CN101320068A - 基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备 - Google Patents
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Abstract
基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，采用由片式压敏电阻的静电脉冲形成电路、静电脉冲控制电路、测量夹具、测试电路及计算机管理系统。能够对片式压敏电阻进行0－30kV的单次、规定频率0－50Hz和连续等模式的上升时间为1～2ns的静电放电试验，可以设置放电电压、放电频率、放电次数以及选择试验模式等多项功能。采用鼠笼式快速电流传感器和示波器与工业控制计算机组成的自动测试系统，并采用可视化化的编程环境(如LabView，VB，VC等)，完成片式压敏电阻静电放电试验的数据管理、波形存储于分析、数据查询及报表输出等多项功能。
Description
技术领域
本发明属于片式压敏电阻电气性能测试装置，特别涉及一种基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备。
背景技术
随着科学技术的发展和人类社会的进步，高分子材料、微电子器件和电爆装置广泛应用于各个领域，静电放电电流造成的危害日益受到人们的关注。纳秒级静电放电(ESD，ElectroStatic Discharg)不仅可以造成电爆装置和易燃、易爆气体意外的燃烧、爆炸，而且可以使电子设备受到干扰，造成意外事故。静电放电曾使机毁人亡、火箭发射失败、卫星出现故障。纳秒级静电放电电流还使人体遭受电击引发二次危害。为此，纳秒级静电放电电流防护工程的研究已成为工业发达国家十分重视的一个研究领域。
欧洲从1996年就开始对电子设备抗静电冲击的能力制订了标准，未达标的产品在欧洲很难销售。半导体芯片制造商对ESD问题也倾注了很高的热情。我国自改革开放以来，对有关行业发生的静电危害进行了深入的调查分析，开展了大量的研究工作。在静电防护理论与技术研究方面，在静电防护设施和防静电产品研制、生产方面以及静电检测与静电安全管理方面都取得了较大的进展。
片式电感、片式压敏电阻等是新型的电子元器件，主要用于通讯、计算机、汽车电子及消费类电子产品领域。IEC61000-4-2《静电放电抗扰度试验》是IEC1995年颁布的国际标准，是IEC61000-4-X系列标准《试验和测量技术》中的一个部分。由于该标准使用面广、涉及面宽，所以深受各界的重视。根据IEC61000-4-2等同制定的我国国家标准GB/T17626.2-1998《静电放电抗扰度试验》也已问世，并被越来越多的标准所引。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高效率的、高可靠性的且能够在大生产中使用的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备。
为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：包括计算机管理系统以及由计算机管理系统控制的纳秒级静电放电电流测试设备的控制电路和纳秒级静电放电电流测试设备电流检测电路，纳秒级静电放电控制电路与纳秒级静电电流形成电路相连，表面贴装压敏电阻分别与纳秒级静电放电电流形成电路及纳秒级静电放电试验电流检测电路相连；
所说的纳秒级静电放电电流形成电路包括高频充电电源以及与高频充电电源相连接的储能电容和形成电阻，储能电容通过形成电阻与表面贴装压敏电阻相连，且在储能电容与表面贴装压敏电阻之间还连接有电流传感器，该电流传感器与纳秒级静电放电试验电流检测电路相连。
本发明的高频充电电源包括可调直流电压、电压功率放大器、占空比可调整的集成电路MAX038、无触点电力电子开关、高频变压器和高频整流元件，可调直流电压的一输出端与电压功率放大器的基极连接，可调直流电压的另一输出端与无触点电力电子开关的发射极相连。电压功率放大器的发射极与无触点电力电子开关的集电极相连，该无触点电力电子开关的基极控制无触点电力电子开关的通断状态，且由频率、占空比可调整的集成电路MAX038控制，无触点电力电子开关K按照集成电路MAX038输出的控制脉冲的频率工作，在高频变压器T的输入端得到幅值140V的高频脉冲电压，其频率由集成电路MAX038输出的控制脉冲的频率决定，高频变压器T的高压输出端连接高频整流元件D的一端，高频整流元件D的另一端输出高频充电电源高压端，高频充电电源低压端由高频变压器T的低压端输出；可调直流电流包括一个12V/50W的开关直流电源DC和与该开关直流电源相连接的可调电阻W1构成；储能电容的高、低压端分别连接于高频充电电源的高、低压