CN101393073A - 偏心测量装置及测量仪器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。本发明还涉及一种包括所述偏心测量装置的测量仪器。

Description

偏心测量装置及测量仪器
技术领域
本发明涉及一种偏心测量装置及包括该偏心测量装置的测量仪器，尤其涉及一种用于测量透镜的偏心度的偏心测量装置及包括该偏心测量装置的测量仪器。
背景技术
近年来，随着多媒体技术的发展，镜头模组的应用范围越来越广，如应用到数码相机、摄像机及带有摄像功能的手机等电子产品中。人们对数码相机、摄像机及带有摄像功能的手机追求小型化的同时，对其拍摄出的物体的影像质量也提出了更高的要求，即希望拍摄物体的影像画面清晰，而镜头模组的成像质量在很大程度上取决于镜头模组中各光学元件的优劣。
镜头模组通常包括透镜、光学滤光片及影像感测器等元件，其中，透镜沿镜筒的中心轴方向依次固定于镜筒内。透镜在装入镜筒之前，需要测量其偏心度以确保透镜的精度及镜头模组的成像质量。透镜包括一用于安装的安装部及一用于透光成像的光学部，通常是对透镜的光学部进行测量以计算透镜的偏心度。Tomas Fischer等人在2006年IEEE系统、仪器及测量技术国际研讨会(Instrumentation and Measurement Technology Conference)上发表的论文A Novel Optical Method of Dimension Measurement of Objects with CircularCross-section中揭示了一种透镜等光学元件的测量方法。
现有技术中，通常采用测量仪器测量透镜的偏心度。测量仪器包括一个测量计及一个偏心测量装置。偏心测量装置包括多个用于承载透镜的承靠元件及多个用于夹持透镜的夹持元件，偏心测量装置设有多个滑槽，根据所测量的透镜的直径大小，承靠元件在滑槽中滑动并与夹持元件相互配合将所测量的透镜固定于偏心测量装置，以测量透镜的偏心度。
然而，当所测量的透镜的直径较小或其安装部宽度较小时，人工操作承靠元件在滑槽中滑动难以精确定位承靠元件以承载透镜。如果承靠元件在滑槽中滑动量过大，承靠元件会遮挡透镜的光学部而导致难以精确测量透镜的偏心度；如果承靠元件在滑槽中滑动量过小，承靠元件难以承载透镜而导致难以测量透镜的偏心度。上述两种情况均造成难以精确测量透镜的偏心度，因此较难保证透镜的精度及镜头模组的成像质量。
发明内容
有鉴于此，提供一种能够精确测量透镜的偏心度的偏心测量装置及包括该偏心测量装置的测量仪器实为必要。
一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其中，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。
一种测量仪器，用于测量光学元件的偏心度，其包括：一个测量计，及一个偏心测量装置，所述测量计包括一个平台，所述偏心测量装置设置于所述平台上，所述偏心测量装置包括一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其中，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。
相对于现有技术，由于所述偏心测量装置及测量仪器包括一个用于承载待测量的透镜的载盘，当所测量的透镜的直径较小或其安装部宽度较小时，只需要人工操作所述承靠元件在所述滑槽中滑动以定位所述承靠元件，从而承载所述载盘，再将所述透镜放置于所述载盘上，进而精确测量所述透镜的偏心度，以确保所述透镜的精度及镜头模组的成像质量。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种测量仪器的立体图。
图2为图1所示的测量装置的偏心测量装置的立体图。
图3为图2中沿线III-III所示方向的剖视图。
图4为图3中IV部分的放大图。
图5为本发明实施例提供的偏心测量装置的第二种载盘的剖视图。
图6为本发明实施例提供的偏心测量装置的第三种载盘的俯视图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1，图1为本发明实施例提供的一种测量仪器10，其用于测量透镜101(如图4所示)的偏心度，其包括：一个测量计200及一个偏心测量装置100。
所述测量计200包括一个平台210，一个探针220，及一个处理器(图未示)。所述偏心测量装置100设置于所述平台210上。所述探针220与所述处理器电连接。所述探针220用于测量所述透镜101的参数，并将所测量的参数信息转换为数字信号传递至所述处理器，所述处理器接收所述数字信号并计算结果。
请参阅图2至图4，所述偏心测量装置100包括一个基台110，三个承靠元件120，三个用于夹持所述透镜101的夹持元件130，及一个用于承载所述透镜101的载盘140。
所述偏心测量装置100进一步包括三个设置于所述基台110上的调整元件150，及三个固定于所述基台110上的基准元件160。所述调整元件150用于调整所述偏心测量装置100于所述测量计200的平台210上的高度及倾斜度。所述探针220测量所述基准元件160的基准面的参数及所述透镜101的上表面1013、下表面1014的参数，并将上述参数信息转换为数字信号传递至所述处理器，所述处理器将所述基准面的参数信息与所述上表面1013的参数信息以及所述下表面1014的参数信息进行对比分析，从而计算得到所述透镜101的偏心度。
所述承靠元件120设有一承靠部122。所述承靠部122用于承靠所述载盘140。
所述夹持元件130设有一安装部131及一夹爪132。所述夹爪132通过螺栓固定于所述安装部131，所述夹爪132用于夹持所述透镜101。
所述载盘140设有一通孔141及一用于承载所述透镜101的承载部142。所述承载部142承载于所述承靠元件120的承靠部122。所述通孔141允许所述探针220通过来对所述透镜101的用于透光成像的光学部1011进行测量。为实现精确测量所述透镜101的偏心度，所述通孔141的宽度W1大于所述透镜101的光学部1011的宽度W2。相应地，所述通孔141的宽度W1应小于所述透镜101的宽度W3，以实现所述承载部142能够承载所述透镜101而避免所述透镜101从所述通孔141中掉落。
所述载盘也可以为其他结构的载盘，图5显示了第二种载盘340。所述载盘340设有一用于收容所述透镜101的容置部343。所述容置部343的中心与所述通孔341的中心对齐且所述容置部343的宽度W4与所述透镜101的宽度W3相等，以确保所述透镜101的中心与所述通孔341的中心对齐，从而实现对所述透镜101的光学部1011的全方位测量。
图6显示了第三种载盘440。所述载盘440的通孔441的内壁4411沿其径向方向延伸出四个凹槽443，所述四个凹槽443沿圆周方向等间距排布，所述四个凹槽443贯穿于所述载盘440。当将所述透镜101放置于所述载盘440上进行测量，由于人为等因素所述透镜101的中心与所述通孔441的中心没有对齐，使得所述透镜101的光学部1011被所述载盘440的承载部442遮挡时，可以通过所述四个凹槽443对所述透镜101的光学部1011进行测量，从而实现精确测量所述透镜101的偏心度。优选地，所述四个凹槽443中每两个相对的凹槽的侧壁之间的宽度W5大于所述透镜101的宽度W3，以实现对所述透镜101的全方位测量。
由于所述偏心测量装置100及测量仪器10包括一个用于承载待测量的透镜101的载盘。当所测量的透镜101的直径较小或其安装部1012的宽度较小时，只需要人工操作所述承靠元件120在滑槽中滑动以定位所述承靠元件120，从而承载所述载盘，再将所述透镜101放置于所述载盘上，进而精确测量所述透镜101的偏心度，以确保所述透镜101的精度及镜头模组的成像质量。
另外，本领域技术人员还可以在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (10)

