光线射入通道的空格内放置校验用黑体的俯视示意图;
图3是本发明一种分光光度计的自动光门装置,箱体的样品室和接受暗室部分为剖视的俯视示意图;
图4是图3的A向视图,光门部件下落,通光孔呈打开状态示意图;
图5是图3的A向视图,光门部件上升,通光孔呈关闭状态示意图。
图中,1是翻盖,2是箱体,3是比色皿架,4是接受暗室,5是光电接收器,6是双面凸透镜,7是样品室,8是手柄,9是操作面板,10是显示板,11是黑体,12是电磁线圈,13是永久磁铁,14是通光孔,15是光门,16是定位座。
(五)具体实施方式
以下以实施例对照附图对本发明作详细说明。
一种分光光度计的自动光门装置,在位于样品室7旁的接受暗室4中,在双面凸透镜6和光电接收器5之间,设置一块可上下移动的永久磁铁13,在永久磁铁13的上方设置电磁线圈12,永久磁铁13下部连接光门15,光门15的下方为定位座16。电磁线圈12由设置在分光光度计箱体2上的“分光键”按钮开关连接电源。光门15为遮挡板,在遮挡板上开设通光孔14。
采用本技术方案,平时光门15和连为一体的永久磁铁13因自重处于“下落”位置,使光门15位于开启状态,来自单色器的光线可通过光门15上的通光孔14直射在光电接收器5上。当按下了“分光键”后,计算机自动进行第一次100%T的调整,完成后计算机随即发给电磁线圈12电信号后,永久磁铁13和光门1因右手螺旋定律沿着定位座16整体向上,光门15的遮挡板挡住了来自单色器的光线,计算机给予的电信号一直保持到调整0%T结束为止后,永久磁铁13和光门15因失去电信号后因自重重新落下而恢复原位,光门15打开后,计算机自动进行第二次100%T的调整,整个过程约3秒钟左右。

Claims (2)

1.一种分光光度计的自动光门装置,包括位于样品室(7)旁的接受暗室(4),接受暗室(4)中由光栅的光束射入方向依次设置的双面凸透镜(6)和光电接收器(4),其特征在于: 
在所述双面凸透镜(6)和光电接收器(4)之间,设置一块可上下移动的永久磁铁(13),在永久磁铁(13)的上方设置电磁线圈(12),永久磁铁(13)下部连接光门(15),光门(15)的下方为定位座(16)。 
2.根据权利要求1所述的自动光门装置,其特征是所述电磁线圈(12)由设置在分光光度计箱体(2)上的开关连接电源。
3. 根据权利要求1所述的自动光门装置,其特征是所述光门(15)为遮挡板,在遮挡板上开设通光孔 (14)。 
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