端，储能电容的高压端和形成电阻的一端连接，形成电阻的另一端与高压真空开关K1的常开端连接，高压真空开关K1的动触点与被测试的表面贴装压敏电阻的一端相连，储能电容的低压端与电流传感器的一端相连，电流传感器的另一端连接被测试的片式压敏电阻的另一端，电流传感器与被测试的表面贴装压敏电阻的连接点接地；纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压包括与计算机管理系统相连接的微型计算机，以及与微型计算机的输出端相连接D/A集成电路，D/A集成电路的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源的电压功率放大器的基极和无触点电力电子开关的发射极相连接；纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压也可以由包括与计算机管理系统相连接的工业控制计算机，以及与工业控制计算机的输出端相连接D/A采集卡组成，D/A采集卡的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源的电压功率放大器的基极和无触点电力电子开关的发射极相连接；储能电容、波形形成电阻、电流传感器采用同轴结构连接设置在绝缘管内，且电流传感器为一鼠笼式结构，在储能电容与波形形成电阻的平面连接端引出充电连接端，充电连接端与高频充电电源的高压端相连，高频充电电源6的低压端与储能电容与电流传感器的连接端相连接，电流传感器的另一端为参考接地端，被试的表面贴装压敏电阻接在波形形成电阻和参考接地端之间；电流传感器包括若干组环形焊接在两个圆盘开金属电极上的无感电阻，且在无感电阻采用绝缘管或金属屏蔽外壳封装。
本发明采用由表面贴装压敏电阻的纳秒级静电放电电流形成电路、脉冲控制电路、测试电路及计算机管理系统。能够对表面贴装压敏电阻进行0～30kV的单次、放电频率为0～50Hz和连续等模式的上升时间为1～2ns的纳秒级静电放电电流试验，可以设置放电电压、放电频率、放电次数以及选择试验模式等多项功能。采用鼠笼式快速电流传感器和示波器与工业控制计算机组成的自动测试系统，完成表面贴装压敏电阻的纳秒级静电放电电流测试设备的数据管理、波形存储于分析、数据查询及报表输出等多项功能。
附图说明
图1是本发明的结构框图；
图2是本发明纳秒级静电放电电流测试设备的纳秒级脉冲放电电流形成电路4的结构框图；
图3是本发明纳秒级静电放电电流形成电路的高频充电电源的结构图；
图4是发明高频充电电源的可调直流电源的结构示意图；
图5是本发明高频充电电源的可调直流电源的另外两种结构示意图；
图6是本发明纳秒级脉冲放电电流形成电路4的放电回路的电路图；
图7是本发明纳秒级脉冲放电电流形成电路4的放电回路的结构示意图；
图8是本发明纳秒级静电放电电流测试设备的电流传感器的结构示意图；
图9是本发明纳秒级静电放电电流测试设备的控制系统图；
图10是本发明纳秒级静电放电电流测试设备的控制流程图。
具体实施方案
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作进一步详细说明。
参见图1，本发明包括计算机管理系统1以及由计算机管理系统1控制的纳秒级静电放电电流测试设备的放电控制电路2和纳秒级静电放电电流测试设备的电流检测电路3，放电控制电路2与纳秒级静电放电电流测试设备的放电电流形成电路4相连，表面贴装压敏电阻5分别与纳秒级静电放电电流测试设备的放电电流形成电路4及纳秒级静电放电电流测试设备的电流检测电路3相连。
参见图2，本发明的纳秒级静电放电电流测试设备的放电电流形成电路4包括纳秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源6以及与高频充电电源6相连接的储能电容7和形成电阻8组成的纳秒级静电放电电流测试设备的放电回路组成，储能电容7通过形成电阻8与表面贴装压敏电阻5相连，且在储能电容7与表面贴装压敏电阻5之间还连接有电流传感器9，该电流传感器9与纳秒级静电放电电流测试设备的电流检测电路3相连。
参见图3，本发明的纳秒级静电放电测试设备的高频充电电源6包括可调直流电压10、电压功率放大器11、占空比可调整的集成电路MAX038(12)、无触点电力电子开关13、高频变压器14和高频整流元件15组成。可调直流电压10的一输出端与电压功率放大器11的基极连接，可调直流电压10的另一输出端与无触点电力电子开关13的发射极相连。电压功率放大器11的发射极与无触点电力电子开关13的集电极相连，该无触点电力电子开关13的基极控制无触点电力电子开关13的通断状态，且由频率、占空比可调整的集成电路MAX038(12)控制。无触点电力电子开关K(13)按照集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率工作，在高频变压器T(14)的输入端得到幅值140V的高频脉冲电压，其频率由集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率决定。高频变压器T(14)的高压输出端连接高频整流元件D(15)的一端，高频整流元件D(15)的另一端输出高频充电电源高压端，高频充电电源低压端由高频变压器T(14)的低压端输出。