  1. 【权利要求1】一种偏心测量装置，用于测量光学元件的偏心度，包括：一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其特征在于，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。
  2. 【权利要求2】如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述通孔的宽度大于所述光学元件的光学部的宽度且小于所述光学元件的宽度。
  3. 【权利要求3】如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述通孔的内壁沿其径向方向延伸出四个凹槽，所述四个凹槽沿圆周方向等间距排布。
  4. 【权利要求4】如权利要求3所述的偏心测量装置，其特征在于，所述四个凹槽中每两个相对的凹槽的侧壁之间的宽度大于所述光学元件的宽度。
  5. 【权利要求5】如权利要求1所述的偏心测量装置，其特征在于，所述载盘设有一用于收容所述光学元件的容置部。
  6. 【权利要求6】如权利要求5所述的偏心测量装置，其特征在于，所述容置部的中心与所述通孔的中心对齐且所述容置部的宽度与所述光学元件的宽度相等。
  7. 【权利要求7】一种测量仪器，用于测量光学元件的偏心度，其包括：一个测量计，及一个偏心测量装置，所述测量计包括一个平台，所述偏心测量装置设置于所述平台上，所述偏心测量装置包括一个基台，至少两个承靠元件，及至少两个用于夹持所述光学元件的夹持元件，所述承靠元件及夹持元件可移动地设置于所述基台上，其特征在于，所述偏心测量装置进一步包括一个用于承载所述光学元件的载盘，所述载盘承靠于所述至少两个承靠元件上，所述载盘设有一通孔，所述通孔允许对所述光学元件的用于透光成像的光学部进行测量。
  8. 【权利要求8】如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述通孔的宽度大于所述光学元件的光学部的宽度且小于所述光学元件的宽度。
  9. 【权利要求9】如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述通孔的内壁沿其径向方向延伸出四个凹槽，所述四个凹槽沿圆周方向等间距排布。
  10. 【权利要求10】如权利要求7所述的测量仪器，其特征在于，所述载盘设有一用于收容所述光学元件的容置部。
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