CN101526574A - 屏蔽缆测试时的接线方法 - Google Patents

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安德鲁
王继飞
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Zhangjiagang Twentsche Cable Co Ltd
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Zhangjiagang Twentsche Cable Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种可提高屏蔽缆结构的稳定性、并可将加载的高频信号产生的反射信号向外排出的屏蔽线测试时的接线方法,其步骤包括:1)首先将所要测试的屏蔽缆两头分别剥去适当长度的外皮,将绞对线的两头露出来,然后将所有绞对线的两头端部分别剥去适当长度的绝缘皮、露出芯线,并分别用热收缩套管将每对绞对线的两头套住、并收紧,然后将所有绞对线两头裸露的芯线分别与测试仪的相应接线端相连,接好之后,分别拉紧屏蔽缆的两头,并将屏蔽缆的两头分别固定住;2)将屏蔽线一头的屏蔽层或/和排流线接地。本发明主要针对的高频屏蔽缆即六类及七类屏蔽数据电缆等。

Description

屏蔽缆测试时的接线方法
技术领域
本发明涉及到线缆测试时的接线方法,尤其涉及到屏蔽缆测试时的接线方法,即:屏蔽缆测试时,如何将屏蔽缆中多根绞对线接到测试仪的相应接线端子上。
背景技术
众所周知,六类及七类屏蔽数据电缆经常用于传输高频信号,在生产过程中,通常采用网络分析仪等测试仪对六类及七类屏蔽数据电缆的高频特性等电气性能进行测试。在测试过程中,首先,将所要测试的屏蔽缆两头分别剥去适当长度(通常为50~60毫米)的外皮,将绞对线的两头露出来,然后,将所有绞对线的两头端部分别剥去适当长度(通常为2~3毫米)的绝缘皮、露出铜芯线,接着将所有绞对线两头裸露的铜芯线分别与测试仪的相应接线端相连;然后对该屏蔽缆进行高频特性等电气性能的测试。由于屏蔽缆的两头处于自然下垂状态,屏蔽缆始终处于不稳定状态,而且加载的高频信号产生的反射信号不能向外排出,严重影响到测得的屏蔽缆的高频特性等性能指标的准确度。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种可提高屏蔽缆结构的稳定性、并可将加载的高频信号产生的反射信号向外排出的屏蔽缆测试时的接线方法。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:屏蔽缆测试时的接线方法,其步骤包括:
1)首先将所要测试的屏蔽缆两头分别剥去适当长度的外皮,将绞对线的两头露出来,然后,将所有绞对线的两头端部分别剥去适当长度的绝缘皮、露出芯线,并分别用热收缩套管将每对绞对线的两头套住、并收紧,然后将所有绞对线两头裸露的芯线分别与测试仪的相应接线端相接,接好之后,分别拉紧屏蔽缆的两头,并将屏蔽缆的两头分别固定住;
2)将屏蔽缆一头的屏蔽层或/和排流线接地。
将屏蔽缆两头的屏蔽层或/和排流线接地。
本发明的有益效果是:采用本发明所述的接线方法,可以保证屏蔽缆两头的绞对线不易变形,提高了屏蔽缆结构的稳定性;并且通过屏蔽层或/和排流线接地,将加载的高频信号产生的反射信号向外排出。这样就提高了测试仪测得的屏蔽缆的高频特性等性能指标的准确度。
附图说明
图1是按照本发明所述的接线方法接线后的结构示意图;
图中:1、网络分析仪,11、接线端,12、接地端,2、立柱,3、横杆,4、锁紧螺栓,5、屏蔽缆,51、外皮,52、屏蔽铝箔层,53、绞对线,54、排流线,6、热收缩套管。
具体实施方式
下面结合图1,详细描述本发明的具体实施方案:
1)首先将所要测试的屏蔽缆5两头分别剥去5~6毫米的外皮51,将绞对线53的两头露出来,然后,将所有绞对线53的两头端部分别剥去2~3毫米的绝缘皮、露出铜芯线,并分别用热收缩套管6将每对绞对线53露出外皮51的两头套住、并收紧,然后将所有绞对线53两头裸露的芯线分别与网络分析仪1的相应接线端11相接,接好之后,分别拉紧屏蔽缆5的两头,并将屏蔽缆5的两头分别固定在由立柱2、横杆3和锁紧螺栓4构成的支撑架上,其具体固定方法为:将屏蔽缆5放入横杆3的夹持口中,然后,拧紧锁紧螺栓4即可;
2)将屏蔽缆5一头的屏蔽铝箔层52或排流线54接地,即将屏蔽铝箔层52或排流线54与接地端12相连接,也可以将屏蔽铝箔层52和排流线54同时接地;当然,还可以将屏蔽缆5另一头的屏蔽铝箔层52或/和排流线54接地。

Claims (2)

1.屏蔽缆测试时的接线方法,其步骤包括:
1)首先将所要测试的屏蔽缆两头分别剥去适当长度的外皮,将绞对线的两头露出来,然后,将所有绞对线的两头端部分别剥去适当长度的绝缘皮、露出芯线,并分别用热收缩套管将每对绞对线的两头套住、并收紧,然后将所有绞对线两头裸露的芯线分别与测试仪的相应接线端相接,接好之后,分别拉紧屏蔽缆的两头,并将屏蔽缆的两头分别固定住;
2)将屏蔽缆一头的屏蔽层或/和排流线接地。
2.如权利要求1所述的接线方法,其特征在于:将屏蔽缆两头的屏蔽层或/和排流线接地。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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