参见图4，本发明的可调直流电压10包括一个12V/50W的开关直流电源DC和与该开关直流电源相连接的电阻R和可调电阻W1构成，直流电压的幅值由12V/50W的开关直流电源DC和可调电阻W1手动手动调节，当可调电阻的阻值W1从零增加到最大值时，由可调电阻W1两端输出到电压和功率放大电路的电压由零变化到10V，在电压和功率放大器11的输出端输出140V的直流电压。
参见图5(a)，本发明的纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压10包括与计算机管理系统1相连接的微型计算机16，以及与微型计算机16的输出端相连接D/A集成电路17，D/A集成电路17的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源6的电压功率放大器11的基极和无触点电力电子开关13的发射极相连接。
参见图5(b)，本发明的纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压10也可以由包括与计算机管理系统1相连接的工业控制计算机18，以及与工业控制计算机18的输出端相连接D/A采集卡19组成，D/A采集卡19的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源6的电压功率放大器11的基极和无触点电力电子开关13的发射极相连接。
参见图4、图5(a)和图5(b)，本发明可调直流电压10的幅值可以由开关直流电源DC和与该开关直流电源相连接的电阻R和可调电阻W1，手动调节，当调节可调电阻W1使可调电阻W1两端的输出电压为10V时，在电压和功率放大电路的输出端将输出140V的直流电压；或者采用微型计算机与D/A集成电路或工业控制计算机与D/A采集卡自动调节可调直流电压10的输出电压，当微型计算机控制D/A集成电路使D/A集成电路输出的电压从零增加到10V时，在电压和功率放大电路的输出端将输出140V的直流电压；或者工业控制计算机控制D/A采集卡使D/A采集卡输出的电压从零增加到10V时，在电压和功率放大器11的输出端将输出140V的直流电压。无触点电力电子开关K同样按照集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率工作，在高频变压器T(14)的输入端得到幅值140V的高频脉冲电压，其频率由集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率决定。高频变压器T(14)的高压输出端连接高频整流元件D(15)的一端，高频整流元件D(15)的另一端输出高频充电电源高压端，高频充电电源低压端由高频变压器T(14)的低压端输出。高频变压器输出高频电压的幅值高达30kV。
参见图6，本发明的储能电容7的高、低压端分别连接于高频充电电源6的高、低压端，储能电容7的高压端和形成电阻8的一端连接，形成电阻8的另一端与高压真空开关K1的常开端连接，高压真空开关K1的动触点与被测试的片式压敏电阻5的一端相连，储能电容7的低压端与电流传感器9的一端相连，电流传感器9的另一端连接被测试的片式压敏电阻5的另一端，电流传感器9与被测试的片式压敏电阻5的连接点接地。高压真空开关K1的线圈由控制电路控制。
参见图7，本发明的储能电容7、波形形成电阻8、电流传感器9采用同轴结构连接设置在绝缘管20内，且电流传感器9为一鼠笼式结构，在储能电容7与波形形成电阻8的平面连接端引出充电连接端21，充电连接端21与高频充电电源6的高压端相连，高频充电电源6的低压端与储能电容与电流传感器9的连接端22相连接，电流传感器9的另一端为参考接地端23。被试的表面贴装压敏电阻5接在波形形成电阻8和参考接地端23之间。
参见图8，本发明的电流传感器9包括若干组环形焊接在两个圆盘开金属电极24、25上的无感电阻26，无感电阻的阻值和数量由片式压敏电阻静电试验系统的要求而定，如需要一5Ω的静电放电电流检测传感器，并选用50Ω的无感电阻制作，则所需的无感电阻的数量就为10。考虑到静电放电具有1-2纳秒上升陡度的特性，纳秒级静电放电电流检测传感器Rs的电阻值不能选得太小，否则测得的纳秒级静电放电电流高频振荡干扰信号很大，根本无法分辨通过表面贴装压敏电阻Zr的纳秒级静电放电电流信号。且在无感电阻26采用绝缘管或金属屏蔽外壳27封装。
参见图9，本发明的基于表面贴装压敏电阻片的纳秒级静电放电电流测试设备的控制电路2包括人机交互触摸屏和控制执行单元可编程控制器。触摸屏进行预设放电电压、单次/连续以及放电频率、放电次数等试验参数的设定。可编程控制器通过串行口接收触摸屏的设定参数，进行设定参数下片式压敏电阻静电放电试验试验流程的时序控制。可编程控制器输出的控制脉冲控制高频充电电源向纳秒级静电放电电流形成回路的储能元件C的充电时刻，以及通过对形成回路中放电开关K1的通/断状态，从而控制纳秒级静电放电电流形成回路对表面贴装压敏电阻的放电以及试验数据和试验波形的在线显示、存储、查询及报表输出。
参见图10，本发明的基于表面贴装压敏电阻片的纳秒级静电放电电流测试设备的的手动调整预设放电电压的控制电路的工作流程是：在触摸屏人机交互界面上，选择单次/连续放电模式，并设定放电的频率(放电频率为仁50Hz)和放电次数。手动调节可调电阻W1，将预设放电电压调整至规定值，按下触摸屏上的启动按钮，可编程控制器控制高频充电电源的变压器T输出与可调电阻W1预设的放电电压相一致的高频电压，且该高频电压经过高频整流管D向储能电容C充电，当储能电容C上的充电电压达到预设的放电电压时，储能电容C在可编程控制器控制下自动向波形形成电阻R、电流传感器以及表面贴装压敏电阻放电，若选择的是单次放电，则一次放电后，可编程控制器控制工业控制计算机读取示波器采集的由电流传感器测得的电流波形数据，并对波形进行处理、存储等，试验结束；若选择的是连续放电，则当储能电容C上的充电电压达到预设的放电电压时，储能电容C在可编程控制器控制下自动向波形形成电阻R、电流传感器以及表面贴装压敏电阻放电，放电的频率按照预先设定的放电频率，当放电次数达到预先设定的放电总次数时，可编程控制器控制工业控制计算机读取示波器采集的由电流传感器测得的电流波形数据，并对波形进行处理、存储等，试验结束。
参见图10，本发明的基于表面贴装压敏电阻片的纳秒级静电放电电流测试设备的的自动调整静电放电电压的控制电路的工作流程是：在触摸屏人机交互界面上，选择单次/连续放电模式，并设定放电的频率(放电频率为1-50Hz)和放电次数。在触摸屏上预设放电电压值，按下触摸屏上的启动按钮，微型计算机控制D/A集成电路输出或由工业控制计算机和D/A数模转换卡控制输出，其控制输出的高压值和预设放电电压相对应的模拟量值，那么高频充电电源的变压器T输出端则输出相对应的高频电压，且该高频电压输出经过高频整流管D向储能电容C充电，当储能电容C上的充电电压达到预设的放电电压时，储能电容C在可编程控制器控制下自动向波形形成电阻R、电流传感器以及表面贴装压敏电阻放电，若选择的是单次放电，则一次放电后，可编程控制器控制工业控制计算机读取示波器采集的由电流传感器测得的电流波形数据，并对波形进行处理、存储等，试验结束；若选择的是连续放电，则当储能电容C上的充电电压达到预设的放电电压时，储能电容C在可编程控制器控制下自动向波形形成电阻R、电流传感器以及表面贴装压敏电阻放电，放电的频率按照预先设定的放电频率，当放电次数达到预先设定的放电总次数时，可编程控制器控制工业控制计算机读取示波器采集的由电流传感器测得的电流波形数据，并对波形进行处理、存储等，试验结束。基于表面贴装压敏电阻片的纳秒级静电放电电流测试设备的的管理软件采用可视化化的编程环境，如LabView，VB，VC等语言编写。
参见图10，上述的微型计算机控制D/A集成电路控制高频变压器输出高频电压的自动控制方法也可以由工业控制计算机和D/A数模转换卡来实现，过程同上。
本发明的基于表面贴装压敏电阻片的纳秒级静电放电电流测试设备的采用由表面贴装压敏电阻的纳秒级静电放电电流形成电路、控制电路、测试电路及计算机管理系统。能够对表面贴装压敏电阻进行0-30kV的单次/连续等模式的上升时间为1-2ns的纳秒级静电放电电流试验，可以设置放电电压、放电频率(0-50Hz)、放电次数以及选择试验模式等多项功能。采用鼠笼式快速响应电流传感器和示波器与工业控制计算机组成的自动测试系统，并采用可视化化的编程环境(如LabView，VB，VC等)，完成表面贴装压敏电阻纳秒级静电放电电流试验的数据管理、波形存储于分析、数据查询及报表输出等多项功能。
Claims (8)
1、基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：包括计算机管理系统(1)以及由计算机管理系统(1)控制的纳秒级静电放电电流测试设备的控制电路(2)和纳秒级静电放电电流测试设备电流检测电路(3)，纳秒级静电放电控制电路(2)与纳秒级静电电流形成电路(4)相连，表面贴装压敏电阻(5)分别与纳秒级静电放电电流形成电路(4)及纳秒级静电放电试验电流检测电路(3)相连；
所说的纳秒级静电放电电流形成电路(4)包括高频充电电源(6)以及与高频充电电源(6)相连接的储能电容(7)和形成电阻(8)，储能电容(7)通过形成电阻(8)与表面贴装压敏电阻(5)相连，且在储能电容(7)与表面贴装压敏电阻(5)之间还连接有电流传感器(9)，该电流传感器(9)与纳秒级静电放电试验电流检测电路(3)相连。
2、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的高频充电电源(6)包括可调直流电压(10)、电压功率放大器(11)、占空比可调整的集成电路MAX038(12)、无触点电力电子开关(13)、高频变压器(14)和高频整流元件(15)，可调直流电压(10)的一输出端与电压功率放大器(11)的基极连接，可调直流电压(10)的另一输出端与无触点电力电子开关(13)的发射极相连，电压功率放大器(11)的发射极与无触点电力电子开关(13)的集电极相连，该无触点电力电子开关13的基极控制无触点电力电子开关(13)的通断状态，且由频率、占空比可调整的集成电路MAX038(12)控制，无触点电力电子开关K(13)按照集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率工作，在高频变压器T(14)的输入端得到幅值140V的高频脉冲电压，其频率由集成电路MAX038(12)输出的控制脉冲的频率决定，高频变压器T(14)的高压输出端连接高频整流元件D(15)的一端，高频整流元件D(15)的另一端输出高频充电电源高压端，高频充电电源低压端由高频变压器T(14)的低压端输出。
3、根据权利要求2所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的可调直流电流(10)包括一个12V/50W的开关直流电源DC和与该开关直流电源相连接的可调电阻W1构成。
4、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的储能电容(7)的高、低压端分别连接于高频充电电源(6)的高、低压端，储能电容(7)的高压端和形成电阻(8)的一端连接，形成电阻(8)的另一端与高压真空开关K1的常开端连接，高压真空开关K1的动触点与被测试的表面贴装压敏电阻(5)的一端相连，储能电容(7)的低压端与电流传感器(9)的一端相连，电流传感器(9)的另一端连接被测试的片式压敏电阻(5)的另一端，电流传感器(9)与被测试的表面贴装压敏电阻(5)的连接点接地。
5、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压(10)包括与计算机管理系统(1)相连接的微型计算机(16)，以及与微型计算机(16)的输出端相连接D/A集成电路(17)，D/A集成电路(17)的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源(6)的电压功率放大器(11)的基极和无触点电力电子开关(13)的发射极相连接。
6、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的纳秒级静电放电电流测试设备的自动可调直流电压(10)也可以由包括与计算机管理系统(1)相连接的工业控制计算机(18)，以及与工业控制计算机(18)的输出端相连接D/A采集卡(19)组成，D/A采集卡(19)的输出端分别与秒级静电放电电流测试设备的高频充电电源(6)的电压功率放大器(11)的基极和无触点电力电子开关(13)的发射极相连接。
7、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的储能电容(7)、波形形成电阻(8)、电流传感器(9)采用同轴结构连接设置在绝缘管(20)内，且电流传感器(9)为一鼠笼式结构，在储能电容(7)与波形形成电阻(8)的平面连接端引出充电连接端(21)，充电连接端(21)与高频充电电源(6)的高压端相连，高频充电电源(6)的低压端与储能电容与电流传感器(9)的连接端(22)相连接，电流传感器(9)的另一端为参考接地端(23)，被试的表面贴装压敏电阻(5)接在波形形成电阻(8)和参考接地端(23)之间。
8、根据权利要求1所述的基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，其特征在于：所说的电流传感器(9)包括若干组环形焊接在两个圆盘开金属电极(24、25)上的无感电阻(26)，且在无感电阻(26)采用绝缘管或金属屏蔽外壳(27)封装。
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Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102628887A (zh) * | 2012-04-13 | 2012-08-08 | 华中科技大学 | 高压电极放电电流传感器 |
| CN102654530A (zh) * | 2012-04-23 | 2012-09-05 | 华中科技大学 | 一种高压电极放电电流测量装置 |
| CN102854413A (zh) * | 2012-07-02 | 2013-01-02 | 西安理工大学 | 一种压敏电阻超快电脉冲响应的测试装置及测试方法 |
| CN103983869A (zh) * | 2014-05-08 | 2014-08-13 | 西安交通大学 | 一种纳秒-微秒级可调空间介质静电放电模拟源 |
| CN104502823A (zh) * | 2015-01-04 | 2015-04-08 | 无锡罗姆半导体科技有限公司 | 双台面结构双向可控硅封装的测试方法 |
| CN104678195A (zh) * | 2013-11-26 | 2015-06-03 | 上海普锐马电子有限公司 | 一种静电放电检测电路 |
| CN105486935A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-04-13 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试用高压静电放电装置 |
| CN105652163A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-06-08 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试装置 |
| CN107678593A (zh) * | 2017-09-30 | 2018-02-09 | 深圳市艾特智能科技有限公司 | 触摸屏防静电干扰电路 |
| CN107728034A (zh) * | 2017-10-09 | 2018-02-23 | 常州工学院 | 新型功率器件控制自动化静电防护测试系统及方法 |
| CN109030999A (zh) * | 2018-07-25 | 2018-12-18 | 努比亚技术有限公司 | 一种静电放电检查方法、终端及计算机可读存储介质 |
| CN109541432A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-03-29 | 天津大学 | 基于Labview的芯片级ESD自动化测试系统 |
| CN111337762A (zh) * | 2018-12-18 | 2020-06-26 | 聚灿光电科技（宿迁）有限公司 | 一种实时监测esd输出的方法 |
| CN111638403A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-09-08 | Tcl华星光电技术有限公司 | 静电测试方法及测试装置 |
| CN112083214A (zh) * | 2020-08-28 | 2020-12-15 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 先导放电过程的电流测量装置 |
| CN112526428A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-19 | 中国人民解放军陆军工程大学 | 引信静电放电模块电流校准系统及方法 |
| CN115792416A (zh) * | 2022-11-04 | 2023-03-14 | 深圳市华众自动化工程有限公司 | 一种静电检测及消除的装置及方法 |
-
2008
- 2008-06-30 CN CN2008101502090A patent/CN101320068B/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102628887A (zh) * | 2012-04-13 | 2012-08-08 | 华中科技大学 | 高压电极放电电流传感器 |
| CN102654530A (zh) * | 2012-04-23 | 2012-09-05 | 华中科技大学 | 一种高压电极放电电流测量装置 |
| CN102854413B (zh) * | 2012-07-02 | 2015-04-22 | 西安理工大学 | 一种压敏电阻超快电脉冲响应的测试方法 |
| CN102854413A (zh) * | 2012-07-02 | 2013-01-02 | 西安理工大学 | 一种压敏电阻超快电脉冲响应的测试装置及测试方法 |
| CN104678195A (zh) * | 2013-11-26 | 2015-06-03 | 上海普锐马电子有限公司 | 一种静电放电检测电路 |
| CN103983869A (zh) * | 2014-05-08 | 2014-08-13 | 西安交通大学 | 一种纳秒-微秒级可调空间介质静电放电模拟源 |
| CN103983869B (zh) * | 2014-05-08 | 2016-05-25 | 西安交通大学 | 一种纳秒-微秒级可调空间介质静电放电模拟源 |
| CN104502823A (zh) * | 2015-01-04 | 2015-04-08 | 无锡罗姆半导体科技有限公司 | 双台面结构双向可控硅封装的测试方法 |
| CN105486935A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-04-13 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试用高压静电放电装置 |
| CN105652163A (zh) * | 2015-12-21 | 2016-06-08 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试装置 |
| CN105486935B (zh) * | 2015-12-21 | 2019-06-11 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试用高压静电放电装置 |
| CN105652163B (zh) * | 2015-12-21 | 2019-06-04 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 一种购电卡抗静电能力测试装置 |
| CN107678593A (zh) * | 2017-09-30 | 2018-02-09 | 深圳市艾特智能科技有限公司 | 触摸屏防静电干扰电路 |
| CN107728034A (zh) * | 2017-10-09 | 2018-02-23 | 常州工学院 | 新型功率器件控制自动化静电防护测试系统及方法 |
| CN107728034B (zh) * | 2017-10-09 | 2019-09-06 | 常州工学院 | 新型功率器件控制自动化静电防护测试系统及方法 |
| CN109030999A (zh) * | 2018-07-25 | 2018-12-18 | 努比亚技术有限公司 | 一种静电放电检查方法、终端及计算机可读存储介质 |
| CN109541432A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-03-29 | 天津大学 | 基于Labview的芯片级ESD自动化测试系统 |
| CN111337762A (zh) * | 2018-12-18 | 2020-06-26 | 聚灿光电科技（宿迁）有限公司 | 一种实时监测esd输出的方法 |
| CN111638403A (zh) * | 2020-05-22 | 2020-09-08 | Tcl华星光电技术有限公司 | 静电测试方法及测试装置 |
| CN111638403B (zh) * | 2020-05-22 | 2022-07-29 | Tcl华星光电技术有限公司 | 静电测试方法及测试装置 |
| CN112083214A (zh) * | 2020-08-28 | 2020-12-15 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 先导放电过程的电流测量装置 |
| CN112083214B (zh) * | 2020-08-28 | 2023-05-16 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 先导放电过程的电流测量装置 |
| CN112526428A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-19 | 中国人民解放军陆军工程大学 | 引信静电放电模块电流校准系统及方法 |
| CN115792416A (zh) * | 2022-11-04 | 2023-03-14 | 深圳市华众自动化工程有限公司 | 一种静电检测及消除的装置及方法 |
| CN115792416B (zh) * | 2022-11-04 | 2023-06-13 | 深圳市华众自动化工程有限公司 | 一种静电检测及消除的装置及方法 |
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